触控屏的触控性能测试方法及系统技术方案

本发明专利技术提供一种触控屏的触控性能测试方法及系统，属于触控测试技术领域。所述方法基于触控性能测试装置实现，所述触控性能测试装置包括可触控触控屏的触摸头，以及可带动所述触摸头物理运动以切换触控位置的机械臂，所述方法包括：获取测试过程中的定位坐标信息；根据所述定位坐标信息进行所述触控屏的触控性能分析；根据所述触控屏的触控性能分析结果，判断所述触控屏是否符合测试需求，并生成相应的分析报告，其中，若所述触控屏不符合测试需求，在生成分析报告过程中进行异常数值标注；输出并推送所述分析报告到监测端。本发明专利技术方案在减少人工成本的同时提高了触控测试准确性和客观性。和客观性。和客观性。

【技术实现步骤摘要】
触控屏的触控性能测试方法及系统


[0001]本专利技术涉及触控测试
，具体地涉及一种触控屏的触控性能测试方法及一种触控屏的触控性能测试系统。

技术介绍

[0002]随着智能化水平不断提高，人机交互需求也越来越高，人机交互的便捷化和响应及时性需求也越来越高。触控技术在如今的人机交互领域具有显著地位，人手指作为触摸标记的感应式输入时，当接触屏幕上的图形应用，屏幕上的触觉反馈系统可根据预先编程的程式驱动各种连接设备，可用以取代机械式按键导光面板输入，并借助显示画面响应预设的交互功能。所以触控屏的灵敏度和准确度等性能参数会直接影响用户的使用体验度，为了对这些影响使用体验度的触控屏性能参数进行客观评价，需要对应的触控测试体系。随着触控屏的适用范围越来越广，触控屏的测试需求也越来越大，传统触控屏测试方法因为人工需求大和测试方法缺陷等问题，存在测试成本高、测试准确率低等问题，为了避免这种为题，需要创造一种智能化水平高的触控测试方法。

技术实现思路

[0003]本专利技术实施方式的目的是提供一种触控屏的触控性能测试方法及系统，以至少解决现有触控屏测试方法测试成本高和测试准确率低的问题。
[0004]为了实现上述目的，本专利技术第一方面提供一种触控屏的触控性能测试方法，所述方法基于触控性能测试装置实现，所述触控性能测试装置包括可触控触控屏的触摸头，以及可带动所述触摸头物理运动以切换触控位置的机械臂，所述方法包括：获取测试过程中的定位坐标信息；根据所述定位坐标信息进行所述触控屏的触控性能分析；根据所述触控屏的触控性能分析结果，判断所述触控屏是否符合测试需求，并生成相应的分析报告，其中，若所述触控屏不符合测试需求，在生成分析报告过程中进行异常数值标注；输出并推送所述分析报告到监测端。
[0005]可选的，所述测试过程中的定位坐标信息包括：目标坐标、实际坐标和报告坐标；其中，所述目标坐标为，在基于触控屏表面预设的参考固定基准下，所需的测试拟合点坐标；所述测试拟合点为所述触控屏上预设的多个测试拟合点，所述多个测试拟合点在所述触控屏上均匀分布；所述实际坐标为在与所述目标坐标相同的固定基准下测试过程中触摸头与所述触控屏的实际接触点坐标；所述报告坐标为所述触控屏反馈的实际被触发的触控传感器的坐标；其中，所述触控传感器为固定在所述待测触控屏上的用于采集触摸信号的传感器，所述触控传感器在所述待测触控屏上均匀分布有多个。
[0006]可选的，所述方法还包括：校正所述机械臂的运动准确性，包括：任意选择一个测试拟合点，并获取该测试拟合点的目标坐标；基于所述目标坐标控制所述机械臂移动到预定位置后，回收所述触摸头的实际触控位置的实际坐标，其中，所述预定位置为根据所述目标坐标生成的触摸头的移动目标位置；对比所述目标坐标与所述实际坐标，并在二者偏差
在预设偏差阈值范围内的情况下输出校正成功信息。
[0007]可选的，所述根据所述定位坐标信息进行所述触控屏的触控性能分析，包括：进行所述触控屏的位置精确度性能测试，包括：对每个测试拟合点进行P次触控测试，获得P个报告坐标；其中，P≥2；根据每个测试拟合点的P个报告坐标对应获得每个测试拟合点的平均报告坐标，其计算公式为：
[0008][0009]其中，i,j,k为目标坐标为(i,j)的测试拟合点的第k个数据，k∈P(1,2,
…
,p)；p为测试拟合点对应的触控测试次数；分别为测试拟合点对应的平均报告坐标的横坐标值和纵坐标值；对于每一测试拟合点，计算该测试拟合点的目标坐标与平均报告坐标之间的偏差距离作为该测试拟合点对应的测量精确度；对比所有测试拟合点的测量精确度，筛选出其中数值最大的测量精确度作为所述触控屏的测量精确度；其中，目标坐标与平均报告坐标之间的偏差距离计算公式为：
[0010][0011]其中，为目标坐标为(i,j)的测试拟合点的目标坐标与平均报告坐标之间的偏差距离。
[0012]可选的，所述根据所述定位坐标信息进行所述触控屏的触控性能分析，包括：进行所述触控屏的准确度评估，包括：对每个测试拟合点进行P次触控测试，获得P个报告坐标；其中，P≥2；对于每一测试拟合点，计算该测试拟合点的P个报告坐标中每个报告坐标与该测试拟合点的目标坐标之间的坐标差值，其计算公式为：
[0013][0014]其中，为目标坐标为(i,j)的测试拟合点的目标坐标与平均报告坐标之间的坐标差值；xr
i,j
，yr
i,j
分别为目标坐标为(i,j)的测试拟合点的报告坐标的横坐标值和纵坐标值；xt
i,j
，yt
i,j
分别为目标坐标为(i,j)的测试拟合点的目标坐标的横坐标值和纵坐标值；从该测试拟合点的所有坐标差值中筛选出其中坐标差值最大值作为该测试拟合点对应的测量准确度；对比所有测量拟合点的测量准确度，将其中数值最大的测量准确度作为所述触控屏的测量准确度。
[0015]可选的，所述根据所述定位坐标信息进行所述触控屏的触控性能分析，包括：测量所述触控屏的抖动性能，包括：对每一测试拟合点进行多次触控测试，获得多个报告坐标；对于每一测试拟合点，计算该测试拟合点的多个报告坐标的平均报告坐标，分别对比每个报告坐标与所述平均报告坐标之间的距离偏差值，并筛选出距离偏差值中的最大值作为该测试拟合点对应的抖动测试结果；对比所有测试拟合点的抖动测试结果，筛选出其中数值最大的抖动测试结果作为所述触控屏的抖动测试结果；其中，报告坐标与平均报告坐标之
间的距离偏差值计算公式为：
[0016][0017]其中，Rti，j为报告坐标与平均报告坐标之间的距离偏差值。
[0018]可选的，所述根据所述定位坐标信息进行所述触控屏的触控性能分析，包括：测量所述触控屏的线性度，包括：在所述触控屏上，以预先选定方向，间隔固定间距进行直线滑动触控，获得多条平行滑动触控轨迹；计算每一条滑动触控轨迹中，根据轨迹沿途的各触控传感器的报告坐标拟合的测试直线与预设最佳拟合线之间的偏差距离；其中，所述预设最佳拟合线的直线方程为：
[0019]ax+by+1＝0；
[0020]其中，a和b分别为直线方程的x和y系数；
[0021]拟合的测试直线系数a和b的计算公式分别为：
[0022][0023][0024]其中，x
i
，y
i
分别为滑动触控轨迹沿途的第i个触控点的横坐标和纵坐标，i＝1,2,
…
,n；
[0025]筛选出所有滑动轨迹中，触控点的报告坐标与预设最佳拟合线之间的偏差距离的最大距离作为所述触控屏的线性度计算结果，计算规则为：
[0026][0027]其中，L为线性度计算结果。
[0028]可选的，所述根据所述触控屏的触控性能分析结果，判断所述触控屏是否符合测试需求，包括：对比所述触控屏的测量精确度与预设精确度阈值，若所述触控屏的测量精确度大于所述预设精确度阈值，判定所述触控屏精确度异常；对比所述触控屏的测量准确度与本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种触控屏的触控性能测试方法，其特征在于，所述方法基于触控性能测试装置实现，所述触控性能测试装置包括可触控触控屏的触摸头，以及可带动所述触摸头物理运动以切换触控位置的机械臂，所述方法包括：获取测试过程中的定位坐标信息；根据所述定位坐标信息进行所述触控屏的触控性能分析；根据所述触控屏的触控性能分析结果，判断所述触控屏是否符合测试需求，并生成相应的分析报告，其中，若所述触控屏不符合测试需求，在生成分析报告过程中进行异常数值标注；输出并推送所述分析报告到监测端。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试过程中的定位坐标信息包括：目标坐标、实际坐标和报告坐标；其中，所述目标坐标为，在基于触控屏表面预设的参考固定基准下，所需的测试拟合点坐标；所述测试拟合点为所述触控屏上预设的多个测试拟合点，所述多个测试拟合点在所述触控屏上均匀分布；所述实际坐标为在与所述目标坐标相同的固定基准下测试过程中触摸头与所述触控屏的实际接触点坐标；所述报告坐标为所述触控屏反馈的实际被触发的触控传感器的坐标；其中，所述触控传感器为固定在所述待测触控屏上的用于采集触摸信号的传感器，所述触控传感器在所述待测触控屏上均匀分布有多个。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：校正所述机械臂的运动准确性，包括：任意选择一个测试拟合点，并获取该测试拟合点的目标坐标；基于所述目标坐标控制所述机械臂移动到预定位置后，回收所述触摸头的实际触控位置的实际坐标，其中，所述预定位置为根据所述目标坐标生成的触摸头的移动目标位置；对比所述目标坐标与所述实际坐标，并在二者偏差在预设偏差阈值范围内的情况下输出校正成功信息。4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述定位坐标信息进行所述触控屏的触控性能分析，包括：进行所述触控屏的位置精确度性能测试，包括：对每个测试拟合点进行P次触控测试，获得P个报告坐标；其中，P≥2；根据每个测试拟合点的P个报告坐标对应获得每个测试拟合点的平均报告坐标，其计算公式为：其中，i,j,k为目标坐标为(i,j)的测试拟合点的第k个数据，k∈P(1,2,
…
,p)；p为测试拟合点对应的触控测试次数；分别为测试拟合点对应的平均报告坐标的横坐标值和纵坐标值；对于每一测试拟合点，计算该测试拟合点的目标坐标与平均报告坐标之间的偏差距离
作为该测试拟合点对应的测量精确度；对比所有测试拟合点的测量精确度，筛选出其中数值最大的测量精确度作为所述触控屏的测量精确度；其中，目标坐标与平均报告坐标之间的偏差距离计算公式为：其中，为目标坐标为(i,j)的测试拟合点的目标坐标与平均报告坐标之间的偏差距离。5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述定位坐标信息进行所述触控屏的触控性能分析，包括：进行所述触控屏的准确度评估，包括：对每个测试拟合点进行P次触控测试，获得P个报告坐标；其中，P≥2；对于每一测试拟合点，计算该测试拟合点的P个报告坐标中每个报告坐标与该测试拟合点的目标坐标之间的坐标差值，其计算公式为：其中，为目标坐标为(i,j)的测试拟合点的目标坐标与平均报告坐标之间的坐标差值；xr
i,j
，yr
i,j
分别为目标坐标为(i,j)的测试拟合点的报告坐标的横坐标值和纵坐标值；xt
i,j
，yt
i,j
分别为目标坐标为(i,j)的...

【专利技术属性】
技术研发人员：王松滨，张海，李静，侯小单，
申请(专利权)人：中航华东光电有限公司，
类型：发明
国别省市：