本申请提供一种在密闭环境下对无线电测高表的测试方法、装置及系统。属于机械设计技术领域，本申请提高无线电高度表在密闭环境下的测试覆盖率，在密闭环境下对无线电高度表的微波收发模块进行测试，通常情况下该部分功能电路需与地面检测设备共同形成微波测试回路，在密闭的环境下可以设计微波自检组件，微波自检组件包括微型高度模块、衰减电路和延迟电路，微波自检组件将激励信号通过第一射频连接器发送至射频输入模块，使微波收发模块根据激励信号以实际测试结果的形式向无线电测高表发送自检信息，按照设定的测量值模拟微波衰减及延时过程，进而完成对无线电高度表的测高精度、测高灵敏度的检测。度、测高灵敏度的检测。度、测高灵敏度的检测。
【技术实现步骤摘要】
在密闭环境下对无线电测高表的测试方法、装置及系统
[0001]本申请涉及机械设计
，尤其涉及在密闭环境下对无线电测高表的测试方法、装置及系统。
技术介绍
[0002]无线电测高表由射频输入、射频输出、微波收发模块、基带信号产生与处理单元和二次电源组成。无线电测高表检测包括自检测试(英文全称urn
‑
In test，BIT)和地面综合测试。其中，自检测试(BIT)具有开机自检和周期自检两种方式。自检测试(BIT)可以覆盖大部分模块功能电路，通过对DSP(Digital Signal Processing数字信号处理单元)和SDRAM(Synchronous DRAM同步动态随机存取内存)中断结果的检测完成信号处理模块的BIT测试，通过对+5V、
±
15V电压的检测完成电源模块的BIT测试，通过数字总线的回绕测试完成接口电路的BIT检测。
[0003]通常BIT无法对无线电测高表的微波收发模块进行检测，通常情况下该部分功能电路需与地面检测设备共同形成微波测试回路，按照设定的测量值模拟微波衰减及延时过程，进而完成对无线电测高表的测高精度、测高灵敏度的检测。但如果将无线电测高表置于密闭的环境下，按照上述的测试方法无法对无线电测高表的微波模块进行检测。
技术实现思路
[0004]为了解决现有技术中无线电测高表的微波收发模块无法在密闭环境下测试的技术问题，本申请提供了一种无线电测高表微波收发模块在密闭环境下的测试方法，所述技术方案如下：
[0005]第一方面，提供一种在密闭环境下对无线电测高表的测试装置，包括：
[0006]第一高频电缆组件、第二高频电缆组件、微波自检组件、射频输入模块和射频输出模块，
[0007]其中，所述射频输入模块和所述射频输出模块设置于无线电测高表的微波收发模块；所述射频输入模块的前端设有第一射频连接器，所述射频输入模块通过所述第一射频连接器与所述微波自检组件电连接，所述第一射频连接器通过所述第一高频电缆组件与所述微波自检组件电连接；所述射频输出模块的前端设有第二射频连接器，所述射频输出模块通过所述第二射频连接器与所述微波自检组件电连接，所述第二射频连接器通过所述第二高频电缆组件与所述微波自检组件电连接；
[0008]所述射频输出模块用于将来自于所述微波收发模块的激励指示信号通过所述第二射频连接器发送至所述微波自检组件；
[0009]所述微波自检组件用于基于所述激励指示信号将激励信号通过所述第一射频连接器发送至所述射频输入模块，使所述微波收发模块根据所述激励信号向所述无线电测高表发送自检信息，所述激励信号携带有针对所述微波收发模块的测试要求数据，所述自检信息包括所述微波收发模块的实际测试结果。
[0010]可选地，所述射频输入模块的前端和所述第一射频连接器之间还设有第一微波开关，所述射频输出模块的前端和所述第二射频连接器之间还设有第二微波开关
[0011]所述微波自检组件还用于在测试结束后控制所述第一微波开关和所述第一微波开关断开，使无线电测高表进入正常测高状态。
[0012]可选地，所述微波自检组件包括依次微型高度单元、衰减电路和延迟电路，
[0013]所述微型高度单元与所述第二高频电缆组件电连接；所述延迟电路与所述第一高频电缆组件电连接；
[0014]所述微型高度单元用于模拟电信号；
[0015]所述衰减电路用于对所述微型高度单元模拟的电信号进行衰减处理；
[0016]所述延迟电路用于根据所述衰减电路衰减处理后的电信号得到所述激励信号。
[0017]可选地，第一高频电缆组件和第二高频电缆组件均包括电缆和与所述电缆连接的连接器。
[0018]第二方面，提供一种在密闭环境下对无线电测高表的测试系统，包括：测试装置和无线电测高表，
[0019]所述测试装置为第一方面所述的测试装置。
[0020]第三方面，提供一种在密闭环境下对无线电测高表的测试方法，用于测试装置，所述测试装置为第一方面所述的测试装置，所述方法包括：
[0021]射频输出模块将来自于微波收发模块的激励指示信号通过第二射频连接器发送至微波自检组件；
[0022]所述微波自检组件基于所述激励指示信号将激励信号通过第一射频连接器发送至射频输入模块，使所述微波收发模块根据所述激励信号向无线电测高表发送自检信息，所述激励信号携带有针对所述微波收发模块的测试要求数据，所述自检信息包括所述微波收发模块的实际测试结果。
[0023]可选地，所述射频输入模块的前端和所述第一射频连接器之间还设有第一微波开关，所述射频输出模块的前端和所述第二射频连接器之间还设有第二微波开关
[0024]所述方法还包括：
[0025]所述微波自检组件在测试结束后控制所述第一微波开关和所述第一微波开关断开，使无线电测高表进入正常测高状态。
[0026]可选地，所述微波自检组件包括依次连接微型高度单元、衰减电路和延迟电路，
[0027]所述微波自检组件输出激励信号，包括：
[0028]所述微型高度单元模拟电信号；
[0029]所述衰减电路对所述微型高度单元模拟的电信号进行衰减处理；
[0030]所述延迟电路根据所述衰减电路衰减处理后的电信号得到所述激励信号。
[0031]本申请可以提高无线电高度表在密闭环境下的测试覆盖率，在密闭环境下对无线电高度表的微波收发模块进行测试，通常情况下该部分功能电路需与地面检测设备共同形成微波测试回路，在密闭的环境下可以设计微波自检组件，微波自检组件包括微型高度模块、衰减电路和延迟电路，微波自检组件将激励信号通过第一射频连接器发送至射频输入模块，使微波收发模块根据激励信号以实际测试结果的形式向无线电测高表发送自检信息，按照设定的测量值模拟微波衰减及延时过程，进而完成对无线电高度表的测高精度、测
高灵敏度的检测。
附图说明
[0032]图1是相关技术中对无线电测高表测试的示意图；
[0033]图2是本申请提供的一种在密闭环境下对无线电测高表的测试装置的结构示意图；
[0034]图3是本申请提供的另一种在密闭环境下对无线电测高表的测试装置。
具体实施方式
[0035]为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部实施例。基于本申请中的实施例，本领域的普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下，所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0036]如图1所示，相关技术中，无线电测高表由射频输入、射频输出、微波收发模块、基带信号产生与处理单元和二次电源组成。无线电测高表检测包括自检测试(BIT)和地面综合测试。其中自检测试(BIT)具有开机自检和周期自检两种方式。自检测试(BIT)可以覆盖大部分模块功能电路，通过对DS本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种在密闭环境下对无线电测高表的测试装置，其特征在于，包括：第一高频电缆组件、第二高频电缆组件、微波自检组件、射频输入模块和射频输出模块，其中，所述射频输入模块和所述射频输出模块设置于无线电测高表的微波收发模块；所述射频输入模块的前端设有第一射频连接器，所述射频输入模块通过所述第一射频连接器与所述微波自检组件电连接，所述第一射频连接器通过所述第一高频电缆组件与所述微波自检组件电连接；所述射频输出模块的前端设有第二射频连接器，所述射频输出模块通过所述第二射频连接器与所述微波自检组件电连接，所述第二射频连接器通过所述第二高频电缆组件与所述微波自检组件电连接；所述射频输出模块用于将来自于所述微波收发模块的激励指示信号通过所述第二射频连接器发送至所述微波自检组件；所述微波自检组件用于基于所述激励指示信号将激励信号通过所述第一射频连接器发送至所述射频输入模块，使所述微波收发模块根据所述激励信号向所述无线电测高表发送自检信息，所述激励信号携带有针对所述微波收发模块的测试要求数据，所述自检信息包括所述微波收发模块的实际测试结果。2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述射频输入模块的前端和所述第一射频连接器之间还设有第一微波开关，所述射频输出模块的前端和所述第二射频连接器之间还设有第二微波开关，所述微波自检组件还用于在测试结束后控制所述第一微波开关和所述第一微波开关断开，使无线电测高表进入正常测高状态。3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述微波自检组件包括依次微型高度单元、衰减电路和延迟电路，所述微型高度单元与所述第二高频电缆组件电连接；所述延迟电路与所述第一高频电缆组件电连接；所述微型高度单元用于模拟电信号；所述衰...
【专利技术属性】
技术研发人员：袁欢欢，章祎，童琴，李永强，鲁振华，朱倩倩，周恩华，刘毅，张成标，刘敏名，邓云，喻芳，徐志龙，刘永安，鞠新星，吕昌英，
申请(专利权)人：江西洪都航空工业集团有限责任公司，
类型：发明
国别省市：
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