一种电极片冷压后表面质量检测系统技术方案

本实用新型专利技术揭示了一种电极片冷压后表面质量检测系统，冷压完成的电极片由收卷设备收集，所述收卷设备位置之前的电极片下表面设有放光设备，所述放光设备倾斜照射向电极片，由所述电极片反射放光设备光线的位置设有采集板，所述采集板连接并输出信号至光信号处理设备，所述光信号处理设备连接执行机构。本实用新型专利技术能够更准确快速的发现漏金属位置，提高良率，保证当前工序坏品不流到后续，避免后续浪费，并且百分百极片质量检查，安全可靠。安全可靠。安全可靠。

【技术实现步骤摘要】
一种电极片冷压后表面质量检测系统


[0001]本技术涉及新能源电池领域，尤其涉及极片质量检测领域。

技术介绍

[0002]锂离子电池阴阳极极片为多孔结构，在充放电过程中多孔结构可以存储锂，这种结构在极片烘烤后形成，但是为了使得极片具有更高的能量密度，工艺上都需要对烘烤后的极片进行冷压从而让极片更薄。冷压过程是将极片经过上下两个过辊缝隙，让烘烤后的极片到达需要的厚度范围，冷压一方面提高了能量密度，但另一方面也会放大涂布缺陷，如颗粒、气泡等。
[0003]电池极片在冷压过程中经常遇到极片颗粒划痕、漏金属等情况出现，尤其负极居多，当颗粒划痕被员工发现该部分需要被切除，但由于冷压速度较快，点状漏金属较小不易被发现，也没有专门的目检人员一直检查冷压后是否出现漏金属等情况，因此冷压后极片出现漏金属就有可能流出直到最终做成电池，要知道这种缺陷对电池长期寿命和安全影响甚大，这种电池在长期循环时由于阳极没有石墨，锂嵌入会形成枝晶，长期循环下来将可能导致刺穿隔离膜从而出现短路等安全风险，因此提前发现漏金属缺陷意义重大。

技术实现思路

[0004]本技术所要解决的技术问题是实现一种能够在生产过程中自动快速检查电池极片的系统。
[0005]为了实现上述目的，本技术采用的技术方案为：一种电极片冷压后表面质量检测系统，冷压完成的电极片由收卷设备收集，所述收卷设备位置之前的电极片下表面设有放光设备，所述放光设备倾斜照射向电极片，由所述电极片反射放光设备光线的位置设有采集板，所述采集板连接并输出信号至光信号处理设备，所述光信号处理设备连接执行机构。
[0006]所述电极片至采集板之间的光路外设有遮光套筒。
[0007]所述放光设备由多个光源构成的线形光组件，所述采集板为与放光设备配合的线形接收设备，所述遮光套筒为扁平的套筒结构。
[0008]所述执行机构为报警器、存储器、显示器中的部分或全部。
[0009]本技术能够更准确快速的发现漏金属位置，提高良率，保证当前工序坏品不流到后续，避免后续浪费，并且百分百极片质量检查，安全可靠。
附图说明
[0010]下面对本技术说明书中每幅附图表达的内容及图中的标记作简要说明：
[0011]图1为电极片冷压后表面质量检测系统原理图；
[0012]上述图中的标记均为：1、收卷设备；2、电极片；3、放光设备；4、遮光套筒；5、采集板。
具体实施方式
[0013]下面对照附图，通过对实施例的描述，本技术的具体实施方式如所涉及的各构件的形状、构造、各部分之间的相互位置及连接关系、各部分的作用及工作原理、制造工艺及操作使用方法等，作进一步详细的说明，以帮助本领域技术人员对本技术的专利技术构思、技术方案有更完整、准确和深入的理解。
[0014]电极片2冷压后表面质量检测系统主要利用传感器技术，信号采集与处理技术结合报警等功能，利用不同材料对光线的吸收率不同原理，在冷压后收卷位置放置一机构发射光线到极片上，并在折射角位置安置一光线采集传感器采集光的强度，通过光的强度判断极片上是否有缺陷出现。
[0015]负极的基材一般是铜箔，表面的浆料主要是石墨组成，石墨与铜箔对光的吸收率明显不同，当极片上出现漏金属(基材上没有涂上浆料)，发射在极片上的光线很大一部分会被反弹，反弹的光线会被采集器收集到并报警，通知技师。
[0016]电极片2冷压后表面质量检测系统主体安装在收卷设备1附近的电极片2下表面，设置一个放光设备3，用来发射光线到极片上，该设备可以安装在支架上，也可是移动式，发射光的角度可以调整固定从而适应不同的工况与条件，由电极片2反射放光设备3光线的位置设有采集板5，用来接收被极片上缺陷位置反射的光，该装置安装在发射器在极片折射角位置，为了避免外界的光照影响，可以在采集光的路径上安装遮光套筒4避免环境中的光照进入影响采集结果。采集光照传感器也可简单的换成光敏电阻，根据不同的光照强度阻值不同，最终经过单片机处理显示结果不同。
[0017]采集板5连接并输出信号至光信号处理设备，光信号处理设备连接执行机构，执行机构为报警器、存储器、显示器中的部分或全部，可以根据需要设置，报警器可以在异常时进行报警，方便工作人员及时检修，存储器可以存储检测数据，方便后期调取数据，显示器可以实时显示参数数据，方便工作人员现场监控观察。
[0018]此外，为了能够可靠的进行检测，放光设备3由多个光源构成的线形光组件，其宽度能照射到整个电极片2的宽度即可，从而使得每次照射能够检测正片电极片2，同时采集板5为与放光设备3配合的线形接收设备，能够接收全部的反射光线，而遮光套筒4为扁平的套筒结构，保护整个片状的光路，避免外界环境光线的干扰。
[0019]上面结合附图对本专利技术进行了示例性描述，显然本技术具体实现并不受上述方式的限制，只要采用了本专利技术的方法构思和技术方案进行的各种非实质性的改进，或未经改进将本专利技术的构思和技术方案直接应用于其它场合的，均在本技术的保护范围之内。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电极片冷压后表面质量检测系统，冷压完成的电极片由收卷设备收集，其特征在于：所述收卷设备位置之前的电极片下表面设有放光设备，所述放光设备倾斜照射向电极片，由所述电极片反射放光设备光线的位置设有采集板，所述采集板连接并输出信号至光信号处理设备，所述光信号处理设备连接执行机构。2.根据权利要求1所述的电极片冷压后表面质量检测系统，其特征在于：所述电极...

【专利技术属性】
技术研发人员：储巍涛，
申请(专利权)人：芜湖天弋能源科技有限公司，
类型：新型
国别省市：