校准激光标记系统中的标记的方法技术方案

在用于校准激光标记系统中的标记的方法中，（ａ）将要观察的每个芯片分配给相应的视觉照相机，（ｂ）匹配视觉照相机的坐标和激光标记器的坐标，（ｃ）将预定的第一符号标记在芯片上或者标记在与芯片相对应的位置，利用相应的视觉照相机观察所选择的第一符号，并将所述第一符号的一点训练为基准点，（ｄ）利用相应的视觉照相机观察所述第一符号和所述芯片的基准点，并相对于所述基准点，在所述芯片上标记第二符号，（ｅ）观察所述芯片上的第二符号，并将所述第二符号的一点训练为比较点，以及（ｆ）根据所述芯片上的所述基准点，检测所述比较点的位置，并计算每个单元中的标记误差。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种利用视觉照相机，更具体地，涉及一种，考虑在拍摄标记物体时先前存储的标记误差来进行校准。
技术介绍
图1是示出了典型的引线框条的平面图。参照附图，将多个芯片12安装在条(strip)10上，并在每个芯片12的表面上标记字符和/或数字，以根据生产批次区分芯片12。将稍后将进行描述的使用激光束的激光标记器用作标记设备。将标识标签14用于排列条10。利用激光标记器在条10上的标记过程是包括对条10进行处理以提高标记效率的自动过程。图2是示出了典型的激光标记系统的视图。参照图2，激光标记系统包括条供应盒20，包含多个条10；加载器30，从盒20中的条中取出一个条10，并将条10加载到水平传送台22上；前视觉照相机40，测量条10的对齐状态；步进电动机50，沿一个方向传输水平传送台22上的条10；激光标记器60，在位于其下方运动的条10上的多个芯片上标记字符；后视觉照相机70，对标记后的条10上的标记进行拍摄；以及卸载器80，将标记后的条10卸载到条收集盒90中。利用前视觉照相机40对由加载器30放置到水平传送台22上的条10进行拍摄。在条10的一侧形成标识标签，可以是条本身或刻蚀线，从而能够容易地识别对齐状态。前视觉照相机40用于只将对齐的条引导到下一标记过程，而旁路未对齐的条，从而被重新装载到条供应盒20中或者处理掉。由步进电动机50精确地驱动臂52，从而将水平传送台22上的条10定位到设定的位置上，即，位于前视觉照相机40、激光标记器60和后视觉照相机70的下方。图3示出了激光标记器的结构。参照图3，激光标记器60包括激光振荡器61；电扫描仪63，沿X-Y方向在预定的区域上扫描激光束；以及f-θ透镜64，在整个标记区域上，形成相同焦距的入射激光束。x和y反射镜63a和63b反射入射激光束。x和y反射镜63a和63b中的每一个均与驱动驱动器(未示出)相连，以便根据输入命令改变角度。在下一步骤中，将通过激光标记器60标记了预定字符的条10传送到后视觉照相机70下方。后视觉照相机70通过拍摄条10来确定标记的质量，从而略过不正确标记了的条，而由卸载器80将正确标记了的条重新加载到条收集盒90中。图4是示出了典型的托架16和位于其中的芯片c的平面图。参照图4，托架16被分隔为容纳芯片c的单元，从而能够放置多个芯片c。由于每个单元的尺寸稍微大于芯片的尺寸，当传送托架16时，芯片可以在每个单元中移动。因此，当芯片未对齐时，在通过激光标记器标记托架16中的每个芯片c时，每个芯片的标记位置不同。因此，如果标记位置不是恒定的，则用户将置疑芯片的质量是不可靠的。当在条中对芯片进行标记时，只需通过前视觉照相机观察条的失配就可以实现良好的标记。然而，当通过上述方法标记每个单元中未对齐的、位于托架中的芯片时，标记的质量显著恶化。
技术实现思路
为了解决上述和/或其他问题，本专利技术提出了一种，通过检测每个芯片的对齐误差并考虑每个芯片位置处的标记误差来进行标记。根据本专利技术的方案，提出了一种用于，所述激光标记系统包括激光标记器，在利用多个视觉照相机观察包含在托架的单元内的芯片的同时，进行标记；以及后视觉照相机，检测标记误差，所述方法包括以下步骤(a)将要观察的每个芯片分配给相应的视觉照相机，(b)匹配视觉照相机的坐标和激光标记器的坐标，(c)将预定的第一符号标记在芯片上或者标记在与芯片相对应的位置，利用相应的视觉照相机观察所选择的第一符号，并将所述第一符号的一点训练为基准点，(d)利用相应的视觉照相机观察所述第一符号和所述芯片的基准点，并相对于所述基准点，在所述芯片上标记第二符号，(e)观察所述芯片上的第二符号，并将所述第二符号的一点训练为比较点，以及(f)根据所述芯片上的所述基准点，检测所述比较点的位置，并计算每个单元中的标记误差。所述步骤(a)包括以下子步骤(a1)将标记纸粘贴在所述托架上或者具有与托架相同形状的板的表面上，并将所述托架或所述板置于所述视觉照相机下方；(a2)利用所述激光标记器标记每个单元中的点；以及(a3)利用所述视觉照相机搜索所述点，并确定所述视觉照相机观察到每个单元。所述点是每个单元的中心点。所述步骤(b)包括以下子步骤(b1)利用所述激光标记器相对于所述中心点，标记相应单元区域的角点；以及(b2)利用相应的视觉照相机检测所述角点的位置，并使所述激光标记器的坐标系统与相应的视觉照相机的坐标系统相匹配。在步骤(c)中，在通过与所述视觉照相机相连的显示器监视所述第一符号的同时，通过指取设备(pointing device)指取所述第一符号的角。在步骤(e)中，在通过与所述后视觉照相机相连的显示器监视所述第二符号的同时，通过指取设备指取所述第二符号的角。所述方法还包括以下步骤(g)将包含要标记的芯片的所述托架设置在所述视觉照相机下方；(h)利用相应的视觉照相机观察所选择的芯片，并将所述芯片上的一点训练为标记基准点；(i)利用相应的视觉照相机拍摄每个芯片，并计算每个芯片的对齐误差；以及(j)通过相对于每个芯片的所述标记基准点校正所述标记误差和对齐误差来进行标记。在步骤(h)中，在通过与所述视觉照相机相连的显示器监视所述芯片的同时，通过指取设备指取所述芯片的角。所述步骤(i)包括以下子步骤(i1)拍摄所述芯片；以及(i2)测量所拍摄到的图像的标记基准点与基准图像的标记基准点之间的x和y偏差，以及所拍摄到的图像与所述基准图像之间的倾斜。附图说明图1是示出了典型的引线框条的平面图；图2是示出了典型的激光标记系统的视图；图3是示出了图2所示的激光标记器的结构的视图；图4是示出了典型的托架和设置在其中的芯片的视图；图5是示出了采用了根据本专利技术的优选实施例的标记校准方法的激光标记系统的结构的视图；图6是示出了图5所示的激光标记器的结构的视图；图7A和7B是用于解释根据本专利技术的用于的流程图；图8是用于解释如图7A所示的步骤11的优选实施例的流程图；图9是用于解释如图7A所示的步骤12的优选实施例的流程图；图10是示出了每个单元中的标记误差的测量的视图；图11是示出了芯片的对齐误差的测量的视图；以及图12是用于解释如图7B所示的步骤20的优选实施例的流程图。附图标记10条 12芯片14标识标签 20、120供应盒22、12水平传送台 30、130加载器40前视觉照相机 50、150步进电动机60、160激光标记器61、161激光振荡器63、163电扫描仪 63a、163ax反射镜63b、163by反射镜 64、164f-θ透镜100控制单元 16、110托架165视觉照相机167灯 具体实施例方式图5是示出了采用了根据本专利技术的优选实施例的标记校准方法的激光标记系统的结构的视图。在图中，对于与传统专利技术中相同的元件，使用相同的名称，并省略对其的详细描述。激光标记系统160包括托架供应盒120，包含多个托架110；加载器130，从托架供应盒120中取出一个托架110，并在水平传送台22上对齐所取出托架110；步进电动机150，沿一个方向传输水平传送台122上的托架110；激光标记器160，在被传送到其下方的托架110的单元中的每个芯片上标记字符；后视觉照相机170，对标记后的托架110上的标记进行拍摄；本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于校准激光标记系统中的标记的方法，所述激光标记系统包括：激光标记器，在利用多个视觉照相机观察包含在托架的单元内的芯片的同时，进行标记；以及后视觉照相机，检测标记误差，所述方法包括以下步骤：（ａ）将要观察的每个芯片分配给相应的视 觉照相机；（ｂ）匹配视觉照相机的坐标和激光标记器的坐标；（ｃ）将预定的第一符号标记在芯片上或者标记在与芯片相对应的位置，利用相应的视觉照相机观察所选择的第一符号，并将所述第一符号的一点训练为基准点；（ｄ）利用相应的视 觉照相机观察所述第一符号和所述芯片的基准点，并相对于所述基准点，在所述芯片上标记第二符号；（ｅ）观察所述芯片上的第二符号，并将所述第二符号的一点训练为比较点；以及（ｆ）根据所述芯片上的所述基准点，检测所述比较点的位置，并计算 每个单元中的标记误差。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】KR 2002-4-26 10-2002-0023108;KR 2003-2-17 10-2003-1.一种用于校准激光标记系统中的标记的方法，所述激光标记系统包括激光标记器，在利用多个视觉照相机观察包含在托架的单元内的芯片的同时，进行标记；以及后视觉照相机，检测标记误差，所述方法包括以下步骤(a)将要观察的每个芯片分配给相应的视觉照相机；(b)匹配视觉照相机的坐标和激光标记器的坐标；(c)将预定的第一符号标记在芯片上或者标记在与芯片相对应的位置，利用相应的视觉照相机观察所选择的第一符号，并将所述第一符号的一点训练为基准点；(d)利用相应的视觉照相机观察所述第一符号和所述芯片的基准点，并相对于所述基准点，在所述芯片上标记第二符号；(e)观察所述芯片上的第二符号，并将所述第二符号的一点训练为比较点；以及(f)根据所述芯片上的所述基准点，检测所述比较点的位置，并计算每个单元中的标记误差。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于所述步骤(a)包括以下子步骤(a1)将标记纸粘贴在所述托架上或者具有与托架相同形状的板的表面上，并将所述托架或所述板置于所述视觉照相机下方；(a2)利用所述激光标记器标记每个单元中的点；以及(a3)利用所述视觉照相机搜索所述点，并确定所述视觉照相机观察到每个单元。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于所述点是每个单元的中心点。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于所述步骤(b)包...

【专利技术属性】
技术研发人员：金炳焕，李晸求，边英植，权九彻，金泰政，
申请(专利权)人：EO技术株式会社，
类型：发明
国别省市：KR[韩国]