【技术实现步骤摘要】
本专利技术是涉及一种对半导体晶片等被处理体实施预定处理的处理系统及供给处理气体的气体供给装置。
技术介绍
一般,在制造半导体设备中,虽然对半导体晶片反复进行成膜处理或模式侵蚀处理等来制造所希望的设备,其中,成膜技术伴随着半导体设备的高密度化及高集成化,其规格也逐年严格,例如对设备中的电容器的绝缘膜或栅绝缘膜等非常薄的氧化膜,需要更高薄膜化,与此同时还要求更高的绝缘性。作为这些绝缘膜,虽然可以使用硅氧化膜或氮化硅膜,但最近出现了使用绝缘性更好的材料的金属氧化膜的倾向。虽然该金属氧化膜即使薄也能够发挥高可靠性的绝缘性,但在该金属氧化膜的成膜后,通过实施其表面的改质处理,还可以能进一步提高绝缘性。此外,采用金属氮化膜作为特性良好的阻挡层金属层等材料的情况下,现在也已经出现很多。而且,作为如上上述的金属氧化膜或金属氮化膜的成膜时的原料气体,大多也开始使用金属化合物材料。这些金属化合物材料,在常温常压下一般以液体或固体存在,具有因蒸汽压较低而难于蒸发或升华的特性。这里对由该金属化合物材料构成原料气体的目前气体供给装置加以说明。图21为表示由金属化合物材料构成原料气体的目前气体供给装置的概念结构图。如图21所示,由液体或固体的有机金属材料等构成的金属化合物材料M收容于材料贮存槽2,通过流量控制器4,边流量控制边向其导入作为载体气体,例如氩气,进而促进金属化合物材料的蒸发或升华。由金属化合物材料的蒸发或升华而产生的原料气体,通过气体通路6,与载体气体一起被输送至处理装置8,并与其它必要气体一起被供给至处理装置内,进而在作为被处理体的半导体晶片W的表面堆积预定的薄膜。 ...
【技术保护点】
一种气体供给装置,为了对被处理体实施预定处理,将低蒸汽压的金属化合物材料所形成的预定的原料气体供给至处理装置,其特征在于,其具有:在所述处理装置延伸的气体通路;安装于所述气体通路的一端,内部收容有所述金属化合物材料的 材料贮存槽;与所述材料贮存槽连接,用于向材料贮存槽内导入载体气体的第一载体气体供给装置,所述第一载体气体供给装置由设置于所述材料贮存槽底部的气体扩散室,和划分所述气体扩散室且具有多个气体喷射孔的气体喷射板构成。
【技术特征摘要】
JP 2002-8-23 244299/2002;JP 2003-7-3 191216/20031.一种气体供给装置,为了对被处理体实施预定处理,将低蒸汽压的金属化合物材料所形成的预定的原料气体供给至处理装置,其特征在于,其具有在所述处理装置延伸的气体通路;安装于所述气体通路的一端,内部收容有所述金属化合物材料的材料贮存槽;与所述材料贮存槽连接,用于向材料贮存槽内导入载体气体的第一载体气体供给装置,所述第一载体气体供给装置由设置于所述材料贮存槽底部的气体扩散室,和划分所述气体扩散室且具有多个气体喷射孔的气体喷射板构成。2.如权利要求1所述的气体供给装置,其特征在于,在所述气体喷射板的气体喷射面上设置有多孔质的氟系树脂层。3.如权利要求2所述的气体供给装置,其特征在于,所述气体喷射板由多孔质的氟系树脂层构成。4.如权利要求1~3的任意一项所述的气体供给装置,其特征在于,在所述材料贮存槽中,设置有用于加热所述金属化合物材料的材料加热装置。5.如权利要求4所述的气体供给装置,其特征在于,所述加热装置设置于所述材料贮存槽的底部。6.如权利要求5所述的气体供给装置,其特征在于,所述加热装置埋入所述气体喷射板。7.如权利要求1~6的任意一项所述的气体供给装置,其特征在于,所述气体喷射板由具有多个气体喷射孔的喷射部构成,该喷射部的内部为中空状的中空部分,并且通过支撑部件从底部支撑着,同时,所述中空部分为大气压氛围。8.一种处理系统,具有为了对被处理体实施预定处理,设置有喷射由低蒸汽压的金属化合物材料所形成的预定原料气体的喷射装置的处理装置;和向所述气体喷射装置供给预定的原料气体的气体供给装置,其特征在于,所述气体喷射装置是喷射头,所述气体供给装置具备从所述喷射头部向上方延伸的气体通路;安装于所述气体通路的上端部,其内部收容所述金属化合物材料的材料贮存槽;开闭所述气体通路的开关阀。9.如权利要求8所述的处理系统,其特征在于,所述气体通路的上端部插入所述材料贮存槽,所述开关阀被以开闭所述气体通路上端的开口的方式设置。10.如权利要求8所述的处理系统,其特征在于,所述开关阀设置于所述气体通路的中途。11.如权利要求8~10的任意一项所述的处理系统,其特征在于,在所述材料贮存槽中设置有用于向其导入载体气体的第一载体气体供给装置。12.如权利要求11所述的处理系统,其特征在于,所述第一载体气体供给装置由设置于所述材料贮存槽底部的气体扩散室,和划分所述气体扩散室且具有多个气体喷射孔的气体喷射板构成。13.如权利要求12所述的处理系统,其特征在于,在所述气体喷射板的气体喷射面上设置有多孔质的氟系树脂层。14.如权利要求12所述的处理系统,其特征在于,所述气体喷射板由多孔质的氟系树脂层构成。15.如权利要求8~14的任意一项所述的处理系统,其特征在于,在所述材料贮存槽中,设置有用于加热所述金属化合物材料的加热装置。16.如权利要求15所述的处理系统,其特征在于,所述加热装置设置于所述材料贮存槽的底部。17.如权利要求16所述的处理系统,其特征在于,所述加热装置埋入所述气体喷射板。18.如权利要求8~17的任意一项所述的处理系统,其特征在于,在所述喷射头附近设置有用于导入吹扫气体的吹扫气体导入管。19.如权利要求15~17的任意一项所述的处理系统,其特征在于,其具备,检测所述材料加热装置的温度的温度检测装置;控制所述材料加热装置,使得所述温度检测装置的检测值维持预定的值的控制部。20.如权利要求15~17的任意一项所述的处理系统,其特征在于,其具备,用于检测所述气体通路内或所述材料贮存槽内压力的压力检测装置;控制所述材料加热装置,使得所述压力检测装置的检测值维持预定的值的控制部。21.如权利要求15~17的任意一项所述的处理系统,其特征在于,其具备,设置于所述气体通路内,防止产生音速喷嘴状态的节流口装置;在所述节流口装置的上流侧检测压力的压力检测装置;控制所述材料加热装置或第一载体控制气体控制装置,使得所述压力检测装置的检测值维持预定的值的控制部。22.如权利要求15~17的任意一项所述的处理系统,其特征在于,其具备,用于检测由所述气体通路内或材料贮存槽内的金属化合物材料所形成的原料气体的分压的分压检测装置;控制所述材料加热装置,使得所述分压检测装置的检测值维持预定的值的控制部。23.如权利要求15~17的任意一项所述的处理系统,其特征在于,其具备,检测流经所述气体通路的气体流量的气体流量检测装置;控制所述材料加热装置,使得所述气体流量检测装置的检测值维持为预定的值的控制部。24.如权利要求15~17的任意一...
【专利技术属性】
技术研发人员:河西繁,田中澄,齐藤哲也,山本纪彦,柳谷健一,
申请(专利权)人:东京毅力科创株式会社,
类型:发明
国别省市:JP[日本]
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