【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种集成电路或分立元件,具体涉及一种集成电路或分立元件平面阵列凸点式封装结构。属集成电路或分立元件封装
技术介绍
在本专利技术作出以前,传统的集成电路或分立元件封装形式主要有四边无脚表面贴片式封装(QFN)以及球形阵列式封装(BGA)两种,它们各自存在一定的不足,现分述如下
技术实现思路
本专利技术的目的在于克服上述不足,提供一种生产顺畅、良率提高,成本低廉,品质优良,可靠性高,散热性高的集成电路或分立元件平面阵列凸点式封装结构。本专利技术的目的是这样实现的一种集成电路或分立元件平面阵列凸点式封装结构,包括基岛、芯片、功能输出脚以及塑封体,所述的功能输出脚分布于基岛的外圈和外侧,芯片放置于基岛上,其特征在于所述的塑封体外部的基岛和功能输出脚凸出于塑封体表面;所述的基岛有单个基岛或多个基岛; 所述的功能输出脚有圈状分布的,也有排状分布的,圈状的有单圈或/和多圈,排状的有单排或/和多排;所述的芯片有单颗或多颗。与现有技术相比,本专利技术采用平面凸点阵列式封装(FBP BGA)具有如下优点一、基岛与芯片的搭配形式金属基板采用半蚀刻的方式再搭配线路整理层后,同样可以做到单基岛单芯片、单基岛多颗排列芯片、单基岛多层堆叠芯片,在同一封装体内同样可以做到多基岛多颗排列芯片及多基岛多层堆叠芯片等放置方式;而且金属基板的成本较低。塑胶电路基板的成本要比平面凸点阵列式封装的金属基板材料成本至少高出两倍以上。二、塑封体外部功能输出脚的分别方式金属基板采用两次蚀刻的方式可以轻松达到塑封体外部功能输出脚的多种分布方式,如单圈、多圈、单 ...
【技术保护点】
一种集成电路或分立元件平面阵列凸点式封装结构,包括基岛(1)、芯片(2)、功能输出脚(3)以及塑封体(5),所述的功能输出脚(3)分布于基岛(1)的外圈和外侧,芯片(2)放置于基岛(1)上,其特征在于:所述的塑封体(5)外部的基岛( 1)和功能输出脚(3)凸出于塑封体(5)表面;所述的基岛(1)有单个基岛或多个基岛;所述的功能输出脚(3)有圈状分布的,也有排状分布的,圈状的有单圈或/和多圈,排状的有单排或/和多排;所述的芯片(2)有单颗或多颗。
【技术特征摘要】
1.一种集成电路或分立元件平面阵列凸点式封装结构,包括基岛(1)、芯片(2)、功能输出脚(3)以及塑封体(5),所述的功能输出脚(3)分布于基岛(1)的外圈和外侧,芯片(2)放置于基岛(1)上,其特征在于所述的塑封体(5)外部的基岛(1)和功能输出脚(3)凸出于塑封体(5)表面;所述的基岛(1)有单个基岛或多个基岛;所述的功能输出脚(3)有圈状分布的,也有排状分布的,圈状的有单圈或/和多圈,排状的有单排或/和多排;所述的芯片(2)有单颗或多颗。2.根据权利要求1所述的一种集成电路或分立元件平面阵列凸点式封装结构,其特征在于所述的功能输出脚(3)和基岛(1)自内至外依次包括金属层(3.1、1.1)、金属基板层(3.3、1.3)和金属层(3.5、1.5),功能输出脚(3)和基岛(1)凸出于塑封体(5)的底端面被金属层(3.5、1.5)包覆。3.根据权利要求1所述的一种集成电路或分立元件平面阵列凸点式封装结构,其特征在于所述的功能输出脚(3)和基岛(1)自内至外依次包括金属层(3.1、1.1)、金属基板层(3.3、1.3)和金属层(3.5、1.5),功能输出脚(3)和基岛(1)凸出于塑封体(5)的表面被金属层(3.5、1.5)包覆。4.根据权利要求1所述的一种集成电路或分立元件平面阵列凸点式封装结构,其特征在于所述的功能输出脚(3)和基岛(1)自内至外依次包括金属层(3.1、1.1)、活化层(3.2、1.2)、金属基板层(3.3、1.3)、活化层(3.4、1.4)和金属层(3.5、1.5),功能输出脚(3)和基岛(1)凸出于塑封体(5)的底端面被外层活化层(3.4、1.4)和外层金属层(3.5、1.5)包覆。5.根据权利要求1所述的一种集成电路或分立元件平面阵列凸点式封装结构,其特征在于所述的功能输出脚(3)和基岛(1)自内至外依次包括金属层(3.1、1.1)、活化层(3.2、1.2)、金属基板层(3.3、1.3)、活化层(3.4、1.4)和金属层(3.5、1.5),功能输出脚(3)和基岛(1)凸出于塑封体(5)的表面被外层活化层(3.4、1.4)和外层金属层(3.5、1.5)包覆。6.根据权利要求1~5其中之一所述的一种集成电路或分立元件平面阵列凸点式封装结构,其特征在于所述的基岛有单个,单基岛外圈的功能输出脚有单圈,外侧的功能输出脚有单排,单排功能输出脚布置于单基岛的一侧或多侧,单基岛上的芯片有单颗。7.根据权利要求1~5其中之一所述的一种集成电路或分立元件平面阵列凸点式封装结构,其特征在于所述的基岛有单个,单基岛外圈的功能输出脚有单圈,外侧的功能输出脚有多排,多排功能输出脚布置于单基岛的一侧或多侧,单基岛上的芯片有单颗。8.根据权利要求1~5其中之一所述的一种集成电路或分立元件平面阵列凸点式封装结构,其特征在于所述的基岛有单个,单基岛外圈的功能输出脚有多圈,外侧的功能输出脚有单排,单排功能输出脚布置于单基岛的一侧或多侧,单基岛上的芯片有单颗。9.根据权利要求1~5其中之一所述的一种集成电路或分立元件平面阵列凸点式封装结构,其特征在于所述的基岛有单个,单基岛外圈的功能输出脚有多圈,外侧的功能输出脚有多排,多排功能输出脚布置于单基岛的一侧或多侧,单基岛上的芯片有单颗。10.根据权利要求1~5其中之一所述的一种集成电路或分立元件平面阵列凸点式封装结构,其特征在于所述的基岛有单个,单基岛外圈的功能输出脚有单圈,外侧的功能输出脚有单排,单排功能输出脚布置于单基岛的一侧或多侧,单基岛上的芯片有多颗,多颗芯片在基岛上的布置方式有排列或/和堆叠。11.根据权利要求1~5其中之一所述的一种集成电路或分立元件平面阵列凸点式封装结构,其特征在于所述的基岛有单个,单基岛外圈的功能输出脚有单圈,外侧的功能输出脚有多排,多排功能输出脚布置于单基岛的一侧或多侧,单基岛上的芯片有多颗,多颗芯片在基岛上的布置方式有排列或/和堆叠。12.根据权利要求1~5其中之一所述的一种集成电路或分立元件平面阵列凸点式封装结构,其特征在于所述的基岛有单个,单基岛外圈的功能输出脚有多圈,外侧的功能输出脚有单排,单排功能输出脚布置于单基岛的一侧或多侧,单基岛上的芯片有多颗,多颗芯片在基岛上的布置方式有排列或/和堆叠。13.根据权利要求1~5其中之一所述的一种集成电路或分立元件平面阵列凸点式封装结构,其特征在于所述的基岛有单个,单基岛外圈的功能输出脚有多圈,外侧的功能输出脚有多排,多排功能输出脚布置于单基岛的一侧或多侧,单基岛上的芯片有多颗,多颗芯片在基岛上的布置方式有排列或/和堆叠。14.根据权利要求1~5其中之一所述的一种集成电路或分立元件平面阵列凸点式封装结构,其特征在于所述的基岛有多个,基岛外圈的功能输出脚有单圈,外侧的功能输出脚有单排,单排功能输出脚布置于基岛的一侧或多侧,多基岛中每个基岛上有单颗芯片。15.根据权利要求1~5其中之一所述的一种集成电路或分立元件平面阵列凸点式封装结构,其特征在于所述的基岛有多个,基岛外圈的功能输出脚有单圈,外侧的功能输出脚有多排,多排功能输出脚布置于基岛的一侧或多侧,多基岛中每个基岛上有单颗芯片。16.根据权利要求1~5其中之一所述的一种集成电路或分立元件平面阵列凸点式封装结构,其特征在于所述的基岛有多个,基岛外圈的功能输出脚有单圈,外侧的功能输出脚有单排,也有多排,单排和多排功能输出脚布置于基岛的一侧或多侧,多基岛中每个基岛上有单颗芯片。17.根据权利要求1~5其中之一所述的一种集成电路或分立元件平面阵列凸点式封装结构,其特征在于所述的基岛有多个,基岛外圈的功能输出脚有多圈,外侧的功能输出脚有单排,单排功能输出脚布置于基岛的一侧或多侧,多基岛中每个基岛上有单颗芯片。18.根据权利要求1~5其中之一所述的一种集成电路或分立元件平面阵列凸点式封装结构,其特征在于所述的基岛有多个,基岛外圈的功能输出脚有多圈,外侧的功能输出脚有多排,多排功能输出脚布置于基岛的一侧或多侧,多基岛中每个基岛上有单颗芯片。19.根据权利要求1~5其中之一所述的一种集成电路或分立元件平面阵列凸点式封装结构,其特征在于所述的基岛有多个,基岛外圈的功能输出脚有多圈,外侧的功能输出脚有单排,也有多排,单排和多排功能输出脚布置于基岛的一侧或多侧,多基岛中每个基岛上有单颗芯片。20.根据权利要求1~5其中之一所述的一种集成电路或分立元件平面阵列凸点式封装结构,其特征在于所述的基岛有多个,基岛外圈的功能输出脚有单圈,也有多圈,外侧的功能输出脚有单排,单排功能输出脚布置于基岛的一侧或多侧,多基岛中每个基岛上有单颗芯片。21.根据权利要求1~5其中之一所述的一种集成电路或分立元件平面阵列凸点式封装结构,其特征在于所述的基岛有多个,基岛外圈的功能输出脚有单圈,也有多圈,外侧的功能输出脚有多排,多排功能输出...
【专利技术属性】
技术研发人员:王新潮,于燮康,梁志忠,谢洁人,陶玉娟,李福寿,杨维君,
申请(专利权)人:江苏长电科技股份有限公司,
类型:发明
国别省市:32[中国|江苏]
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