磷酸二氢钾晶体坯片性能检测用的晶体输送结构制造技术

技术编号:31947947 阅读:18 留言:0更新日期:2022-01-19 21:39
本实用新型专利技术公开了磷酸二氢钾晶体坯片性能检测用的晶体输送结构,涉及磷酸二氢钾晶体生产技术领域,包括底座和磷酸二氢钾晶体坯片,所述底座设置磷酸二氢钾晶体坯片传输结构和分光光度计之间,所述底座的顶部有定量转动结构,所述定量转动结构连接有高度调节结构,所述高度调节结构的顶部固定连接有夹持结构,所述夹持结构两端均夹持有磷酸二氢钾晶体坯片,一端的所述磷酸二氢钾晶体坯片为未检测的磷酸二氢钾晶体坯片,另一端的所述磷酸二氢钾晶体坯片为检测过的磷酸二氢钾晶体坯片;通过上述方式,本实用新型专利技术实现同步上下料,晶体输送上料的速度块,效率高,利于企业快速生产。利于企业快速生产。利于企业快速生产。

【技术实现步骤摘要】
磷酸二氢钾晶体坯片性能检测用的晶体输送结构


[0001]本技术涉及磷酸二氢钾晶体生产
,具体为磷酸二氢钾晶体坯片性能检测用的晶体输送结构。

技术介绍

[0002]磷酸二氢钾(KDP)晶体是一种最早受到人们重视的功能晶体,人工生长KDP晶体已有半个多世纪的历史,是经久不衰的水溶性晶体之一。KDP晶体的透光波段为178nm~1.45um,是负光性单轴晶,其非线性光学系数d36(1.064um)=0.39pm/V,常常作为标准来比较其他晶体非线性效应的大小,可以实现Ⅰ类和Ⅱ类位相匹配,并且可以通过温度调谐来实现非临界位相匹配;
[0003]磷酸二氢钾(KDP)晶体加工成晶体坯片,晶体坯片需要分光光度计进行性能检测,分光光度计检测:光学性能、损伤阈值、面形的检测,现在是通过人工操作输送上料将磷酸二氢钾晶体坯片传输结构的磷酸二氢钾晶体坯片移动至分光光度计内进行检测,再下料然后上料,晶体输送上料的速度慢,效率低,不利于企业快速生产。
[0004]因此,提出磷酸二氢钾晶体坯片性能检测用的晶体输送结构以解决上述问题。

技术实现思路

[0005]本技术的目的在于提供磷酸二氢钾晶体坯片性能检测用的晶体输送结构,以解决上述
技术介绍
中提出问题。
[0006]为实现上述目的,本技术提供如下技术方案:磷酸二氢钾晶体坯片性能检测用的晶体输送结构,包括底座和磷酸二氢钾晶体坯片,所述底座设置磷酸二氢钾晶体坯片传输结构和分光光度计之间,所述底座的顶部有定量转动结构,所述定量转动结构连接有高度调节结构,所述高度调节结构的顶部固定连接有夹持结构,所述夹持结构两端均夹持有磷酸二氢钾晶体坯片,一端的所述磷酸二氢钾晶体坯片为未检测的磷酸二氢钾晶体坯片,另一端的所述磷酸二氢钾晶体坯片为检测过的磷酸二氢钾晶体坯片。
[0007]更进一步的,所述定量转动结构包括第一支撑套、轴承、第二支撑套、旋转电磁铁、方形插杆、连接套和方形插槽,所述旋转电磁铁和第一支撑套固定安装在底座的顶部,所述第一支撑套的顶部与轴承的外环底部固定连接,所述轴承的内环顶部固定连接有第二支撑套,所述第二支撑套的底部固定连接有连接套,所述连接套开设有方形插槽,所述旋转电磁铁的输出端固定连接有与方形插槽配合使用的方形插杆。
[0008]更进一步的,所述旋转电磁铁旋转角度为
±
90
°

[0009]更进一步的,所述高度调节结构选用第一电动推杆。
[0010]更进一步的,所述夹持结构包括横板、第二电动推杆、n形板、弯曲形夹板、横槽、第一凸块、第二凸块、转动板和转动轴,所述横板的两端开设有横槽,所述横槽内对称固定连接有转动轴,所述转动轴转动连接有弯曲形夹板,所述弯曲形夹板的内壁顶部对称固定连接有第二凸块,所述第二凸块转动连接有转动板,所述横板的顶部固定连接有第二电动推
杆,所述第二电动推杆的伸缩端固定连接有n形板,所述n形板的直立部位对称固定连接有第一凸块,所述第一凸块与转动板转动连接。
[0011]更进一步的,所述第一电动推杆的伸缩端顶部固定安装在横板的底部中端处。
[0012]更进一步的,所述弯曲形夹板底部内壁固定连接的橡胶垫,且弯曲形夹板通过橡胶垫与磷酸二氢钾晶体坯片贴合接触。
[0013]更进一步的,所述第二电动推杆带动n形板向下移动时n形板通过第一凸块、第二凸块、转动板和转动轴带动弯曲形夹板的上端向里转动,实现弯曲形夹板的底部向外转动实现磷酸二氢钾晶体坯片的释放,所述第二电动推杆带动n形板向上移动时n形板通过第一凸块、第二凸块、转动板和转动轴带动弯曲形夹板的上端向外转动,实现弯曲形夹板的底部向里转动实现磷酸二氢钾晶体坯片的夹持。
[0014]本技术的有益效果是:
[0015]本技术分光光度计内的磷酸二氢钾晶体坯片检测结束后,定量转动结构的旋转电磁铁正向转动带动方形插杆转动,方形插杆带动第二支撑套转动,第二支撑套通过第一电动推杆带动弯曲形夹板分别转动至磷酸二氢钾晶体坯片传输结构和分光光度计正上方,高度调节结构的第一电动推杆带动弯曲形夹板移动至磷酸二氢钾晶体坯片的外侧处,第二电动推杆带动n形板向上移动,n形板通过第一凸块、第二凸块、转动板和转动轴带动弯曲形夹板的上端向外转动,实现弯曲形夹板的底部向里转动实现磷酸二氢钾晶体坯片的夹持,方便对磷酸二氢钾晶体坯片进行夹持,然后,定量转动结构的旋转电磁铁反向转动带动方形插杆转动,弯曲形夹板将检测后的磷酸二氢钾晶体坯片转动至磷酸二氢钾晶体坯片传输结构,将未检测的磷酸二氢钾晶体坯片转动至分光光度计正上方,然后,高度调节结构的第一电动推杆带动弯曲形夹板向下移动,第二电动推杆带动n形板向下移动,n形板通过第一凸块、第二凸块、转动板和转动轴带动弯曲形夹板的上端向里转动,实现弯曲形夹板的底部向外转动实现磷酸二氢钾晶体坯片的释放,将未检测的磷酸二氢钾晶体坯片放到分光光度计内,进行上料,同时将检测后的磷酸二氢钾晶体坯片放到磷酸二氢钾晶体坯片传输结构上进行下料,实现同步上下料,晶体输送上料的速度块,效率高,利于企业快速生产。
附图说明
[0016]为了更清楚地说明本技术实施例的技术方案,下面将对实施例描述所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0017]图1为本技术的结构示意图;
[0018]图2为本技术的结构右视图;
[0019]图3为本技术的结构剖视图;
[0020]图4为本技术的图3的A处结构放大示意图;
[0021]图5为本技术的图3的B处结构放大示意图;
[0022]附图中,各标号所代表的部件列表如下:
[0023]1.底座 2.第一支撑套 3.轴承 4.第二支撑套 5.第一电动推杆 6.横板 7.第二电动推杆 8.n形板 9.弯曲形夹板 10.横槽 11.第一凸块 12.第二凸块 13.转动板 14.转
动轴 15.旋转电磁铁 16.方形插杆 17.连接套 18.方形插槽 19.磷酸二氢钾晶体坯片。
具体实施方式
[0024]下面将结合本技术实施例中的附图,对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例,都属于本技术保护的范围。
[0025]下面结合实施例对本技术作进一步的描述。
[0026]实施例1
[0027]如图1、2、3、5示,磷酸二氢钾晶体坯片性能检测用的晶体输送结构,包括底座1和磷酸二氢钾晶体坯片19,底座1设置磷酸二氢钾晶体坯片传输结构和分光光度计之间,底座1的顶部有定量转动结构,定量转动结构包括第一支撑套2、轴承3、第二支撑套4、旋转电磁铁15本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.磷酸二氢钾晶体坯片性能检测用的晶体输送结构,包括底座(1)和磷酸二氢钾晶体坯片(19),其特征在于:所述底座(1)设置磷酸二氢钾晶体坯片传输结构和分光光度计之间,所述底座(1)的顶部有定量转动结构,所述定量转动结构连接有高度调节结构,所述高度调节结构的顶部固定连接有夹持结构,所述夹持结构两端均夹持有磷酸二氢钾晶体坯片(19),一端的所述磷酸二氢钾晶体坯片(19)为未检测的磷酸二氢钾晶体坯片,另一端的所述磷酸二氢钾晶体坯片(19)为检测过的磷酸二氢钾晶体坯片。2.根据权利要求1所述的磷酸二氢钾晶体坯片性能检测用的晶体输送结构,其特征在于:所述定量转动结构包括第一支撑套(2)、轴承(3)、第二支撑套(4)、旋转电磁铁(15)、方形插杆(16)、连接套(17)和方形插槽(18),所述旋转电磁铁(15)和第一支撑套(2)固定安装在底座(1)的顶部,所述第一支撑套(2)的顶部与轴承(3)的外环底部固定连接,所述轴承(3)的内环顶部固定连接有第二支撑套(4),所述第二支撑套(4)的底部固定连接有连接套(17),所述连接套(17)开设有方形插槽(18),所述旋转电磁铁(15)的输出端固定连接有与方形插槽(18)配合使用的方形插杆(16)。3.根据权利要求2所述的磷酸二氢钾晶体坯片性能检测用的晶体输送结构,其特征在于:所述旋转电磁铁(15)旋转角度为
±
90
°
。4.根据权利要求3所述的磷酸二氢钾晶体坯片性能检测用的晶体输送结构,其特征在于:所述高度调节结构选用第一电动推杆(5)。5.根据权利要求4所述的磷酸二氢钾晶体坯片性能检测用的晶体输送结构,其特征在于:所述夹持结构包括横板(6)、第二电动推杆(7)、n...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈小平
申请(专利权)人:常熟市圆启晶体材料有限公司
类型:新型
国别省市:

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