一种电子元器件压接测试对位机构制造技术

本实用新型专利技术公开了一种电子元器件压接测试对位机构，涉及电子元器件检测技术领域，包括电子元器件和液压升降机构，所述液压升降机构的底部活动连接有液压升降杆，所述液压升降杆的底部固定有设备主体，所述设备主体上开设有通孔，所述通孔的内壁左侧固定安装有固定框，所述固定框内设置有限位机构，所述限位机构包括滑块。该电子元器件压接测试对位机构，当液压升降机构带动检测槽向下移动时，当检测槽移到电子元器件检测处时，会使挤压板受挤压，通过推杆、滑块第一限位齿的配合，进而使第一限位齿卡进第二限位齿中，使检测槽停止向下移动，起到了保护电子元器件的作用，防止检测槽继续下降造成电子元器件受损。槽继续下降造成电子元器件受损。槽继续下降造成电子元器件受损。

【技术实现步骤摘要】
一种电子元器件压接测试对位机构


[0001]本技术涉及电子元器件检测
，具体为一种电子元器件压接测试对位机构。

技术介绍

[0002]在面板、集成电路、半导体、电池、新能源等领域中，电子部件模块上有许多贴片的电子元器件，在制造工序中需通过探针模组对电子元器件进行导通检测和动作特性检查等。
[0003]在对电子元器件进行检测时，需要将检测槽向下移动，伸进电子元器件中，进行检测，当检测槽向下移动过多时，可能会使电子元器件受到挤压，进而造成电子元器件受损。

技术实现思路

[0004](一)解决的技术问题
[0005]针对现有技术的不足，本技术提供了一种电子元器件压接测试对位机构，解决了上述
技术介绍
提到的问题。
[0006](二)技术方案
[0007]为实现以上目的，本技术通过以下技术方案予以实现：一种电子元器件压接测试对位机构，包括电子元器件和液压升降机构，所述液压升降机构的底部活动连接有液压升降杆，所述液压升降杆的底部固定有设备主体，所述设备主体上开设有通孔，所述通孔的内壁左侧固定安装有固定框，所述固定框内设置有限位机构，所述限位机构包括滑块，所述滑块的右侧固定有第一限位齿，所述第一限位齿贯穿固定框的右侧，所述液压升降机构底部固定有固定板，所述固定板内设置有控制机构，所述控制机构包括第一弹簧，所述第一弹簧的左侧固定在连接板的右侧，所述连接板的左侧设置有第二限位齿。
[0008]优选的，所述滑块的右侧固定有复位弹簧，所述复位弹簧的右侧固定在固定框的内壁右侧。
>[0009]优选的，所述连接板的左侧固定有把手。
[0010]优选的，所述固定框的底部固定有第二弹簧，所述第二弹簧的底部固定有固定块，所述固定块的内壁固定有推杆，所述推杆的底部固定有挤压板。
[0011]优选的，所述第二限位齿设置有若干个，且若干个第二限位齿均匀分布在连接板的左侧。
[0012]优选的，所述通孔设置有两组，且两组通孔以设备主体竖直方向上的中心线为对称轴对称设置。
[0013]优选的，所述设备主体的底部固定有检测槽。
[0014](三)有益效果
[0015]本技术提供了一种电子元器件压接测试对位机构。具备以下有益效果：
[0016](1)、该电子元器件压接测试对位机构，当液压升降机构带动检测槽向下移动时，
当检测槽移到电子元器件检测处时，会使挤压板受挤压，通过推杆、滑块第一限位齿的配合，进而使第一限位齿卡进第二限位齿中，使检测槽停止向下移动，起到了保护电子元器件的作用，防止检测槽继续下降造成电子元器件受损。
[0017](2)、该电子元器件压接测试对位机构当检测完毕后，即可推动把手，使连接板向右移动，带动第二限位齿向右移动，使第一限位齿与第二限位齿表面不贴合，即可启动液压升降机构，使检测槽向上移动。
附图说明
[0018]图1为本技术正视的一种结构示意图；
[0019]图2为本技术A部分结构放大示意图；
[0020]图3为本技术B部分结构放大示意图；
[0021]图4为本技术设备主体俯视的一种结构示意图。
[0022]图中：1、电子元器件；2、液压升降机构；3、液压升降杆；4、设备主体；5、通孔；6、固定框；7、限位机构；71、滑块；72、第一限位齿；73、复位弹簧；8、第二弹簧；9、固定块；10、推杆；11、挤压板；12、固定板；13、控制机构；131、第一弹簧；132、连接板；133、把手；134、第二限位齿；14、检测槽。
具体实施方式
[0023]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0024]请参阅图1
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4，本技术提供一种技术方案：一种电子元器件压接测试对位机构，包括电子元器件1和液压升降机构2，液压升降机构2的底部活动安装有液压升降杆3，液压升降杆3的底部固定有设备主体4，设备主体4上开设有通孔5，通孔5的内壁左侧固定安装有固定框6，固定框6内设置有限位机构7，限位机构7包括滑块71，滑块71的顶部可以在固定框6的内壁顶部进行滑动，滑块71的右侧固定有第一限位齿72，第一限位齿72的右端贯穿固定框6的右侧，滑块71的左侧设置有一个斜面，滑块71的斜面与推杆10贴合，推杆10贯穿固定框6的底部，固定框6的底部固定有第二弹簧8，第二弹簧8的底部固定在固定块9的顶部，固定块9的内壁固定有推杆10，推杆10的底部固定有挤压板11，进而启动液压升降机构2带动设备主体4下降，设备主体4的底部安装有检测槽14，带动检测槽14向下移动，检测槽14下降到电子元器件1伸进检测槽14时，会使挤压板11挤压工作台，当检测槽14到达检测的位置时，会使挤压板11受挤压，带动滑块71向右移动，使第一限位齿72向右移动，液压升降机构2的底部固定有固定板12，固定板12内部设置有控制机构13。
[0025]上述控制机构13包括第一弹簧131，第一弹簧131的右侧固定在固定板12的内壁右侧，第一弹簧131的左侧固定在连接板132的右侧，连接板132的顶部可以在固定板12的内壁的顶部进行滑动，连接板132的左侧固定有第二限位齿134，进而当第一限位齿72向右移动时，可以使第一限位齿72卡进第二限位齿134中，使检测槽14不能继续下移，防止检测槽14继续下移，造成电子元器件1受挤压受损，当电子元器件1检测结束后，因连接板132的左侧
固定有把手133，把手133贯穿固定板12的左侧，进而可以推动把手133，使连接板132带动第二限位齿134向右移动，使第二限位齿134与第一限位齿72不贴合，解除对设备主体4的限位，启动液压升降机构2带动检测槽14上升，因第二弹簧8处于压缩状态，使推杆10会到恢复到原位，因滑块71的右侧固定有复位弹簧73，复位弹簧73的右侧固定在固定框6的内壁右侧，因复位弹簧73处于压缩状态，使复位弹簧73带动第一限位齿72回到原来的位置，即可松开把手133，使检测槽14回到原来的位置，进而进行下次检测。
[0026]工作时(或使用时)，当对电子元器件1进行检测时，将检测槽14对准电子元器件1的位置，进而启动液压升降机构2向下移动，带动检测槽14向下移动，当检测槽14到达电子元器件1检测位置时，会使挤压板11受挤压，使推杆10顶部挤压滑块71向右移动，进而使第一限位齿72向右移动，使第一限位齿72卡进第二限位齿134中，使设备主体4停止下降，进而使检测槽14停止下降，防止检测槽14下降过多，造成检测槽14挤压电子元器件1，造成电子元器件1受损，当检测结束后，可以推动把手133，使连接板132向右移动，使第二限位齿134向右移动，使第一限位齿72与第二限位齿134表本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电子元器件压接测试对位机构，包括电子元器件(1)和液压升降机构(2)，其特征在于：所述液压升降机构(2)的底部活动连接有液压升降杆(3)，所述液压升降杆(3)的底部固定有设备主体(4)，所述设备主体(4)上开设有通孔(5)，所述通孔(5)的内壁左侧固定安装有固定框(6)，所述固定框(6)内设置有限位机构(7)，所述限位机构(7)包括滑块(71)，所述滑块(71)的右侧固定有第一限位齿(72)，所述第一限位齿(72)贯穿固定框(6)的右侧，所述液压升降机构(2)底部固定有固定板(12)，所述固定板(12)内设置有控制机构(13)，所述控制机构(13)包括第一弹簧(131)，所述第一弹簧(131)的左侧固定在连接板(132)的右侧，所述连接板(132)的左侧设置有第二限位齿(134)。2.根据权利要求1所述的一种电子元器件压接测试对位机构，其特征在于：所述滑块(71)的右侧固定有复位弹簧(73)，所述复位弹簧(73)的右侧固定...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘伟东，王文振，
申请(专利权)人：深圳市睿思半导体有限公司，
类型：新型
国别省市：