K-edge鉴别能力参数表的获取及应用方法技术

本发明专利技术提供一种K

【技术实现步骤摘要】
K
‑
edge鉴别能力参数表的获取及应用方法


[0001]本专利技术涉及成像
，特别是涉及一种K
‑
edge鉴别能力参数表的获取及应用方法。

技术介绍

[0002]近年来，能量分辨光子计数探测器在X射线医学成像领域的潜在应用得到了积极研究。
[0003]在应用时，通常以待测材料的理论质量衰减系数曲线作为指导进行实际应用，然而，探测器对不同材料的K
‑
edge的鉴别退化效果不一致，使得材料实际的质量衰减系数与理论值存在误差，以理论质量衰减系数指导实际应用，将导致应用效果不如预期。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，针对上述技术问题，有必要提供一种K
‑
edge鉴别能力参数表的获取及应用方法。
[0005]本专利技术提供的一种K
‑
edge鉴别能力参数表的获取方法，包括以下步骤：
[0006]调节探测器预设的能量阈值；
[0007]选择不同材料的待测模体至探测器的检测区域内；
[0008]鉴别测试选定的待测模体；
[0009]探测器在不同的能量阈值下获得穿过不同材料的待测模体的能量信号；
[0010]根据多个所述能量信号，计算得到不同材料的待测模体在不同的能量阈值段内的质量衰减系数，形成不同待测模体的质量衰减曲线；
[0011]汇总多个待测模体的质量衰减曲线，形成K
‑
edge鉴别能力参数表。
[0012]在其中一个实施例中，在步骤“调节探测器预设的能量阈值”中，预设的能量阈值的范围为待测模体的K
‑
edge理论能量值
±
30keV。
[0013]在其中一个实施例中，在步骤“调节探测器预设的能量阈值”中，还包括以下步骤：调节射线源的工作电压，且工作电压为标称电压，或者工作电压的电压值等于待测试模体的理论K
‑
edge能量值的2倍。
[0014]在其中一个实施例中，每测试一种待测模体，以与测试待测模体相同的测试条件对对比模体进行测试。
[0015]在其中一个实施例中，所述对比模体的材料为气体。
[0016]在其中一个实施例中，在步骤“选择待测模体至探测器的检测区域内进行检测”中，调节待测模体与探测器之间的间距，用以调节投影放大比。
[0017]在其中一个实施例中，在步骤“获得待测模体在不同的能量阈值下的质量衰减系数，形成质量衰减曲线”中，拟合多个质量衰减系数，形成质量衰减曲线。
[0018]在其中一个实施例中，所述待测模体包括基板和待测材料，所述基板内开设有容置腔，待测材料安装于所述容置腔内。
[0019]本专利技术化提供一种K
‑
edge鉴别能力参数表的应用方法，所述K
‑
edge鉴别能力参数表为以上任意一项所述的K
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edge鉴别能力参数表；所述K
‑
edge鉴别能力参数表的应用方法包括以下步骤：
[0020]确定K
‑
edge成像用途；
[0021]确定待测物材料；
[0022]根据待测物的材料和K
‑
edge鉴别能力参数表，选取与待测物材料对应的质量衰减曲线；
[0023]根据待测物的质量衰减曲线，推荐与待测物K
‑
edge成像用途相应的能量阈值参数；
[0024]根据推荐的所述能量阈值参数和不同的用途需求，调节所述能量阈值参数。
[0025]在其中一个实施例中，不同的K
‑
edge成像用途具有不同的噪声和/或成像对比度需求。
[0026]本专利技术提供的一种K
‑
edge鉴别能力参数表的获取及应用方法，相比于现有技术的有益效果如下：
[0027]本专利技术通过同一探测器对多种不同材料的待测模体进行鉴别测试，从而探测器在不同的能量阈值下获得穿过不同材料的待测模体的能量信号，根据多个能量信号计算汇总形成多种材料的K
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edge鉴别能力参数表，即表征该探测器的对多种不同材料K
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edge的鉴别能力，有效消除材料K
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edge理论计算和真实测量之间的误差，为后续K
‑
edge成像等能谱应用提供可靠精确的参数选择依据，有利于提高K
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edge成像等能谱应用时能阈推荐的准确性以及提高能阈参数推荐的效率，进而优化K
‑
edge成像的应用效果。
附图说明
[0028]图1为适用于本专利技术的测量装置的结构示意图。
[0029]图2为适用于本专利技术的另一测量装置的结构示意图。
[0030]图3为图2中的测量装置的局部示意图。
[0031]图4为本专利技术一实施例中K
‑
edge鉴别能力参数表的获取方法的流程图。
[0032]图5为碘的质量衰减曲线。
[0033]图中，100、测量装置；10、基板；101、容置腔；20、待测模体；30、支撑座；40、驱动组件；401、第一驱动电机；402、第二驱动电机；403、第三驱动电机；404、第一传送带；405、第二传送带；50、对比模体；200、射线源；300、探测器；3001、检测区域。
具体实施方式
[0034]下面将结合本专利技术实施方式中的附图，对本专利技术实施方式中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施方式仅仅是本专利技术一部分实施方式，而不是全部的实施方式。基于本专利技术中的实施方式，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施方式，都属于本专利技术保护的范围。
[0035]需要说明的是，当组件被称为“装设于”另一个组件，它可以直接装设在另一个组件上或者也可以存在居中的组件。当一个组件被认为是“设置于”另一个组件，它可以是直接设置在另一个组件上或者可能同时存在居中组件。当一个组件被认为是“固定于”另一个
组件，它可以是直接固定在另一个组件上或者可能同时存在居中组件。
[0036]除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本专利技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本专利技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的，不是旨在于限制本专利技术。本文所使用的术语“或/及”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
[0037]目前，材料的理论K
‑
edge曲线已知，然而在实际应用中，每种探测器300的能量分辨率不同，性能不同，导致不同的探测器300对同种材料的鉴别效果不一致，导致检测得到同一材料的质量衰减系数与理论值存在系统误差，测量误差和量子噪声等退化源，因而通过理论值指导实际应用，有可能导致对实际的K
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edge成像的能量阈值的范围选择有误，无法得到最优的成像效果。因此，需要针对实际的探测器300，获取探测本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种K
‑
edge鉴别能力参数表的获取方法，其特征在于，包括以下步骤：调节探测器(300)预设的能量阈值；选择不同材料的待测模体(20)至检测区域(3001)内；鉴别测试选定的待测模体(20)；探测器(300)在不同的能量阈值下获得穿过不同材料的待测模体(20)的能量信号；根据多个所述能量信号，计算得到不同材料的待测模体(20)在不同的能量阈值段内的质量衰减系数，形成不同待测模体(20)的质量衰减曲线；汇总多个待测模体(20)的质量衰减曲线，形成K
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edge鉴别能力参数表。2.根据权利要求1所述的K
‑
edge鉴别能力参数表的获取方法，其特征在于，在步骤“调节探测器(300)预设的能量阈值”中，预设的能量阈值的范围为待测模体(20)的K
‑
edge理论能量值
±
30keV。3.根据权利要求1所述的K
‑
edge鉴别能力参数表的获取方法，其特征在于，在步骤“调节探测器(300)预设的能量阈值”中，还包括以下步骤：调节射线源(200)的工作电压，且工作电压为标称电压，或者工作电压的电压值等于待测试模体(20)的理论K
‑
edge能量值的2倍。4.根据权利要求1所述的K
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edge鉴别能力参数表的获取方法，其特征在于，每测试一种待测模体(20)，以与测试待测模体(20)相同的测试条件对对比模体(50)进行测试。5.根据权利要求4所述的K
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edge鉴别能力参数表的获取方法，其特征在于，所述对比模体(50)的材料为气体。6.根据权利要求1所述的K
‑
edge鉴别能力参数表的获取方法，其...

【专利技术属性】
技术研发人员：潘晓明，邢峣，
申请(专利权)人：武汉联影生命科学仪器有限公司，
类型：发明
国别省市：