测试装置、射频装置及检测系统制造方法及图纸

本申请公开了一种测试装置、射频装置及检测系统，用于在射频性能测试的过程中判断测试装置和射频装置的电连接状态。该测试装置用于对射频装置的射频性能进行测试。射频装置为具有接收和发送射频信号的功能的电路。射频装置包括射频座和第一电感。射频座用于连接天线。第一电感的第一端与射频座连接。第一电感的第二端连接到地。测试装置包括测试电路、探针、以及第一检测电路。其中，测试电路用于通过探针和射频座连接，对射频装置的射频性能进行测试。第一检测电路与探针的第一端连接，用于在探针的第二端和射频座连接时输出检测参数，基于该检测参数可得知探针和射频座的电连接状态，从而可以提高测试效率，保证测试结果的可靠性。靠性。靠性。

【技术实现步骤摘要】
测试装置、射频装置及检测系统


[0001]本申请涉及射频
，尤其涉及一种测试装置、射频装置及检测系统。

技术介绍

[0002]通常情况下，具有射频功能的电子设备在产线中，均需要利用测试机柜互传射频信号，实现电子设备的射频性能测试。
[0003]在测试过程中，测试机柜的探针和电子设备的射频座需要连接，以便于实现射频信号在测试机柜和电子设备的传输。然而，在上述射频性能的测试过程中，射频座和探针之间可能出现接触不良的问题。一旦出现接触不良的问题，若测试人员未及时察觉，将导致测试效率下降、测试结果不可靠，从而无法保证最终出厂的电子设备的射频性能。

技术实现思路

[0004]为了解决射频性能测试过程中，射频座和探针接触异常导致的测试效率下降、测试结果不可靠的问题，本申请提供了一种测试装置、射频装置及检测系统，用于在射频性能测试的过程中检测测试装置和射频装置的电连接状态，以便于当射频座和探针接触不良时可以及时察觉并及时调整测试。
[0005]第一方面，本申请提供一种测试装置。该测试装置用于对具有接收和发送射频信号的功能的射频装置的射频性能进行测试。射频装置包括射频座，射频座用于连接天线。该测试装置包括测试电路、探针以及第一检测电路。其中，测试电路与探针的第一端连接，探针的第二端用于和射频座连接。第一检测电路，与探针的第一端连接，用于在探针的第二端和射频座连接时，输出与探针和射频座连接时的等效电阻对应的检测参数，检测参数用于表征探针和射频座的电连接状态。
[0006]需要说明的是，当需要测试时，将测试装置的探针和射频装置的射频座连接，探针和射频座连接后可以等效为一个滑动变阻器，该滑动变阻器在探针和射频座处于不同的电连接状态时具有不同的等效电阻。当利用第一检测电路和探针连接时，可以检测到该等效电阻的不同，并输出和该等效电阻对应的检测参数。由于电连接状态和等效电阻具有对应关系，检测参数和等效电阻也具有对应关系，因此，该检测参数可以表征探针和射频座的电连接状态。基于该检测参数，测试人员可以在射频座和探针接触不良时及时调整其连接，从而避免射频座和探针接触不良导致测试结果不可靠的问题，保证最终出厂的电子设备的射频性能。
[0007]此外，在射频测试过程中，可以通过第一检测电路实时输出可以表征探针和射频座之间的电连接状态的检测参数，基于该检测参数可以第一时间获知探针和射频座之间的电连接状态。一旦在射频测试开始时或测试过程中出现射频座和探针接触不良的问题，可以第一时间察觉并处理，从而有利于避免测试效率下降。
[0008]一种可能的设计方案，射频装置包括第一电感。第一电感的第一端与射频座连接，第一电感的第二端连接到地。第一检测电路包括第一直流电源、限流单元、第二电感、以及
获取单元。第二电感的第一端与探针的第一端连接，第二电感的第二端与限流单元的第一端连接，限流单元的第二端与第一直流电源连接。获取单元的输入端与第二电感的第二端连接，用于在探针和射频座连接时，获取第二电感的第二端的电压，获取单元用于根据第二电感的第二端的电压确定检测参数，并通过获取单元的输出端输出检测参数。
[0009]该设计方案中，第一电感和第二电感具有隔交通直的作用，从而使得第一直流电源流出的电流可以依次通过第二电感，并分别经第一电感和滑动变阻器所在的支路，以及测试电路的等效电阻所在的支路流入至地，形成电流对地的直流通路，从而在第二电感的第二端形成直流电压。需要说明的是，滑动变阻器为直流通道的组成部分，其等效电阻的大小直接影响第二电感的第二端的电压，因此根据其确定的检测参数自然也就与等效电阻具有对应关系，而等效电阻的大小与电连接状态对应，因此，根据第二电感的第二端的电压确定的检测参数可以表征探针和射频座的电连接状态。
[0010]可选地，检测参数为第二电感的第二端的电压。当第二电感的第二端的电压小于或等于第一电压阈值时，第二电感的第二端的电压用于表征探针和射频座的电连接状态属于接触良好。当第二电感的第二端的电压大于第一电压阈值时，第二电感的第二端的电压用于表征探针和射频座的电连接状态属于接触不良。
[0011]应理解，第二电感的第二端的电压与滑动变阻器的等效电阻的大小对应，而等效电阻的大小与电连接状态对应，因此，第二电感的第二端的电压可以表征探针和射频座的电连接状态。此外，当第二电感的第二端的电压小于或等于第一电压阈值时，表示滑动变阻器的等效电阻较小，探针和射频座之间的插损较小，在此情况下，第二电感的第二端的电压自然可以表征探针和射频座接触良好；当第二电感的第二端的电压大于第一电压阈值时，表示滑动变阻器的等效电阻较大，探针和射频座之间的插损较大，在此情况下，第二电感的第二端的电压自然可以表征探针和射频座接触不良。
[0012]示例性地，获取单元为模数转换器。
[0013]可选地，当第二电感的第二端的电压小于或等于第二电压阈值时，检测参数为第一指示信号，第一指示信号用于指示探针和射频座之间的电连接状态属于接触良好。当第二电感的第二端的电压大于第二电压阈值时，检测参数为第二指示信号，第二指示信号用于指示探针和射频座之间接触不良。
[0014]应理解，当第二电感的第二端的电压小于或等于第二电压阈值时，表示滑动变阻器的等效电阻较小，探针和射频座之间的插损较小，在此情况下输出的第一指示信号自然可以表征探针和射频座接触良好；当第二电感的第二端的电压大于第二电压阈值时，表示滑动变阻器的等效电阻较大，探针和射频座之间的插损较大，在此情况下输出的第二指示信号自然可以表征探针和射频座接触不良。
[0015]示例性地，获取单元包括比较器、基准单元。基准单元的输出端，用于输出第二电压阈值。比较器的第一输入端与基准单元的输出端连接，用于接收第二电压阈值。比较器的第二输入端为获取单元的输入端。比较器的输出端为获取单元的输出端。
[0016]应理解，第二电压阈值越大，那么，大于第二电压阈值的第二电感的第二端的电压也越大，在此情况下，比较器输出的第一指示信号所表征的探针和射频座之间的虚接程度越大。本实施例中，可以通过调节基准单元输出的第二电压阈值的大小，可以检测出探针和射频座之间的虚接程度。
[0017]具体地，基准单元包括第一分压单元和第二分压单元。第一分压单元的第一端和第一直流电源连接。第一分压单元的第二端和第二分压单元的第一端连接，形成基准单元的输出端；第二分压单元的第一端连接到地。其中，串联在第一直流电源和地之间的第一分压单元和第二分压单元，用于对第一直流电源输出的电压进行分压，并通过基准单元的输出端输出第二电压阈值。
[0018]该示例中，通过配置第一分压单元和第二分压单元的分压占比，可以实现第二电压阈值的调节，从而可以检测出探针和射频座之间的虚接程度。
[0019]在一些实施例中，第一分压单元为第一电阻单元。限流单元为第二电阻单元。第一电阻单元和第二电阻单元具有相同的阻值。
[0020]从上述分析可知，通过调节基准单元输出的第二电压阈值，可以检测出探针和射频座之间的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试装置，其特征在于，用于对具有接收和发送射频信号的功能的射频装置的射频性能进行测试，所述射频装置包括射频座；所述射频座用于连接天线；所述测试装置包括测试电路、探针、以及第一检测电路；其中，所述测试电路与所述探针的第一端连接，所述探针的第二端用于和所述射频座连接；所述第一检测电路，与所述探针的第一端连接，用于在所述探针的第二端和所述射频座连接时，输出与所述探针和所述射频座连接时的等效电阻对应的检测参数，所述检测参数用于表征所述探针和所述射频座的电连接状态。2.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述射频装置包括第一电感；所述第一电感的第一端与所述射频座连接，所述第一电感的第二端连接到地；所述第一检测电路包括第一直流电源、限流单元、第二电感、以及获取单元；所述第二电感的第一端与所述探针的第一端连接，所述第二电感的第二端与所述限流单元的第一端连接，所述限流单元的第二端与所述第一直流电源连接；所述获取单元的输入端与所述第二电感的第二端连接，用于在所述探针和所述射频座连接时，获取所述第二电感的第二端的电压，所述获取单元用于根据所述第二电感的第二端的电压确定所述检测参数，并通过所述获取单元的输出端输出所述检测参数。3.如权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述检测参数为所述第二电感的第二端的电压；当所述第二电感的第二端的电压小于或等于第一电压阈值时，所述第二电感的第二端的电压用于表征所述探针和所述射频座的电连接状态属于接触良好；当所述第二电感的第二端的电压大于所述第一电压阈值时，所述第二电感的第二端的电压用于表征所述探针和所述射频座的电连接状态属于接触不良。4.如权利要求3所述的测试装置，其特征在于，所述获取单元为模数转换器。5.如权利要求2所述的测试装置，其特征在于，当所述第二电感的第二端的电压小于或等于第二电压阈值时，所述检测参数为第一指示信号，所述第一指示信号用于指示所述探针和所述射频座之间的电连接状态属于接触良好；当所述第二电感的第二端的电压大于所述第二电压阈值时，所述检测参数为第二指示信号，所述第二指示信号用于指示所述探针和所述射频座之间接触不良。6.如权利要求5所述的测试装置，其特征在于，所述获取单元包括比较器、基准单元；所述基准单元的输出端，用于输出所述第二电压阈值；所述比较器的第一输入端与所述基准单元的输出端连接，用于接收所述第二电压阈值；所述比较器的第二输入端为所述获取单元的输入端；所述比较器的输出端为所述获取单元的输出端。7.如权利要求6所述的测试装置，其特征在于，所述基准单元包括第一分压单元和第二分压单元；所述第一分压单元的第一端和所述第一直流电源连接；所述第一分压单元的第二端和所述第二分压单元的第一端连接，形成所述基准单元的输出端；所述第二分压单元的第一
端连接到地；其中，串联在所述第一直流电源和地之间的所述第一分压单元和所述第二分压单元，用于对所述第一直流电源输出的电压进行分压，并通过所述基准单元的输出端输出所述第二电压阈值。8.如权利要求7所述的测试装置，其特征在于，所述第一分压单元为第一电阻单元；所述限流单元为第二电阻单元；所述第一电阻单元和所述第二电阻单元具有相同的阻值。9.如权利要求7所述的测试装置，其特征在于，所述第一分压单元为第一电流源；所述限流单元为第二电流源；所述第一电流源和所述第二电流源具有相同的输出电流。10.一种检测系统，其特征在于，包括所述射频装置以及如权利要求1至9任一项所述的测试装置。11.一种射频装置，其特征在于，所述射频装置为具有接收和发送射频信号的功能的电路；所述射频装置用于通过测试装置进行射频性能测试，所述测试装置包括探针；所述射频装置包括：射频座、以及检测电路；其中，所述射频座用于连接天线，并在所述射频性能测试的过程中和所述探针连接；所述检测电路与所述射频座连接，用于在所述探针和所述射频座连接时，输出与所述探针和所述射频座连接时的等效电阻对应的检测参数，所述检测参数用于表征所述探针和所述射频座的电连接状态。12.如权利要求11所述的射频装置，其特征在于，所述检测电路包括第一直流电源、限流单元、第二电感、以及获取单元；所述第二电感的第一端与所述射频座的第二端连接；所述第二电感的第二端与所述限流单元的第一端连接，所述限流单元的第二端与所述第一直流电源连接；所述获取单元的输入端与所述第二电感的第二端连接，用于在所述探针和所述射频座连接时，获取所述第二电感的第二端的电压...

【专利技术属性】
技术研发人员：姜丕锦，江成，张新丽，
申请(专利权)人：荣耀终端有限公司，
类型：发明
国别省市：