一种基于TFT-LCD检测缺陷真假判定方法和系统技术方案

本发明专利技术公开了一种基于TFT

【技术实现步骤摘要】
一种基于TFT
‑
LCD检测缺陷真假判定方法和系统


[0001]本专利技术属于计算机视觉检测
，具体涉及一种基于TFT
‑
LCD检测缺陷真假判定方法和系统。

技术介绍

[0002]随着科学技术的不断发展和进步，计算机视觉检测技术具有快速高效和集成性等优点，被广泛应用在自动化领域。目前光学自动检测技术在TFT
‑
LCD检测行业广泛使用，随着制程工艺不断发展和改进，对自动检测算法要求越来越高，不仅要求真缺陷检出率高，而且要尽可能降低假缺陷的检出率，这对自动检测设备是一种挑战。因此，需要一种更准确和更稳定的真假缺陷判定方法，既提升真缺陷的检出率，又降低假缺陷的检出率。
[0003]现有与本专利技术类似的解决方案是通过建立大量的缺陷图像库，将疑似缺陷和缺陷图像库进行匹配，根据其匹配度判定缺陷的类别。例如，中国专利技术专利申请号CN201910445000.5公开了一种缺陷判定方法及缺陷判定装置：预先建立大量的缺陷图像库，将检测出来的缺陷与缺陷图像库进行匹配，根据匹配度的高低将缺陷进行归类，然后将相应的缺陷进行后续处理。
[0004]上述缺陷判定方法的缺点在于：第一，必须要收集大量的缺陷图像库，实际缺陷图像库不足时，该判定方法容易产生误判。第二，收集缺陷图像库不可能将所有的缺陷图像都收集，存在先天不足的问题。第三，当缺陷图像库越来越大时，匹配时间会越来越长，缺乏足够的实时性。

技术实现思路

[0005]基于目前缺陷判定方法的缺点，本专利技术提出了一种基于TFT
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LCD检测缺陷真假判定的方法。本专利技术首先获取缺陷位置信息，根据缺陷位置获取缺陷图像和参考图像，用缺陷图像和参考图像进行局部图像对准，然后把对准图像和缺陷图像做图像增强和高斯双边滤波，最后根据滤波后的图像之差的绝对值和阈值判定缺陷的真假。
[0006]具体的，本专利技术提供了一种基于TFT
‑
LCD检测缺陷真假判定的方法，包括以下步骤：获取缺陷位置信息；根据缺陷位置获取缺陷图像和参考图像；用缺陷图像和参考图像进行局部图像对准；对两张对准图像和缺陷图像均进行图像增强和高斯双边滤波；用滤波后的图像之差的绝对值与设定阈值比较判定缺陷的真假。
[0007]优选的，所述获取缺陷位置信息过程如下：通过检测算法检出缺陷并记录缺陷的位置信息。
[0008]优选的，所述根据缺陷位置获取缺陷图像和参考图像，包括步骤如下：以缺陷的中心位置为中心，TFT
‑
LCD面板最小重复单元宽度和高度为基础图像尺
寸，宽度和高度均再扩展32个像素作为缺陷图像尺寸。
[0009]以缺陷的中心位置为起点，以距离TFT
‑
LCD面板最小重复单元的正高度位置为终点，并把该终点作为参考图像的中心，在缺陷图像尺寸的基础上，宽度和高度均再扩展6个像素作为第一张参考图像。
[0010]以缺陷的中心位置为起点，以距离TFT
‑
LCD面板最小重复单元的负高度位置为终点，并把该终点作为参考图像的中心，在缺陷图像尺寸的基础上，宽度和高度均再扩展6个像素作为第二张参考图像。
[0011]优选的，所述用缺陷图像和参考图像进行局部图像对准，包括以下步骤：把缺陷图像和参考图像用灰度互相关方法进行图像对准。
[0012]优选的，所述对两张对准图像和缺陷图像均进行图像增强和高斯双边滤波，包括步骤如下：根据对准的位置分别获取两张亚像素对准图像，图像的宽度和高度均跟缺陷图像一致。
[0013]把缺陷图像和两张亚像素对准图像先采用gamma算法增强，提高缺陷图像的灰度信号，然后用高斯双边滤波进行去噪处理。
[0014]优选的，所述用滤波后的图像之差的绝对值与设定阈值比较判定缺陷的真假，包括步骤如下：分别计算滤波后缺陷图像和滤波后两张对准图像之间差的绝对值，计算所得差的绝对值减去设定的阈值，获得缺陷结果图。如果两张缺陷结果图中均有像素灰度值非零，则判定该缺陷为真缺陷，否则判定该缺陷为假缺陷。
[0015]根据本专利技术的另一个方面，本专利技术还提供了一种基于TFT
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LCD检测缺陷真假判定系统，包括：缺陷定位模块，用于获取缺陷位置信息；参考图像模块，用于根据缺陷位置信息获取缺陷图像和两张参考图像；对准图像模块，用于用缺陷图像和两张参考图像进行局部图像对准，得到两张对准图像；增强滤波模块，用于对两张对准图像和缺陷图像均进行图像增强和高斯双边滤波；真假判定模块，用于计算滤波后的缺陷图像和滤波后每张对准图像之间差的绝对值，与设定阈值比较得到两张缺陷结果图，从而判定缺陷的真假。
[0016]根据本专利技术的另一个方面，本专利技术还提供了一种包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述的存储器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序，以实现如上所述的TFT
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LCD检测缺陷判定方法。
[0017]根据本专利技术的另一个方面，本专利技术还提供了一种非临时性计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行，以实现如上所述的TFT
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LCD检测缺陷判定方法。
[0018]与现有技术相比，本专利技术的有益效果：通过获取缺陷图像和相邻位置的参考图像，减小图像之间的差异，实现实时判定缺陷真假，提高缺陷判定的速度和准确率。该专利技术在视觉检测系统具有很好的应用，进一步的扩展，还可以在视觉检测的缺陷识别等方面应用。
附图说明
[0019]通过阅读下文优选实施方式的详细描述，各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的，而并不认为是对本专利技术的限制。而且在整个附图中，用相同的参考符号表示相同的部件。在附图中：图1为本专利技术的TFT
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LCD缺陷真假判定方法实施流程图。
[0020]图2为本专利技术的TFT
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LCD缺陷真假判定方法实例。
[0021]图3为本专利技术的TFT
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LCD缺陷真假判定方法缺陷图像原始图。
[0022]图4为本专利技术的TFT
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LCD缺陷真假判定方法第一张参考图像原始图。
[0023]图5为本专利技术的TFT
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LCD缺陷真假判定方法第二张参考图像原始图。
[0024]图6为本专利技术的TFT
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LCD缺陷真假判定方法第一张对准图像效果图。
[0025]图7为本专利技术的TFT
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LCD缺陷真假判定方法第二张对准图像效果图。
[0026]图8为本专利技术的TFT
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LCD缺陷真假判定方法缺陷图像增强效果图。
[0027]图9为本专利技术的TFT
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LCD缺陷真假判定方法缺陷图像高斯双边滤波效果图。
[0028]图10为本专利技术的TFT
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LCD缺陷真假判定方法第一张对准图像增强效果图。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于TFT
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LCD检测缺陷真假判定方法，其特征在于，包括以下步骤：获取缺陷位置信息；根据缺陷位置信息获取缺陷图像和两张参考图像；用缺陷图像和两张参考图像进行局部图像对准，得到两张对准图像；对两张对准图像和缺陷图像均进行图像增强和高斯双边滤波；计算滤波后的缺陷图像和滤波后每张对准图像之间差的绝对值，与设定阈值比较得到两张缺陷结果图，从而判定缺陷的真假。2.根据权利要求1所述的一种基于TFT
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LCD检测缺陷真假判定方法，其特征在于：所述获取缺陷位置信息的过程如下：通过检测算法检出缺陷并记录缺陷的位置信息。3.根据权利要求1或2所述的一种基于TFT
‑
LCD检测缺陷真假判定方法，其特征在于：所述根据缺陷位置信息获取缺陷图像和两张参考图像的过程如下：以缺陷的中心位置为中心，TFT
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LCD面板最小重复单元宽度和高度为基础图像尺寸，宽度和高度均再扩展32个像素作为缺陷图像尺寸；以缺陷的中心位置为起点，以距离TFT
‑
LCD面板最小重复单元的正高度位置为终点，并把该终点作为参考图像的中心，在缺陷图像尺寸的基础上，宽度和高度均再扩展6个像素作为第一张参考图像；以缺陷的中心位置为起点，以距离TFT
‑
LCD面板最小重复单元的负高度位置为终点，并把该终点作为参考图像的中心，在缺陷图像尺寸的基础上，宽度和高度均再扩展6个像素作为第二张参考图像。4.根据权利要求3所述的一种基于TFT
‑
LCD检测缺陷真假判定方法，其特征在于：所述用缺陷图像和两张参考图像进行局部图像对准，得到两张对准图像的过程如下：将缺陷图像和两张参考图像分别采用局部灰度互相关方法对准，得到两张对准图像。5.根据权利要求1或4所述的一种基于TFT
‑
LCD检测缺陷真假判定方...

【专利技术属性】
技术研发人员：查世华，杨义禄，李波，曾磊，关玉萍，左右祥，
申请(专利权)人：中导光电设备股份有限公司，
类型：发明
国别省市：