一种快速测量的微波功率计及控制方法技术

本发明专利技术公开了一种快速测量的微波功率计及控制方法，包括：FPGA模块、ARM处理器和两个采样数据存储器；所述两个采样数据存储器的一个端口均与FPGA模块连接，另一个端口均与ARM处理器连接；所述ARM处理器还与FPGA模块连接；所述FPGA模块用于在两个采样数据存储器之间切换进行采样ADC数据写入；所述ARM处理器用于获取FPGA模块的切换信号，并切换ARM处理器自身用于读取采样ADC数据的采样数据存储器；其中，ARM处理器用于读取采样ADC数据的采样数据存储器与FPGA模块进行采样ADC数据写入的采样数据存储器恰好相反。大大加快了每次测量的速度，保证了采样信号的连续性。同时，本发明专利技术提出的微波功率计的控制方法，加快了微波功率计的测量速度。测量速度。测量速度。

【技术实现步骤摘要】
一种快速测量的微波功率计及控制方法


[0001]本专利技术属于微波功率计
，尤其涉及一种快速测量的微波功率计及控制方法。

技术介绍

[0002]本部分的陈述仅仅是提供了与本专利技术相关的
技术介绍
信息，不必然构成在先技术。
[0003]目前，微波功率采用纯软件的处理方法，每完成一次数据采集后，软件进行后续的数据处理和温度补偿，处理完成后再启动采样，整个处理过程是串行的，并且是非连续的。
[0004]但是，由于纯软件的处理方式，只能是串行的，采样和数据处理只能分时进行，并且在测量的过程中需要进行温度补偿，而每次温度补偿需要10ms左右，这就导致了测量速度慢，整个流程下来测量时间至少需要10ms，同时，在进行数据处理和温度补偿过程中会导致测量数据丢失。

技术实现思路

[0005]为克服上述现有技术的不足，本专利技术提供了一种快速测量的微波功率计，大大加快了每次测量的速度，保证了采样信号的连续性。
[0006]为实现上述目的，本专利技术的一个或多个实施例提供了如下技术方案：
[0007]一种快速测量的微波功率计，包括：FPGA模块、ARM处理器和两个采样数据存储器；
[0008]所述两个采样数据存储器的一个端口均与FPGA模块连接，另一个端口均与ARM处理器连接；所述ARM处理器还与FPGA模块连接；
[0009]所述FPGA模块用于在两个采样数据存储器之间切换进行采样ADC数据写入；
[0010]所述ARM处理器用于获取FPGA模块的切换信号，并切换ARM处理器自身用于读取采样ADC数据的采样数据存储器；
[0011]其中，ARM处理器用于读取采样ADC数据的采样数据存储器与FPGA模块进行采样ADC数据写入的采样数据存储器恰好相反。
[0012]进一步的，所述FPGA模块存储有采样数据存储器的设定采样长度，当正在进行采样ADC数据写入的采样数据存储器的存入数据的长度大于设定采样长度时，所述FPGA模块切换至另一个采样数据存储器进行采样ADC数据写入。
[0013]进一步的，所述ARM处理器还与校准表格存储器连接，用于在设定的校准表格更新时间，按照既定顺序循环获取校准表格存储器内的校准表格的小表格，在FPGA存储的间隙分时完成所有小表格的更新。
[0014]进一步的，所述ARM处理器还用于读取未进行采样ADC数据写入的采样数据存储器中的采样ADC数据，并基于所述校准表格存储器内的校准表格，将读取的采样ADC数据转化为功率值。
[0015]进一步的，还包括显示器，与所述ARM处理器连接，用于显示所述功率值。
[0016]进一步的，所述两个采样数据存储器的大小一致，且要保证FPGA模块和ARM处理器对每一块采样数据存储器都可以进行读写操作。
[0017]本专利技术还公开了一种快速测量的微波功率计的控制方法，包括：
[0018]基于设定采样长度，FPGA模块在两个采样数据存储器之间进行采样ADC数据写入的切换；同时，ARM处理器基于FPGA模块的切换信号，切换用于读取采样ADC数据的采样数据存储器；
[0019]其中，ARM处理器用于读取采样ADC数据的采样数据存储器与FPGA模块进行采样ADC数据写入的采样数据存储器恰好相反。
[0020]进一步的，所述FPGA模块在两个采样数据存储器之间进行采样ADC数据写入的切换的具体步骤为：
[0021]FPGA模块判断进行ADC数据写入的采样数据存储器的存入数据的长度是否大于设定采样长度，当大于设定采样长度时，FPGA模块将采样ADC数据写入另一个采样数据存储器。
[0022]进一步的，还包括：
[0023]ARM处理器在设定的校准表格更新时间，按照既定顺序循环获取校准表格存储器内的校准表格的小表格；
[0024]在FPGA存储的间隙分时完成所有小表格的更新。
[0025]进一步的，还包括：
[0026]ARM处理器读取未进行采样ADC数据写入的采样数据存储器中的采样ADC数据；
[0027]基于所述校准表格，将读取的采样ADC数据转化为功率值。
[0028]以上一个或多个技术方案存在以下有益效果：
[0029]本专利技术的微波功率计，采用数据采集和运算的同步处理技术、温度补偿过程的切割分时处理技术，大大加快了每次测量的速度，相对于纯软件的处理方式，测量速度至少提高500倍，同时也可以保证测量信号的连续性。
[0030]本专利技术的微波功率计的控制方法，通过采用数据采集和运算的同步处理技术、温度补偿过程的切割分时处理技术，保证了采样信号的连续性，并且最快可实现20us完成一次测量，即每秒可进行50000次读数。
附图说明
[0031]构成本专利技术的一部分的说明书附图用来提供对本专利技术的进一步理解，本专利技术的示意性实施例及其说明用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的不当限定。
[0032]图1是本专利技术实施例一的微波功率计的结构图。
具体实施方式
[0033]应该指出，以下详细说明都是示例性的，旨在对本专利技术提供进一步的说明。除非另有指明，本文使用的所有技术和科学术语具有与本专利技术所属
的普通技术人员通常理解的相同含义。
[0034]需要注意的是，这里所使用的术语仅是为了描述具体实施方式，而非意图限制根据本专利技术的示例性实施方式。如在这里所使用的，除非上下文另外明确指出，否则单数形式
也意图包括复数形式，此外，还应当理解的是，当在本说明书中使用术语“包含”和/或“包括”时，其指明存在特征、步骤、操作、器件、组件和/或它们的组合。
[0035]在不冲突的情况下，本专利技术中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
[0036]实施例一
[0037]参见附图1所示，本实施例公开了一种快速测量的微波功率计，包括：FPGA模块、校准表格存储器RAM3、ARM处理器、显示器和两个采样数据存储器(第一采样数据存储器RAM1和第二采样数据存储器RAM2)。
[0038]其中，两个采样数据存储器的大小一致，且均为双口RAM，且要保证FPGA模块和ARM处理器对每一块采样数据存储器都可以进行读写操作。即，两个采样数据存储器为两个大小一致且容量足够大的双口RAM，同时要保证FPGA和ARM对同一块RAM都可以进行读写操作。
[0039]两个采样数据存储器的一个端口均与FPGA模块连接，另一个端口均与ARM处理器连接。
[0040]FPGA模块，用于进行连续不间断采样，获取采样ADC，并实时的存入RAM中。其中，采样ADC数据包括温度ADC值和功率ADC值。
[0041]ARM处理器与FPGA模块连接，FPGA模块用于在两个采样数据存储器之间切换进行采样ADC数据写入；ARM处理器用于获取FPGA模块的切换信号，并切换ARM处理器自身用于读取采样ADC数据的采样数据存储器；其中，ARM处理器用于读取采样ADC数据的采样数据存储器与FPGA模块本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种快速测量的微波功率计，其特征是，包括：FPGA模块、ARM处理器和两个采样数据存储器；所述两个采样数据存储器的一个端口均与FPGA模块连接，另一个端口均与ARM处理器连接；所述ARM处理器还与FPGA模块连接；所述FPGA模块用于在两个采样数据存储器之间切换进行采样ADC数据写入；所述ARM处理器用于获取FPGA模块的切换信号，并切换ARM处理器自身用于读取采样ADC数据的采样数据存储器；其中，ARM处理器用于读取采样ADC数据的采样数据存储器与FPGA模块进行采样ADC数据写入的采样数据存储器恰好相反。2.如权利要求1所述的一种快速测量的微波功率计，其特征是，所述FPGA模块存储有采样数据存储器的设定采样长度，当正在进行采样ADC数据写入的采样数据存储器的存入数据的长度大于设定采样长度时，所述FPGA模块切换至另一个采样数据存储器进行采样ADC数据写入。3.如权利要求1所述的一种快速测量的微波功率计，其特征是，所述ARM处理器还与校准表格存储器连接，用于在设定的校准表格更新时间，按照既定顺序循环获取校准表格存储器内的校准表格的小表格，在FPGA存储的间隙分时完成所有小表格的更新。4.如权利要求3所述的一种快速测量的微波功率计，其特征是，所述ARM处理器还用于读取未进行采样ADC数据写入的采样数据存储器中的采样ADC数据，并基于所述校准表格存储器内的校准表格，将读取的采样ADC数据转化为功率值。5.如权利要求4所述的一种快速测量的微波功率计，其特征是，还包括显示器，与所述ARM处理...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘元商，苏发，李强，李金山，冷朋，徐达旺，殷大鹏，张宇森，夏天亮，马翌凯，
申请(专利权)人：中电科思仪科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：