高精度深井仓料位检测设备调整机构制造技术

技术编号:31744167 阅读:57 留言:0更新日期:2022-01-05 16:23
本实用新型专利技术属于调整机构技术领域,尤其涉及一种高精度深井仓料位检测设备调整机构。可实现微小角度高精度调节,具有高可靠性,为提供料位数据的稳定提供保障。包括底座支架;所述底座支架上安装有用于固定料位检测设备的两轴陀螺仪支架;所述两轴陀螺仪支架包括X轴架、设置于X轴架外的Y轴架,所述Y轴架与底座支架通过第一转轴转动连接,所述X轴架与Y轴架通过第二转轴转动连接;所述检测设备安装于X轴架上;所述X轴架与用于提供其相对Y轴架转动一定角度的X轴驱动机构相连;所述Y轴架与用于提供其相对底座支架转动一定角度的Y轴驱动机构相连。相连。相连。

【技术实现步骤摘要】
高精度深井仓料位检测设备调整机构


[0001]本技术属于调整机构
,尤其涉及一种高精度深井仓料位检测设备调整机构。

技术介绍

[0002]随着矿山建设事业的发展,地下采掘深度越来越深,很多矿山都在井下建设有矿石或废石的深井仓,来用于储存矿石和废石。其深度可达50米到150米,且深井仓直径小(一般3米到8米,相对深度来说是小)。矿山生产要实现智能化,各种生产事态的感知是必要的,深井仓的料位检测必不可少,目前国内外已经有相关产品在应用,且大部分是雷达料位计。但是,由于深井仓深度深,直径小,地处井下等原因导致对料位检测设备雷达料位计的发射角要求较高,造成选择范围很小。大部分雷达料位计的发射角为8
°
,少部分能做到发射角为4
°
。目前采用小发射角的调频雷达料位计突出的问题就是角度调整,其实际允许调节的角度常常为不到5
°
。料位计照射角度有微小的变化,极容易照射到仓壁上,直接造成料位检测信号失真。
[0003]目前,各料位计生产商提供了一些照射角度调整附件,一般有以下几种方式:1、采用可调龙门框架;2、采用斜面法兰;3、采用万向节瞄准器。
[0004]现有技术用在深井仓有明显的缺点且无法克服。
[0005]一、有调整附件安装固定后,由于深井仓空间狭长,微小的移动就可以造成照射角度跑偏,可靠性差,无法为矿山安全生产提供长期可靠的料位数据。
[0006]二、全部是手动直接调整,而人的手动操作精度无法精确到1
°
到5

范围内,安装调整作业时间长,且很难调整到最佳角度。
[0007]三、需要人员频繁长时间井下作业,无法达到矿山“无人则安”的要求,增加安全隐患,是矿山智能化的一个瓶颈。

技术实现思路

[0008]本技术就是针对现有技术存在的缺陷,提供一种高精度深井仓料位检测设备调整机构。
[0009]为实现上述目的,本技术采用如下技术方案,包括底座支架;其特征在于,所述底座支架上安装有用于固定料位检测设备的两轴陀螺仪支架。
[0010]所述两轴陀螺仪支架包括X轴架、设置于X轴架外的Y轴架,所述Y轴架与底座支架通过第一转轴转动连接,所述X轴架与Y轴架通过第二转轴转动连接;所述检测设备安装于X轴架上。
[0011]所述X轴架与用于提供其相对Y轴架转动一定角度的X轴驱动机构相连。
[0012]所述Y轴架与用于提供其相对底座支架转动一定角度的Y轴驱动机构相连。
[0013]进一步地,所述X轴架设置有用于检测自身倾斜角度的X轴倾斜传感器,所述Y轴架设置有用于检测自身倾斜角度的Y轴倾斜传感器。
[0014]进一步地,所述Y轴架包括长方形框架结构。
[0015]进一步地,所述X轴架包括相平行的上长方框架面、下长方框架面,上长方框架面与下长方框架面间通过多个立柱固连;且所述检测设备安装于下长方框架面内。
[0016]进一步地,所述第一转轴与第二转轴垂直,所述检测设备为料位计。
[0017]进一步地,所述X轴驱动机构包括安装于Y轴架上的X轴架调整机、安装于底座支架上的X轴架调节伺服电机、与所述伺服电机相连X轴架调节减速机;所述X轴架调节伺服电机与一X轴伸缩万向轴的第一连接端相连,伸缩万向轴的第二连接端与X轴架调整机相连;所述X轴架调整机包括壳体、安装于壳体内的丝杆丝母传动机构,所述伸缩万向轴的第二连接端与丝杆相连,丝杆与所述壳体转动相连,丝杆旋转,带动其上丝母上下移动;所述丝母与X轴架相连。
[0018]进一步地,所述Y轴驱动机构包括安装于底座支架上的Y轴架调整机、Y轴架调节伺服电机、与所述伺服电机相连Y轴架调节减速机;所述Y轴架调节伺服电机与一Y轴伸缩万向轴的第一连接端相连,伸缩万向轴的第二连接端与Y轴架调整机相连;所述Y轴架调整机包括壳体、安装于壳体内的丝杆丝母传动机构,所述伸缩万向轴的第二连接端与丝杆相连,丝杆与所述壳体转动相连,丝杆旋转,带动其上丝母上下移动;所述丝母与Y轴架相连。
[0019]与现有技术相比本技术有益效果。
[0020]本技术可实现微小角度高精度调节,具有高可靠性,为提供料位数据的稳定提供保障。
附图说明
[0021]下面结合附图和具体实施方式对本技术做进一步说明。本技术保护范围不仅局限于以下内容的表述。
[0022]图1是具体实施例中检测设备调整机构主视图。
[0023]图2是具体实施例中检测设备调整机构侧视图。
[0024]图3是具体实施例中检测设备调整机构俯视图。
[0025]图4是具体实施例中检测设备调整机构工作状态示意图。
[0026]图5

7是具体实施例中X轴架与Y轴架的不同角度立体示意图。
[0027]图8是具体实施例中检测设备调整机构不同角度立体示意图。
[0028]图9是运动副分析示意图。
[0029]图10是调整设备设计计算数据表。
[0030]图11为调整机三维爆炸图。
[0031]图12为调整机局部剖视图。
[0032]图中,1为料位计、2为X轴架调整机、3为Y轴架调节减速机、4为Y轴架调节伺服电机、5为X轴架调节减速机、6为X轴架调节伺服电机、7为底座支架、8为Y轴架、9为X轴架、10为Y轴架调整机、11为X轴伸缩万向轴、12为倾角传感器、13为L型连接板、14为丝杆。
具体实施方式
[0033]如图1

12所示,具体实施例一:包括底座支架7;其特征在于,所述底座支架7上安装有用于固定料位检测设备的两轴陀螺仪支架;所述两轴陀螺仪支架包括X轴架9、设置于X
轴架9外的Y轴架8,所述Y轴架8与底座支架7通过第一转轴转动连接,所述X轴架9与Y轴架8通过第二转轴转动连接;所述检测设备安装于X轴架上;所述X轴架9与用于提供其相对Y轴架8转动一定角度的X轴驱动机构相连;所述Y轴架8与用于提供其相对底座支架7转动一定角度的Y轴驱动机构相连。
[0034]优选地,所述X轴架9设置有用于检测自身倾斜角度的X轴倾斜传感器,所述Y轴架8设置有用于检测自身倾斜角度的Y轴倾斜传感器。倾斜传感器即倾角传感器12。
[0035]优选地,所述Y轴架包括长方形框架结构。
[0036]优选地,所述X轴架包括相平行的上长方框架面、下长方框架面,上长方框架面与下长方框架面间通过多个立柱固连;且所述检测设备安装于下长方框架面内。
[0037]优选地,所述第一转轴与第二转轴垂直,所述检测设备为料位计1。
[0038]优选地,所述X轴驱动机构包括安装于Y轴架上的X轴架调整机2、安装于底座支架7上的X轴架调节伺服电机6、与所述伺服电机相连X轴架调节减速机5;所述X轴架调节伺服电机6与一X轴伸缩万向轴11的第一连接端相连,伸缩万向轴的第二连接端与X轴架调整机2相连;所述X轴架调整机2包括壳体、安装于壳体内的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.高精度深井仓料位检测设备调整机构,包括底座支架;其特征在于:所述底座支架上安装有用于固定料位检测设备的两轴陀螺仪支架;所述两轴陀螺仪支架包括X轴架、设置于X轴架外的Y轴架,所述Y轴架与底座支架通过第一转轴转动连接,所述X轴架与Y轴架通过第二转轴转动连接;所述检测设备安装于X轴架上;所述X轴架与用于提供其相对Y轴架转动一定角度的X轴驱动机构相连;所述Y轴架与用于提供其相对底座支架转动一定角度的Y轴驱动机构相连。2.根据权利要求1所述的高精度深井仓料位检测设备调整机构,其特征在于:所述X轴架设置有用于检测自身倾斜角度的X轴倾斜传感器,所述Y轴架设置有用于检测自身倾斜角度的Y轴倾斜传感器。3.根据权利要求1所述的高精度深井仓料位检测设备调整机构,其特征在于:所述Y轴架包括长方形框架结构。4.根据权利要求1所述的高精度深井仓料位检测设备调整机构,其特征在于:所述X轴架包括相平行的上长方框架面、下长方框架面,上长方框架面与下长方框架面间通过多个立柱固连;且所述检测设备安装于下长方框架面内。5.根据权利要求1所述的高精度深井仓料位检测设备调整机构,其特征在于:所述第一...

【专利技术属性】
技术研发人员:李明宇任志强郑宇涵
申请(专利权)人:抚顺罕王傲牛矿业股份有限公司
类型:新型
国别省市:

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