本申请实施例提供了一种测试装置，包括第一光器件，第二光器件，输入端通过传输光纤与所述第一光器件的输出端连接的第一模场适配器，以及输出端通过传输光纤与所述第二光器件的输入端连接的第二模场适配器；其中，所述第一模场适配器的输出端与所述第二模场适配器的输入端之间用以熔接待测增益光纤器件。本申请实施例提供的技术方案提高了增益光纤器件的测试效率。的测试效率。的测试效率。
【技术实现步骤摘要】
测试装置
[0001]本申请实施例涉及激光器件领域，尤其涉及一种测试装置。
技术介绍
[0002]光纤激光器是指用掺稀土元素的增益光纤作为增益介质的激光器，光纤激光器的输出效果受到增益光纤性能的影响，因此在光纤激光器的设计、生产等阶段均要对所用的增益光纤的性能进行测试。
[0003]利用传统的测试装置对增益光纤进行测试时，通常是将待测的增益光纤接入测试装置的传输光纤中，使得测试光可以在增益光纤中传输，增益光纤对测试光进行处理，通过将增益光纤的输出测试光与增益光纤的输入测试光进行对比计算，对增益光纤的性能进行测试。在将待测的增益光纤接入测试装置中的传输光纤时，需要保持传输光纤的纤芯直径及包层直径与增益光纤相同，否则会带来较高的熔接损坏。因此，传统的测试装置只能测试一种纤芯直径及包层直径的增益光纤，若测试不同纤芯直径和包层直径的增益光纤，需要对测试装置进行更换，导致测试效率较低。
技术实现思路
[0004]本申请实施例提供一种测试装置，用以解决现有技术中增益光纤测试效率较低的问题。
[0005]第一方面，本申请实施例中提供了一种测试装置，包括第一光器件及第二光器件，输入端通过传输光纤与所述第一光器件的输出端连接的第一模场适配器，以及输出端通过传输光纤与所述第二光器件的输入端连接的第二模场适配器；
[0006]其中，所述第一模场适配器的输出端与所述第二模场适配器的输入端之间用以熔接待测增益光纤器件。
[0007]本申请实施例中，由于模场适配器具有减少不同模场直径和数值孔径的光纤进行熔接时的损耗的作用及特性，可以用于降低具有不同纤芯直径和包层直径的传输光纤及待测增益光纤在熔接时的熔接损耗，则通过在测试装置中接入两个模场适配器，可以实现利用同一个测试装置对多种具有不同纤芯直径和包层直径的待测增益光纤的测试，解决了传统方案中需要更换测试装置的问题，提高了增益光纤的测试效率。
[0008]本申请的这些方面或其他方面在以下实施例的描述中会更加简明易懂。
附图说明
[0009]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0010]图1示出了本申请提供的一种测试装置一个实施例的结构示意图；
[0011]图2示出了本申请提供的一种测试装置另一个实施例的结构示意图；
[0012]图3示出了本申请提供的一种测试装置另一个实施例的结构示意图。
具体实施方式
[0013]为了使本
的人员更好地理解本申请方案，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。
[0014]在本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的描述的一些结构中，包含了按照特定顺序出现的多个结构件，这些结构件的序号如101、102等，仅仅是用于区分开各个不同的结构件。需要说明的是，本文中的“第一”、“第二”等描述，是用于区分不同的结构件等，不代表先后顺序，也不限定“第一”和“第二”是不同的类型。
[0015]本申请实施例可以应用于对光纤进行测试的测试装置中，以待测的光纤是光纤激光器中的增益光纤为例，光纤激光器是指用掺稀土元素的增益光纤作为增益介质的激光器，光纤激光器的输出效果受到增益光纤性能的影响，因此在光纤激光器的设计、生产等阶段均要对所用的增益光纤的性能进行测试。
[0016]利用传统的测试装置对增益光纤进行测试时，通常是将待测的增益光纤接入测试装置的传输光纤中，使得测试光可以在待测增益光纤中传输，待测增益光纤可以对测试光进行处理，通过将待测增益光纤的输出测试光与输入测试光进行对比计算，对待测增益光纤的性能进行测试。在将待测增益光纤接入测试装置中的传输光纤时，需要保持传输光纤的纤芯直径及包层直径与待测增益光纤相同，否则会带来较高的熔接损坏。因此，传统的测试装置只能测试一种纤芯直径及包层直径的待测增益光纤，若测试不同纤芯直径和包层直径的待测增益光纤，需要对测试装置进行更换，导致测试效率较低。
[0017]因此，为了提高待测增益光纤的测试效率，专利技术人想到，模场适配器(Mode Field Adaptor，简称MFA)具有减少不同模场直径和数值孔径的光纤进行熔接时的损耗的作用及特性，可以用于降低具有不同纤芯直径和包层直径的传输光纤及待测增益光纤在熔接时的熔接损耗。由此，专利技术人提出了本申请的技术方案，即一种测试装置，包括第一光器件及第二光器件，输入端通过传输光纤与所述第一光器件的输出端连接的第一模场适配器，以及输出端通过传输光纤与所述第二光器件的输入端连接的第二模场适配器；其中，所述第一模场适配器的输出端与所述第二模场适配器的输入端之间用以熔接待测增益光纤器件。
[0018]通过在测试装置中接入两个模场适配器，可以实现利用同一个测试装置对多种具有不同纤芯直径和包层直径的待测增益光纤的测试，解决了传统方案中需要更换测试装置的问题，提高了增益光纤的测试效率。
[0019]下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0020]如图1，示出了一个实施例中测试装置的结构示意图，包括第一光器件101，第二光器件102，输入端通过传输光纤与第一光器件的输出端连接的第一模场适配器103，以及输出端通过传输光纤与第二光器件的输入端连接的第二模场适配器104。
[0021]其中，第一模场适配器103的输出端与第二模场适配器104的输入端之间用以熔接
待测增益光纤器件105。
[0022]本申请实施例中，测试装置可以用于对光纤进行测试，以光纤激光器中的增益光纤为例，光纤激光器的输出效果受增益光纤性能的影响，因此在光纤激光器的设计、生产等阶段均要对所用增益光纤进行性能测试，如转换效率测试等。在对增益光纤进行测试时，可以将测试光从待测增益光纤的一端输入，另一端输出，使得测试光在待测增益光纤中传输，待测增益光纤可以对测试光进行处理，如待测增益光纤可以对信号光进行放大等。通过将经待测增益光纤输出的测试光参数与输入待测增益光纤的测试光参数进行对比计算，测试待测增益光纤的性能，如转换效率等。
[0023]具体的，测试装置中的第一光器件101可以作为测试光的产生器件，第一光器件101产生的测试光首先沿传输光纤传输，之后传输至待测增益光纤器件105的一端，并在待测增益光纤器件105中传输，经待测增益光纤器件处理后，从待测增益光纤器件105的另一端输出，并沿传输光纤传输至第二光器件102中。该第二光器件102可以作为测试光的测试器件，对经待测增益光纤器件输出的测试光进行测试，从而获得待测增益光纤器本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种测试装置，其特征在于，包括第一光器件，第二光器件，输入端通过传输光纤与所述第一光器件的输出端连接的第一模场适配器，以及输出端通过传输光纤与所述第二光器件的输入端连接的第二模场适配器；其中，所述第一模场适配器的输出端与所述第二模场适配器的输入端之间用以熔接待测增益光纤器件。2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述待测增益光纤器件的纤芯直径与所述传输光纤的纤芯直径相同或不同，所述待测增益光纤器件的包层直径与所述传输光纤的包层直径相同或不同。3.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述第一模场适配器的输出端设置有至少一个第一光纤跳线，所述第二模场适配器的输入端设置有至少一个第二光纤跳线；所述待测增益光纤器件通过与其匹配的第一光纤跳线与所述第一模场适配器的输出端熔接，以及通过与其匹配的第二光纤跳线与所述第二模场适配器的输入端熔接。4.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，所述第一模场适配器的输出端设置有多个第一光纤跳线，所述多个第一光纤跳线的纤芯直径和/或包层直径不同；所述第二模场适配器的输出端设置有多个第二光纤跳线，所述多个第二光纤跳线的纤芯直径和/或包层直径不同。5.根据权利要求4所述的测试装置，其特征在于，所述待测增益光纤器件包括待测增益光纤，以及分别与所述待测增益光纤两端熔接的第一光栅和第二光栅；所述第一光栅通过与其匹配的第一光纤跳线与所述第一模场适配器的输出端熔接，以及所述第二光栅通过与其匹...
【专利技术属性】
技术研发人员：阮仁秋，况慧君，张鑫涵，倪蒙，夏巨江，
申请(专利权)人：武汉锐科光纤激光技术股份有限公司，
类型：新型
国别省市：
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