一种PCB阻抗测试结构及PCB板制造技术

本实用新型专利技术公开了一种PCB阻抗测试结构及PCB板，其中PCB阻抗测试结构，包括分布于PCB表层的若干条测试线路，测试线路包括阻抗线，阻抗线两端分别设有第一测试点和第二测试点，第一测试点与第二测试点为露铜结构，第一测试点与第二测试点用于连接外部阻抗测试装置；通过阻抗线、第一测试点和第二次测试点的设置使得PCB具备了与外部阻抗装置测试装置连接进行阻抗测试的基础，第一测试点与第二测试点为与外部阻抗测试装置连接，通过阻抗线进行阻抗测试，因此阻抗线的参数不同即可决定不同的阻抗测试，可以通过改变阻抗线的线宽以及间距等参数，使得测试线路可以适应不同PCB的阻抗测试需求，实现对于出库后无阻抗条的PCB而言仍可以进行多种阻抗测试的效果。以进行多种阻抗测试的效果。以进行多种阻抗测试的效果。

【技术实现步骤摘要】
一种PCB阻抗测试结构及PCB板


[0001]本技术属于电子
，具体涉及一种PCB阻抗测试结构及PCB板。

技术介绍

[0002]目前，随着电视的更新换代，如今的电视机板PCB上存在众多的高速信号线，此类高速信号线都有特征差分阻抗或者单端阻抗的设计要求。特征阻抗直接影响高速信号的质量，如HDMI信号兼容性，EMC以及信号眼图的效果，总的来说特征阻抗直接影响产品的信号完整性和可靠性。阻抗条即含有所有特征阻抗设计线路的PCB物理板。
[0003]当前，特征阻抗条存在于PCB生成过程中panel的工艺边上，交货给客户的时候，此类工艺边早已经过处理卸载，客户到手的只有单板或者连片的PCB光板，即不含有阻抗条的PCB板，这样导致后续客户把PCB成品组装完成后做功能验证或者兼容性测试的时候无法验证板上那些需要控制特征阻抗的高速信号线是否满足设计端提出的特征阻抗要求，同时因为PCB已经安装了元件，测试阻抗的探头也没有位置可以测量特征阻抗的数值，因此对于出库后的PCB而言存在无法进行阻抗测试的问题。

技术实现思路

[0004]为了克服现有技术的上述缺点，本技术的目的在于提供一种PCB阻抗测试结构，旨在解决现有对于出库后的PCB而言存在无法进行阻抗测试的问题。
[0005]本技术为达到其目的，所采用的技术方案如下：
[0006]一种PCB阻抗测试结构，包括分布于PCB表层的若干条测试线路，测试线路包括阻抗线，阻抗线两端分别设有第一测试点和第二测试点，第一测试点与第二测试点为露铜结构，第一测试点与第二测试点用于连接外部阻抗测试装置。
[0007]进一步地，测试线路包括单端阻抗线路以及差分阻抗线路，单端阻抗线路包括一条测试线路，差分阻抗线路包括两条测试线路。
[0008]进一步地，第二测试点的直径等于或者小于阻抗线的线宽，第一测试点的直径大于第二测试点的直径。
[0009]进一步地，还包括若干个接地点，接地点设于第一测试的一侧。
[0010]进一步地，接地点包括测试接地点以及接地贯穿点，测试接地点用于连接外部阻抗测试装置，接地贯穿点贯穿PCB所有的接地平面，接地贯穿点设于测试接地点与第一测试点之间。
[0011]进一步地，还包括参考层，测试路线与参考层之间存在间隔距离，间隔距离的长度与阻抗线的宽度成正比。
[0012]进一步地，测试线路包括第一测试线路和第二测试线路，第一测试线路分布于PCB的主元件面，第二测试线路分布于PCB的次元件面。
[0013]进一步地，还包括铜线，铜线分布于不同于阻抗线所在的表层。
[0014]进一步地，阻抗线的一端设有标识符号，标识符号用于标识对应阻抗线的特性。
[0015]对应地本技术还提供一种PCB板，包括如上述的PCB阻抗测试结构。
[0016]与现有技术相比，本技术的有益效果是：
[0017]本技术提出的PCB阻抗测试结构，包括分布于PCB表层的若干条测试线路，测试线路包括阻抗线，阻抗线两端分别设有第一测试点和第二测试点，第一测试点与第二测试点为露铜结构，第一测试点与第二测试点用于连接外部阻抗测试装置；通过阻抗线、第一测试点和第二次测试点的设置使得PCB具备了与外部阻抗装置测试装置连接进行阻抗测试的基础，其中若干个条测试线路的设置可以对于不同的阻抗测试根据需求进行设置多组，第一测试点与第二测试点为与外部阻抗测试装置连接，通过阻抗线进行阻抗测试，因此阻抗线的参数不同即可决定不同的阻抗测试，可以通过调节改变阻抗线的线宽以及间距等参数，使得测试线路可以适应不同PCB的阻抗测试需求，实现对于出库后无阻抗条的PCB而言仍可以进行多种阻抗测试的效果。
附图说明
[0018]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
[0019]图1为本技术一实施例中PCB阻抗测试结构的结构示意图；
[0020]图2为本技术另一实施例中PCB阻抗测试结构的结构示意图；
[0021]图3为本技术又一实施例中PCB阻抗测试结构的结构示意图。
[0022]附图标记说明：
[0023]1、测试线路；11、阻抗线；12、第一测试点；13、第二测试点；14、单端阻抗线路；15、差分阻抗线路；2、接地点；21、测试接地点；22、接地贯穿点；3、主元件面；4、次元件面；5、铜线；6、标识符号。
[0024]本技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
[0025]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0026]参照图1
‑
2，本技术实施例提供一种PCB阻抗测试结构，包括分布于PCB表层的若干条测试线路1，测试线路1包括阻抗线11，阻抗线11两端分别设有第一测试点12和第二测试点13，第一测试点12与第二测试点13为露铜结构，第一测试点12与第二测试点13用于连接外部阻抗测试装置。
[0027]具体地，本实施例中测试线路1均是铜制线路，其中阻抗线11用于进行阻抗测试的主体部分，第一测试点12与第二测试点13为进行露铜处理的测试点，露铜处理使得第一测试点12与第二测试点13可以实现与外部阻抗测试装置连接的效果，使得PCB阻抗参数值的可测性与便利性，实现了出库后不具备阻抗条的PCB同样可以进行阻抗测试的效果；
[0028]更具体地，本实施例是通过阻抗线11、第一测试点12和第二次测试点的设置使得PCB具备了与外部阻抗装置测试装置连接进行阻抗测试的基础，其中若干个条测试线路1的设置可以对于不同的阻抗测试根据需求进行设置多组，第一测试点12与第二测试点13为与外部阻抗测试装置的连接点，而阻抗线11的参数不同对应了不同的阻抗测试，阻抗线11的参数包括阻抗线11的线宽、阻抗线11的间距等，因此可以根据不同的阻抗测试需求设置若干组不同阻抗线11参数的测试线路1，以此实现了可以在同一块PCB板上设置若干个测试线路1配合外部阻抗测试装置进行若干阻抗测试，也克服了现有技术中出库后的PCB无阻抗条无法进行阻抗测试的问题，实现了对于出库后无阻抗条的PCB而言仍可以进行多种阻抗测试的效果。
[0029]进一步地，测试线路1包括单端阻抗线路14以及差分阻抗线路15，单端阻抗线路14包括一条测试线路1，差分阻抗线路15包括两条测试线路1。
[0030]具体地，本实施例中提供了PCB在进行单本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种PCB阻抗测试结构，其特征在于，包括分布于PCB表层的若干条测试线路，所述测试线路包括阻抗线，所述阻抗线两端分别设有第一测试点和第二测试点，且所述第一测试点与所述第二测试点为露铜结构，所述第一测试点与所述第二测试点用于连接外部阻抗测试装置。2.根据权利要求1所述的PCB阻抗测试结构，其特征在于，所述测试线路包括单端阻抗线路以及差分阻抗线路，所述单端阻抗线路包括一条所述测试线路，所述差分阻抗线路包括两条所述测试线路。3.根据权利要求2所述的PCB阻抗测试结构，其特征在于，还包括参考层，所述测试线路与所述参考层之间存在间隔距离，所述间隔距离的长度与所述阻抗线的宽度成正比。4.根据权利要求1所述的PCB阻抗测试结构，其特征在于，所述第二测试点的直径等于或者小于所述阻抗线的线宽，所述第一测试点的直径大于所述第二测试点的直径。5.根据权利要求1所述的PCB阻抗测试结构，其特征在于，还包括若干个接地...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘文辉，
申请(专利权)人：深圳创维RGB电子有限公司，
类型：新型
国别省市：