本实用新型专利技术提供一种转盘式多工位偏光片光学性能检测设备，包括：外壳、放置台、固定板、灯源、L形板和驱动机构，所述外壳内壁上端固定有固定环，所述固定环顶部通过轴承转动连接有转板，所述放置台等距固定在转板表面，所述放置台中部呈中空设置，且放置台与外壳内壁连通，所述固定板固定在外壳内壁，所述灯源等距固定在固定板上表面，且灯源有四个，所述L形板等距固定在外壳顶部，且L形板分别位于灯源上方，所述L形板顶部固定有光学采样探头，且光学采样探头位于灯源正上方，所述驱动机构固定在固定板中部。本实用新型专利技术可多工位对偏光片的光学性能进行检测，大大提高检测效率，且通过挡光筒和挡光壳对光源机型遮挡，提高检测精度。提高检测精度。提高检测精度。
【技术实现步骤摘要】
一种转盘式多工位偏光片光学性能检测设备
[0001]本技术涉及偏光片性能检测
，尤其涉及一种转盘式多工位偏光片光学性能检测设备。
技术介绍
[0002]偏光片是液晶显示屏可以显示画面必不可少的组件，在现有的偏光片的生产过程中，需要对偏光片的光学性能进行检测，一般检测偏光度、透光率曲线、透射光谱和光透过偏光片后的色坐标，在现有的偏光片的光学性能检测中，大都是通过人工进行检测，检测效率较低。
[0003]因此，有必要提供一种转盘式多工位偏光片光学性能检测设备解决上述技术问题。
技术实现思路
[0004]为解决上述技术问题，本技术是提供一种转盘式多工位偏光片光学性能检测设备。
[0005]本技术提供的一种转盘式多工位偏光片光学性能检测设备，包括：外壳、放置台、固定板、灯源、L形板和驱动机构，所述外壳内壁上端固定有固定环，所述固定环顶部通过轴承转动连接有转板，所述放置台等距固定在转板表面，所述放置台中部呈中空设置，且放置台与外壳内壁连通，所述固定板固定在外壳内壁，所述灯源等距固定在固定板上表面，且灯源有四个，所述L形板等距固定在外壳顶部，且L形板分别位于灯源上方，所述L形板顶部固定有光学采样探头，且光学采样探头位于灯源正上方，所述驱动机构固定在固定板中部。
[0006]优选的，所述驱动机构包括：固定轴、驱动盘、伺服电机和第一转盘，所述固定轴通过轴承转动连接在固定板中部，且固定轴顶部与转板固定连接，所述驱动盘固定在固定轴下端，所述驱动盘外侧等距开设有拨槽和限位槽，且拨槽和限位槽分别为六个，所述伺服电机固定在固定板下表面，且伺服电机的输出端穿过固定板，所述第一转盘固定在伺服电机的输出端顶部，所述第一转盘下表面边缘固定有拨柱，且拨柱与拨槽滑动连接，所述第一转盘下表面固定有第二转盘，且第二转盘与限位槽滑动连接。
[0007]优选的，所述第二转盘外侧开设有避让槽。
[0008]优选的，所述放置台底部固定有挡光筒。
[0009]优选的，所述放置台内壁固定有井字绳，且井字绳为一种透明材质构成。
[0010]优选的，所述L形板下表面固定有挡光壳，且光学采样探头位于挡光壳内壁。
[0011]优选的，所述外壳底部对称固定有支脚。
[0012]优选的，所述伺服电机为一种减速电机。
[0013]与相关技术相比较，本技术提供的转盘式多工位偏光片光学性能检测设备具有如下有益效果：
[0014]本技术提供转盘式多工位偏光片光学性能检测设备：
[0015]1、在使用时，转板上的多个放置台分别为上料工位，下料工位和分别检测偏光度、透光率曲线、透射光谱和光透过偏光片后的色坐标的工位，通过机械手将偏光片夹持在放置台上后，通过底部光源进行照射，并通过L形板上的光学采样探头对透过偏光片的光源进行数据的采集，每采集一种数据后，通过伺服电机驱动转板旋转60度，从而使得放置台上的偏光片向下一个工位移动，逐步对偏光片的性能进行检测，此装置可多工位对偏光片的光学性能进行检测，大大提高检测效率，且通过挡光筒和挡光壳对光源机型遮挡，提高检测精度。
附图说明
[0016]图1为本技术提供的整体结构示意图；
[0017]图2为本技术提供的固定环结构示意图；
[0018]图3为本技术提供的转板结构示意图；
[0019]图4为本技术提供的挡光筒结构示意图；
[0020]图5为本技术提供的驱动机构结构示意图；
[0021]图6为本技术提供的固定板结构示意图；
[0022]图7为本技术提供的光学采样探头结构示意图。
[0023]图中标号：1、外壳；2、固定环；3、转板；4、放置台；5、固定板；6、灯源；7、L形板；8、光学采样探头；9、驱动机构；91、固定轴；92、驱动盘；93、拨槽；94、限位槽；95、伺服电机；96、第一转盘；97、拨柱；98、第二转盘；10、避让槽；11、挡光筒；12、井字绳；13、挡光壳；14、支脚。
具体实施方式
[0024]下面结合附图和实施方式对本技术作进一步说明。
[0025]在具体实施过程中，如图1、图2、图3、图6和图7所示，一种转盘式多工位偏光片光学性能检测设备，包括：外壳1、放置台4、固定板5、灯源6、L形板7和驱动机构9，所述外壳1内壁上端固定有固定环2，所述固定环2顶部通过轴承转动连接有转板3，所述放置台4等距固定在转板3表面，所述放置台4中部呈中空设置，且放置台4与外壳1内壁连通，所述固定板5固定在外壳1内壁，所述灯源6等距固定在固定板5上表面，且灯源6有四个，所述L形板7等距固定在外壳1顶部，且L形板7分别位于灯源6上方，所述L形板7顶部固定有光学采样探头8，且光学采样探头8位于灯源6正上方，所述驱动机构9固定在固定板5中部，所述外壳1底部对称固定有支脚14，在使用时，转板3上的多个放置台4分别为上料工位，下料工位和分别检测偏光度、透光率曲线、透射光谱和光透过偏光片后的色坐标的工位，通过机械手将偏光片夹持在放置台4上后，通过底部光源进行照射，并通过L形板7上的光学采样探头8对透过偏光片的光源进行数据的采集。
[0026]参考图5和图6所示，所述驱动机构9包括：固定轴91、驱动盘92、伺服电机95和第一转盘96，所述固定轴91通过轴承转动连接在固定板5中部，且固定轴91顶部与转板3固定连接，所述驱动盘92固定在固定轴91下端，所述驱动盘92外侧等距开设有拨槽93和限位槽94，且拨槽93和限位槽94分别为六个，所述伺服电机95固定在固定板5下表面，且伺服电机95的输出端穿过固定板5，所述第一转盘96固定在伺服电机95的输出端顶部，所述第一转盘96下
表面边缘固定有拨柱97，且拨柱97与拨槽93滑动连接，所述第一转盘96下表面固定有第二转盘98，且第二转盘98与限位槽94滑动连接，所述第二转盘98外侧开设有避让槽10，通过伺服电机95转动带动第一转盘96转动，进而可带动拨柱97转动，使得拨柱97滑进拨槽93内壁拨动驱动盘92，使得驱动盘92转动60度，进而可带动固定轴91旋转60度，将转板3旋转60度，从而使得放置台4上的偏光片向下一个工位移动，逐步对偏光片的性能进行检测。
[0027]参考图3、图4、图6和图7所示，所述放置台4底部固定有挡光筒11，所述L形板7下表面固定有挡光壳13，且光学采样探头8位于挡光壳13内壁，所述放置台4内壁固定有井字绳12，且井字绳12为一种透明材质构成，通过设置挡光筒11和挡光壳13，可减少光源的散射，避免影响相邻偏光片的检测，且通过井字绳12对偏光片进行支撑，防止偏光片因为重力的作用而下垂。
[0028]所述伺服电机95为一种减速电机。
[0029]工作原理：
[0030]在使用时，转板3上的多个放置台4分别为上料工位，下料工位和分别检测偏光度、透光率曲线、透射光谱和光透过偏光片后的色坐标的工位，通过机械手将偏光片夹持在放置台4上后，本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种转盘式多工位偏光片光学性能检测设备，其特征在于，包括：外壳(1)，所述外壳(1)内壁上端固定有固定环(2)，所述固定环(2)顶部通过轴承转动连接有转板(3)；放置台(4)，所述放置台(4)等距固定在转板(3)表面，所述放置台(4)中部呈中空设置，且放置台(4)与外壳(1)内壁连通；固定板(5)，所述固定板(5)固定在外壳(1)内壁；灯源(6)，所述灯源(6)等距固定在固定板(5)上表面，且灯源(6)有四个；L形板(7)，所述L形板(7)等距固定在外壳(1)顶部，且L形板(7)分别位于灯源(6)上方，所述L形板(7)顶部固定有光学采样探头(8)，且光学采样探头(8)位于灯源(6)正上方；驱动机构(9)，所述驱动机构(9)固定在固定板(5)中部。2.根据权利要求1所述的转盘式多工位偏光片光学性能检测设备，其特征在于，所述驱动机构(9)包括：固定轴(91)，所述固定轴(91)通过轴承转动连接在固定板(5)中部，且固定轴(91)顶部与转板(3)固定连接；驱动盘(92)，所述驱动盘(92)固定在固定轴(91)下端，所述驱动盘(92)外侧等距开设有拨槽(93)和限位槽(94)，且拨槽(93)和限位槽(94)分别为六个；伺服电机(95)，所述伺服电机(95)固定在固定板(5)...
【专利技术属性】
技术研发人员：覃建宁，
申请(专利权)人：深圳市鹏新宜电子有限公司，
类型：新型
国别省市：
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