一种基于TFT-LCD线条缺陷真实性判定方法和系统技术方案

本发明专利技术公开了一种基于TFT

【技术实现步骤摘要】
一种基于TFT
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LCD线条缺陷真实性判定方法和系统


[0001]本专利技术属于计算机视觉检测
，具体涉及一种基于TFT
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LCD线条缺陷真实性判定方法和系统。

技术介绍

[0002]随着科学技术的不断发展和进步，计算机视觉检测技术具有快速高效和集成性等优点，被广泛应用在自动化领域。目前光学自动检测技术在TFT
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LCD检测行业广泛使用，随着制程工艺不断发展和改进，对自动检测算法要求越来越高。尤其是车载屏领域，对产品的良率有很高的要求。因为制程因素影响，车载屏线条易出现断开的情况。线条断开的面积越大，为缺陷产品的可能性就越高，但是断开的面积在一定的范围内不认为是线条缺陷而判为缺陷产品。因此，需要准确判断断线面积，提升产品的良率。
[0003]现有的解决方案是通过最大连通域方法提取直线，获取边缘点后计算线宽。例如，中国专利技术专利申请号CN200810106942.2公开了一种基于最大连通域的线路板线宽测量方法：对线路板图像进行去噪并分割直线，利用最大连通法提取直线，获取直线的边缘点，然后对两侧边缘点用最小二乘法进行直线拟合，利用两边缘点分别到另一边缘拟合直线的平均距离作为线宽。
[0004]上述计算线宽方法的缺点在于：第一，需要预先选定直线所在的区域，而不能自动提取直线信息。第二，提取边缘点搜索方法复杂，需要提前设定搜索的方向，而不能自动判断搜索方向。第三，利用两边缘点分别到另一边缘拟合直线的平均距离作为线宽，这样计算出来线宽误差较大。/>
技术实现思路

[0005]基于目前线条缺陷判定方法的缺点，本专利技术提出了一种基于TFT
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LCD线条缺陷真实性判定的方法。本专利技术首先，根据检测缺陷的位置，获取缺陷图像，其次，对缺陷图像滤波后分离线条，再次，以缺陷位置为中心，搜集缺陷所在线条的所有点位置信息，然后获取线条的边界点位置并拟合边界，最后根据线条断开面积判定缺陷真实性。
[0006]具体的，本专利技术提供了一种基于TFT
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LCD线条缺陷真实性判定的方法，包括以下步骤：根据检测缺陷的位置，获取缺陷图像；对所述缺陷图像进行滤波后分离线条和背景，得到缺陷所在线条；搜集所述缺陷所在线条的所有点位置信息；获取所述缺陷所在线条的边界点位置并拟合边界，获得边界直线；根据所述缺陷所在线条的断开面积判定缺陷真实性。
[0007]优选的，所述根据检测缺陷的位置，获取缺陷图像的过程如下：以检测缺陷的中心为缺陷图像中心，以缺陷的宽度和高度为基础图像大小，宽度和高度方向均向外扩展48个像素，获取缺陷图像。
[0008]优选的，所述对所述缺陷图像进行滤波后分离线条和背景，得到缺陷所在线条的过程如下：对缺陷图像进行高斯滤波；根据最大类间方差法，计算缺陷图像的分割阈值，然后用所述分割阈值对缺陷图像进行二值化，从而分离线条和背景，得到缺陷所在线条。
[0009]优选的，所述搜集缺陷所在线条的所有点位置信息的过程如下：以缺陷的中心为起点，预先用行搜索，如果连续有3行的边界宽度大于预先所知的理论线宽，则改为列搜索；或预先用列搜索，如果连续有3列的边界宽度大于预先所知的理论线宽，则改为行搜索；当遇到每行或每列连续有两个点为背景点时，终止该行或列的点信息搜集。
[0010]优选的，所述获取所述缺陷所在线条的边界点位置并拟合边界，获得边界直线的过程如下：将搜集的线条的点信息进行归类，获取每行的边界点，组成线条的两条边界线；采用最小二乘法对获取的每条边界线的点进行直线拟合。
[0011]优选的，所述根据所述缺陷所在线条的断开面积判定缺陷真实性的过程如下：以每行两个边界点的中心到两条直线的距离之和为该行线宽，所有行的线宽的均值为该条线的线宽；获取缺陷的外接矩形，根据拟合的边界直线，以缺陷中心为外接矩形中心，外接矩形的边分别平行和垂直于拟合的边界直线；获取垂直于拟合的边界直线的线条，在外接矩形内移动该线条，根据缺陷点位置信息，统计每次移动该线条时在该线条上的缺陷点的数量，即缺陷面积，并计算缺陷点数量的最大值；如果缺陷点的数量最大值大于设定的断线宽度，则判定该缺陷为真缺陷，否则判定该缺陷为假缺陷。根据本专利技术的另一个方面，本专利技术还提供了一种基于TFT
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LCD线条缺陷真实性判定系统，包括：获取缺陷图像模块，用于根据检测缺陷的位置，获取缺陷图像；分离线条模块，用于对所述缺陷图像进行滤波后分离线条和背景，得到缺陷所在线条；位置搜集模块，用于搜集所述缺陷所在线条的所有点位置信息；边界拟合模块，用于获取所述缺陷所在线条的边界点位置并拟合边界，获得边界直线；缺陷判断模块，用于根据所述缺陷所在线条的断开面积判定缺陷真实性。
[0012]根据本专利技术的另一个方面，本专利技术还提供了一种包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述的存储器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序，以实现如上所述的TFT
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LCD线条缺陷真实性判定方法。
[0013]根据本专利技术的另一个方面，本专利技术还提供了一种非临时性计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行，以实现如上所述的TFT
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LCD线条缺陷真实性判定方法。
[0014]与现有技术相比，本专利技术的有益效果：根据检测出来的线条上的缺陷信息自动找到线条所在位置，提升处理速度。采用预先逐行或逐列搜索，根据所知的理论线宽自动调整搜索方向，从而完成自动搜索线条边缘信息。以每行两个边界点的中心到两条直线的距离之和为该行线宽，所有行的线宽均值为该条线的线宽，减少线宽的误差。改变线条缺陷外接矩形的方向，让外接矩形边分别与拟合直线平行和垂直，移动垂直拟合直线的线条位置，通过这条垂直线上的缺陷面积来判定该线条上的缺陷真实性。该专利技术在视觉检测系统具有很好的应用，进一步的扩展，还可以用于线宽测量等。
附图说明
[0015]通过阅读下文优选实施方式的详细描述，各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的，而并不认为是对本专利技术的限制。而且在整个附图中，用相同的参考符号表示相同的部件。在附图中：图1为本专利技术的TFT
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LCD线条缺陷真实性判定方法实施流程图。
[0016]图2为本专利技术的TFT
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LCD线条缺陷真实性判定方法实例图。
[0017]图3为本专利技术的TFT
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LCD线条缺陷真实性判定方法缺陷图像示意图。
[0018]图4为本专利技术的TFT
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LCD线条缺陷真实性判定方法缺陷图像二值化效果图。
[0019]图5为本专利技术的TFT
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LCD线条缺陷真实性判定方法分离线效果图。
[0020]图6为本专利技术的TFT
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LCD线条缺陷真实性判定方法计算断开面积示意图。
[0021]图7为本专利技术的TFT
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LCD线条缺陷真实性判定系统结构图。本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于TFT
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LCD线条缺陷真实性判定方法，其特征在于，包括以下步骤：根据检测缺陷的位置，获取缺陷图像；对所述缺陷图像进行滤波后分离线条和背景，得到缺陷所在线条；搜集所述缺陷所在线条的所有点位置信息；获取所述缺陷所在线条的边界点位置并拟合边界，获得边界直线；根据所述缺陷所在线条的断开面积判定缺陷真实性。2.根据权利要求1所述的一种基于TFT
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LCD线条缺陷真实性判定方法，其特征在于：所述根据检测缺陷的位置，获取缺陷图像的过程如下：以检测缺陷的中心为缺陷图像中心，以缺陷的宽度和高度为基础图像大小，宽度和高度方向均向外扩展48个像素，获取缺陷图像。3.根据权利要求1或2所述的一种基于TFT
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LCD线条缺陷真实性判定方法，其特征在于：所述对所述缺陷图像进行滤波后分离线条和背景，得到缺陷所在线条的过程如下：对缺陷图像进行高斯滤波；根据最大类间方差法，计算缺陷图像的分割阈值，然后用所述分割阈值对缺陷图像进行二值化，从而分离线条和背景，得到缺陷所在线条。4.根据权利要求3所述的一种基于TFT
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LCD线条缺陷真实性判定方法，其特征在于：所述搜集缺陷所在线条的所有点位置信息的过程如下：以缺陷的中心为起点，预先用行搜索，如果连续有3行的边界宽度大于预先所知的理论线宽，则改为列搜索；或预先用列搜索，如果连续有3列的边界宽度大于预先所知的理论线宽，则改为行搜索；当遇到每行或每列连续有两个点为背景点时，终止该行或列的点信息搜集。5.根据权利要求4所述的一种基于TFT
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LCD线条缺陷真实性判定方法，其特征在于：所述获取所述缺陷所在线条的边界点位置并拟合边界，获得边界直线的过程如下：将搜集的线条的点信息进行归类，获取每行的边界点，组成线条的两条边界线；采用...

【专利技术属性】
技术研发人员：段相永，杨义禄，李波，曾磊，关玉萍，左右祥，
申请(专利权)人：中导光电设备股份有限公司，
类型：发明
国别省市：