一种自动下载集成电路序列号码的方法技术

本发明专利技术公开了一种自动下载集成电路序列号码的方法，包括如下的步骤：（１）在集成电路芯片的测试过程中采集每个芯片与集成电路序列号码有关的信息；（２）按照预定的编码方式，将与集成电路序列号码有关的信息转换成预定格式的集成电路序列号码；（３）将集成电路序列号码下载到集成电路芯片内部存储器中的指定区域；（４）检查下载的集成电路序列号码的准确性和唯一性。利用本方法，可以在同一个操作流程中完成芯片测试和序列号码下载，减少了操作环节，节省了芯片的测试时间。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种在集成电路的测试过程中，将唯一的符合一定规律 的序列号码自动下载到集成电路芯片内部的存储器指定区域的方法，属 于集成电路测试

技术介绍
某些具有特殊功能的集成电路芯片如身份识别芯片等需要对生产加 工的每一个芯片进行唯一性标识，这种唯一性标识就是芯片序列号码 (serial number,简称SN)。芯片序列号码的作用是为每一个芯片的质 量追踪提供标识，也可以作为辨别芯片真伪的一个依据。用户可以根据 芯片的SN信息査到该芯片的生产加工信息和出厂测试数据。在芯片的使 用阶段，利用专门的读卡器读出芯片中存储的唯一序列号码，按照一定 的解码方法可以得到芯片的质量信息。目前，普遍采取的一种唯一性标识方法是在芯片内部集成的存储器 的指定位置中存贮一组二进制序列号码。序列号码的数据格式，如字节 数、二进制位数、编码方式等需要满足相关的统一规范的要求。序列号 码包含的信息也要符合统一的规定，通常包含的信息有该芯片的设计 生产厂家代码，该芯片的测试时间，该芯片所在晶圆的批号和编号，该 芯片在晶圆上的XY坐标等。通常，在芯片生产加工后的测试阶段，将序 列号码写入到芯片中指定的存储器区域内，然后检査序列号码的准确性 和唯一性。在申请号为200710048343.5的中国专利技术专利申请中，公开了一种集 成电路随机序列号码产生的方法。该方法中，利用集成电路生产制造过 程中由于边缘效应，离子注入和表面态效应以及载流子迁移率的变化等 不理想因素会造成的元器件的不匹配性，将高增益放大电路检测元器件 间的不匹配并转化为与之相对应的数字电平，由于元器件之间的这种不 匹配性随机性很强，因此使用多个放大电路单元可以实现了多位随机序 列号码的产生。但是，就本专利技术人所知，目前尚没有在集成电路的测试过程中，将200710175583. 1说明书第2/6页唯一的符合一定规律的序列号码自动下载到集成电路芯片内部的存储器指定区域的成熟方法问世。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供。利 用该方法，可以针对每一个芯片生成唯一的序列号码，并将该序列号码 下载到该芯片内部存储器中的指定区域。为实现上述的专利技术目的，本专利技术采用下述的技术方案，其特征在于包括如下的步骤(1) 在集成电路芯片的测试过程中采集每个芯片与集成电路序列号 码有关的信息；(2) 按照预定的编码方式，将所述与集成电路序列号码有关的信息转 换成预定格式的集成电路序列号码；(3) 将所述集成电路序列号码下载到集成电路芯片内部存储器中的 指定区域；(4) 检査下载的所述集成电路序列号码的准确性和唯一性。其中，所述步骤(l)中，通过基于IEEE 488标准的GPIB接口板控制 集成电路测试系统与全自动探针台进行通信，实时读取当前被测芯片的 时间、批号、片号和坐标信息。所述步骤(2)中，先将获取的每一芯片的信息进行从十进制到二进制 的数据转换，然后将所述信息按照生产厂家代码、测试芯片的年月曰、 晶圆的批号、芯片在晶圆上的X和Y坐标的顺序填入规定位置，从而生 成预定格式的集成电路序列号码。所述步骤(3)中，在所述集成电路芯片通过所有测试项目后才进行集 成电路序列号码下载操作。所述步骤(3)中，将被测芯片的序列号码下载流程转化成集成电路测 试系统可执行的序列号码下载测试图形，并且加载到测试系统的测试图 形存储器中；所述集成电路测试系统执行所述序列号码下载测试图形，完成序列 号码向被测集成电路芯片内部存储器中指定区域的写入。所述序列号码下载测试图形为使得被测芯片内部的指定存储器处 于写入状态，芯片的指定存储器进入写入状态的管脚输入1;向指定存储5器发出存储序列号码的指定地址，芯片的地址管脚输入存储序列号码的 指定地址；向指定存储器发送生成的被测芯片的序列号码，芯片的数据 管脚输入相应的序列号码数据；同时监控芯片的输出管脚的输出状态； 时序信息包括芯片的工作频率，写入控制管脚、地址、数据管脚的信号 变化的时间。所述步骤(4)中，集成电路测试系统运行测试图形，将被测芯片的指 定存储器设置为读取状态，输入指定存储器中存储序列号码的指定位置 的起始地址，读取指定存储器区域的内容，与正确的序列号码内容比较， 如果相同则芯片的序列号码下载正确，否则错误。本专利技术所提供的集成电路序列号码自动下载方法可以在同一个操作 流程中完成芯片测试和序列号码下载，减少了操作环节，节省了芯片的 测试时间。 附图说明下面结合附图和具体实施方式对本专利技术作进一步的说明。图1为一个典型的芯片序列号码的数据格式示意图，图2为集成电路测试系统可执行的序列号码下载测试图形的示意图。具体实施例方式集成电路芯片序列号码的下载过程包括如下的步骤采集序列号码 信息一生成序列号码一序列号码写入芯片一检查序列号码正确性。在这 个过程中，需要解决的主要技术问题包括如下的几个方面如何在芯片 的测试过程中采集每一芯片的质量信息；如何按照规定的编码方式，将 该芯片的相关信息转换成规定格式的序列号码；如何将生成的序列号码 下载到该芯片内部存储器中的指定区域；如何检查下载的序列号码的准 确性和唯一性。下面分别对此展开详细的说明。芯片的测试需要集成电路测试系统和全自动探针台共同完成。集成 电路测试系统连接测试适配器通过探针与晶圆接触，运行电路的测试程 序，依据集成电路的测试方法和测试条件，对每一芯片的某些管脚施加 一定的电压或电路，测试某些管脚的电压或电流，记录测试结果，并根 据预先设定的合格范围，判定该芯片的性能是否符合要求。全自动探针 台控制晶圆平移，保证晶圆上的每一芯片都能被测试，同时记录每片晶 圆的批号和编号以及每一芯片在晶圆上的XY坐标。在芯片的测试过程中，每个被测芯片的测试时间、所在晶圆的批号 和编号、在晶圆上的XY坐标等信息是不断更新的。如何能够高效实时的采集到这些信息，是主要的技术难题之一。在本专利技术中，通过以IEEE 488 为标准的GPIB接口板控制集成电路测试系统与全自动探针台进行通信， 实时读取当前被测芯片的时间，批号，片号，坐标等信息。这里的GPIB 接口板可以采用现有的多种产品，例如NI公司的AT — GPIB/TNT ISA/EISA, Agilent的82350A等。以IEEE 488为标准的GPIB(General Purpose Interface Bus)通用 标准总线接口板具有8位数字并行通讯接口，传送速率1M字节/s以上， 采用3条握手信号线。IEEE 488是世界上通用的电子仪器仪表接口标准， 在各行各业电子仪器设备中得到了广泛的应用。GPIB接口板有发送者 (Talkers),接收者(Listeners)和控制者(Controllers)。发送者发出数 据信息，接收者接收数字信息，控制者通常是计算机，负责管理总线上 的数据流并向设备发送GPIB命令。本方法中，将通过GPIB接口从全自动探针台获取的每一芯片的相关 信息按照序列号码的生成算法生成具有特定格式的芯片系列号。这里的 序列号码生成算法是先将获取的每一芯片的相关信息进行数据转换， 通常通过GPIB接口输入的数据为10进制数，需要转换成2进制数，然 后将相关信息按照序列号码的格式填入规定位置，从而生成具有特定格 式的芯片系列号。例如某系列芯片的序列号本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种自动下载集成电路序列号码的方法，其特征在于包括如下的步骤：　（１）在集成电路芯片的测试过程中采集每个芯片与集成电路序列号码有关的信息；　（２）按照预定的编码方式，将所述与集成电路序列号码有关的信息转换成预定格式的集成电路序列号码；　（３）将所述集成电路序列号码下载到集成电路芯片内部存储器中的指定区域；　（４）检查下载的所述集成电路序列号码的准确性和唯一性。

【技术特征摘要】
1.一种自动下载集成电路序列号码的方法，其特征在于包括如下的步骤(1)在集成电路芯片的测试过程中采集每个芯片与集成电路序列号码有关的信息；(2)按照预定的编码方式，将所述与集成电路序列号码有关的信息转换成预定格式的集成电路序列号码(3)将所述集成电路序列号码下载到集成电路芯片内部存储器中的指定区域；(4)检查下载的所述集成电路序列号码的准确性和唯一性。2. 如权利要求1所述的自动下载集成电路序列号码的方法，其特征 在于-所述步骤(l)中，通过基于IEEE 488标准的GPIB接口板控制集成电 路测试系统与全自动探针台进行通信，实时读取当前被测芯片的时间、 批号、片号和坐标信息。3. 如权利要求1所述的自动下载集成电路序列号码的方法，其特征 在于所述步骤(2)中，先将获取的每一芯片的信息进行从十进制到二进制 的数据转换，然后将所述信息按照生产厂家代码、测试芯片的年月日、 晶圆的批号、芯片在晶圆上的X和Y坐标的顺序填入规定位置，从而生 成预定格式的集成电路序列号码。4. 如权利要求1所述的自动下载集成电路序列号码的方法，其特征 在于所述步骤(3)中，在所述集成电路芯片通过所有测试项目后才进行集 成电路序列号码下载操作。5. 如权利要求1所述的自...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘炜，肖钢，吉国凡，张琳，柳炯，赵伟，王慧，石志刚，孙博，金兰，赵智昊，李尔，孙杨，
申请(专利权)人：北京华大泰思特半导体检测技术有限公司，
类型：发明
国别省市：11[中国|北京]