当前位置: 首页 > 专利查询>CKD株式会社专利>正文

检查装置、包装体制造装置及包装体制造方法制造方法及图纸

技术编号:31672192 阅读:70 留言:0更新日期:2022-01-01 10:16
提供一种可进行更高精度检查的检查装置等。依据X射线穿透图像算出表示利用X射线照射装置的X射线的照射输出的照射输出检测值,并以照射输出检测值成为既定值的方式控制利用X射线照射装置的照射输出。照射输出检测值依据X射线穿透图像中位于将照射源与X射线线传感器以最短距离连接的路径上的收容区域2x中除了片剂区域5x以外的区域及/或凸缘部区域9x的亮度所算出。因此,依据X射线穿透图像中最容易变亮的区域的亮度算出照射输出检测值,以此最容易变亮的区域的照射输出检测值成为既定值的方式,即以此最容易变亮的区域充分成为高亮度的方式控制X射线照射装置。因此,将利用X射线线传感器的检测输出的范围更扩大,能进行更高精度的检查。高精度的检查。高精度的检查。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】检查装置、包装体制造装置及包装体制造方法


[0001]本专利技术有关一种在检查收容有片剂等的内容物的包装体时所用的装置及方法。

技术介绍

[0002]在已知的医药品、食品等的领域中,作为包装片剂等的包装薄片,广泛利用PTP(press through package,泡罩包装)薄片。
[0003]PTP薄片具备形成有收容内容物的袋部的容器膜及以对其容器膜密封袋部的开口侧的方式安装的盖膜,且构成为根据将袋部从外侧按压,再由其所收容的内容物扎破作为盖的盖膜,可取出该内容物。
[0004]这样的PTP薄片经过对带状的容器膜形成袋部的袋部形成工序、于该袋部充填片剂等的内容物的充填工序、对以密封该袋部的开口侧的方式对容器膜安装带状的盖膜以制造PTP薄膜的安装工序、及从该PTP薄膜切离成为最终制品的PTP薄片的切离工序等所制造。
[0005]一般而言,于制造PTP薄片时,进行以PTP薄膜或PTP薄片(以下,将这些总称为“包装体”)为对象的检查。检查包含有和片剂的异常(例如于袋部内片剂的有无、裂纹、破损等)有关的检查或和袋部内的收容空间或在袋部周围的凸缘部有无异物(例如金属片或片剂的破片等)有关的检查等。
[0006]近年来,从谋求遮旋光性或防湿性的提升等这类的观点,容器膜及盖膜两薄膜根据以铝等为基材的不透明材料所形成的情况变多。
[0007]这样的情况,上述各种检查使用X射线检查装置等来进行。一般而言,X射线检查装置具备对包装体照射X射线的X射线产生器 (X射线源)、及检测穿透该包装体的X射线的X射线检测器。X射线检查装置取得具有和对应于X射线的穿透量的亮度有关的浓淡的 X射线穿透图像,依据该X射线穿透图像进行各种检查(例如,参照专利文献1等)。此外,X射线穿透图像的亮度对应于利用X射线检测器的检测输出(例如闪烁体的光输出)而增减。
[0008]又,为了防止伴随X射线产生器或X射线检测器的劣化,在利用X射线检测器的检测输出下降的状况,已知一种在控制成X射线产生器的照射输出成为既定输出的情况,利用X射线检测器的检测输出降低时,以增大照射输出的方式控制X射线产生器的技术(例如,参照专利文献2等)。关于此技术,一边使用图17及图18一边作说明。图17简洁地表示X射线产生器中的管电流及照射输出的关系图形,以实线表示X射线产生器没那么劣化时的该关系,以虚线表示X射线产生器已劣化时的该关系。图18简洁地表示利用X 射线检测器的检测输出(X射线穿透图像的亮度)及照射输出的关系图形。
[0009]关于图17、18的例子,在X射线产生器没那么劣化的情况且X 射线产生器(X射线管)流通既定值的管电流,X射线产生器的照射输出为Lt的情况,X射线检测器中的检测输出还是成为Slt。因此,利用X射线检测器的检测输出的范围成为从输出Slt迄至最低检测输出Smin为止的范围。然而,在X射线产生器发生劣化的情况,即便流通于X射线产生器的管电流相同,X射线产生器的照射输出也会下降到Lt

,其结果,X射线检测器中的检测输出成为Slt

。因此,利用X射线检测器的检测输出的范围窄成从输出Slt

迄至最低检测输出Smin为
止的范围。上述技术也就是在这样检测输出的范围变窄的情况,例如,根据管电流增加Δi程度使照射输出返回Lt以抑制检测输出范围的窄小化。
[0010][已有技术文献][0011][专利文献][0012][专利文献1]日本特开2013

253832号公报
[0013][专利文献2]日本特开2018

28514号公报

技术实现思路

[0014][专利技术要解决的课题][0015]如图19所示,利用X射线检测器的检测输出的最大范围(以下,称为“可计测的灰度范围”),从最高检测输出Smax迄至最低检测输出Smin为止的范围。另一方面,关于依据穿透包装体的X射线的利用X射线检测器的检测输出的范围(以下,称为“有效灰度范围”),从利用穿透袋部(收容空间)的X射线的检测输出Sp或利用穿透凸缘部的X射线的检测输出Sf迄至最低检测输出Smin为止的范围。那是因为X射线最容易穿透包装体中仅存在有袋部或凸缘部的部分的缘故。而且,此有效灰度范围内包含有利用穿透片剂的X 射线的检测输出Sta、利用穿透片剂的粉或破片的X射线的检测输出Stb及利用穿透金属片等的异物的X射线的检测输出So等,包装体的检查利用因这些检测输出的差异所致的X射线穿透图像中的亮度差来进行。
[0016]然而,就上述专利文献2所载的技术而言,于检查对象的检查前等且在X射线产生器与X射线检测器间未夹设有检查对象的状态下进行上述的控制。因此,当将该技术利用于包装体的检查时,按包装体存在的程度,导致利用X射线检测器的实际的检测输出降很低,会有检测输出Sp、检测输出Sf变相当低的危险。因此,相对于可计测的灰度范围,有效灰度范围变非常窄,X射线检测器的能力变得无法充分活用,结果,检测输出的灰度乃至X射线穿透图像中的亮度灰度的分辨率降低,有无法进行高精度检查的危险。
[0017]此外,上述课题不仅PTP包装,在SP(strip package,窄条包装) 包装等包装片剂等的内容物的其他包装领域中也可能发生。又,不限于X射线,在使用兆赫电磁波等穿透包装体的其他电磁波的情况也可能发生。
[0018]本专利技术有鉴于上述情况而作出,其目的在于,提供一种可进行更高精度的检查的检查装置、包装体制造装置及包装体制造方法。
[0019][用以解决课题的方案][0020]以下,针对适合于解决上述目的的各方案,分项作说明。此外,视需要在对应的方案附记特有的作用效果。
[0021]方案1.一种检查装置,用以检查包装体,该包装体安装有由不透明材料所构成的第1薄膜及由不透明材料所构成的第2薄膜,并在该两薄膜间所形成的收容空间内收容有内容物,该检查装置具有:
[0022]电磁波照射机构,具有对前述包装体照射可从前述第1薄膜侧穿透前述包装体的电磁波的照射源而成;
[0023]拍摄机构,具有以夹设前述包装体和前述电磁波照射机构对向的方式配置在前述第2薄膜侧并可检测穿透前述包装体的电磁波的检测部,依据来自于利用穿透前述包装体
的电磁波的该检测部的检测输出,取得具有关于亮度的浓淡的电磁波穿透图像;
[0024]图像处理机构,依据根据前述拍摄机构所取得的电磁波穿透图像,可执行关于前述包装体的检查;
[0025]照射输出检测机构,依据前述电磁波穿透图像,算出表示利用前述电磁波照射机构的电磁波的照射输出的照射输出检测值;及
[0026]输出控制机构,以前述照射输出检测值成为既定值的方式控制利用前述电磁波照射机构的电磁波的照射输出,
[0027]且构成为:前述照射输出检测机构依据下述区域中至少一者的亮度,算出前述照射输出检测值,该区域分别为:前述电磁波穿透图像中位于将前述照射源和前述检测部以最短距离连接的路径上且对应前述收容本文档来自技高网
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种检查装置,用以检查包装体,该包装体安装有由不透明材料所构成的第1薄膜及由不透明材料所构成的第2薄膜,并在该两薄膜间所形成的收容空间内收容有内容物,其特征在于,该检查装置具有:电磁波照射机构,具有对前述包装体照射能从前述第1薄膜侧穿透前述包装体的电磁波的照射源而成;拍摄机构,具有以夹设前述包装体和前述电磁波照射机构对向的方式配置在前述第2薄膜侧并能检测穿透前述包装体的电磁波的检测部,依据来自于利用穿透前述包装体的电磁波的该检测部的检测输出,取得具有关于亮度的浓淡的电磁波穿透图像;图像处理机构,依据根据前述拍摄机构所取得的电磁波穿透图像,能执行关于前述包装体的检查;照射输出检测机构,依据前述电磁波穿透图像,算出表示利用前述电磁波照射机构的电磁波的照射输出的照射输出检测值;输出控制机构,以前述照射输出检测值成为既定值的方式控制利用前述电磁波照射机构的电磁波的照射输出,且构成为:前述照射输出检测机构依据下述区域中的至少一者的亮度,算出前述照射输出检测值,该区域分别为:前述电磁波穿透图像中位于将前述照射源和前述检测部以最短距离连接的路径上且对应前述收容空间的收容区域中的除了和前述内容物对应的内容物区域以外的区域;对应前述收容空间周围的凸缘部的凸缘部区域。2.如权利要求1所述的检查装置,其特征在于,构成为:前述照射输出检测机构依据:前述电磁波穿透图像中除了和设置在前述包装体的切离用的切离部对应的切离区域、及和附设于前述包装体的刻印对应的刻印区域以外的区域的亮度,算出前述照射输出检测值。3.如权利要求1或2所述的检查装置,其特征在于,前述第1薄膜及前述第2薄膜中的至少一者具有内部空间形成前述收容空间的袋部,并由金属制薄膜或具有金属层的薄膜所构成,具有区域特定机构,该区域特定机构特定前述电磁波穿透图像中的前述内容物区域,并将位于已特定的前述内容物区域的周围的环状的暗影特定为前述收容空间的轮廓,将该轮廓的内侧特定为前述收容区域,且构成为:前述照射输出检测机构依据前述电磁波穿透图像中除了根据前述区域特定机构所特定的前述收容区域中的根据该区域特定机构所特定的前述内容物区域...

【专利技术属性】
技术研发人员:大谷刚将大山刚坂井田宪彦
申请(专利权)人:CKD株式会社
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1