本实用新型专利技术提供一种双芯LC型光缆连接器探头测试装置，包括探头底座、与双芯LC型光缆连接头插接匹配的适配器、限位块、垫片、塞块、把手，所述适配器设置于探头底座内，适配器在探头底座内左右滑动，限位块设于插接匹配的适配器与双芯LC型光缆连接器的连接头外围，限位块固定于探头底座内，在双芯LC型光缆连接器的连接头一侧外壁与限位块内壁之间还插入有塞块，所述把手插入塞块侧壁的通孔中。本实用新型专利技术双芯LC型光缆连接器探头测试装置将双芯LC光缆连接头与适配器匹配，避免双芯LC光缆连接头内散件的损坏，仅需将双芯连接头一次插拔，即可测试双芯数据。双芯连接头移向一端，插入塞块起到固定连接头的作用，提高测试数据准确性，提高产品良率。提高产品良率。提高产品良率。
【技术实现步骤摘要】
一种双芯LC型光缆连接器探头测试装置
[0001]本技术涉及光缆连接器测试装置
，尤其涉及一种双芯LC型光缆连接器探头测试装置。
技术介绍
[0002]现阶段光通讯制造行业内的一些特殊光缆连接头内配两个LC连接头，由于现有通用测试设备只能为单个连接头测试，用现有测试设备对特殊连接头测试存在问题，因为在连接头外壳的干涉下，普通测试探头并不能顺利进行测试，对于特殊连接头来说，光缆的性能测试成了生产测试中的难点，就算强行使用现有的普通探头，也会造成特殊光缆的连接头内的散件很大几率被破坏，产品良率极低。
[0003]现有的连接头负重扭转测试实验方法缺点如下：
[0004]a、为了保证连接头内散件不被破坏，员工操作难度较大。
[0005]b、测试后，被破坏散件的连接头只能返工处理，极为影响效率。
[0006]总结以上问题点，不难发现使用现有的测试设备导致连接头负重扭转实验存在诸多问题，在连接头负重扭转实验工位员工经常手痛，影响效率，而且测试得出的实验数据准确性不高。
技术实现思路
[0007]本技术提供一种双芯LC型光缆连接器探头测试装置，通过匹配双芯LC光缆连接器的适配器、通过限位块限位、塞块固定，解决了提高双芯连接器探头测试效率，保障测试数据准确性，提高产品良率的技术问题。
[0008]本技术为解决上述问题所采用的技术方案为：本技术提供一种双芯LC型光缆连接器探头测试装置，包括探头底座、与双芯LC型光缆连接器的连接头插接匹配的适配器、限位块、垫片、塞块、把手，所述适配器设置于探头底座内，适配器在探头底座内左右滑动，限位块设于插接匹配的适配器与双芯LC型光缆连接器的连接头外围，限位块固定于探头底座内，在双芯LC型光缆连接器的连接头一侧外壁与限位块内壁之间还插入有塞块，所述把手插入塞块侧壁的通孔中。
[0009]进一步地，所述适配器包括圆筒本体和底板，所述圆筒本体内设有用于插接双芯LC型光缆连接器的连接头的两个适配孔。
[0010]更进一步地，所述适配器圆筒本体的底部连接有凸出的底板。
[0011]进一步地，所述限位块设有两个弧形端面，两个弧形端面通过两个平行侧面连接。
[0012]进一步地，所述塞块的横剖面呈月牙状，塞块侧壁的通孔位于塞块上部中间位置。
[0013]更进一步地，所述塞块侧壁的通孔由内侧通孔和外侧通孔连通组成，内侧通孔直径大于外侧通孔直径。
[0014]进一步地，所述把手插入塞块一端内设有圆柱内孔，圆柱内孔的里端为圆锥端。
[0015]进一步地，所述探头底座的两侧顶面分别设有一个垫片。
[0016]本技术的有益效果是：本技术的双芯LC型光缆连接器探头测试装置将已有光纤连接头适配器加工成可适配双芯光缆连接头，按照适配器特点设计将适配器固定于探头底座内，并且适配器在探头底座内可以左右滑动，特殊双芯LC光缆连接头与适配器匹配，避免了特殊双芯LC光缆连接头内散件的损坏，解决了特殊双芯连接头难测试的问题，提高了测试生产效率。测试过程中，将特殊双芯LC连接头插入适配器中，连接头移向一端，将塞块插入，起到连接头固定的作用，防止连接头晃动，避免导致测试数据变动，提高测试数据准确性，提高产品良率。
附图说明
[0017]图1为本技术双芯LC型光缆连接器探头测试装置的分解示意图；
[0018]图2为本技术双芯LC型光缆连接器探头测试装置的组装结构示意图；
[0019]图3为本技术中探头底座的立体图；
[0020]图4为本技术中限位块的立体图；
[0021]图5为本技术中限位块的俯视图；
[0022]图6为本技术中塞块的立体图；
[0023]图7为本技术中塞块的俯视图；
[0024]图8为本技术中塞块的剖视图；
[0025]图9为本技术中把手的立体图；
[0026]图10为本技术中把手的剖视图。
具体实施方式
[0027]下面结合附图具体阐明本技术的实施方式，附图仅供参考和说明使用，不构成对本技术专利保护范围的限制。
[0028]如图1
‑
7所示，本实施例提供一种双芯LC型光缆连接器探头测试装置，包括探头底座1、与双芯LC型光缆连接器的连接头插接匹配的适配器2、限位块3、垫片4、塞块5、把手6，所述适配器2设置于探头底座1内，适配器2在探头底座1内左右滑动，限位块3设于插接匹配的适配器2与双芯LC型光缆连接器的连接头外围，限位块3固定于探头底座1内，在双芯LC型光缆连接器的连接头一侧外壁与限位块3内壁之间还插入有塞块5，所述把手6插入塞块5侧壁的通孔中。
[0029]在本实施例中，所述适配器2包括圆筒本体和底板，所述圆筒本体内设有用于插接双芯LC型光缆连接器的连接头的两个适配孔。
[0030]在本实施例中，所述适配器2圆筒本体的底部连接有凸出的底板。
[0031]在本实施例中，所述限位块3设有两个弧形端面，两个弧形端面通过两个平行侧面连接。
[0032]在本实施例中，所述塞块5的横剖面呈月牙状，塞块5侧壁的通孔位于塞块上部中间位置。
[0033]在本实施例中，所述塞块5侧壁的通孔由内侧通孔和外侧通孔连通组成，内侧通孔直径大于外侧通孔直径。
[0034]在本实施例中，所述把手6插入塞块5一端内设有圆柱内孔，圆柱内孔的里端为圆
锥端。
[0035]在本实施例中，所述探头底座1的两侧顶面分别设有一个垫片4。
[0036]本实施例的双芯LC型光缆连接器探头测试装置将已有光纤连接头适配器加工成可适配双芯光缆连接头，按照适配器特点设计将适配器固定于探头底座内，并且适配器在探头底座内可以左右滑动，特殊双芯LC光缆连接头与适配器匹配，避免了特殊双芯LC光缆连接头内散件在测试中被损坏，通过左右移动可以实现插拔一次既可测试双芯数据，保证连接头在测试时的稳定性，测试数据准确。提高了测试生产效率。测试过程中，将特殊双芯LC连接头插入适配器中，连接头移向一端，将塞块插入，起到连接头固定的作用，防止连接头晃动，避免导致测试数据变动，提高测试数据准确性，提高产品良率。
[0037]上述实施例为本技术较佳的实施方式，但本技术的实施方式并不受上述实施例的限制，其他的任何未背离本技术的精神实质与原理下所作的改变、修饰、替代、组合、简化，均应为等效的置换方式，都包含在本技术的保护范围之内。
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种双芯LC型光缆连接器探头测试装置，其特征在于：包括探头底座、与双芯LC型光缆连接器的连接头插接匹配的适配器、限位块、垫片、塞块、把手，所述适配器设置于探头底座内，适配器在探头底座内左右滑动，限位块设于插接匹配的适配器与双芯LC型光缆连接器的连接头外围，限位块固定于探头底座内，在双芯LC型光缆连接器的连接头一侧外壁与限位块内壁之间还插入有塞块，所述把手插入塞块侧壁的通孔中。2.如权利要求1所述的双芯LC型光缆连接器探头测试装置，其特征在于：所述适配器包括圆筒本体和底板，所述圆筒本体内设有用于插接双芯LC型光缆连接器的连接头的两个适配孔。3.如权利要求2所述的双芯LC型光缆连接器探头测试装置，其特征在于：所述适配器圆筒本体的底部连接有凸出的底板...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈乾峰，
申请(专利权)人：讯达康通讯设备惠州有限公司，
类型：新型
国别省市：
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