一种SSD的PE次数范围确定方法及相关组件技术

本发明专利技术公开了一种SSD的PE次数范围确定方法及相关组件，首先向SSD的NAND中依次写入数据、读取数据及擦除数据，并记录SSD的当前总PE次数，确定读取数据的错误率，将错误率达到预设错误率阈值的当前总PE次数作为SSD的最大PE次数，然后确定SSD的最小PE次数，并根据最小PE次数和最大PE次数确定SSD的PE次数范围。本申请通过将数据的错误率达到预设错误率阈值的当前总PE次数作为SSD的最大PE次数的方式，能够最大化地利用SSD。通过该种确定PE次数范围的方式，一方面使得同类规格的SSD可以按照PE次数范围进行磨损均衡，另一方面，也延长了SSD的使用寿命，能最大程度地发挥SSD的性能。能最大程度地发挥SSD的性能。能最大程度地发挥SSD的性能。

【技术实现步骤摘要】
一种SSD的PE次数范围确定方法及相关组件


[0001]本专利技术涉及固态硬盘领域，特别是涉及一种SSD的PE次数范围确定方法及相关组件。

技术介绍

[0002]SSD(Solid State Disk，固态硬盘)由控制单元与存储单元组成。目前，SSD的存储单元大多采用NAND颗粒，SSD读取或写入的最小单元是由一组颗粒组成的Page。由于SSD没有重写机制，若要对写满的Page写入新的数据，SSD需要对已经写入的数据进行擦除操作，而擦除操作的最小单元是由若干个Page组成的Block。但是每个Block可执行有限次数的擦除操作，也称之为PE(Program Erase，编程擦除)周期，当写入非常频繁时，擦除操作发生得更频繁。现有技术中存在Block的PE次数过大的情况，从而导致Block本身受损失效，进而影响SSD的使用寿命。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的是提供一种SSD的PE次数范围确定方法及相关组件，一方面使得同类规格的SSD可以按照PE次数范围进行磨损均衡，另一方面也延长了SSD的使用寿命，能最大程度地发挥SSD的性能。
[0004]为解决上述技术问题，本专利技术提供了一种SSD的PE次数范围确定方法，包括：
[0005]向所述SSD的NAND中依次写入数据、读取所述数据及擦除所述数据，并记录所述SSD的当前总PE次数；
[0006]基于读取的所述数据确定所述数据的错误率；
[0007]在所述数据的错误率达到预设错误率阈值时，确定所述当前总PE次数作为所述SSD的最大PE次数，否则，返回向所述SSD的NAND中依次写入数据、读取所述数据及擦除所述数据的步骤；
[0008]确定所述SSD的最小PE次数，并根据所述最小PE次数和所述最大PE次数确定所述SSD的PE次数范围。
[0009]优选的，确定所述SSD的最小PE次数，包括：
[0010]确定所述SSD的平均PE次数；
[0011]确定所述最大PE次数减去所述平均PE次数得到的差值；
[0012]将所述平均PE次数减去所述差值得到的值作为所述SSD的最小PE次数。
[0013]优选的，确定所述SSD的最小PE次数，包括：
[0014]获取所述SSD的每个Block的PE次数；
[0015]将所有所述Block的PE次数中的最小值作为所述SSD的最小PE次数。
[0016]优选的，确定所述SSD的平均PE次数，包括：
[0017]根据所述SSD的写放大次数、在所述SSD的预期寿命天数内每天可完整写入所述SSD的所有容量的次数、所述SSD的预期寿命天数及所述SSD的保留区占比得到所述SSD的平
均PE次数；
[0018]其中，SSD的平均PE次数＝wa*dwpd*max_days/(1+op)；
[0019]wa为所述SSD的写放大次数，dwpd为在所述SSD的预期寿命天数内每天可完整写入所述SSD的所有容量的次数，max_days为所述SSD的预期寿命天数，op为所述SSD的保留区占比。
[0020]优选的，确定所述SSD的平均PE次数，包括：
[0021]获取所述SSD的每个Block的PE次数；
[0022]将所有所述Block的PE次数的平均值作为所述SSD的平均PE次数。
[0023]优选的，基于读取的所述数据确定所述数据的错误率，包括：
[0024]判断读取的所述数据是否存在错误数据；
[0025]若存在，则根据所述数据中错误数据的数据量与所述数据的数据量的比值确定所述数据的错误率。
[0026]优选的，判断读取的所述数据是否存在错误数据，包括：
[0027]判断读取的所述数据与记录的向所述SSD的NAND中写入的数据是否一致；
[0028]若不一致，则判定读取的所述数据存在错误数据。
[0029]为解决上述技术问题，本专利技术还提供了一种SSD的PE次数范围确定系统，包括：
[0030]总PE次数写入单元，向所述SSD的NAND中依次写入数据、读取所述数据及擦除所述数据，并记录所述SSD的当前总PE次数；
[0031]错误率确定单元，用于基于读取的所述数据确定所述数据的错误率；
[0032]最大PE次数确定单元，在所述数据的错误率达到预设错误率阈值时，确定所述当前总PE次数作为所述SSD的最大PE次数，否则，触发所述总PE次数写入单元；
[0033]PE次数范围确定单元，用于确定所述SSD的最小PE次数，并根据所述最小PE次数和所述最大PE次数确定所述SSD的PE次数范围。
[0034]为解决上述技术问题，本专利技术还提供了一种SSD的PE次数范围确定装置，包括：
[0035]存储器，用于存储计算机程序；
[0036]处理器，用于执行计算机程序时实现上述的SSD的PE次数范围确定方法的步骤。
[0037]为解决上述技术问题，本专利技术还提供了一种存储介质，所述存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述的SSD的PE次数范围确定方法的步骤。
[0038]本专利技术公开了一种SSD的PE次数范围确定方法，首先向SSD的NAND中依次写入数据、读取数据及擦除数据，并记录SSD的当前总PE次数，之后确定读取数据的错误率，将数据的错误率达到预设错误率阈值的当前总PE次数作为SSD的最大PE次数，然后确定SSD的最小PE次数，并根据最小PE次数和最大PE次数确定SSD的PE次数范围。本申请通过将数据的错误率达到预设错误率阈值的当前总PE次数作为SSD的最大PE次数的方式，能够最大化地利用SSD。通过该种确定PE次数范围的方式，一方面使得同类规格的SSD的block的PE次数可以按照SSD的PE次数范围进行磨损均衡，避免了Block因PE次数过大而受损失效，另一方面，也延长了SSD的使用寿命，能最大程度地发挥SSD的性能。
附图说明
[0039]为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对现有技术和实施例中所
需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0040]图1为本专利技术提供的一种SSD的PE次数范围确定方法的流程示意图；
[0041]图2为本专利技术提供的一种SSD的PE次数范围确定系统的结构示意图；
[0042]图3为本专利技术提供的一种SSD的PE次数范围确定装置的结构示意图。
具体实施方式
[0043]本专利技术的核心是提供一种SSD的PE次数范围确定方法及相关组件，一方面使得同类规格的SSD可以按照PE次数范围进行磨损均衡，另一方面也延长了SSD的使用寿命，能最大程度地发挥SSD的性能。
[0044]为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中的附图，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种SSD的PE次数范围确定方法，其特征在于，包括：向所述SSD的NAND中依次写入数据、读取所述数据及擦除所述数据，并记录所述SSD的当前总PE次数；基于读取的所述数据确定所述数据的错误率；在所述数据的错误率达到预设错误率阈值时，确定所述当前总PE次数作为所述SSD的最大PE次数，否则，返回向所述SSD的NAND中依次写入数据、读取所述数据及擦除所述数据的步骤；确定所述SSD的最小PE次数，并根据所述最小PE次数和所述最大PE次数确定所述SSD的PE次数范围。2.如权利要求1所述的SSD的PE次数范围确定方法，其特征在于，确定所述SSD的最小PE次数，包括：确定所述SSD的平均PE次数；确定所述最大PE次数减去所述平均PE次数得到的差值；将所述平均PE次数减去所述差值得到的值作为所述SSD的最小PE次数。3.如权利要求1所述的SSD的PE次数范围确定方法，其特征在于，确定所述SSD的最小PE次数，包括：获取所述SSD的每个Block的PE次数；将所有所述Block的PE次数中的最小值作为所述SSD的最小PE次数。4.如权利要求2所述的SSD的PE次数范围确定方法，其特征在于，确定所述SSD的平均PE次数，包括：根据所述SSD的写放大次数、在所述SSD的预期寿命天数内每天可完整写入所述SSD的所有容量的次数、所述SSD的预期寿命天数及所述SSD的保留区占比得到所述SSD的平均PE次数；其中，SSD的平均PE次数＝wa*dwpd*max_days/(1+op)；wa为所述SSD的写放大次数，dwpd为在所述SSD的预期寿命天数内每天可完整写入所述SSD的所有容量的次数，max_days为所述SSD的预期寿命天数，op为所述SSD的保留区占比。5.如权利要求2所述的SSD的PE次数范...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘哲，赵宝林，苏军，毕延帅，
申请(专利权)人：苏州浪潮智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：