一种集成电路测试多工位定位设备制造技术

本发明专利技术公开了一种集成电路测试多工位定位设备，其结构包括工位盘、测试器、设备箱、旋转台，工位盘底部与旋转台中心啮合连接，旋转台底部与设备箱表面螺栓固定，设备箱顶部与测试器末端嵌固连接，测试器表面与工位盘表面间隙配合，工位盘包括固件台、位移盘、驱动盘、工作台，固件台底部与位移盘表面嵌固连接，位移盘中心与驱动盘外壁嵌固连接，驱动盘下端与工作台表面间隙配合，本发明专利技术通过固件台内的防移夹对集成电路板进行夹合，然后通过导向与电路板两端进行连接，为信号条提供信号传导，则夹板内侧的硅胶垫为夹合固定的集成电路板进行限制，从而避免集成电路板在位移的过程中出现偏移，有效对集成电路板进行固定，提高测试数据精度。据精度。据精度。

【技术实现步骤摘要】
一种集成电路测试多工位定位设备


[0001]本专利技术涉及集成电路测试
，具体是一种集成电路测试多工位定位设备。

技术介绍

[0002]集成电路测试是对集成电路或者模块进行检查，从而通过测量对于集成电路的输出响应和预期输出比较，以及确定或者评估集成电路元器件的功能和性能的过程，是验证设计、质量保证的重要手段，以至后来的发展演变到多工位定位设备来加快测试速度；
[0003]但是现有技术中存在以下不足：当前一种集成电路测试多工位定位设备，由于传统的方法采用内嵌槽的方式，使得在其电路板测试时，经过位移后容易使集成电路板发生偏移，从而导致其设备在检测的时候，集成电路板以发生移动，进而造成测试数据精确度不佳。

技术实现思路

[0004]针对现有技术存在的不足，本专利技术目的是提供一种集成电路测试多工位定位设备，以解决现有技术当前一种集成电路测试多工位定位设备，由于传统的方法采用内嵌槽的方式，使得在其电路板测试时，经过位移后容易使集成电路板发生偏移，从而导致其设备在检测的时候，集成电路板以发生移动，进而造成测试数据精确度不佳的问题。
[0005]为了实现上述目的，本专利技术是通过如下的技术方案来实现：一种集成电路测试多工位定位设备，其结构包括工位盘、测试器、设备箱、旋转台，所述工位盘底部与旋转台中心啮合连接，所述旋转台底部与设备箱表面螺栓固定，所述设备箱顶部与测试器末端嵌固连接，所述测试器表面与工位盘表面间隙配合，所述工位盘包括固件台、位移盘、驱动盘、工作台，所述固件台底部与位移盘表面嵌固连接，所述位移盘中心与驱动盘外壁嵌固连接，所述驱动盘下端与工作台表面间隙配合，所述工作台上端与固件台整体间隙配合。
[0006]对本专利技术进一步地改进，所述固件台包括防移夹、集成电路板、下固座、信号条，所述防移夹内壁与集成电路板外壁活动卡合，所述集成电路板底部与下固座表面活动配合，所述下固座上端与信号条整体间隙配合，所述信号条内部与防移夹内部间隙配合，所述防移夹设有一对，呈对称摆放，内部通过连接线与其信号条内部进行连接，表面与集成电路板两端进行活动卡合。
[0007]对本专利技术进一步地改进，所述防移夹包括夹板、缓冲柱、固壁块，所述夹板内壁与缓冲柱顶端嵌固连接，所述缓冲柱末端与固壁块表面嵌固连接，所述固壁块前端与夹板表面间隙配合，所述缓冲柱设有两根，分布在夹板底部位置，与其夹板底部进行嵌固连接，末端与固壁块表面嵌固连接。
[0008]对本专利技术进一步地改进，所述夹板包括硅胶垫、导线、防脱杆、弯折杆，所述硅胶垫表面与导线整体嵌固连接，所述导线内侧与弯折杆顶端间隙配合，所述弯折杆外侧与防脱杆整体间隙配合，所述防脱杆表面与硅胶垫外壁活动卡合，所述弯折杆设有一对，分布在硅胶垫底部位置，受压后弯折杆会向内弯曲，外端与其防脱杆形成间隙配合。
[0009]对本专利技术进一步地改进，所述位移盘包括滑动架、导轨、盘本体，所述滑动架两端与导轨内部滑动配合，所述导轨整体与盘本体表面嵌固连接，所述盘本体内部与滑动架整体间隙配合，所述滑动架共设八组，每组中包括两个滑动架，两侧与导轨内部进行滑动配合，外端与其盘本体内部间隙配合。
[0010]对本专利技术进一步地改进，所述滑动架包括连接座、承载杆、轨滑轮，所述连接座底部与承载杆表面嵌固连接，所述承载杆两端与轨滑轮中心嵌套连接，所述轨滑轮内侧与连接座整体间隙配合，所述连接座整体分布在承载杆表面，底部与其承载杆表面嵌固连接，两侧和轨滑轮形成间隙配合。
[0011]对本专利技术进一步地改进，所述连接座包括减震板、稳固柱、上护板、螺纹柱，所述减震板上端与上护板内壁嵌固连接，所述上护板表面与螺纹柱末端嵌固连接，所述螺纹柱下端与稳固柱整体间隙配合，所述稳固柱顶端与减震板下壁嵌固连接，所述螺纹柱设有两个，末端与其上护板内部嵌固连接，上端与其连接的结构进行螺旋连接固定。
[0012]对本专利技术进一步地改进，所述减震板包括交叉架、平衡球、伸缩柱，所述交叉架顶端与伸缩柱表面嵌固连接，所述伸缩柱内侧与平衡球整体间隙配合，所述平衡球外端与交叉架整体间隙配合，所述平衡球整体呈椭圆形状，分布在两根伸缩柱内侧，与其平衡球外表面形成间隙配合。
[0013]有益效果
[0014]与现有技术相比，本专利技术具有如下有益效果；
[0015]1.本专利技术通过固件台内的防移夹对集成电路板进行夹合，然后通过导向与电路板两端进行连接，为信号条提供信号传导，则夹板内侧的硅胶垫为夹合固定的集成电路板进行限制，从而避免集成电路板在位移的过程中出现偏移，有效对集成电路板进行固定，提高测试数据精度。
[0016]2.本专利技术通过滑动架内的连接座与上端结构进行连接，使得上端结构可以在导轨的辅助下进行位移，从而通过位移到达指定地域进行电路板测试，为了避免抖动对上端结构造成的数据影响，由减震板内部的伸缩柱承受抖动拉力，在配合平衡球将压力化解，有效的提高了上端结构位移的稳定性，同时避免了位移过时对集成电路板造成不必要的精度影响。
附图说明
[0017]图1为本专利技术一种集成电路测试多工位定位设备的结构示意图。
[0018]图2为本专利技术工位盘的俯视结构示意图。
[0019]图3为本专利技术固件台的内部结构示意图。
[0020]图4为本专利技术防移夹的内部结构示意图。
[0021]图5为本专利技术夹板的内部结构示意图。
[0022]图6为本专利技术位移盘的俯视结构示意图。
[0023]图7为本专利技术滑动架的正视结构示意图。
[0024]图8为本专利技术连接座的内部结构示意图。
[0025]图9为本专利技术减震板的内部结构示意图。
[0026]图中：工位盘
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1、测试器
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2、设备箱
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3、旋转台
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4、固件台
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11、位移盘
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12、驱动盘
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13、工作台
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14、防移夹
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111、集成电路板
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112、下固座
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113、信号条
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114、夹板
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a1、缓冲柱
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a2、固壁块
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a3、硅胶垫
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a11、导线
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a12、防脱杆
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a13、弯折杆
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a14、滑动架
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121、导轨
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122、盘本体
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123、连接座
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b1、承载杆
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b2、轨滑轮
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b3、减震板
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b11、稳固柱
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b12、上护板
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b13、螺纹柱
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b14、交叉架
‑
c1、平衡球
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c2、伸缩柱
‑
c3。
具体实施方式
[0027]下本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种集成电路测试多工位定位设备，其结构包括工位盘(1)、测试器(2)、设备箱(3)、旋转台(4)，所述工位盘(1)底部与旋转台(4)中心啮合连接，所述旋转台(4)底部与设备箱(3)表面螺栓固定，所述设备箱(3)顶部与测试器(2)末端嵌固连接，所述测试器(2)表面与工位盘(1)表面间隙配合，其特征在于：所述工位盘(1)包括固件台(11)、位移盘(12)、驱动盘(13)、工作台(14)，所述固件台(11)底部与位移盘(12)表面嵌固连接，所述位移盘(12)中心与驱动盘(13)外壁嵌固连接，所述驱动盘(13)下端与工作台(14)表面间隙配合，所述工作台(14)上端与固件台(11)整体间隙配合。2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试多工位定位设备，其特征在于：所述固件台(11)包括防移夹(111)、集成电路板(112)、下固座(113)、信号条(114)，所述防移夹(111)内壁与集成电路板(112)外壁活动卡合，所述集成电路板(112)底部与下固座(113)表面活动配合，所述下固座(113)上端与信号条(114)整体间隙配合，所述信号条(114)内部与防移夹(111)内部间隙配合。3.根据权利要求2所述的一种集成电路测试多工位定位设备，其特征在于：所述防移夹(111)包括夹板(a1)、缓冲柱(a2)、固壁块(a3)，所述夹板(a1)内壁与缓冲柱(a2)顶端嵌固连接，所述缓冲柱(a2)末端与固壁块(a3)表面嵌固连接，所述固壁块(a3)前端与夹板(a1)表面间隙配合。4.根据权利要求3所述的一种集成电路测试多工位定位设备，其特征在于：所述夹板(a1)包括硅胶垫(a11)、导线(a12)、防脱杆(a13)、弯折杆(a14)，所述硅胶垫(a11)表面与导线(a1...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱燕华，
申请(专利权)人：朱燕华，
类型：发明
国别省市：