梳理机、纤维网导入元件、纺织准备设备和用于检测干扰性颗粒的方法技术

本发明专利技术涉及一种梳理机(100)，所述梳理机具有用于检测在经梳理的纤维薄网(16)中的干扰性颗粒、特别是杂质、棉结、壳团、粗节和/或异物的装置，其中，所述设备包括至少一个传感器(30)，所述传感器位置固定地设置在纤维网导入元件(20)中，所述纤维网导入元件设置在从道夫(5)到剥取辊(6)的过渡部中，其中，所述至少一个传感器(30)检测在道夫(5)上的纤维薄网(16)。(16)。(16)。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】梳理机、纤维网导入元件、纺织准备设备和用于检测干扰性颗粒的方法


[0001]本专利技术涉及一种梳理机，所述梳理机具有用于检测在经梳理的纤维薄网中的干扰性颗粒、特别是杂质、棉结、壳团、粗节和/或异物的装置，其中，所述装置包括至少一个传感器。本专利技术也涉及一种纤维网导入元件、一种纺织准备设备和一种用于检测在经梳理的纤维薄网中的干扰性颗粒、特别是杂质、棉结、壳团、粗节和/或异物的方法。

技术介绍

[0002]根据现有技术，在纺织
中已知检测纤维网、纤维条或者纱中的棉结、干扰颗粒或者污物。已知的方法在确定值的准确度和纺纱厂日常运行的可靠性方面有所不同，因为构件必须伴随着相当大的污染和温度负荷持续良好地运行。纤维的棉结或者结头的检测可以用不同的方法在展开的纤维薄网中或者在纤维条中进行。在检测纤维条时需要更广泛的测量装置，因为通常不可能从外面看到纤维条中。因此已经建立，在道夫下方或者在道夫下游执行对棉结或者结头的检测。在此，不是计算绝对的棉结或者结头，而是仅检测纤维薄网的部分区域并且然后根据统计学上的评价，推断出总产量。
[0003]文献DE 19604499 B4公开了一种用于检测棉结和类似的干扰颗粒的传感器，该传感器设置成可在梳理机的工作宽度上在纤维网导入轮廓中来回移动。朝向剥取辊设置的纤维网导入轮廓的凹形的表面具有至少部分透明的壁，通过该壁借助于传感器检测纤维。将从道夫取下的纤维网持续但不接触地引导越过所述透明壁，所述纤维网在实际运行中会导致快速污染，这会对测量结果产生负面影响。纤维网导入元件的短时间清洁以下述条件为前提，即，完全切断梳理机，亦即不仅停止散纤维供应而且将旋转构件的转速设置为零。然后才能清洁纤维网导入轮廓。梳理运行的这种中断是不希望的并且降低了可能的产量。另一个缺点是传感器在纤维网导入轮廓中可移动的布置结构，这可非常耗费地制造并且由于在移动中携带的线缆而容易发生故障。

技术实现思路

[0004]因此，本专利技术的任务在于如下改进一种梳理机，即，可以以更高的使用寿命和更大的精确度执行对在经梳理的纤维薄网中的干扰性颗粒、特别是杂质、棉结、壳团、粗节和/或异物的检测。
[0005]本专利技术的任务还在于如下构造一种纺织准备设备，即，可以在短时间内检测在经梳理的纤维薄网中的干扰性颗粒、特别是杂质、棉结、壳团、粗节和/或异物。
[0006]本专利技术通过具有在权利要求1或者8中给出的特征的梳理机和纤维网导入元件、并且通过根据权利要求10和13所述的纺织准备设备和方法解决所提出的任务。本专利技术的有利的进一步改进方案在从属权利要求中限定。
[0007]按照本专利技术梳理机包括用于检测在经梳理的纤维薄网中的干扰性颗粒、特别是杂质、棉结、壳团、粗节和/或异物的装置，其中，所述装置包括至少一个传感器，所述传感器位
置固定地设置在纤维网导入元件中，所述纤维网导入元件设置在从道夫到剥取辊的过渡部中，其中，所述至少一个传感器检测在道夫上的纤维薄网。通过传感器检测位于道夫的针布的齿中的纤维薄网，传感器光束必须穿透的区域的污染较少。因此，纤维薄网仅擦过纤维网导入元件的大致垂直的前侧，因此该前侧与水平的凹形的上侧相比，被污染的程度明显更低。通过前侧相对于道夫的这种直立的、大致垂直的布置结构，在运行中在所述前侧上比根据现有技术更少地沉积污物颗粒。在纤维网导入元件和道夫之间的间隙构造得非常窄，从而纤维薄网部分地接触纤维网导入元件的垂直前侧并且因此通过材料的持续流动进行连续清洁。这因此实现更长的使用寿命，直到必须清洁传感器光束穿透的纤维网导入元件或者透光元件。在纤维网导入元件内部不再可移动地设置唯一的传感器，而是在纤维网导入元件内部位置固定地设置至少一个传感器。因此避免了由于拖曳断裂的线缆而导致的故障。
[0008]在一种有利的实施方式中，纤维网导入元件具有朝向道夫设置的、具有至少一个透光元件的前侧。透光元件仅可以设置在传感器的检测区域内，或者备选地在梳理机的工作宽度上延伸，例如作为纤维网导入元件正面的透明壁。
[0009]以有利的方式在纤维网导入元件内部在透光元件上设置有偏振滤光器。偏振滤光器构造用于圆偏振，从而将由道夫的针布反射的传感器光束隐没。因此传感器仅检测在纤维薄网的纤维中的异物、棉结和干扰性颗粒。偏振滤光器在透光元件上的布置结构简化了对测量数据的评价，尤其是偏振滤光器降低了对计算机的算法和计算能力的要求。
[0010]通过在纤维网导入元件内部位置固定地设置有至少三个传感器、优选至少五个传感器、特别优选至少九个传感器，通过较大数量的数据可以影响评价的准确度和时间。根据客户要求，可以通过传感器的数量在颗粒识别的准确度和设备成本之间找到折衷方案。
[0011]在一种优选的实施方式中，每个传感器具有带有图像采集传感器和物镜的传感器电路板，其中，在传感器电路板和偏振滤光器之间设置有计算机、支承板和照明单元。
[0012]由于传感器的这种结构，传感器电路板距纤维薄网之间实现了尽可能大的间距，这在这种小的结构空间中只有利用偏转传感器光束的镜子才是可能的。
[0013]在此，传感器的物镜穿透具有计算机的板、支承板和照明单元。因此实现了传感器的与现有技术相反的结构，其中，传感器以距待检测对象尽可能大的间距设置在所述小的结构空间中。
[0014]优选支承板构造用于保护计算机和传感器电路板免于电磁辐射。因此，计算机和传感器电路板不再必须单独封装。为此，支承板例如由金属制成。
[0015]计算机构造用于通过算法评价图像采集传感器的图像数据。将检测到的干扰颗粒分类并且计数或者采集到统计中。在此，分类不仅可以包含干扰颗粒类型，亦即棉结、壳团、杂质颗粒、异物和异物类型，而且可以包含其他特性，例如尺寸、轮廓、结构、颜色或者表面特性。此外可能的是，借助于图像数据来确定关于纤维或者纤维复合材料的特征值，比如像云斑、薄段、粗节、结构、纤维取向或者短纤维含量。这些信息可以由上级的控制装置自动使用，以便例如优化梳理机或者清洁机(例如异物分离器)，从而减少干扰颗粒的含量或者优化纤维特征值。因此，按照本专利技术的纤维网导入元件成为调节回路的测量机构，以调节或者优化梳理机本身或者喂入机的运行参数。机器自动匹配变化的原材料或者变化的边缘条件或者加工条件，从而实现梳理机原材料的恒定质量。
[0016]确定用于优化机器的信息非常耗时。一方面，计算算法是非常耗时的，但另一方面，特别是为了确定异物部分干扰颗粒的含量，必须评价比确定例如棉结、壳团或者杂质颗粒所需的多得多的单个图像。
[0017]因此，纤维网导入轮廓的每个传感器优选地配设有自己的计算机，所述计算机合计或者汇总各个传感器的结果。通过使用至少两个传感器进行传感器数据的并行检测和评价。通过在按照本专利技术的纤维网导入轮廓内部汇总所有传感器的结果，可以因此显著更快地确定干扰颗粒含量或者纤维特征值。传感器结果的汇总在此以预定的方式进行，例如通过合计、平均、统计学上的评价、分类、模式分析或者利用人工智能方法。为此，根据范围，可以在纤维网导入轮廓内部使用另一台计算机本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.梳理机(100)，所述梳理机具有用于识别在经梳理的纤维薄网(16)中的干扰性颗粒的装置，特别是识别杂质、棉结、壳团、粗节和/或异物，其中，所述装置包括至少一个传感器(30)，所述传感器位置固定地设置在纤维网导入元件(20)中，所述纤维网导入元件设置在从道夫(5)到剥取辊(6)的过渡部中，其中，所述至少一个传感器(30)检测在道夫(5)上的纤维薄网(16)。2.根据权利要求1所述的梳理机(100)，其特征在于，纤维网导入元件(20)具有朝向道夫(5)设置的、具有至少一个透光元件(20b)的前侧(20a)。3.根据权利要求2所述的梳理机(100)，其特征在于，在纤维网导入元件(20)内部在透光元件(20b)上设置有偏振滤光器(31)。4.根据权利要求1所述的梳理机(100)，其特征在于，在纤维网导入元件(20)内部位置固定地设置有至少三个传感器(30)、优选至少五个传感器(30)、特别优选至少九个传感器(30)。5.根据权利要求1所述的梳理机(100)，其特征在于，每个传感器(30)具有带有物镜(37)的传感器电路板(36)，其中，在传感器电路板(36)和偏振滤光器(31)之间设置有计算机、支承板(33)和照明单元(34)。6.根据权利要求5所述的梳理机(100)，其特征在于，物镜(37)穿透具有计算机(35)的板、支承板(33)和照明单元(34)。7.根据前述权利要求5或6之一所述的梳理机(100)，其特征在于，支承板(33)构造用于保护计算机(35)和传感器电路板(36)免于电磁辐射。8.纤维网导入元件(20)，构造用于在梳理机(100)中将纤维薄网(16)从道夫(5)引导至剥取辊(6)，其特征在于，在纤维网导入元件(20)内部设置有...

【专利技术属性】
技术研发人员：圭多，
申请(专利权)人：特吕茨施勒有限及两合公司，
类型：发明
国别省市：