显示屏检查方法技术

一个显示屏检查方法，它将一个显示装置的显示屏作为检查对象并对显示屏的缺陷作出判定。该方法包括：在存在于该灰度图像中的检查对的显示工作区与显示非工作区之间进行灰度图象的各个像素的图像数据分离，该灰度图像是通过摄取检查对象的一个图像获得的，选择性提取适合显示工作区的图像数据并压缩该图像数据以为检查缺陷用，以及检查选择性提取的图像数据有无任何缺陷。（*该技术在2017年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种检查显示屏的方法。更具体地说，本专利技术涉及一种，用以自动地判定流水线中关于检查显示装置中的点缺陷以及诸如此类缺陷的检查结果的一致性，显示装置用于电子设备以及其它领域，比如液晶面板，荫罩，CRT面板、和等离子体显示装置。作为一种用来阅读显示于显示装置上的屏幕的方法，已提供的一种主要的方法是采用CCD面传感器，它们是二维传感器。通常，二维传感器中纵横排列的像素与显示装置中纵横排列的像素是相关的(在下文中，除非有其它定义，显示装置的像素将被称作“显示像素”，而传感器的像素将被称作“传感器像素”)，这里像素分布是许多传感器像素与一个显示像素有关。这可以通过举一个由640×640个像素组成的液晶面板显示装置的例子来说明。一个液晶面板包括像素的显示工作区和显示非工作区。在对这些显示工作区进行的动态工作检查中，可把点缺陷分为暗点和亮点；暗点是一组将在液晶面板的显示状态下不进行显示的显示像素(尽管它们原有成为显示工作区的意向)；而亮点是一细将在状态下进行显示的显示像素(尽管它们原有成为显示非工作区的意向)。例如，在为此所作的自动检查中，当三个传感器像素被指定为一个显示像素时，在行方向上就需要将近2000个像素。作为该传统方法的一个例子，己被采用的一种方法是，其中图像在CCD表面上的聚焦位置由于预先移动CCD面传感器的透镜系统而改变，从而就不会产生显示装置的显示工作区和显示非工作区之间的对比度差。在下文中，把图像在CCD表面聚焦的状态称为“聚焦状态”，而把图像不能聚焦的状态称为“散焦状态”。现在假设有如附图说明图10A所示的一个显示像素100。假设如图10A所示的一个暗点缺陷101出现在该显示像素100上。图10B表示了十个显示工作区上散焦状态下的密度分布数据，这十个显示工作区位于显示像素100的一个一维基准线102上，显示工作区103和显示非工作区104属于它们中的一部分。而且，暗点缺陷101出现在该密度分布数据中。图10C表示了显示像素100的散焦状态下的密度分布数据，其中在本底密度106中存在一个暗点缺陷区105(暗点缺陷101的散焦状态)。该本底密度106是显示工作区103和显示非工作区104的散焦状态部分。该传统方法作为一个很有效的方法常被用来检查大量的点缺陷。显示工作区与显示非工作区之间在这种情况下的对比度差在这里是指己接收光线的传感器像素的对比度差。但是，前述传统方法具有以下问题。如上所述形成散焦状态会导致点缺陷区和正常区之间的对比度差减小，这样该方法就对少量的点缺陷缺乏足够的检查能力。换言之，在显示装置的显示工作区和显示非工作区之间的对比度差消失前形成散焦状态会造成少量点缺陷的对比度差消失。因此，传统的方法具有不能检查少量点缺陷的缺点。有些情况下，必须对显示装置的一个显示工作区的位置是否正常作出判定。但是，如前所述，散焦状态的形成会使判定显示工作区的准确位置应当在哪里变得困难。其它情况下，必须对显示装置的一个显示工作区的大小是否正常作出判定。但是，如前所述，散焦状态的形成会使判定显示工作区的正常尺寸应当是怎样的变得困难。为解决上述问题，本专利技术的目的在于提供一种，该方法不再需要形成散焦状态，并能快速地检查显示屏的工作区而无需任何复杂的处理算法。为达到这些和其它方面的目的，根据本专利技术的第一方面，提供一种，它将显示装置的显示屏作为检查对象并对该显示屏的缺陷作出判定，该方法包括对存在于该灰度图像中的检查对象的显示工作区与显示非工作区之间的灰度图像的各个像素的图像数据进行分离，该灰度图像是通过摄取检查对象的一个图像获得的；只选择性提取准确的显示工作区的图像数据并压缩该图像数据以为检查缺陷用；以及针对任何缺陷检查该选择性地提取的图像数据。根据本专利技术的第二方面，提供一种根据第一方面的，其中在选择性提取时，每一个显示工作区的位置都是由下面这样一个像素给定的，即该像素表示灰度图像密度数据中的一个密度数据峰值，由该峰值数据及其周围的像素的密度数据计算出的结果值被当作该显示工作区的典型密度数据，并且基于显示工作区的位置和该典型密度数据这二者，就可以有选择性地提取准确的显示工作区的图像数据。根据本专利技术的第三方面，提供一种根据第二方面的，其中在选择性地提取时，为获得该显示工作区的位置和该典型密度数据，即使密度数据的峰值并不存在，也从该显示工作区应当出现的位置之前与之后的显示工作区的密度数据中选择性提取该位置的密度数据。根据本专利技术的第四方面，提供一种根据第一到第三方面中的任何一个方面的，其中在选择性提取时，每一个显示工作区的位置都是由下面这样一个像素给定的，即该像素表示灰色图像密度数据中的一个密度数据峰值，并且把由该峰值密度数据及其周围的像素的密度数据计算出的结果值当作该显示工作区的典型密度数据，而且其中在检查时，通过检查这样一个区来检查任何峰值区的移动，该区在该峰值之前与之后具有与密度数据峰值的位置数据不同的显示工作区的位置数据间隔。根据本专利技术的第五方面，提供一种根据第一到第四方面中任何一个方面的，其中在选择性地提取时，每一个显示工作区的位置都是由这样一个像素给定的，该像素表示灰度图像密度数据的一个密度数据峰值，把由该峰值密度数据及其周围的像素的密度数据计算出的结果值当作该显示工作区的典型密度数据，而且其中在检查时，通过对一些超过一个参考密度的多个密度数据计数，来判定是否存显示工作区的面积大小缺陷，所述参考密度是由峰值周围像素的密度数据中的典型密度数据计算出的。采用了本专利技术的上述结构，就会产生以下有效的作用。在分离过程中，通过摄取检查对象的一个图象获得灰度图像，根据该灰度图像的各个像素的密度数据，将存在于灰度图像中的检查对象的显示工作区和显示非工作区相互。在选择性提取过程中，仅选择性提取合适的显示工作区的图像数据，并且将检查缺陷用的图像数据压缩。接着，在检查过程中，使选择性提取的图像数据经受缺陷检查过程。因此，就能在聚焦状态下开始检查而无需形成散焦状态，从而可以通过摄像装置(比如说传感器像素)来接收光线，而不会丢失少量点缺陷的密度数据。此外，按常规，就会有这样的情况，即在进行显示屏检查过程中，图像处理存储空间被分在显示工作区和显示非工作区，并且对整个空间的密度数据都要完成这一处理过程。但是，就本专利技术的来说，因为选择性是取的仅是相应于显示装置中显示像素的显示工作区的密度数据，所以在实际检查过程中所要处理的密度数据量就会减小到非常小的一个值。因此，当然就会取得大大减少处理时间的效果。还有，根据本专利技术，可以判定显示装置的显示工作区的位置是否正常，或者显示装置的显示工作区的大小是否正常。以下结合优选实施例、参照其附图进行的描述将使本专利技术的这些以及其它方式和特点变得清楚。图1是一个显示屏检查设备的原理图，该设备用来实施本专利技术的第一个实施例中采用的；图2是用于本专利技术的第一个实施例的设备的处理电路方框图；图3A和3B表示了显示像素和传感器像素之间的相对位置关系；图4表示了传感器像素的一维密度数据；图5表示了传感器像素中无峰值存在时的一维密度数据；图6表示了具有峰值密度的传感器像素之前和之后的密度分布；图7表示了传感器像素捕获的显示像素的像素间隔，用以说明根据本专利技术的第二个实施例的；图8表示了分在二维扩展显示本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种显示屏检查方法，它将显示装置的显示屏作为检查对象并对该显示屏的缺陷作出判定，该方法包括： 在存在于一灰度图像中的检查对象的显示工作区与显示非工作区之间进行灰度图像的各个像素的图像数据分离，该灰色图像是通过摄取检查对象的一个图像获得的； 选择性地仅提取适合显示工作区的图像数据并压缩要检查缺陷的图像数据；以及 检查选择性提取的图像数据有无任何缺陷。

【技术特征摘要】
JP 1996-6-28 169782/961.一种显示屏检查方法，它将显示装置的显示屏作为检查对象并对该显示屏的缺陷作出判定，该方法包括在存在于一灰度图像中的检查对象的显示工作区与显示非工作区之间进行灰度图像的各个像素的图像数据分离，该灰色图像是通过摄取检查对象的一个图像获得的；选择性地仅提取适合显示工作区的图像数据并压缩要检查缺陷的图像数据；以及检查选择性提取的图像数据有无任何缺陷。2.一种根据权利要求1的显示屏检查方法，其中在选择性提取时，每一个显示工作区的位置由这样一个像素给定的，该像素表示一个出自灰度图像密度数据的峰值，把由该峰值密度数据及其周围的像素的密度数据计算出的结果值当作该显示工作区的典型密度数据，基于显示工作区的位置和该典型密度数据这二者，就可以选择性提取仅适合显示工作区的图像数据。3.一种根据权利要求2的显示屏检查方法，其中在选择性提取时，为获得该显示工作区的位置和该典型密度数据，即使密度数据的峰值并不存在，也从该显示工作区应当出...

【专利技术属性】
技术研发人员：汤川典昭，石井彰一，植田秀司，
申请(专利权)人：松下电器产业株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]