电子束轮廓测量方法及系统技术方案

在测量电子显示装置（１６）的电子束轮廓的方法中，在电子显示装置的显示屏上显示视点点阵（２４），各视频点包括一组（２７）被电子束照亮的荧光点（２８）。获取多个形成视场中视频点的被照亮荧光点组所形成的图像。确定所述视场内的所述视频点的平均水平距离和垂直距离；以及根据所述视频点的平均水平距离和垂直距离，将在所述图像中捕捉的所述视场中形成视频点的所述各组被照亮的荧光点大致地叠加在一起，以使所述组中荧光点之间的不连续之处均衡和填满，并由此产生出所述电子束的重叠图像（４０）。重叠图像的截（*该技术在2019年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种测试系统，更具体地说，它涉及一种可通过测量电子束轮廓以估计电子显示装置中的聚焦和／或会聚的方法和系统。在例如用于计算机和电视机的阴极射线管(CRT)组件的电子显示装置的制造和组装过程中，需要进行精确的机械、磁和电子调节以保证该电子显示装置能够提供最佳还原图像质量。这些调节包括(但不限于)聚焦、颜色的纯度、电子束的会聚、颜色的均匀度、几何形状以及亮度。现代计算机环境中要求电子显示装置有高的分辨率。因此，在电子显示装置的制造过程中，必须保证它能提供高分辨率以及高图像质量。这样，通过目测检查电子显示装置以估计其分辨率和图像质量就不能令人满意。电子显示装置中的聚焦和会聚误差会降低分辨率和图像质量，它们是因电子束轮廓(profile)的偏移而产生的结果。因此，在测试期间，有必要通过测量电子束的轮廓以对聚焦和会聚进行正确测量。不幸的是，对电子显示装置中电子束的会聚和聚集的精确测量受到了荫罩及其中的荧光条或荧光点的阻碍。测量电子显示装置中电子束轮廓的方法已广为人知。例如，Minolta开发出了CB-150系统，它可通过测量电子束轮廓以对电子显示装置中的聚焦进行分析。该系统包括一含有一个内置视频发生器的处理单元、一个测量头以及个人计算机。在操作时，在电子显示装置之中产生电子束，而且由电子显示装置内三条荧光线所发出的光受到了测量头中的一个CCD镜头的检测。然后电子束被向左偏移80μm并且三条荧光线所发出的光又受到CCD镜头的检测。之后，电子束被向右偏移160μm，并且三条荧光线所发出的光再次受到CCD镜头的检测。通过使电子束偏移并测量荧光线的颜色输出，就可近似描绘出因荧光线的分离而隐藏的电子束的轮廓。尽管该系统允许通过测量电子束的轮廓以估计出电子显示装置中的聚焦，但是该系统速度较慢且不能进行实时电子束轮廓测量。因此，就需要有一种改进的方法和系统，以用于测量电子显示装置中的电子束轮廓。所以，本专利技术的一个目的就是提供一种新颖的方法和系统以用于通过测量电子束轮廓来估计电子显示装置中的聚焦和／或会聚。根据本专利技术的第一个方面，提供了一种用于在电子显示装置中测量电子束轮廓的方法，该方法包括以下步骤在上述电子显示装置的显示屏上显示出一个视频点阵，上述各视频点都由一组由电子束照亮的荧光点组成；取出在视场内形成上述视频点的多个亮荧光点组形成的图像；确定上述视场内的上述视频点的平均水平距离和垂直距离；以及根据上述视频点的平均水平距离和垂直距离，将形成从上述图像捕捉的上述视场中视频点的上述各组被照亮荧光点大致地叠加在一起，以使上述组中的荧光点之间的不连续之处均衡和被填满，并由此产生出上述电子束的重叠图像。优选地，选取重叠图像的截面，并且产生至少一个电子束的强度轮廓。在一个优选实施例中，电子束的水平密集轮廓和垂直强度轮廓都被产生。最好还计算出水平强度轮廓和垂直强度轮廓的尺寸占重叠图像最大强度的一个百分比阈值。在一个优选实施例中，截面是通过计算出以预定强度水平环绕荧光点的最适合的椭圆而得到近似的。这可通过付立叶椭圆分解而被实现。在另一个实施例中，在显示步骤期间，通过用红、绿和蓝光束照亮各组荧光点，就可显示出一个由红、绿和蓝视频点构成的点阵。在叠加步骤期间，由各种颜色的视频点构成的被照亮荧光点组被分别叠加以产生红、绿和蓝电子束的重叠图像。最好还对基于重叠图像的红、绿和蓝电子束的空间分布进行比较，并计算出其会聚误差。根据本专利技术的另一个方面，提供了一种用于测量电子显示装置中电子束轮廓的系统，该系统包括视频图像发生器，其驱动上述电子显示装置以使其在显示屏上显示出一个视频点阵。上述各视频点都由一组由电子束照亮的荧光点组成；传感器，其在视场内取出由形成上述视频点的多个被照亮荧光点组构成的一个图像；与上述传感器相连并可接收上述图像的处理器，该处理器对上述图像进行处理，以确定上述视场内上述视频点的平均水平距离和垂直距离，并根据上述视频点的平均水平距离和垂直距离，将形成从上述图像中捕捉的上述视场的视频点的上述各组被照亮荧光点大致地叠加在一起，以使上述组中的荧光点之间的不连续之处均衡和被填满，并由此产生出一个上述电子束的重叠图像。本专利技术的优点在于，与现有技术相比，其电子束轮廓数据的处理和显示速度得到的极大的提高，并且允许被计算的电子束轮廓得到实时观察。以下将参考附图对本专利技术的实施例进行更加全面的说明，在附图中附图说明图1显示出了在彩管形式的电子显示装置内的荧光点点阵的一部分；图2显示出了根据本专利技术所述的用于测量电子显示装置内电子束轮廓的一种系统；图3是显示有被照亮视频点阵的电子显示装置的正视平面图；图4是在视场内选定的亮视频点的放大图像，该视场显示出了构成亮视频点的多组被照亮荧光点；图5是通过将视场内构成亮视频点的多组被照亮荧光点的图像与从一图像中取出的点叠加在一起而产生的一个重叠图像；图6是用于表示已测得的电子束轮廓数据的一个图形用户界面的显示屏；以及图7a和7b显示出了构成亮视频点的多组荧光点以及在不同设定条件下的重叠图像结果。参考图1，它显示出了一种彩管形式的电子显示装置的前显示面板的内表面上的荧光点图案。此荧光点图案含有一个由红、绿和蓝荧光点R、G和B构成的点阵。众所周知，荫罩被放置在荧光点点阵与电子显示装置的电子枪之间。在垂直扫描时间周期内，与红、绿和蓝荧光点有关的电子束被垂直和水平地偏转以逐步扫描整个前显示面板，并由此照亮各荧光点。在理想情况下，当电子枪产生电子束时，电子束将穿过荫罩并直接撞击在相应的荧光点上，从而使荧光点发出最大强度的光。还需使电子束的轮廓被显示出来，这样就可在显示信息被正确聚焦的情况下照亮荧光点。因此，在电子显示装置的测试期间，需要对电子束的轮廓进行测量以便通过调整测试条件或驱动电子显示装置的电子来改变电子束的轮廓，从而提高电子显示装置中的聚焦。另外，需要对电子束的轮廓进行测量，以便客观地辨别出不符合技术规格的残次电子显示装置。以下将参考图2至图7b对本专利技术用于测量电子显示装置中电子束轮廓的方法和系统的一个实施例进行具体说明。图2显示出了一个根据本专利技术所述的用于测量电子显示装置中电子束轮廓的系统，该系统一般用参考数字10表示。从图中可以看出，系统10含有一个传感器12，它最好采用由安大略省Markham的ImageProcessing Systems Inc．(图像处理系统公司)制造的型号为ADI5200的传感器。该传感器含有一个彩色CCD镜头(未示出)，它可对视场中被检测的电子显示装置16所显示的亮荧光点构成的高分辨率图像进行捕捉。传感器12与个人计算机14相连，个人计算机14含有必需的硬件，并且能够通过运行软件对由传感器捕捉的图像进行处理，从而使电子显示装置中的电子束轮廓得到测量。视频图像发生器18可响应个人计算机14以驱动电子显示装置16，从而在测试期间将所需的视频图像显示在电子显示装置上。个人计算机14运行的软件含有一个图形用户界面，它可使操作员选择要被检测轮廓的电子束，并能将电子束轮廓的测量结果显示出来。在测试期间，与红、绿和蓝荧光点之一有关的电子束被操作员通过图形用户界面选中。个人计算机14会相应地向视频图像发生器18发出信号，以使视频图像发生器驱动电子显示装置16，从而将与选定颜色本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于在电子显示装置中测量电子束轮廓的方法，该方法包括以下步骤：在所述电子显示装置的显示屏上显示出一视频点阵，各所述视频点由一组被电子束照亮的荧光点组成；获取在视场内形成所述视频点的多个亮荧光点组所形成的图像；确定所述视场内的 所述视频点的平均水平距离和垂直距离；以及根据所述视频点的平均水平距离和垂直距离，将在所述图像中捕捉的所述视场中形成视频点的所述各组被照亮的荧光点大致地叠加在一起，以使所述组中荧光点之间的不连续之处均衡和填满，并由此产生出所述电子束的重叠 图像。

【技术特征摘要】
US 1998-1-16 09/008,6411．一种用于在电子显示装置中测量电子束轮廓的方法，该方法包括以下步骤在所述电子显示装置的显示屏上显示出一视频点阵，各所述视频点由一组被电子束照亮的荧光点组成；获取在视场内形成所述视频点的多个亮荧光点组所形成的图像；确定所述视场内的所述视频点的平均水平距离和垂直距离；以及根据所述视频点的平均水平距离和垂直距离，将在所述图像中捕捉的所述视场中形成视频点的所述各组被照亮的荧光点大致地叠加在一起，以使所述组中荧光点之间的不连续之处均衡和填满，并由此产生出所述电子束的重叠图像。2．如权利要求1所述的方法，还包括捕捉所述重叠图像的截面并产生所述电子束的至少一个强度轮廓的步骤。3．如权利要求2所述的方法，其中产生所述电子束的水平和垂直强度轮廓。4．如权利要求3所述的方法，其中还包括计算所述水平强度轮廓和垂直强度轮廓的尺寸占所述电子束最大强度的一个百分比阈值的步骤。5．如权利要求4所述的方法，其中所述百分比阈值可由用户进行选择。6．如权利要求3所述的方法，其中所述截面是通过计算包围所述重叠图像的荧光点的最佳椭圆而被近似得出的。7．如权利要求6所述的方法，其中所述最佳椭圆是利用付立叶椭圆分解计算出来的。8．如权利要求3所述的方法，其中还包括计算处于两个确定强度水平的截面面积并确定它们之间的面积比以提供聚焦质量指示的步骤。9．如权利要求8所述的方法，其中还包括为已确定的面积比提供图形和数字显示的步骤。10．如权利要求9所述的方法，其中还包括保持显示用于说明最佳聚焦质量的确定面积比的步骤。11．如权利要求10所述的方法，其中还包括进行显示以表示出所述重叠图像中荧光点之间的间隙的步骤。12．如权利要求11所述的方法，其中提供了一对指示符，所述指示符之一用于说明所述重叠图像中荧光点之间水平方向上的间隙，而另一个指示符则用于说明所述重叠图像中荧光点之间垂直方向上的间隙。...

【专利技术属性】
技术研发人员：布兰科布卡尔，列扎萨法伊拉德，卡罗伊G涅梅特，
申请(专利权)人：图象处理系统公司，
类型：发明
国别省市：CA[加拿大]