一种红外反射传感器识别DUT放平校准的方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术属于自动化治具领域，公开了一种红外反射传感器识别DUT放平校准的方法及装置。所述方法为：在红外反射传感器的有效距离处，分别采集不放置DUT和放置DUT时红外反射传感器的输出电压ADC1、ADC2，将[ADC2，ADC1]作为初始电压识别上下限存储到MCU中；根据[ADC2，ADC1]确定期望的电压识别范围Uo；根据电压识别范围Uo校正并更新MCU中的电压识别上下限为[ADC2

【技术实现步骤摘要】
一种红外反射传感器识别DUT放平校准的方法及装置


[0001]本专利技术属于自动化治具领域，具体涉及一种红外反射传感器识别DUT放平软件校准的装置及方法。

技术介绍

[0002]在自动化治具行业，待测物DUT(Device Under Test，简称DUT)放平的方式通常采用机构进行限位或者导向，这样精度有非常大的局限性，并且会出现压坏DUT的情况，因此，有必要采用传感器进行检测DUT是否放平。
[0003]现有技术中，通常进行检测是否放平的传感器有光纤传感器，霍尔传感器，红外对射传感器等，其中，光纤传感器灵敏度很高，但费用极高且非常占用空间；霍尔传感器只能检测有金属的位置，而且检测精度不高。同时，这些传感器的安装方式、数量等等都会影响到DUT放平识别的效果。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于提供一种红外反射传感器识别DUT放平校准的方法及装置，旨在改善DUT放平识别精度，降低成本，减小占用空间，减少调试时间，方便软件配置识别效果。
[0005]为实现以上技术目的，本专利技术采用以下技术方案：
[0006]一种红外反射传感器识别DUT放平校准方法，所述方法包括：
[0007]在红外反射传感器Q1的有效距离d处，分别采集不放置DUT和放置DUT时红外反射传感器Q1的输出电压ADC1、ADC2，将[ADC2，ADC1]作为初始电压识别上下限存储到MCU中；
[0008]根据初始电压识别上下限[ADC2，ADC1]确定期望的电压识别范围Uo；
[0009]根据期望的电压识别范围Uo校正并更新MCU中的电压识别上下限为[ADC2
‑
Uo，ADC2+Uo]；
[0010]根据校正后的电压识别上下限[ADC2
‑
Uo，ADC2+Uo]进行DUT放平识别检测。
[0011]进一步地，所述根据初始电压识别上下限[ADC2，ADC1]确定期望的电压识别范围Uo，具体包括：
[0012]设置一个比例因子Ra，Ra的取值范围为[0％,100％]；
[0013]取所述ADC1和ADC2的差值，记为Ud＝ADC1
‑
ADC2；
[0014]计算出期望的电压识别范围Uo＝Ud*Ra。
[0015]更进一步地，所述根据期望的电压识别范围Uo校正并更新MCU中的电压识别上下限为[ADC2
‑
Uo，ADC2+Uo]，具体包括：
[0016]以放上DUT时检测的电压值ADC2为基准，按照期望的识别电压范围Uo计算出新的电压识别上限为ADC2+Uo，计算出新的电压识别下限为ADC2
‑
Uo；
[0017]更新并存储MCU中的电压识别上下限为[ADC2
‑
Uo,ADC2+Uo]。
[0018]更进一步地，所述根据校正后的电压识别上下限[ADC2
‑
Uo，ADC2+Uo]进行DUT放平
识别检测，具体包括：
[0019]在红外反射传感器Q1的有效距离d处放置DUT，通过MCU采集红外反射传感器Q1的输出电压；
[0020]若MCU检测到红外反射传感器Q1的输出电压在MCU的电压识别上下限[ADC2
‑
Uo，ADC2+Uo]范围内，则DUT已放平；
[0021]若MCU检测到红外反射传感器Q1的输出电压不在MCU的电压识别上下限[ADC2
‑
Uo，ADC2+Uo]范围内，则DUT没有放平；
[0022]输出上述DUT放平识别检测结果。
[0023]更进一步地，所述根据校正后的电压识别上下限[ADC2
‑
Uo，ADC2+Uo]进行DUT放平识别检测，还包括采用2个或2个以上的红外反射传感器Q1分别放置在待测物DUT的对角位置进行检测，所述红外反射传感器Q1与DUT的板边距离为d，d为红外反射传感器Q1的有效识别距离。
[0024]一种红外反射传感器识别DUT放平校准的装置，包括若干个红外反射传感器识别装置，所述红外反射传感器识别装置包括红外反射传感器Q1、电压采集模块、电压校正模块和DUT放平识别模块；
[0025]所述红外反射传感器Q1用于发射和接收红外光；
[0026]所述电压采集模块用于采集红外红外反射传感器Q1的初始电压识别上下限[ADC2，ADC1]和输出电压；
[0027]所述电压校正模块用于校正并更新初始电压识别上下限，所述电压校正模块包括电压期望范围识别模块和电压上下限更新模块；所述电压期望范围识别模块根据初始电压识别上下限[ADC2，ADC1]确定期望的电压识别范围Uo；所述电压上下限更新模块根据期望的电压识别范围Uo校正并更新电压识别上限为[ADC2
‑
Uo，ADC2+Uo]，并把[ADC2
‑
Uo，ADC2+Uo]传输到DUT放平识别模块中；
[0028]所述DUT放平识别模块用于检测识别DUT是否放平，并输出检测识别结果。
[0029]进一步地，所述红外反射传感器识别装置还包括MCU，所述电压采集模块、电压校正更新模块和DUT放平识别模块均集成在所述MCU中；
[0030]所述红外反射传感器Q1包括红外光发生装置和红外光接收装置，所述红外光发生装置为红外光发射二极管，所述红外光接收装置为红外光接收晶体管；所述红外光发射二极管的A极连接有限流电阻R1，所述限流电阻R1连接模拟信号电源Vcc，所述红外光发射二极管的K极接地；所述红外光接收晶体管的C极连接有偏置电阻R2，所述偏置电阻R2连接模拟信号电源Vcc，所述红外光接收晶体管的C极还连接所述MCU的ADC引脚，所述红外光接收晶体管的E极接地。
[0031]进一步地，所述电压采集模块包括MCU的ADC引脚；
[0032]在采集初始电压识别上下限时，所述电压采集模块通过MCU的ADC引脚分别采集不放置DUT和放置DUT时红外反射传感器Q1的输出电压ADC1、ADC2，将[ADC2，ADC1]作为初始电压识别上下限传输给电压校正模块；
[0033]在放平识别检测时，所述电压采集模块通过MCU的ADC引脚采集红外反射传感器Q1的输出电压并传输给DUT放平识别模块。
[0034]进一步地，所述DUT放平识别模块包括电压识别判断模块和结果输出模块：
[0035]所述电压识别判断模块：将电压采集模块采集的红外反射传感器Q1的输出电压与校正更新的电压识别上下限[ADC2
‑
Uo，ADC2+Uo]进行比较，若红外红外反射传感器Q1的输出电压在电压识别上下限[ADC2
‑
Uo，ADC2+Uo]范围内，则识别结果为：DUT已放平；若红外红外反射传感器Q1的输出电压不在电压识别上下限[ADC2
‑
Uo，ADC2+Uo]范围内，则识别结果为：DUT未放平；
[0036]所述结果输出模块：输出电压识本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种红外反射传感器识别DUT放平校准方法，其特征在于，所述方法包括：在红外反射传感器Q1的有效距离d处，分别采集不放置DUT和放置DUT时红外反射传感器Q1的输出电压ADC1、ADC2，将[ADC2，ADC1]作为初始电压识别上下限存储到MCU中；根据初始电压识别上下限[ADC2，ADC1]确定期望的电压识别范围Uo；根据期望的电压识别范围Uo校正并更新MCU中的电压识别上下限为[ADC2
‑
Uo，ADC2+Uo]；根据校正后的电压识别上下限[ADC2
‑
Uo，ADC2+Uo]进行DUT放平识别检测。2.根据权利要求1所述的一种红外反射传感器识别DUT放平校准方法，其特征在于，所述根据初始电压识别上下限[ADC2，ADC1]确定期望的电压识别范围Uo，具体包括：设置一个比例因子Ra，Ra的取值范围为[0％,100％]；取所述ADC1和ADC2的差值，记为Ud＝ADC1
‑
ADC2；计算出期望的电压识别范围Uo＝Ud*Ra。3.根据权利要求2所述的一种红外反射传感器识别DUT放平校准方法，其特征在于，所述根据期望的电压识别范围Uo校正并更新MCU中的电压识别上下限为[ADC2
‑
Uo，ADC2+Uo]，具体包括：以放上DUT时检测的电压值ADC2为基准，按照期望的识别电压范围Uo计算出新的电压识别上限为ADC2+Uo，计算出新的电压识别下限为ADC2
‑
Uo；更新并存储MCU中的电压识别上下限为[ADC2
‑
Uo,ADC2+Uo]。4.根据权利要求3所述的一种红外反射传感器识别DUT放平校准方法，其特征在于，所述根据校正后的电压识别上下限[ADC2
‑
Uo，ADC2+Uo]进行DUT放平识别检测，具体包括：在红外反射传感器Q1的有效距离d处放置DUT，通过MCU采集红外反射传感器Q1的输出电压；若MCU检测到红外反射传感器Q1的输出电压在MCU的电压识别上下限[ADC2
‑
Uo，ADC2+Uo]范围内，则DUT已放平；若MCU检测到红外反射传感器Q1的输出电压不在MCU的电压识别上下限[ADC2
‑
Uo，ADC2+Uo]范围内，则DUT没有放平；输出上述DUT放平识别检测结果。5.根据权利要求1
‑
4任一项所述的一种红外反射传感器识别DUT放平校准方法，其特征在于，所述根据校正后的电压识别上下限[ADC2
‑
Uo，ADC2+Uo]进行DUT放平识别检测，还包括采用2个或2个以上的红外反射传感器Q1分别放置在待测物DUT的对角位置进行检测，所述红外反射传感器Q1与DUT的板边距离为d，d为红外反射传感器Q1的有效识别距离。6.一种红外反射传感器识别DUT放平校准的装置，其特征在于，包括若干个红外反射传感器识别装置，所述红外反射传感器识别装置包括红外反射传感器Q1、电压采集模块、电压校正模块和DUT放平识别模块；所述红外反射传感器Q1用于发...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈启恩，袁承范，陈焱国，孙德滔，韩雪涛，
申请(专利权)人：深圳市微特精密科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：