一种双顶尖外径检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及外径检测领域，特指一种双顶尖外径检测装置，包括夹具，夹具对轴类产品两端进行夹持并使其旋转，探测头，探测头贴靠轴类产品侧边，沿轴类产品轴向移动的同时，受轴类产品径向变化进行位移，并将位移变化通过位移传感器测取；探测头只移动检测轴类产品的一侧时，用于连续测量轴类产品的轴跳动度；探测头同步移动检测轴类产品两侧时，用于连续测量轴类产品外径。采用上述方案后，采用上述方案后，可以用于检测传动轴等轴似零件的外径和轴跳动度是否合格。轴跳动度是否合格。轴跳动度是否合格。

【技术实现步骤摘要】
一种双顶尖外径检测装置


[0001]本技术涉及外径检测领域，特指一种双顶尖外径检测装置。

技术介绍

[0002]传动轴是一个高转速、少支承的旋转体，如在汽车领域，传动轴是与变速箱、驱动桥一起将发动机的动力传递给车轮，使汽车产生驱动力，而传动轴各径向上精度不均匀在转动时会引起传动轴的振动，并使传动轴受到不必要的动载荷，这不利于传动轴正常运转，因此传动轴的加工、检测决定了设备最终的运行精度。
[0003]而当同一根轴类产品具有不同外径时，一般采用抽检的方式进行若干“点”的检测，不仅工作量大，而且只能保证一定的合格率。
[0004]因此，本专利技术人对此做进一步研究，研发出一种双顶尖外径检测装置，本案由此产生。

技术实现思路

[0005]本技术的目的在于提供一种双顶尖外径检测装置，可以用于连续检测传动轴等轴类零件的外径和轴跳动度。
[0006]为了实现上述目的，本技术的技术方案如下：
[0007]一种双顶尖外径检测装置，包括
[0008]夹具，夹具对轴类产品两端进行夹持并使其旋转，
[0009]探测头，探测头贴靠轴类产品侧边，沿轴类产品轴向移动的同时，受轴类产品径向变化进行位移，并将位移变化通过位移传感器测取；
[0010]探测头只移动检测轴类产品的一侧时，用于连续测量轴类产品的轴跳动度；
[0011]探测头同步移动检测轴类产品两侧时，用于连续测量轴类产品外径。
[0012]由于轴类产品是刚性的，因此其在进行自转时，用一侧探测头在检测时，理论上应当是不会产生位移的，产生位移即说明书该处轴类产品的轴跳动度出现了偏差；而在两侧探测头同时存在时，在探测头的移动过程中，可以检测出各处轴类产品的外径是否一致，最终可以检测出该轴类产品的加工是否处于合理误差尺寸之内。
[0013]进一步，探测头设置于径向移动座上，径向移动座设置于轴向移动座上，径向移动座和轴向移动座之间设置有位移传感器，位移传感器用于检测径向移动座相对于轴向移动座之间的相对位移。
[0014]进一步，探测头与轴类产品的接触端设置有滚柱，滚柱滚动方向与轴类产品的轴向一致。
[0015]由于需要探测头沿轴类产品外径进行移动检测，因此采用滚柱与轴类产品接触，可以减少两者之间的摩擦，避免因摩擦产生的损耗。
[0016]进一步，位移传感器为回弹式位移传感器。
[0017]回弹式位移传感器也常被成为自恢复式直线位移传感器，通过内置或者外置弹
簧，可以在压缩后自动复位，接通稳压直流电源后可输出电压信号，也可以配套变送模块输出模拟信号或者数字信号，可直接与单片机的PLC采集系统连接使用；在本技术的应用中，可以用于检测轴跳动度或外径的偏差值。
[0018]采用上述方案后，本技术与现有技术相比，具有以下优点：
[0019]可以精确测量一个类似轴类产品的零件的外径和轴跳动度是否合格，测量结果可转化成可视化数值，且检测过程中不会对零件造成损伤。
附图说明
[0020]图1是本技术的示意图；
[0021]图2是图1的A处局部放大图；
[0022]标号说明
[0023]主动夹持座1，夹持座电机11，被动夹持座2，探测头3，
[0024]滚柱31，径向移动座4，轴向移动座5，回弹式位移传感器6，
[0025]可变电阻滑轨61，复位弹簧62，底座7，轴类产品8。
具体实施方式
[0026]下面结合附图和具体实施例对本技术作进一步的说明。
[0027]如图所示，一种双顶尖外径检测装置，包括一对用于对轴类产品进行夹持的夹持座，以及设置在轴类产品8两侧的探测头3。
[0028]其中，因检测需要，该对夹持座需带动轴类产品8进行自转，因此可以设置一主动夹持座1，由夹持座电机11带动转动，另设一被动夹持座2，能跟随主动夹持座1转动即可，如设两个主动夹持座1，则有可能因两端的转速不同步引起震颤影响检测精度。
[0029]而探测头3则以通过紧贴轴类产品8的方式，或检测轴类产品8的轴跳动度，或检测轴类产品8的外径：检测轴类产品8的轴跳动度时，只需要一侧的探测头3贴紧轴类产品8进行连续的移动测量，在轴类产品8自转的情况下进行检测，当某一处轴类产品8轴跳动度不一致时，通过与探测头3联动的位移传感器测出其变化值；检测轴类产品8外径时，通过带动两侧的探测头3贴紧轴类产品8进行连续的移动测量，在轴类产品8自转的情况下，同时驱动两侧的探测头3沿轴类产品8的轴向运动，当某一处外径值产生变化时，通过与探测头3联动的位移传感器测出其外径变化值。
[0030]在探测头3与轴类产品8的接触端设置有滚柱31，滚柱31滚动方向与轴类产品8的轴向一致，即滚柱31可相对于轴类产品8进行滚动，从而避免滚柱31与轴类产品8之间产生磨损。
[0031]而探测头3设置在径向移动座4上，径向移动座4设置于轴向移动座5上，径向移动座4用于带动探测头3在轴向移动座5的滑轨上滑动，轴向移动座5带动径向移动座4在底座7的滑轨上滑动，径向移动座4和轴向移动座5之间设置有回弹式位移传感器6，回弹式位移传感器6的可变电阻滑轨61固定在轴向移动座5上，回弹式位移传感器6的复位弹簧62与径向移动座4联动，回弹式位移传感器6无论在轴类产品8自转时，轴跳动度产生变化，或沿轴类产品8移动时，轴类产品8外径值产生变化，都能讲产生的位移偏差记录并通过信号输出。
[0032]上述仅为本技术的具体实施例，同时凡本技术中所涉及的如“上、下、左、
右、中间”等词，仅作参考用，并非绝对限定，基于上述原理，本装置也可以用于其它类似产品零件的检测，凡利用本技术进行非实质性的改动，均应属于侵犯本技术保护范围的行为。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种双顶尖外径检测装置，其特征在于：包括夹具，夹具对轴类产品两端进行夹持并使其旋转，探测头，探测头贴靠轴类产品侧边，沿轴类产品轴向移动的同时，受轴类产品径向变化进行位移，并将位移变化通过位移传感器测取；探测头只移动检测轴类产品的一侧时，用于连续测量轴类产品的轴跳动度；探测头同步移动检测轴类产品两侧时，用于连续测量轴类产品外径。2.根据权利要求1所述的一种双顶尖外径检测装置，其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵宇锋，丁金利，王小永，
申请(专利权)人：绍兴安迪自动化设备有限公司，
类型：新型
国别省市：