一种芯片管脚状态的自动化测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种芯片管脚状态的自动化测试装置，包括微控制单元、测试仪器、和所述微控制单元连接的可变电压模块，待测芯片连接在可变电压模块和测试仪器之间，该装置还包括由微控制单元控制的引脚选择模块和信号选择模块，所述引脚选择模块一端和所述待测芯片连接，另一端与所述信号选择模块连接，所述信号选择模块和测试仪器连接。本实用新型专利技术可靠性高、成本低、能够高效灵活的测试待测芯片的引脚的状态和波形，缩短芯片开发周期。缩短芯片开发周期。缩短芯片开发周期。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片管脚状态的自动化测试装置


[0001]本技术涉及芯片测试领域，特别涉及一种芯片管脚状态的自动化测试装置。

技术介绍

[0002]随着电子工业自动化的发展，各行业对芯片的需求量也越来越大，同时芯片的种类也越来越大，功能也越来越复杂。芯片的性能日益提高、管脚数量不断增加，对芯片的测试需求也在不断提升。在以往芯片管脚状态或波形的测试中，主要以传统人工操作仪器测量，少数使用先进测试设备。
[0003]传统人工测试费时费力、可靠性差，并且一旦某些测试条件(比如：电压、芯片上下拉状态)改变，就需要再人为重复操作一遍，可靠性很差，延长了芯片的开发周期。

技术实现思路

[0004]针对现有技术的不足，本技术提供了一种芯片管脚状态的自动化测试装置，该装置自动化程度高且可靠性高。
[0005]本技术通过以下技术方案实现：
[0006]一种芯片管脚状态的自动化测试装置，包括微控制单元、测试仪器、和所述微控制单元连接的可变电压模块，待测芯片连接在可变电压模块和测试仪器之间，该装置还包括由微控制单元控制的引脚选择模块和信号选择模块，所述引脚选择模块一端和所述待测芯片连接，另一端与所述信号选择模块连接，所述信号选择模块和测试仪器连接。
[0007]进一步的，所述引脚选择模块包括若干个引脚选择开关,所述引脚选择开关的一端和待测芯片的引脚连接,另一端和信号选择模块连接。
[0008]进一步的，所述信号选择模块包括若干个信号选择开关，所述信号选择开关输入公共端和引脚选择开关连接，输出公共端和测试仪器连接。
[0009]进一步的，所述信号选择模块还包括直流电源、上拉电阻和下拉电阻，所述上拉电阻一端和直流电源连接，另一端和信号选择开关的一侧连接，所述下拉电阻一端和信号选择开关的另一侧连接，另一端接地。
[0010]进一步的，该装置还包括和所述微控制单元连接的上位机，所述上位机还和测试仪器连接。
[0011]进一步的，所述测试仪器和待测芯片的供电引脚连接。
[0012]进一步的，所述可变电压模块和待测芯片的供电引脚连接。
[0013]相比于现有技术，本技术的优点在于：
[0014]1、采用引脚选择模块和信号选择模块的搭配，可以任意选择需要测试的芯片引脚，并且可以根据测试需求选择通过上拉或者下拉来测量引脚的状态，装置简易，节约成本。
[0015]2、采用测试仪器，测试任一引脚的状态或波形，且可以同时测量了多个引脚，并将它们的波形整合在一起进行比较。
附图说明
[0016]图1为本技术一实施例的芯片管脚状态的自动化测试装置的结构框图；
[0017]图2为本技术一实施例的测试板示意图。
[0018]1‑
上位机；2
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微控制单元；3
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可变电压模块；4
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待测芯片；5
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引脚选择模块、50
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引脚选择开关；6
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信号选择模块、60
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信号选择开关、61
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直流电源、62
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上拉电阻、63
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下拉电阻；7
‑
测试仪器。
具体实施方式
[0019]以下结合较佳实施例及其附图对技术技术方案作进一步非限制性的详细说明。在本技术的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本技术的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本技术，而不能理解为对本技术的限制。
[0020]如图1所示，本技术一实施例的芯片管脚状态的自动化测试装置，包括上位机1、微控制单元2、可变电压模块3、引脚选择模块5、信号选择模块6和测试仪器7；待测芯片4连接在可变电压模块3和引脚选择模块5之间，微控制单元2分别和上位机1、可变电压模块3、引脚选择模块5、信号选择模块6连接，可变电压模块3和待测芯片4的供电引脚连接，待测芯片4的供电引脚还和测试仪器7连接，引脚选择模块5和信号选择模块6连接，信号选择模块6和测试仪器7连接，上位机1和测试仪器7连接。将固件下载到微控制单元2中，上位机1通过脚本程序控制微控制单元2和测试仪器7，微控制单元2通过控制可变电压模块3给系统供电，同时可以调节可变电压模块3的电压，通过引脚选择模块5可以选择需要测试的待测芯片4的引脚，通过信号选择模块6可以选择将该引脚的信号进行上拉检测还是下拉检测。
[0021]如图2所示，引脚选择模块5包括若干个引脚选择开关50，引脚选择开关50的一端和待测芯片4的引脚连接，另一端和信号选择模块6连接。微控制单元2通过脚本程序控制引脚选择开关50的闭合来确定所需测量引脚的信号。
[0022]如图2所示，信号选择模块6包括若干个信号选择开关60、直流电源61、上拉电阻62和下拉电阻63，信号选择开关60输入公共端和引脚选择开关50连接，输出公共端和测试仪器7连接。所述上拉电阻62一端和直流电源61连接，另一端和信号选择开关60的一侧连接，所述下拉电阻63一端和信号选择开关60的另一侧连接，另一端接地。当待测芯片4的某个引脚信号传到信号选择开关60，当信号选择开关60两侧都打开时，则信号将通过上拉电阻62上拉到VCC，测试仪器7接到测试点即可测试，反之，当信号选择开关60两侧都关闭时，则信号将通过下拉电阻63下拉到地，测试仪器7接到测试点即可测试。
[0023]本设备可用于两种情况的测试：详见如下实施例一和实施例二的解释说明。
[0024]实施例一：
[0025]如图1和图2所示，本实施例中，测试仪器7选用示波器，上拉电阻62和下拉电阻63
都为4.7k欧姆，将固件下载到微控制单元2中，将测试点1、2、3和4接到示波器上，通过微控制单元2的脚本程序控制引脚选择开关50，选择被测的芯片引脚，通过切换信号选择开关60，选择信号上拉到VCC，通过上位机1脚本控制示波器，以测试点1的VCC信号上升沿为触发条件；控制可变电压模块3上电，示波器捕获波形，通过上位机1脚本获取波形图及数据，重复该步骤，可以分别将测试点2、3和4的信号采集到示波器中，并分析引脚状态是否正常，同时，上位机1还可以将示波器采集到的几个测试点波形放到同一张图中，可以进行鲜明对比出每个引脚的工作状态。
[0026]实施例二：
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片管脚状态的自动化测试装置，包括微控制单元(2)、测试仪器(7)、和所述微控制单元(2)连接的可变电压模块(3)，待测芯片(4)连接在可变电压模块(3)和测试仪器(7)之间，其特征在于，该装置还包括由微控制单元(2)控制的引脚选择模块(5)和信号选择模块(6)，所述引脚选择模块(5)一端和所述待测芯片(4)连接，另一端与所述信号选择模块(6)连接，所述信号选择模块(6)和测试仪器(7)连接。2.根据权利要求1所述的芯片管脚状态的自动化测试装置，其特征在于，所述引脚选择模块(5)包括若干个引脚选择开关(50),所述引脚选择开关(50)的一端和待测芯片(4)的引脚连接，另一端和信号选择模块(6)连接。3.根据权利要求2所述的芯片管脚状态的自动化测试装置，其特征在于，所述信号选择模块(6)包括若干个信号选择开关(60)，所述信号选择开关(60)输入公共端和引...

【专利技术属性】
技术研发人员：崔元来，郝世龙，吕建新，
申请(专利权)人：苏州裕太微电子有限公司，
类型：新型
国别省市：