一种用于芯片制造中抽检装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及芯片制造技术领域，尤其涉及一种用于芯片制造中抽检装置，包括U型板，U型板的底端水平部位插设在循环传动带之间，U型板的顶端水平部位上开设有长条槽，长条槽的内部通过轴承转动设置有与长条槽平行的往复螺杆，往复螺杆的一端贯穿U型板且固定连接有驱动电机，长条槽的内部滑动设置有方形滑块，方形滑块的上下两面固定焊接有限位板，限位板与U型板滑动抵压接触，往复螺杆贯穿方形滑块且往复螺杆与方形滑块之间螺纹连接，位于方形滑块下方的限位板底面固定焊接有连接块。本实用新型专利技术解决了现有技术中存在人为选样毕竟带有一定的主观意见，不能完成体现出抽样的公平公正的缺点，有益效果明显，适合推广。适合推广。适合推广。

【技术实现步骤摘要】
一种用于芯片制造中抽检装置


[0001]本技术涉及芯片制造
，尤其涉及一种用于芯片制造中抽检装置。

技术介绍

[0002]芯片是一种将电路制造在半导体芯片表面上的集成电路又称薄膜集成电路，现有集成电路在制造过程中，需要对芯片进行抽样检测，现有抽样检测过程中，大多数由人为选样完成，但是人为选样毕竟带有一定的主观意见，不能完成体现出抽样的公平公正，为此我们需要设计一种用于芯片制造中抽检装置。

技术实现思路

[0003]本技术的目的是为了解决现有技术中存在人为选样毕竟带有一定的主观意见，不能完成体现出抽样的公平公正的缺点，而提出的一种用于芯片制造中抽检装置。
[0004]为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：
[0005]设计一种用于芯片制造中抽检装置，包括U型板，所述U型板的底端水平部位插设在循环传动带之间，所述U型板的顶端水平部位上开设有长条槽，所述长条槽的内部通过轴承转动设置有与长条槽平行的往复螺杆，所述往复螺杆的一端贯穿U型板且固定连接有驱动电机，所述长条槽的内部滑动设置有方形滑块，所述方形滑块的上下两面固定焊接有限位板，所述限位板与U型板滑动抵压接触，所述往复螺杆贯穿方形滑块且往复螺杆与方形滑块之间螺纹连接，位于所述方形滑块下方的限位板底面固定焊接有连接块，所述连接块上固定安装有毛刷，所述毛刷与循环传动带的顶面之间滑动接触，所述U型板的底端水平部位顶面固定焊接有方框，所述U型板底端的四个拐角处固定安装有电动伸缩杆，所述电动伸缩杆的底端固定安装有万向轮。
[0006]优选的，四个所述电动伸缩杆均由同一开关控制。
[0007]优选的，所述万向轮带有驻车功能。
[0008]优选的，所述方框的宽度大于循环传动带的宽度。
[0009]本技术提出的一种用于芯片制造中抽检装置，有益效果在于：该用于芯片制造中抽检装置通过设置往复螺杆，并且往复螺杆的外部螺纹连接有方形滑块，当往复螺杆在电机的作用下转动时，会带动螺纹连接在往复螺杆上的方形滑块来回运动，方形滑块在往复运动的过程中会带动与其间接连接的毛刷往复运动，由于毛刷与循环传送带之间滑动接触，从而可以将循环传送带上的芯片刮落到方框内，等待检测，本技术由机械往复运动将部分芯片抽出，可以有效的避免人为主观因素的影响，解决了现有技术中存在人为选样毕竟带有一定的主观意见，不能完成体现出抽样的公平公正的缺点，有益效果明显，适合推广。
附图说明
[0010]图1为本技术提出的一种用于芯片制造中抽检装置的正视剖面结构示意图；
[0011]图2为本技术提出的一种用于芯片制造中抽检装置的俯视结构示意图；
[0012]图3为本技术提出的一种用于芯片制造中抽检装置的俯视剖面结构示意图。
[0013]图中：1U型板、2长条槽、3往复螺杆、4驱动电机、5方形滑块、6限位板、7连接块、8毛刷、9方框、10电动伸缩杆、11万向轮。
具体实施方式
[0014]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。
[0015]参照图1
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3，一种用于芯片制造中抽检装置，包括U型板1，U型板1的底端水平部位插设在循环传动带之间，U型板1的顶端水平部位上开设有长条槽2，长条槽2的内部通过轴承转动设置有与长条槽2平行的往复螺杆3，往复螺杆3的一端贯穿U型板1且固定连接有驱动电机4，长条槽2的内部滑动设置有方形滑块5，方形滑块5的上下两面固定焊接有限位板6，限位板6与U型板1滑动抵压接触，往复螺杆3贯穿方形滑块5且往复螺杆3与方形滑块5之间螺纹连接，位于方形滑块5下方的限位板6底面固定焊接有连接块7，连接块7上固定安装有毛刷8，毛刷8与循环传动带的顶面之间滑动接触，U型板1的底端水平部位顶面固定焊接有方框9，方框9的宽度大于循环传动带的宽度，U型板1底端的四个拐角处固定安装有电动伸缩杆10，四个电动伸缩杆10均由同一开关控制，电动伸缩杆10的底端固定安装有万向轮11，万向轮11带有驻车功能，通过设置往复螺杆3，并且往复螺杆3的外部螺纹连接有方形滑块5，当往复螺杆3在电机的作用下转动时，会带动螺纹连接在往复螺杆3上的方形滑块5来回往复运动，方形滑块5在往复运动的过程中会带动与其间接连接的毛刷8往复运动，由于毛刷8与循环传送带之间滑动接触，从而可以将循环传送带上的芯片刮落到方框9内收集等待检测，本技术由机械往复运动将部分芯片抽出，可以有效的避免人为主观因素的影响，解决了现有技术中存在人为选样毕竟带有一定的主观意见，不能完成体现出抽样的公平公正的缺点。
[0016]以上所述，仅为本技术较佳的具体实施方式，但本技术的保护范围并不局限于此，任何熟悉本
的技术人员在本技术揭露的技术范围内，根据本技术的技术方案及其技术构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本技术的保护范围之内。
本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于芯片制造中抽检装置，包括U型板(1)，其特征在于，所述U型板(1)的底端水平部位插设在循环传动带之间，所述U型板(1)的顶端水平部位上开设有长条槽(2)，所述长条槽(2)的内部通过轴承转动设置有与长条槽(2)平行的往复螺杆(3)，所述往复螺杆(3)的一端贯穿U型板(1)且固定连接有驱动电机(4)，所述长条槽(2)的内部滑动设置有方形滑块(5)，所述方形滑块(5)的上下两面固定焊接有限位板(6)，所述限位板(6)与U型板(1)滑动抵压接触，所述往复螺杆(3)贯穿方形滑块(5)且往复螺杆(3)与方形滑块(5)之间螺纹连接，位于所述方形滑块(5)下方的限位板(6)底面固定焊接有连...

【专利技术属性】
技术研发人员：ꢀ五一IntClH零一L二一六七，
申请(专利权)人：南京国科半导体有限公司，
类型：新型
国别省市：