一种样本分析仪用数据采集系统及光学检测系统技术方案

技术编号:31506199 阅读:17 留言:0更新日期:2021-12-22 23:37
本发明专利技术公开了一种样本分析仪用数据采集系统及光学检测系统,其中数据采集系统包括沿光路传输方向依次设置的滤光片组、出射狭缝、光学绝缘板以及光电二极管阵列;所述滤光片组包括滤光片安装板和多块滤光片,多块所述滤光片并排安装在所述滤光片安装板上。本发明专利技术的目的在于提供一种样本分析仪用数据采集系统及光学检测系统,该数据采集系统无需设置多个滤光片分光单元便能完成不同波长的样本测试,简化了数据采集系统的复杂度。化了数据采集系统的复杂度。化了数据采集系统的复杂度。

【技术实现步骤摘要】
一种样本分析仪用数据采集系统及光学检测系统


[0001]本专利技术涉及生化分析设备
,尤其涉及一种样本分析仪用数据采集系统及光学检 测系统。

技术介绍

[0002]目前,市面上常用分析仪的光学检测系统大多是由照明系统、聚焦系统、分光系统以及 信号处理系统组合而成,且很多分光系统中,采用光栅分光的系统往往都会在狭缝与光栅之 间加一级准直镜辅助光束传输以保证光束能完整的打在光栅接收面上;另外一种公开系统是 在此基础上增加多个滤光片分光单元系统,分离单色光,这样最大的缺点就是随着分析仪相 关技术的不断突破和测试需求的发掘,需求波长的样本和试剂越多,滤光片分光单元也会随 之增加,实用率低且成本高,结构过于繁冗复杂,无法保证光路系统中各光学元件带来的能 量损耗、像差、光束质量差等问题。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的在于提供一种样本分析仪用数据采集系统及光学检测系统,该数据采集系 统无需设置多个滤光片分光单元便能完成不同波长的样本测试,简化了数据采集系统的复杂 度。
[0004]本专利技术通过下述技术方案实现:
[0005]一种样本分析仪用数据采集系统,包括沿光路传输方向依次设置的滤光片组、出射狭缝、 光学绝缘板以及光电二极管阵列;所述滤光片组包括滤光片安装板和多块滤光片,多块所述 滤光片并排安装在所述滤光片安装板上。
[0006]现有的分光系统中,为了满足对不同波长的测试需要,会沿光路传输方向设置多个滤光 片分光单元,以分离单色光,这样最大的缺点就是随着分析仪相关技术的不断突破和测试需 求的发掘,需求波长的样本和试剂越多,滤光片分光单元也会随之增加,实用率低且成本高, 结构过于繁冗复杂,无法保证光路系统中各光学元件带来的能量损耗、像差、光束质量差等 问题。基于此,在本方案中,提供了一种样本分析仪用数据采集系统,主要包括滤光片组、 出射狭缝以及光电二极管阵列,在光路传输方向只需通过前两个元件(滤光片组和出射狭缝) 便可以实现将不同波段/波长的光透射至光电二极管阵列上进行检测和处理分析,相比于现有 技术中在光路传输方向上设置多个滤光片分光单元,可有效降低系统的复杂度。
[0007]优选地,所述滤光片组覆盖的波长包括340nm、380nm、405nm、450nm、478nm、505 nm、546nm、570nm、600nm、630nm、660nm、700nm、730nm、750nm、800nm以及850nm中的任意一种或任意多种组合。
[0008]优选地,所述出射狭缝为阵列狭缝片。
[0009]一种样本分析仪用光学检测系统,包括沿光路传输方向依次设置的前聚焦系统、比色容 器、后聚焦系统以及上述提及的一种样本分析仪用数据采集系统。
[0010]现有样本分析仪用光学检测系统中的分光系统,为了满足对不同波长测试需要,会沿光 路传输方向设置多个滤光片分光单元,以分离单色光,这样最大的缺点就是随着分析仪相关 技术的不断突破和测试需求的发掘,需求波长的样本和试剂越多,滤光片分光单元也会随之 增加,实用率低且成本高,结构过于繁冗复杂,无法保证光路系统中各光学元件带来的能量 损耗、像差、光束质量差等问题。基于此,在本方案中,提供了一种样本分析仪用光学检测 系统,该光学检测系统中的数据采集系统主要包括滤光片组、出射狭缝以及光电二极管阵列, 在光路传输方向只需通过前两个元件(滤光片组和出射狭缝)便可以实现将不同波段/波长的 光透射至光电二极管阵列上进行检测和处理分析,相比于现有技术中在光路传输方向上设置 多个滤光片分光单元,可有效降低系统的复杂度。
[0011]优选地,所述前聚焦系统包括光源、第一双凸透镜、第二双凸透镜、反射镜以及第一狭 缝,所述光源发出的光信号依次经所述第一双凸透镜聚焦、所述第二双凸透镜准直、所述反 射镜反射以及所述第一狭缝过滤后,传输至所述比色容器。
[0012]优选地,所述比色容器与所述反射镜之间的距离为23mm。
[0013]优选地,所述反射镜与所述第一狭缝的距离为9.4mm。
[0014]优选地,还包括传导光纤,所述传导光纤设置于所述第一双凸透镜与所述第二双凸透镜 之间,用于将所述第一双凸透镜输出的光信号传输至所述第二双凸透镜。
[0015]优选地,所述后聚焦系统包括沿光路传输方向依次设置的像差消除单元、第二狭缝以及 光栅。
[0016]优选地,所述像差消除单元包括第三双凸透镜与第四双凸透镜,且所述第三双凸透镜像 的位置为所述第四双凸透镜物的位置。
[0017]本专利技术与现有技术相比,具有如下的优点和有益效果:
[0018]1、在光路传输方向只需设置这两个器件便可以实现对不同波段波长的过滤检测,相比于 现有技术中在光路传输方向上设置多个滤光片分光单元,可有效降低系统的复杂度;
[0019]2、光学检测系统的前聚焦系统可以减小传输至比色容器上的光斑大小,从而减小反应液 体积;
[0020]3、光学检测系统的后聚焦系统设置有像差消除单元,可以有效地改善前聚焦系统带来的 像差,使成像质量更佳。
附图说明
[0021]此处所说明的附图用来提供对本专利技术实施例的进一步理解,构成本申请的一部分,并不构成对本专利技术实施例的限定。在附图中:图1为本专利技术数据采集系统的光路结构示意图;图2为本专利技术样本分析仪用光学检测系统的光路示意图;图3为本专利技术像差消除单元的结构示意图;图4为本专利技术后聚焦系统的示意图;附图中标记及对应的零部件名称:0、光源;1、第一双凸透镜;2、传导光纤;3、第二双凸透镜;4、反射镜;5、第一狭缝;6、比色容器;7、第三双凸透镜;8、第四双凸透镜;9、第二狭缝;10、光栅;11、数据采集系统;
12、滤光片组;13、出射狭缝;14、光学绝缘板;15、光电二极管阵列。
[0022][0023][0024][0025][0026]具体实施方式
[0027]为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚明白,下面结合实施例和附图,对本专利技术 作进一步的详细说明,本专利技术的示意性实施方式及其说明仅用于解释本专利技术,并不作为对本 专利技术的限定。
[0028]实施例1
[0029]本实施例提供了一种样本分析仪用数据采集系统,如图1所示,包括沿光路传输方向依 次设置的滤光片组12、出射狭缝13、光学绝缘板14以及光电二极管阵列15;其中,为了覆 盖市面上常用到的16个波长,本实施例中的出射狭缝13设置为阵列狭缝片,该阵列狭缝片 沿长度方向间隔设置有16个狭缝(一个狭缝透射一个波段的光);滤光片组12包括一块滤光 片安装板和四块滤光片,四块滤光片并列安装在滤光片安装板上;具体的,本实施例中的滤 光片设置为ZWB1型号的滤光片(用于透过340nm的光)、ZB1型号的滤光片(用于透过380nm 和405nm的光)、QBZ6型号的滤光片(用于透过450nm、478nm、505nm、546nm以及570 nm的光)以及CB580型号的滤光片(用于透过600nm、630nm、660nm、700本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种样本分析仪用数据采集系统,其特征在于,包括沿光路传输方向依次设置的滤光片组(12)、出射狭缝(13)、光学绝缘板(14)以及光电二极管阵列(15);所述滤光片组(12)包括滤光片安装板和多块滤光片,多块所述滤光片并排安装在所述滤光片安装板上。2.根据权利要求1所述的一种样本分析仪用数据采集系统,其特征在于,所述滤光片组(12)覆盖的波长包括340nm、380nm、405nm、450nm、478nm、505nm、546nm、570nm、600nm、630nm、660nm、700nm、730nm、750nm、800nm以及850nm中的任意一种或任意多种组合。3.根据权利要求1所述的一种样本分析仪用数据采集系统,其特征在于,所述出射狭缝(13)为阵列狭缝片。4.一种样本分析仪用光学检测系统,其特征在于,包括沿光路传输方向依次设置的前聚焦系统、比色容器(6)、后聚焦系统以及如权利要求1

3中任意一项所述的一种样本分析仪用数据采集系统(11)。5.根据权利要求4所述的一种样本分析仪用光学检测系统,其特征在于,所述前聚焦系统包括光源(0)、第一双凸透镜(1)、第二双凸透镜(3)、反射镜(...

【专利技术属性】
技术研发人员:张其胜徐新爱杨福光
申请(专利权)人:四川沃文特生物技术有限公司
类型:发明
国别省市:

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