用于检验脑立体定向仪位置偏差的检验工具制造技术

技术编号:31475543 阅读:21 留言:0更新日期:2021-12-18 12:05
本实用新型专利技术属于医疗器械技术领域,具体涉及一种用于检验脑立体定向仪位置偏差的检验工具,其包括检测基板、检测基杆和检测杆,所述检测基板四角分别设有安装螺钉与脑立体定向仪的框架系统可拆卸连接,检测基板中心区设有多个坐标孔,多个坐标孔均标记有其相对脑立体定向仪坐标系的理论坐标值;检验时,将检测杆安装在脑立体定向仪的穿刺机构上取代穿刺针,并将检测基杆一端选择性垂直安装在其中一个坐标孔内,调节脑立体定向仪观察检测基杆另一端是否与检测杆自由端相切。本实用新型专利技术设计合理,结构简单,能够及时、快速、有效地检验脑立体定向仪是否存在位置偏差。体定向仪是否存在位置偏差。体定向仪是否存在位置偏差。

【技术实现步骤摘要】
用于检验脑立体定向仪位置偏差的检验工具


[0001]本技术属于医疗器械
,具体涉及一种用于检验脑立体定向仪位置偏差的检验工具。

技术介绍

[0002]头部穿刺又称头部活检,应用于在病人的头部目标病灶点取样或者定向植入药物。
[0003]目前,医院里神经科很多颅脑手术是需要借助定位精度较高的现代立体定向仪(即,脑立体定向仪),其目的在于借助X

CT、MRI或其它影像设备相对颅脑建立起一个三维坐标系统,来确定皮层下某些神经结构的位置,从而实现对病灶的精确定位,以便在非直视暴露下对病灶进行定向的刺激、破坏、注入药物、引导电位等操作。现有技术中,脑立体定向仪在使用一段时间后,可能会因各种原因导致其坐标轴产生位置偏差,倘若没有及时发现,将会导致使用过程中存在误差,从而影响其定位的精准性。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种设计合理,结构简单,能够及时有效检验脑立体定向仪是否存在位置偏差的检验工具。
[0005]用于检验脑立体定向仪位置偏差的检验工具,其包括检测基板、检测基杆和检测杆,所述检测基板四角分别设有安装螺钉与脑立体定向仪的框架系统可拆卸连接,检测基板中心区设有多个坐标孔,多个坐标孔均标记有其相对脑立体定向仪坐标系的理论坐标值;检验时,将检测杆安装在脑立体定向仪的穿刺机构上取代穿刺针,并将检测基杆一端选择性垂直安装在其中一个坐标孔内,调节脑立体定向仪观察检测基杆另一端是否与检测杆自由端相切。
[0006]进一步,其还包括锁紧螺母,所述检测基杆一端设有外螺纹和限位轴肩,检测基杆一端穿过坐标孔与位于检测基板下方的锁紧螺母螺纹连接,并由位于检测基板上方的限位轴肩限位。
[0007]作为优选,所述锁紧螺母为蝶形螺母圆翼。
[0008]进一步,所述检测基杆另一端和检测杆自由端均设有检测球头。
[0009]进一步,所述检测基板四边缘均设有呈C字形的让位口。
[0010]作为优选,所述多个坐标孔呈十字形分布。
[0011]本技术采用以上技术方案,该坐标孔标记的理论坐标值,是通过TPS软件得到的、当检测基杆垂直安装于该坐标孔内时,检测基杆另一端点刚好位于靶点位置,TPS软件计算出该靶点在脑立体定向仪X轴、Y轴、Z轴的坐标,得到(x1,y1,z1),也就意味着检测基杆另一端理论上能够与安装在穿刺机构上的检测杆自由端点(该点位于脑立体定向仪的中心)相切。因此,检测时,将检测杆安装在脑立体定向仪的穿刺机构上取代穿刺针,并将检测基杆一端垂直安装在任意一个坐标孔内,根据该坐标孔标记的理论坐标值(x1,y1,z1),通
过调节脑立体定向仪导向系统X轴、Y轴、Z轴的坐标(x,y,z),使得x,y,z数值分别与x1,y1,z1对应相等,然后任意调整弓形架俯仰角度或穿刺机构在弓形架上的位置,观察检测基杆另一端与检测杆自由端是否相切,若相切,则无位置偏差,若不相切,即存在偏离,则判断存在位置偏差。
附图说明
[0012]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0013]图1为本技术用于检验脑立体定向仪位置偏差的检验工具的立体图;
[0014]图2为本技术检测基板的结构示意图;
[0015]图3为本技术检测基杆的结构示意图;
[0016]图4为脑立体定向仪的结构示意图;
[0017]图5为本技术与脑立体定向仪框架系统的安装示意图。
具体实施方式
[0018]这里将详细地对示例性实施例进行说明,其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时,除非另有表示,不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本技术相一致的所有实施方式。相反,它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本技术的一些方面相一致的装置和方法的例子。
[0019]如图1

5之一所示,本技术用于检验脑立体定向仪位置偏差的检验工具800,其包括检测基板810、检测基杆820和检测杆830,所述检测基板810四角分别设有安装螺钉840与脑立体定向仪的框架系统100可拆卸连接,检测基板810中心区设有多个坐标孔850,多个坐标孔850均标记有其相对脑立体定向仪坐标系的理论坐标值;检验时,将检测杆830安装在脑立体定向仪的穿刺机构200上取代穿刺针,并将检测基杆820一端选择性垂直安装在其中一个坐标孔850内,调节脑立体定向仪观察检测基杆820另一端是否与检测杆830自由端相切。
[0020]进一步,如图3所示,该检验工具800还包括锁紧螺母,所述检测基杆820一端设有外螺纹821和限位轴肩822,检测基杆820一端穿过坐标孔850与位于检测基板810下方的锁紧螺母螺纹连接,并由位于检测基板810上方的限位轴肩822限位。
[0021]作为优选,所述锁紧螺母为蝶形螺母圆翼。
[0022]进一步,所述检测基杆820另一端和检测杆830自由端均设有检测球头870。
[0023]进一步,所述检测基板810四边缘均设有呈C字形的让位口860。
[0024]作为优选,所述多个坐标孔850呈十字形分布。
[0025]如图4所示,一种脑立体定向仪,其包括框架系统100和导向系统,所述导向系统包括穿刺机构200、定向机构300和呈半圆环状的弓形架400,所述穿刺机构200通过一载物滑块500在弓形架400上滑动并固定,弓形架400通过定向机构300安装在框架系统100上;
[0026]本技术采用以上技术方案,该坐标孔850标记的理论坐标值,是通过TPS软件
得到的、当检测基杆820垂直安装于该坐标孔850内时,检测基杆820另一端点刚好位于靶点位置,TPS软件计算出该靶点在脑立体定向仪X轴、Y轴、Z轴的坐标,得到(x1,y1,z1),也就意味着检测基杆820另一端理论上能够与安装在穿刺机构200上的检测杆830自由端点(该点位于脑立体定向仪的中心)相切。因此,检测时,将检测杆830安装在脑立体定向仪的穿刺机构200上取代穿刺针210,并将检测基杆820一端垂直安装在任意一个坐标孔850内,根据该坐标孔850标记的理论坐标值(x1,y1,z1),通过调节脑立体定向仪导向系统X轴、Y轴、Z轴的坐标(x,y,z),使得x,y,z数值分别与x1,y1,z1对应相等,然后任意调整弓形架400俯仰角度或穿刺机构200在弓形架400上的位置,观察检测基杆820另一端与检测杆830自由端是否相切,若相切,则无位置偏差,若不相切,即存在偏离,则判断存在位置偏差。
[0027]尽管上面已经示出和描述了本技术的实施例,可以理解的是,上述实施例是示例性的,不能理解为对本技术本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.用于检验脑立体定向仪位置偏差的检验工具,其特征在于:其包括检测基板、检测基杆和检测杆,所述检测基板四角分别设有安装螺钉与脑立体定向仪的框架系统可拆卸连接,检测基板中心区设有多个坐标孔,多个坐标孔均标记有其相对脑立体定向仪坐标系的理论坐标值;检验时,将检测杆安装在脑立体定向仪的穿刺机构上取代穿刺针,并将检测基杆一端选择性垂直安装在其中一个坐标孔内,调节脑立体定向仪观察检测基杆另一端是否与检测杆自由端相切。2.根据权利要求1所述的用于检验脑立体定向仪位置偏差的检验工具,其特征在于:其还包括锁紧螺母,所述检测基杆一端设有外螺纹和限位轴肩,检测基杆...

【专利技术属性】
技术研发人员:张文山罗月华
申请(专利权)人:上海伽玛星科技发展有限公司
类型:新型
国别省市:

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