一种检测硫酸羟氯喹颗粒混合均匀度的方法技术

本发明专利技术公开了一种检测硫酸羟氯喹颗粒混合均匀度的方法。该方法的步骤如下：对混合过程中的混合料采集近红外光谱；其中，混合料包括硫酸羟氯喹颗粒和硬脂酸镁；采用移动窗口标准偏差法计算采集得到的近红外光谱峰面积的标准偏差值。本发明专利技术中检测硫酸羟氯喹颗粒混合均匀度的方法，准确度和安全系数较高；将本发明专利技术的检测方法应用于工业生产，可实现快速准确的检测硫酸羟氯喹颗粒混合均匀度，高效便捷的监测混合时间的终点。监测混合时间的终点。监测混合时间的终点。

【技术实现步骤摘要】
一种检测硫酸羟氯喹颗粒混合均匀度的方法


[0001]本专利技术涉及一种检测硫酸羟氯喹颗粒混合均匀度的方法。

技术介绍

[0002]硫酸羟氯喹是临床上治疗类风湿性关节炎、系统性红斑狼疮的常用药物。硫酸羟氯喹固体制剂生产过程中包括初混工序和总混工序。通常，初混是对硫酸羟氯喹原料药进行湿法制粒，制得硫酸羟氯喹颗粒的过程；总混是将制得的硫酸羟氯喹颗粒与填充剂、崩解剂、固体粘合剂、润滑剂和增容剂等混合的过程。其中，混合时间对实现混合均匀的目的非常关键，是重要的硫酸羟氯喹固体制剂质量控制点
[0003]目前，检测硫酸羟氯喹在混合过程中颗粒的混合均匀度的方法为高效液相色谱法(HPLC)或紫外可见吸收光谱法(UV-Vis)。这两种方法都需要在停止混合后取样检测，效率较低；且取样过程会破坏混合粉末原体系的平滑，操作人员也无法避免接触到高浓度的药物，安全系数低。因此，亟需一种更高效、准确、安全的硫酸羟氯喹颗粒混合均匀度的检测方法。

技术实现思路

[0004]本专利技术所要解决的问题在于克服现有技术中检测硫酸羟氯喹颗粒混合均匀度的方法，无法高效、准确、安全的测得检测结果，不利于提高生产效率的缺陷，提供一种检测硫酸羟氯喹颗粒混合均匀度的方法。本专利技术的检测方法准确度较高、安全系数较高，可应用于工业生产，从而实现快速准确的检测硫酸羟氯喹颗粒混合均匀度，高效便捷的监测混合时间的终点。
[0005]为了实现上述目的，本专利技术提供以下技术方案：
[0006]本专利技术提供了一种检测硫酸羟氯喹颗粒混合均匀度的方法。该方法包括如下步骤：对混合过程中的混合料采集近红外光谱；其中，所述混合料包括硫酸羟氯喹颗粒和硬脂酸镁；采用移动窗口标准偏差法计算采集得到的近红外光谱峰面积的标准偏差值。
[0007]本专利技术中，所述硫酸羟氯喹颗粒为硫酸羟氯喹制剂生产过程中所制的颗粒，一般为湿法制粒制得的硫酸羟氯喹颗粒。所述混料设备可为本领域常规的混料机，一般为三维混合罐。
[0008]所述硬脂酸镁可为本领域常规的白色粉末状硬脂酸镁，优选为过40目筛后的硬脂酸镁。
[0009]本专利技术中，所述混合过程中，优选为将所述硫酸羟氯喹颗粒加入混料设备中混合，再加入所述硬脂酸镁颗粒，使所述硬脂酸镁颗粒与所述硫酸羟氯喹颗粒混合，得到混合料。其中，先将所述硫酸羟氯喹颗粒加入混料设备中，可使所述硫酸羟氯喹颗粒与所述混料设备的内壁充分接触，避免所述硬脂酸镁粘贴在所述混料设备的内壁。
[0010]本专利技术中，所述混料设备的转速可为10～15r/min，优选为10r/min。
[0011]所述对混合过程中的所述混合料采集近红外光谱的具体设备设置可为：将近红外
光谱仪设置在所述混料设备的采样窗口。启动所述混料设备时，所述近红外光谱仪与所述混料设备同步转动。
[0012]所述对混合过程中的所述混合料采集近红外光谱可通过软件控制。所述软件可为Result-Operation。
[0013]所述采集近红外光谱的时间间隔为5～7s，优选为6s。
[0014]根据常规，打开软件后开始采集背景光谱，并启动所述混料设备。优选地，当所述混合料完全覆盖采样窗口时，开始对混合过程中的所述混合料采集近红外光谱。
[0015]所述近红外光谱仪可为Antaris Target近红外光谱仪。
[0016]所述采集近红外光谱的扫描范围可为所用近红外光谱仪的波长区间，例如，当使用Antaris Target近红外光谱仪时，所述扫描范围可为4000～10000cm-1
，优选为5600～7400cm-1
。
[0017]所述采集近红外光谱样本的扫描次数、分辨率和增益值可按照本领域常规进行选择。优选的，扫描次数为64次，分辨率为8cm-1
，增益值为2
×
。
[0018]本专利技术中，采用移动窗口标准偏差法(MBSD)检测所述硫酸羟氯喹颗粒混合的均匀度前，可对采集得到的近红外光谱进行预处理。
[0019]所述预处理的方法可为分离近红外光谱中的散射信号与化学信息、增强光谱信号和滤除噪声中的一种或多种。
[0020]其中，所述分离近红外光谱中的散射信号与化学信息可消除由于颗粒分布不均匀产生的散射对其光谱的影响，所用方法可为多元散射校正(Multiplicative Signal correction,MSC)或标准正则变换(standard normal variate transformation,SNV)。所述增强光谱信号的方法可为一阶求导或二阶求导。所述滤除噪声的方法可为Savitzky-Golay平滑滤波或Karl Norris平滑滤波。
[0021]所述预处理的方法优选为MSC、一阶求导和Karl Norris平滑滤波，或者，SNV、一阶求导和Karl Norris平滑滤波。
[0022]本专利技术中，所述移动窗口标准偏差法(MBSD)为迭代计算采集得到的连续n条近红外光谱峰面积的标准偏差值。
[0023]其中，所述近红外光谱峰面积可为连续n条近红外光谱的全谱峰面积或特征峰面积，优选为特征峰面积。
[0024]所述特征峰可为所述硫酸羟氯喹颗粒的特征波长区间。所述特征波长区间可为5500-6200cm-1
，优选为5862-6059cm-1
。
[0025]n可为5～7，优选为6。
[0026]所述移动窗口标准偏差法(MBSD)的计算软件可为Result-Operation。
[0027]本专利技术中，计算所得的标准偏差值反馈硫酸羟氯喹颗粒的混合均匀度。当所述近红外光谱峰面积的标准偏差值为预设值以下时，可判定所述硫酸羟氯喹颗粒混合均匀。所述预设值可根据实际需要选择设定。当所述近红外光谱峰面积为连续n条近红外光谱的全谱峰面积时，所述预设值可为6，优选为5。当所述近红外光谱峰面积为连续n条近红外光谱的特征峰面积时，所述预设值可为0.03，优选为0.02。
[0028]在符合本领域常识的基础上，上述各优选条件，可任意组合，即得本专利技术各较佳实例。
[0029]本专利技术所用试剂和原料均市售可得。
[0030]本专利技术的积极进步效果在于：本专利技术中检测硫酸羟氯喹颗粒混合均匀度的方法，准确度较高、安全系数较高。将本专利技术的检测方法应用于工业生产，可实现快速准确的检测硫酸羟氯喹颗粒混合均匀度，高效便捷的监测混合时间的终点。
附图说明
[0031]图1为实施例1～2和对比例1～3中硫酸羟氯喹颗粒的近红外光谱谱图。
[0032]图2为实施例1～2和对比例1～3中硬脂酸镁的近红外光谱谱图。
[0033]图3为实施例1混合过程中采集的混合料的近红外光谱图。
[0034]图4为实施例1混合过程中采集的混合料的近红外光谱全谱峰面积的SD值折线图。
[0035]图5为实施例2混合过程中采集的混合料的近红外光谱特征峰面积的SD值折线图。
具体实施方式
[0036]下面通过实施例的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检测硫酸羟氯喹颗粒混合均匀度的方法，其特征在于其包括如下步骤：对混合过程中的混合料采集近红外光谱；其中，所述混合料包括硫酸羟氯喹颗粒和硬脂酸镁；采用移动窗口标准偏差法计算采集得到的近红外光谱峰面积的标准偏差值。2.如权利要求1所述的检测硫酸羟氯喹颗粒混合均匀度的方法，其特征在于：所述混合过程中，将所述硫酸羟氯喹颗粒加入混料设备中混合，再加入所述硬脂酸镁颗粒，使所述硬脂酸镁颗粒与所述硫酸羟氯喹颗粒混合，得到混合料。3.如权利要求2所述的检测硫酸羟氯喹颗粒混合均匀度的方法，其特征在于：所述混料设备的转速为10～15r/min，优选为10r/min。4.如权利要求1所述的检测硫酸羟氯喹颗粒混合均匀度的方法，其特征在于：所述采集近红外光谱的时间间隔为5～7s；优选为6s；和/或，所述采集近红外光谱的近红外光谱仪为Antaris Target近红外光谱仪；和/或，所述采集近红外光谱的扫描范围为4000～10000cm-1
，优选为5600～7400cm-1
；和/或，所述采集近红外光谱的扫描次数为64次，分辨率为8cm-1
，增益值为2
×
。5.如权利要求1所述的检测硫酸羟氯喹颗粒混合均匀度的方法，其特征在于：采用移动窗口标准偏差法(MBSD)检测所述硫酸羟氯喹颗粒混合的均匀度前，对采集得到的近红外光谱进行预处理。6.如权利要求5所述的检测硫酸羟氯喹颗粒混合均匀度的方法，其特征在于：所述预处理的方法为分离近红外光谱中的散射...

【专利技术属性】
技术研发人员：柯樱，朱振明，陆峰，张烁阳，王薇青，
申请(专利权)人：上海上药中西制药有限公司中国人民解放军海军军医大学，
类型：发明
国别省市：