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一种用于检测轮胎部件高度的高度检测装置制造方法及图纸

技术编号:31443573 阅读:31 留言:0更新日期:2021-12-15 16:13
本实用新型专利技术涉及一种高度检测装置,用于检测位于基础高度上延伸的支撑表面上的轮胎部件的高度,其包括引导件和滑动件,其中滑动件可以沿着所述的引导件在高度方向上滑动,其中滑动件设有支撑辊,其使滑动件回应于在其下方的轮胎部件产生的高度变化而在高度方向上移动,所述的高度检测装置还包括枢转件,其设有用于在轮胎部件上滚动的检测辊,其中检测辊设置为使枢转件回应于在其下方的轮胎部件产生的高度变化而围绕枢转轴枢转,所述的高度检测装置包括用于检测水平位置,第一枢转位置和第二枢转位置的第一传感器和第二传感器。二枢转位置的第一传感器和第二传感器。二枢转位置的第一传感器和第二传感器。

【技术实现步骤摘要】
一种用于检测轮胎部件高度的高度检测装置


[0001]本技术涉及一种用于检测轮胎部件高度的高度检测装置。

技术介绍

[0002]通常而言,轮胎部件的高度或者是通过高科技的检测系统检测到,例如基于激光三角测量法或者光学成像技术,或者是通过低科技的机械检测器。

技术实现思路

[0003]高科技检测系统的缺点在于其价格相对高昂,尤其在其仅用于检测轮胎部件的存在与否时。低科技机械检测器的缺点在于其仅能检测出两种状态:轮胎部件存在或者不存在。
[0004]本技术的目的在于提供一种高度检测装置,其能够检测数个高度,例如轮胎部件存在与否的高度指标,以及/或者拼接的存在与否,以及/或者拼接与不同于拼接的不规则形态之间的区分。
[0005]本技术提供一种高度检测装置,用于检测位于基础高度上延伸的支撑表面上的轮胎部件的高度,其包括引导件和滑动件,其中滑动件可以沿着所述的引导件在横向于支撑表面的高度方向上滑动,其中滑动件设有在轮胎部件上滚动的支撑辊,所述的支撑辊设置为使滑动件回应于在其下方的轮胎部件产生的高度变化而在高度方向上移动,所述的高度检测装置还包括枢转件,其可相对于所述的滑动件围绕枢转轴枢转,所述的枢转件设有用于在轮胎部件上滚动的检测辊,其中检测辊设置为使枢转件回应于在其下方的轮胎部件产生的高度变化而围绕枢转轴枢转,当支撑辊与检测辊支撑于相同的高度时枢转件位于水平位置,当检测辊的高度高于支撑辊所处的高度,二者具有第一高度差时,枢转件可以相对于第一枢转位置枢转,当检测辊的高度高于支撑辊所处的高度,二者具有第二高度差时,枢转件可以相对于第二枢转位置枢转,其中第二高度差大于第一高度差,所述的高度检测装置包括用于检测水平位置,第一枢转位置和第二枢转位置的第一传感器和第二传感器。
[0006]由此,第一传感器和第二传感器能够产生水平位置,第一枢转位置以及第二枢转位置的信号指示。所述的信号能够用于控制轮胎成型工艺,例如裁切工艺。更具体地,通过提供第一枢转位置与第二枢转位置的信号指示,能够对轮胎部件上检测到的高度差进行辨别,并采取适当的措施。第一高度差例如可以在轮胎成型工艺的“正常”的操作窗口内,即当高度检测装置初始检测到传输装置上的轮胎部件或者检测到轮胎部件的小量提升,例如在轮胎部件上的拼接位置。第二高度差例如可以处于轮胎成型工艺“正常”操作窗口之外,即当高度检测装置遇到轮胎部件上不同于拼接的不规则形态。这样的不规则形态的例子比如在轮胎部件的材料上的折叠或者褶皱。
[0007]在优选的实施例中,当支撑辊支撑于基础高度而检测辊支撑于高于基础高度的胶条高度时,以及当支撑辊支撑于胶条高度而检测辊被轮胎部件的拼接提升至拼接高度时,枢转件可相对于第一枢转位置枢转。如上所述,上述情形均属于轮胎成型工艺“正常”的操
作窗口之内。当检测到这些情形时,通常无需中断轮胎成型工艺。检测到的拼接位置可以用于调整轮胎部件的最终裁切位置。
[0008]在进一步的实施例中,当检测辊被不规则形态提升至高于拼接高度的不规则高度时,枢转件可相对于第二枢转位置枢转。当检测到这样的不规则形态时,可以中断轮胎成型工艺以移除不规则形态。
[0009]在另一个实施例中,高度检测装置还包括施力元件,用于促使枢转件向水平位置返回。因此水平位置代表了一种稳定状态,其中支撑辊与检测辊支撑于相同的高度。这种情形例如可以是在支撑表面的高度检测装置的位置上没有轮胎部件时,例如在轮胎部件到达之前或者在轮胎部件完全通过高度检测装置之后。然而当支撑辊与检测辊均支撑在胶条高度上时,枢转件也可以返回至水平位置。上述情形的辨别可以通过认知枢转件运动至第一枢转位置然后返回至水平位置对应了检测到轮胎部件的前端,而枢转件又运动至第一枢转位置然后返回至水平位置对应了检测到轮胎部件的拼接。
[0010]在一个具体实施例中,第一传感器和第二传感器在枢转件的水平位置处未被遮挡,其中枢转件设置为在第一枢转位置遮挡第一传感器并且在第二枢转位置遮挡第二传感器。优选地,枢转件设有凹陷,其中当枢转件位于第一枢转位置,凹陷保持第二传感器不被遮挡。因此,枢转件能够逐步遮挡传感器。
[0011]在一个替代的实施例中,第一传感器与第二传感器被位于水平位置的枢转件遮挡,其中枢转件设置为在第一枢转位置处不遮挡第一传感器,以及在第二枢转位置处不遮挡第二传感器。优选地,枢转件设有凹陷,其中当枢转件位于第一枢转位置时,凹陷不遮挡第一传感器。在本替代性实施例中,枢转件能够逐步地不遮挡传感器。
[0012]在另一个实施例中,第一传感器与第二传感器是用于检测反射光的光传感器。这种类型的光传感器能够可靠地用于检测第一状态(反射)与第二状态(无反射)。
[0013]优选地,高度检测装置设有第一传感器与第二传感器对面的反射元件,其中枢转件设置为至少在水平位置,第一枢转位置以及第二枢转位置中的一个位置处,至少部分地阻挡反射光从反射元件向传感器传送。
[0014]本说明书中所描述和示出的各个方面和特征可以单独地或任意地应用。这些各个方面,特别是在所附从属权利要求中描述的方面和特征,可以由分案专利申请进行。
附图说明
[0015]本技术将根据附图中所示的示例性实施例来阐明,其中:
[0016]图1是根据本技术第一实施例的高度检测装置的侧视图;
[0017]图2是根据图1的高度检测装置的分解轴测图;
[0018]图3A

3E是在检测轮胎部件的高度步骤中高度检测装置的侧视图;
[0019]图4是根据本技术第二实施例的另一种高度检测装置的侧视图。
[0020]其中:
[0021]1高度检测装置;2引导件;3滑动件;30支撑辊;4枢转件;40检测辊; 41臂;42第一臂部;43第二臂部;44凹陷;51第一传感器;52第二传感器; 53反射元件;54安装元件;6施力元件;7调节元件;8平衡梁;10传送装置;101替代的高度检测装置;104枢转件;141臂;144缺口;151第一传感器;152第二传感器;A支撑表面;D1第一高度差;D2第二高度差;H0基础高
度;H1胶条高度;H2拼接高度;H3不规则高度;L水平位置;P1第一枢转位置;P2第二枢转位置;S1第一传感器位置;S2第二传感器位置;S101第一传感器位置;S102第二传感器位置;V高度方向或者垂直方向;F进料方向;R 枢转轴
具体实施方式
[0022]图1和2所示是根据本技术第一实施例的高度检测设备或者装置1。高度检测装置1用于检测轮胎部件9的高度或者不同的高度H1,H2,H3(仅在图 3B

3E中示出)。高度H1,H2,H3是在基础高度H0上延伸的支撑表面A上或者相对于支撑表面A测量的。支撑表面A可以由传送装置10形成,如图3A示意性所示。
[0023]如图1所示,高度检测装置1包括引导件2以及滑动件3,所述的滑动件3 可以沿着引导件2在高度方向V上滑动,高度方向V横向于或者垂直本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种高度检测装置,用于检测位于基础高度上延伸的支撑表面上的轮胎部件的高度,其特征在于,包括引导件和滑动件,其中滑动件可以沿着所述的引导件在横向于支撑表面的高度方向上滑动,其中滑动件设有用于在轮胎部件上滚动的支撑辊,所述的支撑辊设置为使滑动件回应于在其下方的轮胎部件产生的高度变化而在高度方向上移动,所述的高度检测装置还包括枢转件,其可相对于所述的滑动件围绕枢转轴枢转,所述的枢转件设有用于在轮胎部件上滚动的检测辊,其中检测辊设置为使枢转件回应于在其下方的轮胎部件产生的高度变化而围绕枢转轴枢转,当支撑辊与检测辊支撑于相同的高度时枢转件位于水平位置,当检测辊的高度高于支撑辊所处的高度,二者具有第一高度差时,枢转件可以相对于第一枢转位置枢转,当检测辊的高度高于支撑辊所处的高度,二者具有第二高度差时,枢转件可以相对于第二枢转位置枢转,其中第二高度差大于第一高度差,所述的高度检测装置包括用于检测水平位置,第一枢转位置和第二枢转位置的第一传感器和第二传感器。2.根据权利要求1所述的高度检测装置,其特征在于,当支撑辊支撑于基础高度而检测辊支撑于高于基础高度的胶条高度时,以及当支撑辊支撑于胶条高度而检测辊被轮胎部件的拼接提升至拼接高度时,枢转件可相对于第一枢转位置枢转。3.根据权利要求2所述的高度检测装置,其特征在于,当检...

【专利技术属性】
技术研发人员:T
申请(专利权)人:VMI荷兰公司
类型:新型
国别省市:

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