基于光谱分析的材质分析方法及系统技术方案

本发明专利技术属于材质分析技术领域，尤其涉及一种基于光谱分析的材质分析方法及系统，所述方法包括以下步骤：获取回收材料的待测光谱数据；对所述待测光谱数据进行光谱分析，并生成光谱分析结果；根据所述光谱分析结果生成材料类别数据，并根据所述材料类别数据生成材料类别显示界面，所述材料类别显示界面用于展示所述材料类别数据。本发明专利技术实现可视化展示材料类别数据，这样实现对回收材料的高效分辨，提升分辨效率，进而极大提升生产效率。进而极大提升生产效率。进而极大提升生产效率。

【技术实现步骤摘要】
基于光谱分析的材质分析方法及系统


[0001]本专利技术属于材质分析
，尤其涉及一种基于光谱分析的材质分析方法及系统。

技术介绍

[0002]再生资源回收以物资不断循环利用的经济发展模式，正在成为全球潮流。可持续发展的战略，得到各地各国家所倡导，可持续发展的原则是，既符合当代人类的需求，又不致损害后代人满足其需求能力的发展，其主要的标志是资源能够永远利用，保持良好的生态环境，在此过程中对资源的回收至关重要。
[0003]目前，在资源回收行业中，塑料回收占据极大一部分比例。在对塑料回收的过程中，需要知晓塑料的材质，市面上在对回收材料的材质进行分辨时，要么采用用火烧的方法，这样易造成环境污染且准确率不高；要么将回收材料放置于专业的检测机构进行检测，这样导致检测所耗费时间长以及检测效率低的问题。
[0004]因此，实有必要设计一种基于光谱分析的材质分析方法及系统。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的在于提供一种基于光谱分析的材质分析方法及系统，旨在解决现有技术中在垃圾回收行业中对回收材料的进行材质分辨时分辨效率低的技术问题。
[0006]为实现上述目的，本专利技术实施例提供一种基于光谱分析的材质分析方法，所述方法包括以下步骤：
[0007]获取回收材料的待测光谱数据；
[0008]对所述待测光谱数据进行光谱分析，并生成光谱分析结果；
[0009]根据所述光谱分析结果生成材料类别数据，并根据所述材料类别数据生成材料类别显示界面，所述材料类别显示界面用于展示所述材料类别数据。
[0010]可选地，所述对所述待测光谱数据进行光谱分析，并生成光谱分析结果，具体包括：
[0011]根据所述待测光谱数据生成云端发送指令；
[0012]根据所述云端发送指令将所述待测光谱数据从当前数据存储端发送至云端，并在云端在对所述待测光谱数据作光谱预处理后，与云端预存的标准光谱数据作比对，在比对完成后生成光谱分析结果；
[0013]获取云端发送的光谱分析结果。
[0014]可选地，所述对所述待测光谱数据进行光谱分析，并生成光谱分析结果，具体包括：
[0015]预先获取云端存储的光谱数据库，其中，所述光谱数据库中存储有多个标准光谱数据；
[0016]将所述待测光谱数据与所述标准光谱数据作比对，并生成光谱分析结果。
[0017]可选地，一种基于光谱分析的材质分析系统，所述系统包括盒体、光谱仪、近红外光源、光纤、测试头和材质分析单元；所述材质分析单元、所述光谱仪和所述近红外光源均安装于所述盒体内，所述材质分析单元还与所述显示单元电连接；所述光纤的第一端与所述近红外光源连接，所述光纤的第二端与所述光谱仪连接，所述测试头与所述光纤的第三端连接，所述光纤的第三端与第二端和第一端均连通；所述测试头用于对准需要测试的回收材料，所述近红外光源发射出含近红外的光源，光源的光经所述光纤的第一端传递至所述光纤的第三端后经所述测试头照射至回收材料上，光源的光经物体反射后经光纤的第三端传递至光纤的第二端后传递至光谱仪，光谱仪采集回收材料的光谱曲线，其中，回收材料的光谱曲线即为待测光谱数据；
[0018]所述材质分析单元包括光谱获取模块、数据比对模块和类别生成模块；其中，
[0019]所述光谱获取模块，用于获取回收材料的待测光谱数据；
[0020]所述数据比对模块，用于对所述待测光谱数据进行光谱分析，并生成光谱分析结果；
[0021]所述类别生成模块，用于根据所述光谱分析结果生成材料类别数据，并根据所述材料类别数据生成材料类别显示界面，所述材料类别显示界面用于展示所述材料类别数据。
[0022]可选地，所述测试头上设有测试开启开关，所述测试开启开关与所述材质分析单元电连接。
[0023]可选地，还包括工作台，所述工作台设置于所述盒体的旁侧，并用于放置回收材料。
[0024]可选地，所述工作台为白色。
[0025]可选地，还包括支架，所述支架与所述盒体可拆卸连接，所述光纤伸出所述盒体外至所述测试头之间的部分挂设于所述支架上。
[0026]可选地，所述支架包括安装块、立杆、延伸杆和两夹持块，所述安装块可拆卸地安装于所述所述盒体的侧端可拆卸得螺接，所述立杆与所述安装块连接，所述延伸杆安装于所述立杆上，两所述夹持块分别安装于所述延伸杆和所述立杆上，所述光纤伸出所述盒体外至所述测试头之间的部分挂设于两所述夹持块上。
[0027]可选地，所述盒体内设有第一支撑板和第二支撑板，所述第一支撑板安装于所述盒体内的底部，所述近红外光源安装于所述第一支撑板上，所述第二支撑板安装于所述盒体内的底部，且所述第二支撑板架设于所述近红外光源上，所述光谱仪安装于所述第二支撑板上。
[0028]本专利技术实施例提供的基于光谱分析的材质分析方法及系统中的上述一个或多个技术方案至少具有如下技术效果之一：
[0029]本专利技术首先通过获取回收材料的待测光谱数据；然后对所述待测光谱数据进行光谱分析，并生成光谱分析结果，接着根据所述光谱分析结果生成材料类别数据，进而实现对回收材料的材质的类别的生成，接下来根据所述材料类别数据生成材料类别显示界面，通过所述材料类别显示界面将所述材料类别数据展示，进而实现可视化展示材料类别数据，这样实现对回收材料的高效分辨，提升分辨效率，进而极大提升生产效率。
附图说明
[0030]为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0031]图1为本专利技术实施例提供的基于光谱分析的材质分析方法的流程图；
[0032]图2为本专利技术实施例提供的生成光谱分析结果的流程示意图；
[0033]图3为本专利技术另一实施例提供的生成光谱分析结果的流程示意图；
[0034]图4为本专利技术一个实施例提供的材质分析单元的结构框图；
[0035]图5为本专利技术实施例提供的基于光谱分析的材质分析系统的整体结构示意图；
[0036]图6为图5的另一视角的结构示意图；
[0037]图7为本专利技术实施例提供的基于光谱分析的材质分析系统的构成连接结构示意图；
[0038]图8为本专利技术实施例提供的盒体的拆分结构示意图。
具体实施方式
[0039]下面详细描述本专利技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本专利技术的实施例，而不能理解为对本专利技术的限制。
[0040]在本专利技术实施例的描述中，需要理解的是，术语“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于光谱分析的材质分析方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：获取回收材料的待测光谱数据；对所述待测光谱数据进行光谱分析，并生成光谱分析结果；根据所述光谱分析结果生成材料类别数据，并根据所述材料类别数据生成材料类别显示界面，所述材料类别显示界面用于展示所述材料类别数据。2.根据权利要求1所述的基于光谱分析的材质分析方法，其特征在于，所述对所述待测光谱数据进行光谱分析，并生成光谱分析结果，具体包括：将所述待测光谱数据输入至预设的光谱分析机器学习模型，并生成光谱分析结果，其中，所述光谱分析机器学习模型基于机器学习预先设置。3.根据权利要求1所述的基于光谱分析的材质分析方法，其特征在于，所述对所述待测光谱数据进行光谱分析，并生成光谱分析结果，具体包括：根据所述待测光谱数据生成云端发送指令；根据所述云端发送指令将所述待测光谱数据从当前数据存储端发送至云端，并在云端在对所述待测光谱数据作光谱预处理后，与云端预存的标准光谱数据作比对，在比对完成后生成光谱分析结果；获取云端发送的光谱分析结果。4.根据权利要求1所述的基于光谱分析的材质分析方法，其特征在于，所述对所述待测光谱数据进行光谱分析，并生成光谱分析结果，具体包括：根据所述待测光谱数据生成云端发送指令；根据所述云端发送指令将所述待测光谱数据从当前数据存储端发送至云端，并在云端在对所述待测光谱数据作光谱预处理后，将处理完成后的待测光谱数据输入至预设的光谱分析机器学习模型，并生成光谱分析结果，其中，所述光谱分析机器学习模型基于机器学习预先设置并存储于云端。5.根据权利要求1所述的基于光谱分析的材质分析方法，其特征在于，所述对所述待测光谱数据进行光谱分析，并生成光谱分析结果，具体包括：预先获取云端存储的光谱数据库，其中，所述光谱数据库中存储有多个标准光谱数据；将所述待测光谱数据与所述标准光谱数据作比对，并生成光谱分析结果。6.根据权利要求1所述的基于光谱分析的材质分...

【专利技术属性】
技术研发人员：莫卓亚，刘元路，杨日伦，
申请(专利权)人：广东弓叶科技有限公司，
类型：发明
国别省市：