一种带电阻率检测的光伏分选系统技术方案

本实用新型专利技术公开一种带电阻率检测的光伏分选系统，包括电阻率探头、电阻板卡、E+H模组、通讯盒、TAM控制箱和分选机传送带；所述电阻率探头设置在分选机传送带上；所述电阻板卡设置在E+H模组上，所述通讯盒分别与电阻率探头、TAM控制箱和E+H模组连接；所述TAM控制箱与服务器连接。本实用新型专利技术为HENNECKE6S光伏分选系统提供按照电阻率分选功能，分选速度达到0.59秒/片，准确率达到99.5％以上。准确率达到99.5％以上。准确率达到99.5％以上。

【技术实现步骤摘要】
一种带电阻率检测的光伏分选系统


[0001]本技术涉及一种光伏分选系统，尤其涉及一种带电阻率检测的光伏分选系统。

技术介绍

[0002]Hennecke自动测试分选机拥有高端的电子技术，利用相机的成像原理、激光、红外线以及电容耦合的应用将硅片的厚度、表面平整度、脏污情况、尺寸大小、垂直度等准确地测量出来，提高了检测硅片质量的效率。其中测量系统为整台设备的核心部分，它包含了厚度模组、线痕模组、隐形裂纹模组、脏污模组、边缘模组和尺寸、翘曲模组。当硅片从上料台入片经过测量系统时，会被这6个模组分别检测、对比，是否达到设定的要求，然后根据所测量的数值分选到对应的仓盒里面，最终将硅片分选出不同的等级。
[0003]随着光伏行业金刚线切割的推广，单晶切割成本降低，单晶逐步成为硅片的主流产品，电阻率这项电性参数是影响单晶硅片电池片转换效率的重要指标，但是HENNECKE6S TAM3D没有电阻率检测分类功能。

技术实现思路

[0004]专利技术目的：本技术旨在解决现有技术的上述不足，提供一种带电阻率检测的光伏分选系统，解决HENNECKE6S TAM3D电阻率检测分选的问题。
[0005]技术方案：本技术所述的带电阻率检测的光伏分选系统，包括电阻率探头、电阻板卡、E+H模组、通讯盒、TAM控制箱、分选机传送带；所述电阻率探头设置在分选机传送带上；所述电阻板卡设置在E+H模组上，所述通讯盒分别与电阻率探头、TAM控制箱和E+H模组连接；所述TAM控制箱与服务器连接。
[0006]所述通讯盒包括电源模块、隔离放大模块和光耦模块，所述隔离放大模块的输入与电阻率探头连接，隔离放大模块的输出与TAM控制箱连接，所述光耦模块的输入与E+H模组的输出连接，光耦模块的输出与TAM控制箱连接，所述电源模块为隔离放大模块和光耦模块提供电源。
[0007]所述通讯盒包括接口模块，所述接口模块包括第一接口、第二接口和第三接口和第四接口，所述第一接口与电阻率探头连接，第二接口与E+H模组连接，第三接口与TAM控制箱连接，第四接口与电源连接，接口模块的设置便于连线。
[0008]所述第一接口和第二接口为15针接口，所述第三接口为25针接口。
[0009]所述电阻率探头采用电容传感器。
[0010]有益效果：与现有技术相比，本技术的优点为HENNECKE6S TAM3D提供按照电阻率分选功能，分选速度达到0.59s/片，准确率99.5％以上。
附图说明
[0011]图1为本技术的原理图。
具体实施方式
[0012]下面结合附图对本技术的技术方案作进一步说明。
[0013]由图1可知，本技术所述的带电阻率检测的光伏分选系统，包括电阻率探头、电阻板卡、E+H模组、通讯盒、TAM控制箱、分选机传送带；所述电阻率探头设置在分选机传送带上；所述电阻板卡设置在E+H模组上，所述通讯盒分别与电阻率探头、TAM控制箱和E+H模组连接；所述TAM控制箱与服务器连接。电阻率探头采用电容传感器。所述通讯盒包括电源模块、隔离放大模块和光耦模块，所述隔离放大模块的输入与电阻率探头连接，隔离放大模块的输出与TAM控制箱连接，所述光耦模块的输入与E+H模组的输出连接，光耦模块的输出与TAM控制箱连接，所述电源模块为隔离放大模块和光耦模块提供电源。本实施例中，电源模块采用CXT WRA24150
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10W、隔离放大模块采用AD210AN、光耦模块采用PC847。
[0014]为了便于接线，通讯盒还包括接口模块，所述接口模块包括第一接口、第二接口和第三接口和第四接口，所述第一接口与电阻率探头连接，第二接口与E+H模组连接，第三接口与TAM控制箱连接，第四接口与电源连接。所述第一接口和第二接口为15针接口，所述第三接口为25针接口。
[0015]TAM控制箱为厚度检测模组，而原电阻的E+H模组，要完成信号采集，与TAM厚度模组无法完成信号转换，所以本实施例中，增加了通讯盒，用来处理TAM控制箱和E+H模组之间信号转换，从而完成检测。
[0016]本技术的工作原理如下：
[0017]电阻率探头采用电容耦合的方法测量硅片的厚度。电阻率探头上包括上下两个电容传感器，传感器根据与硅片距离(Ttop、Tbottom)产生不同的电压值，距离与电压一般成正比。上下两个传感器之间的距离为固定值Ttotal，所以硅片的厚度T＝Ttotal－(Ttop+Tbottom)。TAM控制箱将采集到厚度信号，转换成电压信号，通讯盒将该信号从TAM控制箱中获取，反馈到电阻检测E+H模组，从而采集电阻率检测值，再通过通讯盒将电阻率检测值反馈回TAM控制箱，最终TAM控制箱将电阻率检测值上传服务器，完成电阻率值检测，进行完成单晶硅片电阻率分选管控。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种带电阻率检测的光伏分选系统，其特征在于：包括电阻率探头、电阻板卡、E+H模组、通讯盒、TAM控制箱和分选机传送带；所述电阻率探头设置在分选机传送带上；所述电阻板卡设置在E+H模组上，所述通讯盒分别与电阻率探头、TAM控制箱和E+H模组连接；所述TAM控制箱与服务器连接。2.根据权利要求1所述的带电阻率检测的光伏分选系统，其特征在于：所述通讯盒包括电源模块、隔离放大模块和光耦模块，所述隔离放大模块的输入与电阻率探头连接，隔离放大模块的输出与TAM控制箱连接，所述光耦模块的输入与E+H模组的输出连接，光耦模块的输出与TAM控制...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄海，王利，
申请(专利权)人：句容协鑫光伏科技有限公司，
类型：新型
国别省市：