一种探针排废机构制造技术

本实用新型专利技术公开了探针外观检测领域中的一种探针排废机构，固定于探针检测机构的整机机架上，包括立架、轨道组件以及吸附组件，轨道组件通过立架固定于整机机架上，吸附组件套在轨道组件上并沿着其左右滑动，吸附组件包括吸附气缸、吸附主架以及吸附头，吸附头套在吸附主架上，吸附头与吸附电机连接，吸附电机带动吸附头沿着吸附主架上下滑动，吸附头与吸附气缸连接，吸附气缸通过吸附头对探针料盘上的废品进行排除。本实用新型专利技术取代传统人工排废的过程，不仅减少了人工的劳动量，增加了排废速度，同时能够通过电子控制提高排废的精准度，避免遗漏不良品而影响产品良率，或将良品误排而造成损失。成损失。成损失。

【技术实现步骤摘要】
一种探针排废机构


[0001]本技术涉及探针外观检测领域，具体的说，是涉及一种探针排废机构。

技术介绍

[0002]探针是高端精密型电子五金元器件，探针在制作完成后需要对其进行外观及性能测试，传统方法中对于探针的外观多采用人工进行检测，或采用抽检方式，或采用全检方式。其中抽检方式准确率极低，造成外观检测后的探针多具有不良废品，而采用全检的方式会给检测人员带来较大的工作量，并且人工检测容易出现较大的偏差，产品检测准确率也较低。
[0003]为了克服上述问题，现在市场上也有一些能够对探针的外观进行检测的自动化设备，但是这些自动检测设备仅能够对外观检测不合格的探针进行废品标定，无法对其进行排除，不良品的排除工作还需要人工进行，也会造成检测人员的工作量大，同时还容易造成排废过程出现误差，影响整个料盘的探针质量。
[0004]上述缺陷，值得改进。

技术实现思路

[0005]为了克服现有的技术的不足，本技术提供一种探针排废机构。
[0006]本技术技术方案如下所述：
[0007]一种探针排废机构，固定于探针检测设备的整机机架上，其特征在于，包括立架、轨道组件以及吸附组件，所述轨道组件通过所述立架固定于所述整机机架上，所述吸附组件套在所述轨道组件上，其与滑动电机连接，所述滑动电机带动所述吸附组件沿着所述轨道组件左右滑动；
[0008]所述吸附组件包括吸附气缸、吸附主架以及吸附头，所述吸附头套在所述吸附主架上，所述吸附头与吸附电机连接，所述吸附电机带动所述吸附头沿着所述吸附主架上下滑动，所述吸附头与所述吸附气缸连接，所述吸附气缸通过所述吸附头对探针料盘上的废品进行排除。
[0009]根据上述方案的本技术，其特征在于，所述轨道组件包括横向轨道和套在所述横向轨道上的滑动件，所述吸附组件固定于所述滑动件上，所述滑动件与所述滑动电机连接，所述滑动电机带动所述滑动件、所述吸附组件沿着所述横向轨道左右滑动。
[0010]进一步的，所述横向轨道包括轨道主体和位于所述轨道主体侧面的排废轨道面板，所述排废轨道面板与所述轨道主体之间设有排废轨道滑槽，所述滑动件套在所述排废轨道滑槽内并沿着所述排废轨道滑槽左右滑动。
[0011]更进一步的，所述滑动件包括滑动面板和滑动底，所述滑动面板的上下两侧设有凸出的滑动臂，所述滑动面板、所述滑动底以及两个所述滑动臂之间围绕形成中空的空心槽，所述滑动件套在所述横向轨道时，所述排废轨道面板套在所述空心槽中。
[0012]进一步的，所述横向轨道的上下两侧设有排废定位件，所述排废定位件的前侧设
有前侧开口的排废定位孔，所述滑动件的上下两侧设有凸出的侧壁，所述滑动件沿着所述横向轨道滑动时，所述侧壁由所述排废定位孔处穿过。
[0013]更进一步的，所述排废定位件上设有第一光电开关，所述第一光电开关的发射端和接收端分别位于所述排废定位孔的两端。
[0014]根据上述方案的本技术，其特征在于，所述吸附主架上套有支撑件，所述吸附头固定于所述支撑件上，所述吸附主架的左右两侧设有内凹的主架滑槽，所述支撑件的左右两侧套在所述主架滑槽上，使得所述支撑件沿着所述主架滑槽上下滑动。
[0015]进一步的，所述吸附主架的左右两侧设有吸附定位件，所述吸附定位件上设有前侧开口的吸附定位孔，所述支撑件的左右两侧设有凸出的滑臂，所述支撑件沿着所述吸附主架滑动时，所述滑臂由所述吸附定位孔处穿过。
[0016]更进一步的，所述吸附定位件上设有第二光电开关，所述第二光电开关的发射端和接收端分别位于所述吸附定位孔的两端。
[0017]进一步的，所述吸附头固定于固定架上，所述固定架的侧面固定于所述支撑件上。
[0018]根据上述方案的本技术，其有益效果在于，本技术应用于探针检测设备(外观检测设备)中，对检测标定为不良品的探针进行排废，使得探针料盘中剩余的探针均为良品，其取代传统人工排废的过程，不仅减少了人工的劳动量，增加了排废速度，同时能够通过电子控制提高排废的精准度，避免遗漏不良品而影响产品良率，或将良品误排而造成损失；本技术通过左右方向和上下方向的滑动，使得吸附头吸附的位置更加精准，另外配合光电开关可以对吸附头的位置进行精准限位，避免其过渡移动而造成的设备损伤。
附图说明
[0019]图1为本技术应用实例的结构示意图；
[0020]图2为本技术应用实例内部的结构图；
[0021]图3为本技术的结构示意图；
[0022]图4为本技术的结构分解图；
[0023]图5为本技术轨道组件的结构示意图；
[0024]图6为本技术吸附组件的结构示意图。
[0025]在图中，11
‑
整机机架；12
‑
控制箱；13
‑
操作台；20
‑
送料结构；30
‑
检测机构；40
‑
探针排废机构；
[0026]41
‑
立架；42
‑
轨道组件；
[0027]421
‑
横向轨道；
[0028]4211
‑
排废轨道面板；4212
‑
排废轨道滑槽；4213
‑
排废定位件；
[0029]42131
‑
排废定位孔；
[0030]422
‑
滑动件；
[0031]4221
‑
滑动臂；4222
‑
滑动底；4223
‑
空心槽；4224
‑
侧壁；4225
‑
第一波纹段；4226
‑ꢀ
第二波纹段；
[0032]43
‑
吸附组件；
[0033]431
‑
吸附气缸；
[0034]432
‑
吸附主架；
[0035]4321
‑
主架滑槽；
[0036]433
‑
吸附定位件；
[0037]4331
‑
吸附定位孔；
[0038]434
‑
支撑件；
[0039]4341
‑
滑臂；
[0040]435
‑
固定架；
[0041]436
‑
吸附头。
具体实施方式
[0042]下面结合附图以及实施方式对本技术进行进一步的描述：
[0043]如图1、图2所示，一种探针外观检测设备，用于对探针的外观进行检测，并依据检测结果对检测结果为不良的探针进行排废。
[0044]该探针外观检测设备包括整机机架11，整机机架11的底部设有带控制器(图中未示出，下同)的控制箱12，控制器控制整个探针外观检测设备的运行，整机机架11内部设有用本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种探针排废机构，固定于探针检测设备的整机机架上，其特征在于，包括立架、轨道组件以及吸附组件，所述轨道组件通过所述立架固定于所述整机机架上，所述吸附组件套在所述轨道组件上，其与滑动电机连接，所述滑动电机带动所述吸附组件沿着所述轨道组件左右滑动；所述吸附组件包括吸附气缸、吸附主架以及吸附头，所述吸附头套在所述吸附主架上，所述吸附头与吸附电机连接，所述吸附电机带动所述吸附头沿着所述吸附主架上下滑动，所述吸附头与所述吸附气缸连接，所述吸附气缸通过所述吸附头对探针料盘上的废品进行排除。2.根据权利要求1所述的探针排废机构，其特征在于，所述轨道组件包括横向轨道和套在所述横向轨道上的滑动件，所述吸附组件固定于所述滑动件上，所述滑动件与所述滑动电机连接，所述滑动电机带动所述滑动件、所述吸附组件沿着所述横向轨道左右滑动。3.根据权利要求2所述的探针排废机构，其特征在于，所述横向轨道包括轨道主体和位于所述轨道主体侧面的排废轨道面板，所述排废轨道面板与所述轨道主体之间设有排废轨道滑槽，所述滑动件套在所述排废轨道滑槽内并沿着所述排废轨道滑槽左右滑动。4.根据权利要求3所述的探针排废机构，其特征在于，所述滑动件包括滑动面板和滑动底，所述滑动面板的上下两侧设有凸出的滑动臂，所述滑动面板、所述滑动底以及两个所述滑动臂之间围绕形成中空的空心槽，所述滑动件套在所述横向...

【专利技术属性】
技术研发人员：丁崇亮，
申请(专利权)人：深圳市木王智能科技有限公司，
类型：新型
国别省市：