一种激光雷达调试装置及调试方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种激光雷达调试装置及调试方法，涉及激光雷达技术领域，用于对包括激光器组及激光透镜组的激光雷达发射端进行调测，激光器组上分布半导体激光二极管，激光雷达调试装置包括调试台、固定支架、调整支架、测试板、拍摄器、发散角测量机构及处理机构，固定支架用于固定激光透镜组，调整支架用于对激光器组进行调整，测试板相对调试台设置，测试板上绘制有参考标记，拍摄器用于对测试板进行拍摄，发散角测量机构用于对激光透镜组准直后的一束激光进行测量，处理机构用于显示拍摄器及发散角测量机构的测量结果，并确定调整结果。激光雷达调试装置及调试方法可同时调整方位角及发散角，调试简便，提高了调试的效率。提高了调试的效率。提高了调试的效率。

【技术实现步骤摘要】
一种激光雷达调试装置及调试方法


[0001]本专利技术涉及激光雷达
，尤其涉及一种激光雷达调试装置及调试方法。

技术介绍

[0002]随着光电技术的发展，激光雷达越来越广泛的应用于自动驾驶，测绘，机器人导航，空间建模等场景中，与此同时，对激光雷达的测距能力要求也越来越高。目前用于自动驾驶的机械式激光雷达，多数都是基于脉冲式激光测距原理，所用的激光器多数为半导体激光器。半导体激光器体积小、重量轻、使用安全、维修成本低，因此其应用领域日益扩大。但是半导体激光器存在以下缺点：性能受温度影响大，光束的发散角较大(一般在几度到20度之间，且半导体激光器的快轴与慢轴之间存在像散，快轴与慢轴的发散角存在很大差异，快轴方向的发散角远大于慢轴方向的发散角)，所以其在方向性、单色性和相干性等方面较差。因此，半导体激光器需要经过发射光学系统的准直，使光斑变大，光束发散角变小，光束的指向性变好，以用于激光雷达中。而在激光雷达装配调试过程中，必须保证多束发射激光的方位角，以及每一束激光的发散角。
[0003]业内现有的激光雷达发射调试方案主要采用，将多个半导体激光器放置在一个电路板上，同时并列放置多个电路板，每个电路板都是独立可活动的，因此，可有效的解决激光雷达的垂直视场角分辨率太低的问题，但是，每个电路板都需要独立调试，当激光雷达的视场角较大、垂直分辨率较高的时候，需要调试的电路板就会多，导致调试时间长，困难大；并且由于可活动的部件太多，调试完成后固定困难，需要给每个活动件进行固定，可生产性较差。

技术实现思路

>[0004]为克服现有技术中的不足，本申请提供一种激光雷达调试装置及调试方法。
[0005]本申请提供的一种激光雷达调试装置，用于对激光雷达发射端进行调测，所述激光雷达发射端包括激光器组及激光透镜组，所述激光器组上分布有多个半导体激光二极管，所述激光雷达调试装置包括调试台、固定支架、调整支架、测试板、拍摄器、发散角测量机构及处理机构，所述固定支架及所述调整支架固定于所述调试台上，所述固定支架用于固定所述激光透镜组，所述调整支架用于固定所述激光器组，并对所述激光器组进行调整，所述测试板相对所述调试台设置，所述测试板上绘制有参考标记，所述拍摄器及所述发散角测量机构与所述处理机构电连接，所述拍摄器用于对所述测试板进行拍摄，所述发散角测量机构用于对所述激光透镜组准直后的一束激光进行测量，所述处理机构用于显示所述拍摄器及所述发散角测量机构的测量结果，并确定调整结果。
[0006]在一种可能的实施方式中，所述发散角测量机构包括镜筒、衰减片、双胶合透镜、滤光片及工业相机，所述衰减片、所述双胶合透镜、所述滤光片及所述工业相机依次设于所述镜筒中，所述衰减片用于将进入所述镜筒的激光衰减到所述工业相机能够承受的范围，所述滤光片用于将周围的环境光过滤。
[0007]在一种可能的实施方式中，所述调试台上设置有电源，用于向所述激光器组供电。
[0008]在一种可能的实施方式中，所述固定支架上设有定位结构，所述定位结构用于对所述激光透镜组的位置进行定位，以使所述激光透镜组保持水平。
[0009]在一种可能的实施方式中，所述调整支架为手动调整支架。
[0010]在一种可能的实施方式中，所述参考标记根据所述激光器组上半导体激光二极管的分布位置，绘制于所述测试板上。
[0011]在一种可能的实施方式中，所述拍摄器为红外CCD相机。
[0012]在一种可能的实施方式中，所述处理机构采用双显示器电脑。
[0013]本申请提供的一种调试方法，包括：
[0014]将带调测的激光雷达发射端放于所述激光雷达调试装置中；
[0015]将所述激光器组发射的激光投射到所述测试板上；
[0016]通过所述拍摄器及所述发散角测量机构对所述激光器组发射的激光进行监测；
[0017]通过所述调整支架对所述激光器组的位置进行调整；
[0018]固定调测好的所述激光雷达发射端。
[0019]在一种可能的实施方式中，所述发散角测量机构通过测量聚焦元件焦平面上的光束宽度或光束直径确定其发散角。
[0020]相比现有技术，本申请的有益效果：
[0021]本申请提供的激光雷达调试装置及调试方法，采用激光器集成在一起的激光器组，并通过测试板将激光器组光斑的预定位置标记，通过拍摄器监测光斑的位置，同时，通过发散角测量机构对其中一束激光进行测量，可同时对方位角及发散角进行确定，同时调整方位角及发散角，可减少调试的次数，调试简便，提高了调试的效率。
附图说明
[0022]为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本专利技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
[0023]图1示出了本申请一实施例提供的一种激光雷达调试装置的结构示意图；
[0024]图2示出了本申请中待调试的激光器组的结构示意图；
[0025]图3示出了图1所述激光雷达调试装置的调整支架的结构示意图；
[0026]图4示出了图3所述调整支架的另一视角的结构示意图；
[0027]图5示出了图1所述激光雷达调试装置的部分结构的放大示意图；
[0028]图6示出了图1所述激光雷达调试装置的发散角测量机构的结构示意图。
[0029]主要元件符号说明：
[0030]100
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激光雷达调试装置；10
‑
调试台；11
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电源；20
‑
固定支架；30
‑
调整支架；40
‑
测试板；50
‑
拍摄器；60
‑
发散角测量机构；61
‑
镜筒；62
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衰减片；63
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双胶合透镜；64
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滤光片；65
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工业相机；70
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处理机构；200
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激光雷达发射端；201
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激光器组；202
‑
激光透镜组。
具体实施方式
[0031]下面详细描述本专利技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本专利技术，而不能理解为对本专利技术的限制。
[0032]在本专利技术的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种激光雷达调试装置，其特征在于，用于对激光雷达发射端进行调测，所述激光雷达发射端包括激光器组及激光透镜组，所述激光器组上分布有多个半导体激光二极管，所述激光雷达调试装置包括调试台、固定支架、调整支架、测试板、拍摄器、发散角测量机构及处理机构，所述固定支架及所述调整支架固定于所述调试台上，所述固定支架用于固定所述激光透镜组，所述调整支架用于固定所述激光器组，并对所述激光器组进行调整，所述测试板相对所述调试台设置，所述测试板上绘制有参考标记，所述拍摄器及所述发散角测量机构与所述处理机构电连接，所述拍摄器用于对所述测试板进行拍摄，所述发散角测量机构用于对所述激光透镜组准直后的一束激光进行测量，所述处理机构用于显示所述拍摄器及所述发散角测量机构的测量结果，并确定调整结果。2.根据权利要求1所述的激光雷达调试装置，其特征在于，所述发散角测量机构包括镜筒、衰减片、双胶合透镜、滤光片及工业相机，所述衰减片、所述双胶合透镜、所述滤光片及所述工业相机依次设于所述镜筒中，所述衰减片用于将进入所述镜筒的激光衰减到所述工业相机能够承受的范围，所述滤光片用于将周围的环境光过滤。3.根据权利要求1所述的激光雷达调试装置，其特征在于，所述调试台上设置有电源，用于向所...

【专利技术属性】
技术研发人员：丁志田，陈浩，严伟振，
申请(专利权)人：宁波未感半导体科技有限公司，
类型：发明
国别省市：