一种图像处理方法和电子设备技术

本申请涉及一种图像处理方法和电子设备，在获取以第一拍摄参数拍摄的目标对象的第一图像后，一旦确定第一图像的至少部分图像区域中存在不满足预设像素参数条件的至少一个像素，则确定更新拍摄参数，并获取以更新拍摄参数拍摄的目标对象的至少部分区域的更新图像，之后，进一步根据上述的第一图像和更新图像，以及由上述不满足预设像素参数条件的像素构成的待处理像素集，生成目标图像。生成目标图像。生成目标图像。

【技术实现步骤摘要】
一种图像处理方法和电子设备


[0001]本申请属于信息采集与处理
，尤其涉及一种图像处理方法和电子设备。

技术介绍

[0002]3C产品是计算机类、通信类和消费类电子产品三者的统称，在3C产品制造中，通常需要对产品的显示器进行屏幕缺陷检测，如LCD(Liquid Crystal Display，液晶显示器)缺陷检测，以保证产品品质。传统3C产品制造中，在对显示器进行屏幕缺陷检测时，经常发生缺陷细节拍摄不出来或者拍摄不明显等问题，进而导致算法误判或者错判。

技术实现思路

[0003]为此，本申请公开如下技术方案：
[0004]一种图像处理方法，包括：
[0005]获取以第一拍摄参数拍摄的目标对象的第一图像；
[0006]确定所述第一图像的至少部分图像区域中存在不满足预设像素参数条件的至少一个像素，得到待处理像素集；
[0007]确定更新拍摄参数，并获取以所述更新拍摄参数拍摄的所述目标对象的至少部分区域的更新图像；所述至少部分区域至少包括所述待处理像素集在所述目标对象上对应的点的集合；
[0008]根据所述第一图像和所述更新图像以及所述待处理像素集，生成目标图像。
[0009]可选的，所述确定所述第一图像的至少部分图像区域中存在不满足预设像素参数条件的至少一个像素，得到待处理像素集，包括：
[0010]确定所述第一图像的至少部分图像区域中像素灰度值和/或亮度值未处于预定取值区间的至少一个像素，得到所述待处理像素集。
[0011]可选的，确定更新拍摄参数，并获取以所述更新拍摄参数拍摄的所述目标对象的至少部分区域的更新图像，包括：
[0012]若所述待处理像素集中包括像素参数值大于所述预定取值区间的上阈值的第一像素，确定第二拍摄参数，并获取以所述第二拍摄参数拍摄的第一点集的第二图像；所述第一点集至少包括各个第一像素在所述目标对象上对应的点的集合；
[0013]若所述待处理像素集中包括像素参数值小于所述预定取值区间的下阈值的第二像素，确定第三拍摄参数，并获取以所述第三拍摄参数拍摄的第二点集的第三图像；所述第二点集至少包括各个第二像素在所述目标对象上对应的点的集合；
[0014]其中，所述第二拍摄参数以及所述第三拍摄参数的参数类型与所述第一拍摄参数的参数类型相同，所述第二拍摄参数相比于所述第一拍摄参数能使被拍对象的曝光程度得以降低，所述第三拍摄参数相比于所述第一拍摄参数能使被拍对象的曝光程度得以提升；
[0015]所述根据所述第一图像和所述更新图像以及所述待处理像素集，生成目标图像，包括：
[0016]根据所述第一图像，和所述第二图像和/或所述第三图像，以及所述待处理像素集，生成目标图像。
[0017]可选的，所述确定第二拍摄参数，包括：
[0018]从目标拍摄参数集中确定与所述第一像素的像素参数值匹配的拍摄参数，得到所述第二拍摄参数；
[0019]所述确定第三拍摄参数，包括：
[0020]从所述目标拍摄参数集中确定与所述第二像素的像素参数值匹配的拍摄参数，得到所述第三拍摄参数；
[0021]其中，所述目标拍摄参数集还包括所述第一拍摄参数。
[0022]可选的，所述根据所述第一图像，和所述第二图像和/或所述第三图像，以及所述待处理像素集，生成目标图像，包括：
[0023]根据所述待处理像素集中包括的所述第一像素和/或所述第二像素的位置信息，对所述第一图像以及所述第二图像和/或所述第三图像进行融合处理，得到目标图像。
[0024]可选的，所述目标对象为显示屏；
[0025]在所述获取以第一拍摄参数拍摄的目标对象的第一图像之前，上述方法还包括：
[0026]获取所述目标对象的配置信息，并获取与所述目标对象的配置信息匹配的拍摄参数集，得到所述目标拍摄参数集；具有不同配置信息的不同对象分别对应不同的拍摄参数集；
[0027]从所述目标拍摄参数集中获取所述第一拍摄参数，并以所述第一拍摄参数对所述目标对象进行拍摄。
[0028]可选的，在所述确定所述第一图像的至少部分图像区域中是否存在显示参数不满足参数条件的至少一个像素之前，上述方法还包括：
[0029]对所述第一图像进行图像分割处理，得到所述第一图像中所述目标对象对应的图像区域，以对所述目标对象对应的图像区域进行处理。
[0030]可选的，所述预定取值区间为[30，230]。
[0031]可选的，在生成并输出目标图像之后，上述方法还包括：
[0032]对所述目标图像进行缺陷识别处理，以识别所述目标对象存在的缺陷。
[0033]在本申请的一个方面还提供一种电子设备，包括：
[0034]图像采集装置；
[0035]存储器，用于至少存储一组指令集；
[0036]处理器，用于通过运行所述存储器中的指令集，实现如上文任一项所述的图像处理方法。
[0037]由以上方案可知，本申请提供的图像处理方法和电子设备，在获取以第一拍摄参数拍摄的目标对象的第一图像后，一旦确定第一图像的至少部分图像区域中存在不满足预设像素参数条件的至少一个像素，则确定更新拍摄参数，并获取以更新拍摄参数拍摄的目标对象的至少部分区域的更新图像，之后，进一步根据上述的第一图像和更新图像，以及由上述不满足预设像素参数条件的像素构成的待处理像素集，生成目标图像。
附图说明
[0038]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。
[0039]图1是本申请提供的图像处理方法的一处理流程图；
[0040]图2是本申请提供的基于第一拍摄参数拍摄的某显示器的屏幕图像；
[0041]图3是本申请提供的图2中的图像中存在过曝现象的像素区域；
[0042]图4是本申请提供的图2中的图像中存在欠曝现象的像素区域；
[0043]图5是本申请提供的图像处理方法的另一处理流程图；
[0044]图6是本申请提供的图像处理方法的又一处理流程图；
[0045]图7是本申请提供的电子设备的结构示意图。
具体实施方式
[0046]下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0047]为克服传统3C产品制造中，在对显示器进行屏幕缺陷检测时，经常发生缺陷细节拍摄不出来或者拍摄不明显等问题，进而导致算法误判或者错判的弊端，本申请实施例公开一种图像处理方法和电子设备。
[0048]本申请公开的图像本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种图像处理方法，包括：获取以第一拍摄参数拍摄的目标对象的第一图像；确定所述第一图像的至少部分图像区域中存在不满足预设像素参数条件的至少一个像素，得到待处理像素集；确定更新拍摄参数，并获取以所述更新拍摄参数拍摄的所述目标对象的至少部分区域的更新图像；所述至少部分区域至少包括所述待处理像素集在所述目标对象上对应的点的集合；根据所述第一图像和所述更新图像以及所述待处理像素集，生成目标图像。2.根据权利要求1所述的方法，所述确定所述第一图像的至少部分图像区域中存在不满足预设像素参数条件的至少一个像素，得到待处理像素集，包括：确定所述第一图像的至少部分图像区域中像素灰度值和/或亮度值未处于预定取值区间的至少一个像素，得到所述待处理像素集。3.根据权利要求2所述的方法，确定更新拍摄参数，并获取以所述更新拍摄参数拍摄的所述目标对象的至少部分区域的更新图像，包括：若所述待处理像素集中包括像素参数值大于所述预定取值区间的上阈值的第一像素，确定第二拍摄参数，并获取以所述第二拍摄参数拍摄的第一点集的第二图像；所述第一点集至少包括各个第一像素在所述目标对象上对应的点的集合；若所述待处理像素集中包括像素参数值小于所述预定取值区间的下阈值的第二像素，确定第三拍摄参数，并获取以所述第三拍摄参数拍摄的第二点集的第三图像；所述第二点集至少包括各个第二像素在所述目标对象上对应的点的集合；其中，所述第二拍摄参数以及所述第三拍摄参数的参数类型与所述第一拍摄参数的参数类型相同，所述第二拍摄参数相比于所述第一拍摄参数能使被拍对象的曝光程度得以降低，所述第三拍摄参数相比于所述第一拍摄参数能使被拍对象的曝光程度得以提升；所述根据所述第一图像和所述更新图像以及所述待处理像素集，生成目标图像，包括：根据所述第一图像，和所述第二图像和/或所述第三图像，以及所述待处理像素集，生成目标图像。4.根据权利要求3所述的方法，...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴少敏，
申请(专利权)人：联想北京有限公司，
类型：发明
国别省市：