触摸芯片的测试方法、装置、计算机设备和存储介质制造方法及图纸

本申请提供一种触摸芯片的测试方法、装置、计算机设备和存储介质，所述方法包括：获取触摸芯片的触摸参数集合；根据所述触摸参数集合构建目标二叉树；从所述目标二叉树中挑选不同的两组目标触摸参数组合对触摸芯片进行循环对比测试，并根据每次对比测试的结果对所述目标二叉树进行循环剪枝；本申请通过循环进行选枝测试实现了触摸参数种类和参数值的覆盖测试，通过循环剪枝提高了测试效率，解决了现有技术中触摸芯片的检测方法存在测试精度低或测试效率低的问题，提高了测试效率和测试精度，满足了测试需求。满足了测试需求。满足了测试需求。

【技术实现步骤摘要】
触摸芯片的测试方法、装置、计算机设备和存储介质


[0001]本申请涉及芯片测试
，尤其涉及触摸芯片的测试方法、装置、计算机设备和存储介质。

技术介绍

[0002]目前，家用电子设备、消费电子设备中电容式触摸按键的应用越来越普及，电容式触摸按键的核心是电容式触摸芯片，在电容式触摸芯片的研发与生产的过程中，需要对电容式触摸芯片的性能指标进行充分的测试验证，以保障优质的产品质量，在产品测试中，触摸相关各参数的扫描测试是必不可少的一个环节，该环节是为了保障在每一个参数上触摸数据无异常。
[0003]目前对触摸芯片的参数测试中一般采用参数选择测试和全参数测试，采用参数选择测试即是采用选取几个固定参数测试来替代完整的参数扫描测试，然而由于触摸芯片不但是超大规模集成电路，还是数字信号和模拟信号混合电路，各种参数更加容易受到设计、生产过程的影响，不完整的参数测试极易放过缺陷芯片，最终造成不良影响；全参数测试即是依次对所有参数及参数组合进行全覆盖测试，然而由于参数及参数组合数量巨大，耗费的测试时间相当大，同时由于芯片缺陷往往只是由小部分参数的缺陷导致，于是造成了测试问题发现与测试投入之间巨大的落差。
[0004]可见，现有技术中对触摸芯片的参数测试存在测试精度低或测试效率低的问题，不满足测试需求。

技术实现思路

[0005]针对相关技术中所存在的不足，本申请提供的触摸芯片的测试方法、装置、计算机设备和存储介质，其解决了现有技术中触摸芯片的检测方法存在测试精度低或测试效率低的问题，提高了测试效率和测试精度，满足了测试需求。
[0006]第一方面，本申请提供一种触摸芯片的测试方法，所述方法包括：获取触摸芯片的触摸参数集合；根据所述触摸参数集合构建目标二叉树；从所述目标二叉树中挑选不同的两组目标触摸参数组合对触摸芯片进行循环对比测试，并根据每次对比测试的结果对所述目标二叉树进行循环剪枝。
[0007]可选地，根据所述触摸参数集合构建目标二叉树，包括：根据所述触摸参数集合构建触摸参数有序多叉树；将所述有序多叉树转换成二叉树，得到所述目标二叉树。
[0008]可选地，从所述目标二叉树中挑选不同的两组目标触摸参数组合对触摸芯片进行循环对比测试，包括：获取当前对比测试的当前节点层；根据所述目标二叉树，得到当前节点层对应的目标触摸参数；从所述当前节点层中选取不同的两个目标条件值，所述两个目标条件值为所述目标触摸参数相匹配的条件值；将所述目标触摸参数、所述两个目标条件值、以及当前测试触摸参数组合形成不同的两组目标触摸参数组合；根据所述不同的两组目标触摸参数组合对所述触摸芯片进行对比测试。
[0009]可选地，当所述两个目标条件值包括第一目标条件值和第二目标条件值时，根据每次对比测试的结果对所述目标二叉树进行循环剪枝，包括：若当前对比测试的结果为所述第一目标条件值所在的目标触摸参数组合的测试结果为合格时，则剪掉当前节点层中所述第二目标条件值所在的分枝。
[0010]可选地，在根据所述触摸参数集合构建目标二叉树之后，所述方法还包括：建立数据存储结构，所述数据存储结构包括父节点地址、当前节点的数据、第一子节点地址和第二子节点地址；为所述目标二叉树中的每个节点分配存储地址；根据所述目标二叉树的节点关系和所述数据存储结构，得到所述目标二叉树相对应的目标数据存储表。
[0011]可选地，从所述目标二叉树中挑选不同的两组目标触摸参数组合对触摸芯片进行循环对比测试，包括：根据所述目标数据存储表中父节点的地址，获取当前节点层中的两个节点数据；将所述两个节点数据与当前测试触摸参数组合形成不同的两组目标触摸参数组合；根据所述不同的两组目标触摸参数组合对所述触摸芯片进行对比测试。
[0012]可选地，所述当前测试触摸参数组合为所述目标数据存储表中除当前节点层以外的其他节点层中的节点数据组合成的参数组合。
[0013]第二方面，本申请提供一种触摸芯片的测试装置，所述装置包括：触摸参数获取模块，用于获取触摸芯片的触摸参数集合；二叉树构建模块，用于根据所述触摸参数集合构建目标二叉树；对比测试模块，用于从所述目标二叉树中挑选不同的两组目标触摸参数组合对触摸芯片进行循环对比测试，并根据每次对比测试的结果对所述目标二叉树进行循环剪枝。
[0014]第三方面，本申请提供一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现以下步骤：获取触摸芯片的触摸参数集合；根据所述触摸参数集合构建目标二叉树；从所述目标二叉树中挑选不同的两组目标触摸参数组合对触摸芯片进行循环对比测试，并根据每次对比测试的结果对所述目标二叉树进行循环剪枝。
[0015]第四方面，本申请提供一种可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现实现以下步骤：获取触摸芯片的触摸参数集合；根据所述触摸参数集合构建目标二叉树；从所述目标二叉树中挑选不同的两组目标触摸参数组合对触摸芯片进行循环对比测试，并根据每次对比测试的结果对所述目标二叉树进行循环剪枝。
[0016]相比于相关技术，本申请具有如下有益效果：
[0017]本申请将对触摸芯片测试的触摸参数集合构建成二叉树，通过二叉树上不同树枝上的触摸参数组合对触摸芯片进行循环对比测试，并根据每次对比测试的结果对二叉树进行循环剪枝；因此本申请通过循环进行选枝测试实现了触摸参数种类和参数值的覆盖测试，通过循环剪枝提高了测试效率，解决了现有技术中触摸芯片的检测方法存在测试精度低或测试效率低的问题，提高了测试效率和测试精度，满足了测试需求。
附图说明
[0018]图1所示为本申请一示例性实施例提供的一种触摸芯片的测试方法的流程示意图；
[0019]图2所示为本申请一示例性实施例提供的一种多叉树的结构示意图；
[0020]图3所示为本申请一示例性实施例提供的一种多叉树转二叉树的结构示意图；
[0021]图4所示为本申请一示例性实施例提供的图1中步骤S103的流程示意图；
[0022]图5
‑
图8所示为本申请一示例性实施例提供的二叉树选枝和剪枝示意图；
[0023]图9所示为本申请一示例性实施例提供的一种二叉树与数据存储表的示意图。
具体实施方式
[0024]为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0025]图1所示为本申请一示例性实施例提供的一种触摸芯片的测试方法的流程示意图，如图1所示，本申请提供的触摸芯片的测试方法具体包括以下步骤，需要说明的是在测试允许范围内，以下步骤可以互相调换，所述步骤的顺序不构成本方法的限制：
[0026]步骤S10本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种触摸芯片的测试方法，其特征在于，所述方法包括：获取触摸芯片的触摸参数集合；根据所述触摸参数集合构建目标二叉树；从所述目标二叉树中挑选不同的两组目标触摸参数组合对触摸芯片进行循环对比测试，并根据每次对比测试的结果对所述目标二叉树进行循环剪枝。2.如权利要求1所述的触摸芯片的测试方法，其特征在于，根据所述触摸参数集合构建目标二叉树，包括：根据所述触摸参数集合构建触摸参数有序多叉树；将所述有序多叉树转换成二叉树，得到所述目标二叉树。3.如权利要求1所述的触摸芯片的测试方法，其特征在于，从所述目标二叉树中挑选不同的两组目标触摸参数组合对触摸芯片进行循环对比测试，包括：获取当前对比测试的当前节点层；根据所述目标二叉树，得到当前节点层对应的目标触摸参数；从所述当前节点层中选取不同的两个目标条件值，所述两个目标条件值为所述目标触摸参数相匹配的条件值；将所述目标触摸参数、所述两个目标条件值、以及当前测试触摸参数组合形成不同的两组目标触摸参数组合；根据所述不同的两组目标触摸参数组合对所述触摸芯片进行对比测试。4.如权利要求3所述的触摸芯片的测试方法，其特征在于，当所述两个目标条件值包括第一目标条件值和第二目标条件值时，根据每次对比测试的结果对所述目标二叉树进行循环剪枝，包括：若当前对比测试的结果为所述第一目标条件值所在的目标触摸参数组合的测试结果为合格时，则剪掉当前节点层中所述第二目标条件值所在的分枝。5.如权利要求1所述的触摸芯片的测试方法，其特征在于，在根据所述触摸参数集合构建目标二叉树之后，所述方法还包括：建立数据存储结构...

【专利技术属性】
技术研发人员：周留洋，钟成保，苗小雨，杨勇，周彦，李振华，陈晓，
申请(专利权)人：四川中微芯成科技有限公司，
类型：发明
国别省市：