一种用于检测玻璃表面微观点状缺陷的检验装置制造方法及图纸

技术编号:31222145 阅读:22 留言:0更新日期:2021-12-04 17:53
本实用新型专利技术公开了一种用于检测玻璃表面微观点状缺陷的检验装置,其特征在于:包括玻璃和用于检测玻璃的光源,所述玻璃竖直放置,光源位于玻璃的底部,玻璃的底部与光源接触。光源发出的光为黄光。本实用新型专利技术检验的光为黄光,黄色的光穿透性好,且玻璃竖向放置,从玻璃端面打光,光线穿透玻璃,肉眼平视检验,光线遇点状缺陷会产生折射,肉眼检验为亮点不良,故可以检出0.005~0.01mm的点状缺陷。检验装置还包括背景板,背景板竖直放置,背景板与玻璃前后排列放置;背景板为黑色,背景板位于玻璃的后面。将背景设置为黑色,更利于微小缺陷的检查。检查。检查。

【技术实现步骤摘要】
一种用于检测玻璃表面微观点状缺陷的检验装置


[0001]本技术属于玻璃检测
,具体涉及一种用于检测玻璃表面微观点状缺陷的检验装置。

技术介绍

[0002]目前玻璃表观一般的检验方法为日光灯反射光和透射光,缺陷尺寸在 0.05mm以上可以检出,但小于0.05mm的缺陷在现有的检验条件下无法检出。

技术实现思路

[0003]针对现有技术中存在的不足,本技术的目的在于提供一种结构简单、使用方便的用于检测玻璃表面微观点状缺陷的检验装置,通过该检验装置肉眼可以检出0.005~0.01mm的点状缺陷。
[0004]为实现上述目的,本技术的技术方案为:一种用于检测玻璃表面微观点状缺陷的检验装置,其特征在于:包括玻璃和用于检测玻璃的光源,所述玻璃竖直放置,光源位于玻璃的底部,玻璃的底部与光源接触。
[0005]进一步的,所述光源发出的光为黄光。
[0006]进一步的,所述检验装置还包括背景板,背景板竖直放置,背景板与玻璃前后排列放置。
[0007]进一步的,所述背景板为黑色,背景板位于玻璃的后面。
[0008]进一步的,所述检验装置还包括机架,机架包括底座和立杆,立杆固定连接在底座上。
[0009]进一步的,所述玻璃和背景板均竖直安装在机架上,玻璃和背景板的两侧边均安装在立杆上,光源安装在底座上。
[0010]进一步的,所述光源包括发光灯和用于安装发光灯的长条形底座,发光灯安装在长条形底座上,光源从玻璃端面打光,光线穿透玻璃,光线遇点状缺陷会产生折射,肉眼检验为亮点不良。
[0011]进一步的,所述检验装置还包括用于固定玻璃的夹具,夹具包括用于固定玻璃侧部的侧面夹具和用于固定玻璃底部的支撑块,侧面夹具安装在立杆上,支撑块安装在长条形底座上。
[0012]进一步的,所述侧面夹具包括夹板和紧固件,夹板上设有夹槽,玻璃的两侧部插接在夹槽中通过紧固件进行固定。
[0013]进一步的,所述支撑块上设有V型槽构成V型块结构,玻璃的底部卡接在 V型槽中,支撑块间隔均匀分布在长条形底座上。
[0014]采用本技术技术方案的优点为:
[0015]本技术将检验的灯光改为黄光,黄光穿透性好,有利于检测;制作专门的检验装置,使玻璃竖向放置,在底部灯光上及侧面支架上有夹具,用来放置被检验的产品;检验
的方式为从玻璃端面打光,光线穿透玻璃,肉眼平视检验,光线遇点状缺陷会产生折射,肉眼检验为亮点不良,故可以检出;将背景设置为黑色,更利于微小缺陷的检查。
附图说明
[0016]下面结合附图和具体实施方式对本技术作进一步详细的说明:
[0017]图1为本技术结构示意图;
[0018]图2为本技术玻璃和背景板侧视示意图;
[0019]图3为本技术检验玻璃时光源投射示意图。
[0020]上述图中的标记分别为:1、玻璃;2、光源;3、背景板;4、机架;41、底座;42、立杆;5、侧面夹具;6、支撑块。
具体实施方式
[0021]在本技术中,需要理解的是,术语“长度”;“宽度”;“上”;“下”;“前”;“后”;“左”;“右”;“竖直”;“水平”;“顶”;“底”“内”;“外”;“顺时针”;“逆时针”;“轴向”;“平面方向”;“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本技术和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位;以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本技术的限制。
[0022]如图1所示,一种用于检测玻璃表面微观点状缺陷的检验装置,其特征在于:包括玻璃1和用于检测玻璃1的光源2,所述玻璃1竖直放置,光源2位于玻璃1的底部,玻璃1的底部与光源接触。光源2发出的光为黄光。本技术检验的光为黄光,黄色的光穿透性好,且玻璃竖向放置,从玻璃端面打光,光线穿透玻璃,肉眼平视检验,光线遇点状缺陷会产生折射,肉眼检验为亮点不良,故可以检出0.005~0.01mm的点状缺陷。
[0023]检验装置还包括背景板3,背景板3竖直放置,背景板3与玻璃1前后排列放置;背景板3为黑色,背景板3位于玻璃1的后面。将背景设置为黑色,更利于微小缺陷的检查。
[0024]检验装置还包括机架4,机架4包括底座41和立杆42,立杆42固定连接在底座41上。玻璃1和背景板3均竖直安装在机架4上,玻璃1和背景板3的两侧边均安装在立杆42上,光源2安装在底座41上。光源2包括发光灯和用于安装发光灯的长条形底座,发光灯安装在长条形底座上,光源2从玻璃端面打光,光线穿透玻璃,光线遇点状缺陷会产生折射,肉眼检验为亮点不良。
[0025]检验装置还包括用于固定玻璃1的夹具,夹具包括用于固定玻璃侧部的侧面夹具5和用于固定玻璃底部的支撑块6,侧面夹具5安装在立杆42上,支撑块6安装在长条形底座上。侧面夹具5包括夹板和紧固件,夹板上设有夹槽,玻璃1的两侧部插接在夹槽中通过紧固件进行固定。支撑块6上设有V型槽构成V型块结构,玻璃1的底部卡接在V型槽中,支撑块6间隔均匀分布在长条形底座上。
[0026]本技术将检验的灯光改为黄光,黄光穿透性好,有利于检测;制作专门的检验装置,使玻璃竖向放置,在底部灯光上及侧面支架上有夹具,用来放置被检验的产品;检验的方式为从玻璃端面打光,光线穿透玻璃,肉眼平视检验,光线遇点状缺陷会产生折射,肉眼检验为亮点不良,故可以检出;将背景设置为黑色,更利于微小缺陷的检查。
[0027]以上结合附图对本技术进行了示例性描述,显然本技术具体实现并不受
上述方式的限制,只要采用了本技术技术方案进行的各种非实质性的改进,或未经改进将本技术的构思和技术方案直接应用于其它场合的,均在本技术的保护范围之内。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于检测玻璃表面微观点状缺陷的检验装置,其特征在于:包括玻璃(1)和用于检测玻璃(1)的光源(2),所述玻璃(1)竖直放置,光源(2)位于玻璃(1)的底部,玻璃(1)的底部与光源接触。2.如权利要求1所述的一种用于检测玻璃表面微观点状缺陷的检验装置,其特征在于:所述光源(2)发出的光为黄光。3.如权利要求1或2所述的一种用于检测玻璃表面微观点状缺陷的检验装置,其特征在于:所述检验装置还包括背景板(3),背景板(3)竖直放置,背景板(3)与玻璃(1)前后排列放置。4.如权利要求3所述的一种用于检测玻璃表面微观点状缺陷的检验装置,其特征在于:所述背景板(3)为黑色,背景板(3)位于玻璃(1)的后面。5.如权利要求4所述的一种用于检测玻璃表面微观点状缺陷的检验装置,其特征在于:所述检验装置还包括机架(4),机架(4)包括底座(41)和立杆(42),立杆(42)固定连接在底座(41)上。6.如权利要求5所述的一种用于检测玻璃表面微观点状缺陷的检验装置,其特征在于:所述玻璃(1)和背景板(3)均竖直安装在机架(4)上,玻璃(1)和背景板(3)的两...

【专利技术属性】
技术研发人员:伍晓胜吕如军刘梅王蒙蒙蒋家斌
申请(专利权)人:芜湖长信科技股份有限公司
类型:新型
国别省市:

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