一种集成电路测试模组制造技术

本实用新型专利技术涉及集成电路技术领域，且公开了一种集成电路测试模组，包括模组本体、芯片插座底板、芯片插座本体、探头、按钮底板、控制按钮本体和键盘槽，所述模组本体的顶部左端开设有第一连接槽，所述第一连接槽的内部活动连接有保护壳，所述模组本体的顶部左端开设有两个第一放置槽，所述第一放置槽的内部活动连接有连接轴，所述连接轴的外表面固定连接有连接板，所述模组本体的顶部左端开设有限位槽。该集成电路测试模组，通过第一连接槽、保护壳、第一放置槽、连接轴、连接板、限位槽和卡块的结构，可以对芯片插座底板和芯片插座本体起到防水和防尘的作用，提高芯片插座底板和芯片插座本体的使用寿命。本体的使用寿命。本体的使用寿命。

【技术实现步骤摘要】
一种集成电路测试模组


[0001]本技术涉及集成电路
，具体为一种集成电路测试模组。

技术介绍

[0002]集成电路是一种微型电子器件或部件，采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构。
[0003]目前集成电路测试模组上的芯片插座本体裸露在装置的外部，容易进水和进入灰尘，会导致芯片插座本体的损坏和使用寿命变短，而且控制按钮都位于槽内，在对控制按钮本体清理时极其不便。
[0004]所以我们提出了一种集成电路测试模组，以便于解决上述中提出的问题。

技术实现思路

[0005](一)解决的技术问题
[0006]针对上述
技术介绍
中现有技术的不足，本技术的目的在于提供一种集成电路测试模组，以解决上述
技术介绍
中提出的目前市场上的一些集成电路测试模组，存在芯片插座本体裸露在装置的外部，容易进水和进入灰尘，会导致芯片插座本体的损坏和使用寿命变短，而且控制按钮都位于槽内，在对控制按钮本体清理时极其不便的问题。
[0007](二)技术方案
[0008]为实现以上目的，本技术通过以下技术方案予以实现：
[0009]一种集成电路测试模组，包括模组本体、芯片插座底板、芯片插座本体、探头、按钮底板、控制按钮本体和键盘槽，所述模组本体的顶部左端开设有第一连接槽，所述第一连接槽的内部活动连接有保护壳，所述模组本体的顶部左端开设有两个第一放置槽，所述第一放置槽的内部活动连接有连接轴，所述连接轴的外表面固定连接有连接板，所述模组本体的顶部左端开设有限位槽，所述限位槽的内表面活动连接有卡块，所述卡块的左侧上部与保护壳的右侧固定连接，所述键盘槽的右侧内壁上部开设有通槽；
[0010]所述模组本体的右侧开设有第二连接槽，所述第二连接槽的内底壁开设有第二放置槽，所述第二连接槽的内表面活动连接有活动板，所述活动板的底部固定连接有毛刷，所述第二连接槽的前侧内壁开设有滑槽，所述活动板的前侧开设有卡槽，所述卡槽的内表面活动连接有滑杆，所述滑杆的前端固定连接有弹簧，所述滑杆的外表面固定连接有滑块；
[0011]所述滑槽的右侧内壁开设有滑孔，所述滑孔的内表面与滑块的中部活动连接；
[0012]所述芯片插座底板设置在模组本体的中部，所述芯片插座本体的底部与芯片插座底板的顶部固定连接。
[0013]优选的，所述连接板的右侧与保护壳的左侧固定连接，所述芯片插座底板和芯片插座本体均位于保护壳的下方。
[0014]优选的，所述毛刷位于第二放置槽的内部，所述弹簧的后端与滑槽的前侧内壁固
定连接。
[0015]优选的，所述第二连接槽与通槽想通，所述通槽的左侧宽度大于右侧的宽度。
[0016](三)有益效果
[0017]与现有技术相比，本技术的有益效果是：该集成电路测试模组：
[0018](1)通过第一连接槽、保护壳、第一放置槽、连接轴、连接板、限位槽和卡块的结构，可以对芯片插座底板和芯片插座本体起到防水和防尘的作用，提高芯片插座底板和芯片插座本体的使用寿命。
[0019](2)通过通槽、第二连接槽、第二放置槽、活动板、毛刷、滑槽、卡槽、滑杆、弹簧、滑块、滑孔和键盘槽的结构，可以将毛刷拿下来，对控制按钮本体进行清理，防止控制按钮本体的损坏。
附图说明
[0020]图1为本技术集成电路测试模组的俯视结构示意图；
[0021]图2为本技术集成电路测试模组的图1中A处结构的放大示意图；
[0022]图3为本技术集成电路测试模组的侧视结构示意图；
[0023]图4为本技术集成电路测试模组的图1中B处结构的立体示意图；
[0024]图5为本技术集成电路测试模组的滑杆的立体结构示意图。
[0025]图中：1、模组本体；2、芯片插座底板；3、芯片插座本体；4、探头；5、第一连接槽；6、保护壳；7、第一放置槽；8、连接轴；9、连接板；10、限位槽；11、卡块；12、按钮底板；13、控制按钮本体；14、通槽；15、第二连接槽；16、第二放置槽；17、活动板；18、毛刷；19、滑槽；20、卡槽；21、滑杆；22、弹簧；23、滑块；24、滑孔；25、键盘槽。
具体实施方式
[0026]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0027]请参阅图1
‑
5所示，本技术提供一种集成电路测试模组；包括模组本体1、芯片插座底板2、芯片插座本体3、探头4、按钮底板12、控制按钮本体13和键盘槽25，模组本体1的顶部左端开设有第一连接槽5，第一连接槽5的内部活动连接有保护壳6，模组本体1的顶部左端开设有两个第一放置槽7，第一放置槽7的内部活动连接有连接轴8，连接轴8的外表面固定连接有连接板9，模组本体1的顶部左端开设有限位槽10，限位槽10的内表面活动连接有卡块11，卡块11的左侧上部与保护壳6的右侧固定连接，键盘槽25的右侧内壁上部开设有通槽14；
[0028]模组本体1的右侧开设有第二连接槽15，第二连接槽15的内底壁开设有第二放置槽16，第二连接槽15的内表面活动连接有活动板17，活动板17的底部固定连接有毛刷18，第二连接槽15的前侧内壁开设有滑槽19，活动板17的前侧开设有卡槽20，卡槽20的内表面活动连接有滑杆21，滑杆21的前端固定连接有弹簧22，滑杆21的外表面固定连接有滑块23；
[0029]作为本技术的一种优选技术方案：滑槽19的右侧内壁开设有滑孔24，滑孔24
的内表面与滑块23的中部活动连接；
[0030]作为本技术的一种优选技术方案：芯片插座底板2设置在模组本体1的中部，芯片插座本体3的底部与芯片插座底板2的顶部固定连接；
[0031]作为本技术的一种优选技术方案：连接板9的右侧与保护壳6的左侧固定连接，芯片插座底板2和芯片插座本体3均位于保护壳6的下方；
[0032]作为本技术的一种优选技术方案：毛刷18位于第二放置槽16的内部，弹簧22的后端与滑槽19的前侧内壁固定连接；
[0033]作为本技术的一种优选技术方案：第二连接槽15与通槽14想通，通槽14的左侧宽度大于右侧的宽度。
[0034]本实施例的工作原理：在使用该集成电路测试模组时，如图1
‑
5所示，需要使用芯片插座本体3时，向上拉动卡块11，卡块11带动保护壳6绕着连接轴8转动，将保护壳6打开，需要对控制按钮本体13清理时，向前拉动滑块23，滑块23带动滑杆21向前移动，使滑杆21的后端离开卡槽20，然后本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种集成电路测试模组，包括模组本体(1)、芯片插座底板(2)、芯片插座本体(3)、探头(4)、按钮底板(12)、控制按钮本体(13)和键盘槽(25)，其特征在于，所述模组本体(1)的顶部左端开设有第一连接槽(5)，所述第一连接槽(5)的内部活动连接有保护壳(6)，所述模组本体(1)的顶部左端开设有两个第一放置槽(7)，所述第一放置槽(7)的内部活动连接有连接轴(8)，所述连接轴(8)的外表面固定连接有连接板(9)，所述模组本体(1)的顶部左端开设有限位槽(10)，所述限位槽(10)的内表面活动连接有卡块(11)，所述卡块(11)的左侧上部与保护壳(6)的右侧固定连接，所述键盘槽(25)的右侧内壁上部开设有通槽(14)；所述模组本体(1)的右侧开设有第二连接槽(15)，所述第二连接槽(15)的内底壁开设有第二放置槽(16)，所述第二连接槽(15)的内表面活动连接有活动板(17)，所述活动板(17)的底部固定连接有毛刷(18)，所述第二连接槽(15)的前侧内壁开设有滑槽(19)，所述活动板(17)的前侧开设有卡槽(20)，所述卡槽(20...

【专利技术属性】
技术研发人员：何孝勇，
申请(专利权)人：成都华普电器有限公司，
类型：新型
国别省市：