一种基于耦合电容技术的环网柜局部放电的检测方法技术

本发明专利技术公开了一种基于耦合电容技术的环网柜局部放电的检测方法，包括低频电压检测和高频脉冲检测，将示波器与环网柜外表面的三相核相孔相连接，开启示波器并读取示波器的示数，对三相核相孔的交流电压进行检测，将与局放阻抗及频率都匹配的耦合传感器插入环网柜外表面的三相核相孔的内部，通过与局放阻抗及频率都匹配的耦合传感器配套的示波器观察三相核相孔的内部是否放电信号。通过环网柜外表面有一个三相核相孔，它通过耦合电容与环网柜内部的设备相连，环网柜内部发生局部放电时，信号会耦合到耦合电容上，耦合电容又和核相孔相连，通过仪器检测核相孔，对局放信号进行频率耦合，就可以检测柜内的局放情况，解决环网柜局放难以检测的难题。柜局放难以检测的难题。柜局放难以检测的难题。

【技术实现步骤摘要】
一种基于耦合电容技术的环网柜局部放电的检测方法


[0001]本专利技术属于环网柜检测
，具体涉及一种基于耦合电容技术的环网柜局部放电的检测方法。

技术介绍

[0002]环网柜是一组高压开关设备装在金属或非金属绝缘柜体内或做成拼装间隔式环网供电单元的电气设备，其核心部分采用负荷开关和熔断器，具有结构简单、体积小、价格低、可提高供电参数和性能以及供电安全等优点。它被广泛使用于城市住宅小区、高层建筑、大型公共建筑、工厂企业等负荷中心的配电站以及箱式变电站中。
[0003]电力设备局部放电带电检测已经是电力系统预防电气设备绝缘缺陷的有效手段，常用的检测方法有超高频、高频、超声波、暂态地电波等，但是这些检测手段都是间接的对电气设备进行带电检测，由于电气设备结构复杂，导致电磁波和声波在传输中的衰减也不相同，导致目前上述的几种检测手段不能也无法进行准确的校准，在日常局放检测中，环网柜因其柜体密闭性良好，柜内的局放信号不易透传，很难被检测到。

技术实现思路

[0004]针对现有技术存在的不足，本专利技术目的是提供一种基于耦合电容技术的环网柜局部放电的检测方法，解决了在日常局放检测中，环网柜因其柜体密闭性良好，柜内的局放信号不易透传，很难被检测到的问题。
[0005]为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种基于耦合电容技术的环网柜局部放电的检测方法，包括以下步骤：
[0006]S1：低频电压检测：
[0007]A1：将示波器与环网柜外表面的三相核相孔相连接，开启示波器并读取示波器的示数，对三相核相孔的交流电压进行检测。
[0008]A2：将示波器所显示的三相核相孔的交流电压与三相核相孔的交流电压的正常值范围进行对比，判断环网柜的三相核相孔交流电压值是否正常。
[0009]A3：若该环网柜的三相核相孔交流电压值正常，则通过示波器对下一个环网柜的三相核相孔的交流电压进行检测，若该环网柜的三相核相孔交流电压值异常，则将示波器示数代入公式可知，主分压电容绝缘材料介电常数发生异常。
[0010]A4：根据A3步骤所得出的结论半段环网柜中耦合电容绝缘性能是否达标；
[0011]S2：高频脉冲检测。
[0012]A1：将与局放阻抗及频率都匹配的耦合传感器插入环网柜外表面的三相核相孔的内部。
[0013]A2：通过与局放阻抗及频率都匹配的耦合传感器配套的示波器观察三相核相孔的内部是否放电信号。
[0014]A3：若该环网柜的三相核相孔内部无放电信号，则通过局放阻抗及频率都匹配的
耦合传感器对下一个环网柜的三相核相孔进行检测，若该环网柜的三相核相孔内部有放电信号，将示波器检测的放电信号与放电频率参数进行对比。
[0015]A4：可以根据A3步骤中对比的信号幅值来判断内部放电信号的强弱。
[0016]优选的，所述S1步骤中的A2步骤中三相核相孔的交流电压的正常值范围为30
‑
60V。
[0017]优选的，所述S2步骤中A3步骤中放电频率参数为300
‑
1500MHz。
[0018]优选的，所述S1步骤中A3步骤中的介电常数跟材料绝缘性能有关，且介电常数的参考值为：环氧树脂：3
‑
4，空气：1.00585，水：70
‑
80。
[0019]与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：
[0020]环网柜外表面有一个三相核相孔，它通过耦合电容与环网柜内部的设备相连，环网柜内部发生局部放电时，信号会耦合到耦合电容上，耦合电容又和核相孔相连，通过仪器检测核相孔，对局放信号进行频率耦合，就可以检测柜内的局放情况，解决环网柜局放难以检测的难题。
附图说明
[0021]图1为本专利技术的低频电压检测电路示意图；
[0022]图2为本专利技术的高频脉冲检测等效电路示意图；
[0023]图3为本专利技术的高频脉冲检测三种回路电路示意图。
具体实施方式
[0024]下面将结合本专利技术实施方案中的附图，对本专利技术实施方案中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施方案仅仅是本专利技术一部分实施方案，而不是全部的实施方案。基于本专利技术中的实施方案，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施方案，都属于本专利技术保护的范围。
[0025]如图1
‑
图3所示，一种基于耦合电容技术的环网柜局部放电的检测方法，包括以下步骤：
[0026]S1：低频电压检测：
[0027]A1：将示波器与环网柜外表面的三相核相孔相连接，开启示波器并读取示波器的示数，对三相核相孔的交流电压进行检测。
[0028]A2：将示波器所显示的三相核相孔的交流电压与三相核相孔的交流电压的正常值范围进行对比，三相核相孔的交流电压的正常值范围为30
‑
60V，判断环网柜的三相核相孔交流电压值是否正常。
[0029]A3：若该环网柜的三相核相孔交流电压值正常，则通过示波器对下一个环网柜的三相核相孔的交流电压进行检测，若该环网柜的三相核相孔交流电压值异常，则将示波器示数代入公式可知，主分压电容绝缘材料介电常数发生异常，介电常数跟材料绝缘性能有关，且介电常数的参考值为：环氧树脂：3
‑
4，空气：1.00585，水：70
‑
80。
[0030]A4：根据A3步骤所得出的结论半段环网柜中耦合电容绝缘性能是否达标。
[0031]S2：高频脉冲检测：
[0032]A1：将与局放阻抗及频率都匹配的耦合传感器插入环网柜外表面的三相核相孔的
内部。
[0033]A2：通过与局放阻抗及频率都匹配的耦合传感器配套的示波器观察三相核相孔的内部是否放电信号。
[0034]A3：若该环网柜的三相核相孔内部无放电信号，则通过局放阻抗及频率都匹配的耦合传感器对下一个环网柜的三相核相孔进行检测，若该环网柜的三相核相孔内部有放电信号，将示波器检测的放电信号与放电频率参数进行对比，放电频率参数为300
‑
1500MHz。
[0035]A4：可以根据A3步骤中对比的信号幅值来判断内部放电信号的强弱。
[0036]实施例一
[0037]具体为低频电压检测，如图1所示，现场测得电压10
‑
100V，求得正常情况下：电容分压比值＝V
主
/V
次
≈1000/1，电容容值比值＝电容分压比值＝C
主
/C
次
≈1/1000，电容计算：C＝εS/4πKd，ε介电常数跟材料绝缘性能有关，且介电常数的参考值为：环氧树脂：3
‑
4，空气：1.00585，水：70
‑
80。
[0038]实施例二
[0039]具体为高频脉冲检测，如图2和图3所示，图2中图b是图a的等值电路，它是一电感、电容并联电路，当电路谐本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于耦合电容技术的环网柜局部放电的检测方法，其特征在于：包括以下步骤：S1：低频电压检测：A1：将示波器与环网柜外表面的三相核相孔相连接，开启示波器并读取示波器的示数，对三相核相孔的交流电压进行检测；A2：将示波器所显示的三相核相孔的交流电压与三相核相孔的交流电压的正常值范围进行对比，判断环网柜的三相核相孔交流电压值是否正常；A3：若该环网柜的三相核相孔交流电压值正常，则通过示波器对下一个环网柜的三相核相孔的交流电压进行检测，若该环网柜的三相核相孔交流电压值异常，则将示波器示数代入公式可知，主分压电容绝缘材料介电常数发生异常；A4：根据A3步骤所得出的结论半段环网柜中耦合电容绝缘性能是否达标；S2：高频脉冲检测：A1：将与局放阻抗及频率都匹配的耦合传感器插入环网柜外表面的三相核相孔的内部；A2：通过与局放阻抗及频率都匹配的耦合传感器配套的示波器观察三相核相孔的内部是否放电信号；A3：若该环网柜的三相核相孔内部无放电信号，则通过局放阻抗...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵培伟，庞强，胡兵，金加元，
申请(专利权)人：南京尚华电力科技有限公司，
类型：发明
国别省市：