一种OLED面板Demura方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种OLED面板Demura方法及装置，包括获取各pixel亮度信息；拟合中心区域不同灰阶的亮度信息，得到标准亮度

【技术实现步骤摘要】
一种OLED面板Demura方法及装置


[0001]本专利技术涉及一种实现Demura数据存储以及电路运算的装置，该技术属于电子信息学领域。

技术介绍

[0002]在OLED显示面板制造工艺中，由于制程的波动以及驱动电路阻抗的限制，屏幕不同区域的RGB pixel发光亮度不同，从而导致显示mura的产生。对于特定类型的mura，可以通过设计不同的补偿电路，降低TFT制作工艺中由制程波动引起的阈值电压偏移对pixel亮度产生的影响，以减轻mura。除此之外，还可以在外部运用Demura技术进行mura补偿：通过相机在外部对显示模组pixel亮度信息进行抓取，根据不同的pixel亮度，显示屏驱动IC对该点输入的灰阶信息进行调整，从而有针对性的对pixel亮度进行补偿，达到消除mura的目标。

技术实现思路

[0003]1.要解决的技术问题
[0004]OLED显示面板的工艺制程主要包含三个部分，分别是Array段，OLED段，以及Module段。Array段为形成OLED面板驱动电路的工艺段，主要通过薄膜沉积以及光刻等，将所需要的走线，沉积到玻璃基板上。首先需要对玻璃基板进行清洗，清洗后再进行干燥操作，送入镀膜腔室进行镀膜操作。常用的镀膜工艺由CVD和PVD，即化学气相沉积和物理气相沉积。镀膜后再进行光刻工艺，得到所需的走线图案，最终形成驱动面板的LTPS
‑
TFT基板。OLED段为OLED发光层形成的工艺段。将LTPS
‑
TFT基板置于蒸镀腔室的顶部，OLED基材置于底部，加热后将OLED材料蒸镀到LTPS
‑
TFT基板上，最后进行封装。Module段为偏光片贴附，FPC绑定以及各种小料贴附。在以上各制程段均有可能产生mura，mura的存在使得屏幕在使用过程中，无法达到理想的显示效果，严重影响客户的使用体验。
[0005]2.导致原因：
[0006]以下将各段mura产生机理做简要说明：
[0007]1)Array段：薄膜沉积时，由于空间方位不同，靶材无法均匀的覆盖在整块玻璃基板上，导致成膜厚度不同，成膜厚度关系到LTPS
‑
TFT基板的驱动能能力，从而产生mura。除此之外，准分子激光退火(ELA)也是关键的一道制程。退火过程中，腔室内的温度、气压、光学扫描速度以及机台的震动，都可能造成mura的产生。
[0008]2)OLED段：蒸镀腔室内，蒸镀源可分为点源和线源，但无论点源或是线源，均难以实现将有机材均匀蒸镀到基板上。另外，用于控制蒸镀图案的mask，也难以实现完全平整，同时蒸镀角的不同，也会导致OLED有机材料无法准确得蒸镀到PDL中，从而形成混色mura。
[0009]3)模组段：由于模组段无尘等级相对较低，环境中存在较多particle，particle可能在制程中留在面板中，从而形成mura。除此之外，模组段各种贴附制程中，可能对玻璃表面产生划痕，形成mura。
[0010]针对OLED制程中引入的mura问题，采用对已形成的mura，进行光学补偿，使得原本显示亮度不均的面板区域，能够显示出同等亮度。
[0011]3.技术方案
[0012]为解决上述问题，本专利技术采用如下的技术方案。
[0013]一种OLED面板Demura方法，包括以下步骤：
[0014]S1、拍摄并存储pixel亮度信息；
[0015]S2、拟合中心区域得到标准亮度
‑
灰阶曲线；
[0016]S3、拟合各pixel亮度曲线；
[0017]S4、拟合输入灰阶
‑
输出灰阶曲线；
[0018]S5、将各pixel输入
‑
输出曲线系数；
[0019]S6、驱动IC加载flash中的数据，计算输出灰阶。
[0020]进一步地，步骤S1包括获取各pixel亮度信息，将显示模组点亮至不同灰阶，此处灰阶组合多样，包含但不限于：32，64，128，160，224。可选择点亮RGB单色画面或白光画面，即分别对应单色补偿、白光补偿。采用相机，在暗室内对显示模组所有pixel亮度信息进行精准抓取。例如，对于实际像素分辨率h*w显示模组(h和w分别为水平和垂直方向分辨率)，点亮32灰阶R色画面，记录pixel亮度为R32
00
，R321
01
···
R32
(h
‑
1)(w
‑
1)
，同理，记录其他灰阶/颜色画面对应的pixel亮度信息。
[0021]进一步地，步骤S2包含对所述获取的pixel亮度信息，选取中心一定区域，求出该区域各灰阶对应的平均亮度，拟合求解系数，则得到标准亮度
‑
灰阶曲线，此处标准亮度曲线包含但不限于：L＝A*(gray^B)+C，其中L为输入相对或绝对亮度，gray为输入灰阶，A/B/C均为系数。
[0022]进一步地，参照步骤S2，拟合各pixel不同灰阶的亮度，得到亮度
‑
灰阶曲线，对应系数记录为A
00
，A
01
···
A
(h
‑
1)(w
‑
1)
,B
00
，B
01
···
B
(h
‑
1)(w
‑
1)
,C
00
，C
01
···
C
(h
‑
1)(w
‑
1)
。
[0023]进一步地，选择一个灰阶组合，包含但不限于：32，64，128，160，224，对于灰阶组合中的每一灰阶，求解相应的输出灰阶，以使其输出亮度与中心位置一致。
[0024]进一步地，具体实现步骤如下：
[0025]A
golden
*(gray
input
^B
golden
)+C
golden
＝A
pixel
(gray
output
^B
pixel
)+C
pixel
；
[0026]其中，gray
input
为灰阶组合中的某一灰阶，A
golden、
B
golden C
golden
为标准亮度曲线中的系数，A
pixel、
B
pixel、
C
pixel
为某一pixel对应亮度曲线中系数，gray
output
为输出灰阶，从而由一组灰阶组合，求解出一组对应输出灰阶组合。
[0027]进一步地，对每个pixel，由求解得出的输出灰阶组合，拟合得到输出灰阶
‑
输入灰阶曲线，此本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种OLED面板Demura方法，其特征在于：包括以下步骤：S1、拍摄并存储pixel亮度信息；S2、拟合中心区域得到标准亮度
‑
灰阶曲线；S3、拟合各pixel亮度曲线；S4、拟合输入灰阶
‑
输出灰阶曲线；S5、将各pixel输入
‑
输出曲线系数；S6、驱动IC加载flash中的数据，计算输出灰阶。2.根据权利要求1所述的一种OLED面板Demura方法，其特征在于：步骤S1包括获取各pixel亮度信息，将显示模组点亮至不同灰阶，此处灰阶组合多样，包含但不限于：32，64，128，160，224。可选择点亮RGB单色画面或白光画面，即分别对应单色补偿、白光补偿。采用相机，在暗室内对显示模组所有pixel亮度信息进行精准抓取。例如，对于实际像素分辨率h*w显示模组(h和w分别为水平和垂直方向分辨率)，点亮32灰阶R色画面，记录pixel亮度为R32
00
，R321
01
···
R32
(h
‑
1)(w
‑
1)
，同理，记录其他灰阶/颜色画面对应的pixel亮度信息。3.根据权利要求2所述的一种OLED面板Demura方法，其特征在于：步骤S2包含对所述获取的pixel亮度信息，选取中心一定区域，求出该区域各灰阶对应的平均亮度，拟合求解系数，则得到标准亮度
‑
灰阶曲线，此处标准亮度曲线包含但不限于：L＝A*(gray^B)+C，其中L为输入相对或绝对亮度，gray为输入灰阶，A/B/C均为系数。4.根据权利要求3所述的一种OLED面板Demura方法，其特征在于：参照步骤S2，拟合各pixel不同灰阶的亮度，得到亮度
‑
灰阶曲线，对应系数记录为A
00
，A
01
···
A
(h
‑
1)(w
‑
1)
,B
00
，B
01
···
B
(h
‑
1)(w
‑
1)
,C
00
，C
01
···
C
(h
‑
1)(w
‑
1)
。5.根据权利要求4所述的一种OL...

【专利技术属性】
技术研发人员：高翔，吴樟福，秦良，
申请(专利权)人：昇显微电子苏州有限公司，
类型：发明
国别省市：