输出测试电路及芯片制造技术

本申请实施例提供一种输出测试电路及芯片，输出测试电路包括：输入选择器、第一寄存器和模式选择器，所述第一寄存器分别与所述输入选择器和所述模式选择器连接，所述输入选择器还用于与待测试引脚连接。在上述测试电路中，可以向待测试引脚输入测试信号，并且还可以采样待测试引脚的采样信号，根据测试信号和采样信号即可确定待测试引脚与相邻的引脚之间是否发生短路。无需借助其他测试电路，测试过程简单方便，进而提高了测试电路的测试效率。进而提高了测试电路的测试效率。进而提高了测试电路的测试效率。

【技术实现步骤摘要】
输出测试电路及芯片


[0001]本申请涉及电路测试
，具体涉及一种输出测试电路及芯片。

技术介绍

[0002]芯片中包括多种类型的引脚，例如，输入引脚、输出引脚。当需要对芯片的故障进行测试时，需要对芯片的引脚进行测试。
[0003]在相关技术中，通常采用边界扫描测试电路对芯片的引脚进行测试，可以在每个引脚附加一个边界扫描单元(Boundary scan cell，BSC)，通过边界扫描单元向每一个被测引脚输入一个测试信号，并通过与被测引脚相连的引脚对应的边界扫描单元输出被测引脚的采样信号，通过比较测试信号和采样信号确定测试结果。
[0004]然而，在相关技术中，需要借助其他测试电路的引脚输出采样信号，测试过程繁琐，导致对芯片的测试效率低下。

技术实现思路

[0005]本申请涉及一种输出测试电路及芯片，该输出测试电路可以对单芯片的故障进行测试，提高了对芯片的测试效率。
[0006]第一方面，本申请实施例提供一种输出测试电路，包括：输入选择器、第一寄存器和模式选择器，所述第一寄存器分别与所述输入选择器和所述模式选择器连接，所述输入选择器还用于与待测试引脚连接，其中，
[0007]所述输入选择器用于，在所述输出测试电路为第一状态时，接收测试信号并向所述第一寄存器输出所述测试信号；
[0008]所述第一寄存器用于，向测试处理单元输出所述测试信号，并在所述输出测试电路为第二状态时，通过模式选择器向所述待测试引脚输出所述测试信号；
[0009]所述输入选择器还用于，在所述输出测试电路为第三状态时，接收所述待测试引脚的采样信号，向所述第一寄存器输出所述采样信号；
[0010]所述第一寄存器还用于，向测试处理单元输出所述采样信号。
[0011]在一种可能的实施方式中，所述输入选择器包括两个信号输入端、信号控制端和输出端，其中，
[0012]所述输入选择器的第一输入端用于与所述待测试引脚连接；
[0013]所述输入选择器的第二输入端用于接收所述测试信号；
[0014]所述输入选择器的信号控制端用于接收第一控制信号，所述第一控制信号用于控制所述输入选择器的第一输入端选通或者所述输入选择器的第二输入端选通；
[0015]所述输入选择器的输出端用于与所述第一寄存器的输入端连接。
[0016]在一种可能的实施方式中，在所述输出测试电路为所述第一状态时，所述第一控制信号用于控制所述输入选择器的第二输入端选通；
[0017]在所述输出测试电路为所述第三状态时，所述第一控制信号用于控制所述输入选
择器的第一输入端选通。
[0018]在一种可能的实施方式中，所述输出测试电路还包括第二寄存器，所述第二寄存器的输入端与所述第一寄存器的输出端连接，所述第二寄存器的输出端与所述模式选择器的输入端连接，其中，
[0019]所述第二寄存器用于，在所述测试电路为所述第二状态时，从所述第一寄存器接收所述测试信号，并通过所述模式选择器向所述待测试引脚发送所述测试信号。
[0020]在一种可能的实施方式中，所述模式选择器包括两个输入端、信号控制端和输出端，其中，
[0021]所述模式选择器的第一输入端用于与所述输出测试电路所在的芯片上的核心处理单元连接；
[0022]所述模式选择器的第二输入端与所述第二寄存器的输出端连接；
[0023]所述模式选择器的信号控制端用于接收第二控制信号，所述第二控制信号用于控制所述第二模式选择器的第一输入端选通或者所述第二模式选择器的第二输入端选通；
[0024]所述模式选择器的输出端用于与所述待测试引脚连接。
[0025]在一种可能的实施方式中，在所述输出测试电路所在的芯片为功能模式时，所述第二控制信号用于控制所述模式选择器的第一输入端选通；
[0026]在所述输出测试电路所在的芯片为测试模式时，所述第二控制信号用于控制所述模式选择器的第二输入端选通。
[0027]在一种可能的实施方式中，所述输出测试电路还包括开关单元，其中，所述开关单元与所述输入选择器的第一输入端连接，所述开关单元还用于与所述待测试引脚连接。
[0028]在一种可能的实施方式中，所述开关单元包括两个输入端、信号控制端和输出端，其中，
[0029]所述开关单元的第一输入端用于与所述输出测试电路所在的芯片上的核心处理单元连接；
[0030]所述开关单元的第二输入端用于与所述待测试引脚连接；
[0031]所述开关单元的信号控制端用于接收测试控制信号，所述测试控制信号用于控制所述开关单元的第一输入端选通或者所述开关单元的第二输入端选通；
[0032]所述开关单元的输出端用于与所述输入选择器的第一输入端连接。
[0033]在一种可能的实施方式中，在所述输出测试电路为所述第三状态时，所述测试控制信号用于控制所述开关单元的第二输入端选通。
[0034]第二方面，本申请还提供了一种芯片，所述芯片中包括核心处理单元、多个第一引脚、多个第二引脚、每个第一引脚对应的测试电路和每个第二引脚对应的测试电路，所述第一引脚与所述核心处理单元的输入端连接，所述第二引脚与所述核心处理单元的输出端连接，其中，
[0035]所述第二引脚对应的测试电路为第一方面任一项所述的输出测试电路；
[0036]所述核心处理单元分别与每个第一引脚和每个第二引脚连接，每个第一引脚和第二引脚还与对应的测试电路连接；
[0037]所述多个第一引脚和所述多个第二引脚中相邻的引脚对应的测试电路之间连接。
[0038]在一种可能的实施方式中，所述芯片还包括测试处理单元，所述测试处理单元分
别与每个测试电路连接，所述测试处理单元用于根据每个测试电路输出的测试信号和采样信号，确定所述测试电路对应的引脚的测试结果。
[0039]在一种可能的实施方式中，所述第一引脚对应的测试电路包括：输入选择器、第一寄存器、模式选择器和反馈电路，所述第一寄存器分别与所述输入选择器、所述反馈电路和所述模式选择器连接，所述反馈电路、所述输入选择器和所述模式选择器还用于与第一引脚连接，其中，
[0040]所述输入选择器用于，在所述测试电路为第一状态时，接收测试信号并向所述第一寄存器输出所述测试信号；
[0041]所述第一寄存器用于，向测试处理单元输出所述测试信号，并在所述测试电路为第二状态时，通过所述反馈电路向所述第一引脚输出所述测试信号；
[0042]所述输入选择器还用于，在所述测试电路为第三状态时，接收所述第一引脚的采样信号，向所述第一寄存器输出所述采样信号；
[0043]所述第一寄存器还用于，向所述测试处理单元输出所述采样信号。
[0044]在一种可能的实施方式中，所述输入选择器包括两个信号输入端、信号控制端和输出端，其中，
[0045]所述输入选择器的第一输入端用于与所述第一引脚连接；
[0046]所述输入选择本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种输出测试电路，其特征在于，包括：输入选择器、第一寄存器和模式选择器，所述第一寄存器分别与所述输入选择器和所述模式选择器连接，所述输入选择器还用于与待测试引脚连接，其中，所述输入选择器用于，在所述输出测试电路为第一状态时，接收测试信号并向所述第一寄存器输出所述测试信号；所述第一寄存器用于，向测试处理单元输出所述测试信号，并在所述输出测试电路为第二状态时，通过模式选择器向所述待测试引脚输出所述测试信号；所述输入选择器还用于，在所述输出测试电路为第三状态时，接收所述待测试引脚的采样信号，向所述第一寄存器输出所述采样信号；所述第一寄存器还用于，向测试处理单元输出所述采样信号。2.根据权利要求1所述的输出测试电路，其特征在于，所述输入选择器包括两个信号输入端、信号控制端和输出端，其中，所述输入选择器的第一输入端用于与所述待测试引脚连接；所述输入选择器的第二输入端用于接收所述测试信号；所述输入选择器的信号控制端用于接收第一控制信号，所述第一控制信号用于控制所述输入选择器的第一输入端选通或者所述输入选择器的第二输入端选通；所述输入选择器的输出端用于与所述第一寄存器的输入端连接。3.根据权利要求2所述的输出测试电路，其特征在于，在所述输出测试电路为所述第一状态时，所述第一控制信号用于控制所述输入选择器的第二输入端选通；在所述输出测试电路为所述第三状态时，所述第一控制信号用于控制所述输入选择器的第一输入端选通。4.根据权利要求1
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3任一项所述的输出测试电路，其特征在于，所述输出测试电路还包括第二寄存器，所述第二寄存器的输入端与所述第一寄存器的输出端连接，所述第二寄存器的输出端与所述模式选择器的输入端连接，其中，所述第二寄存器用于，在所述测试电路为所述第二状态时，从所述第一寄存器接收所述测试信号，并通过所述模式选择器向所述待测试引脚发送所述测试信号。5.根据权利要求4所述的输出测试电路，其特征在于，所述模式选择器包括两个输入端、信号控制端和输出端，其中，所述模式选择器的第一输入端用于与所述输出测试电路所在的芯片上的核心处理单元连接；所述模式选择器的第二输入端与所述第二寄存器的输出端连接；所述模式选择器的信号控制端用于接收第二控制信号，所述第二控制信号用于控制所述第二模式选择器的第一输入端选通或者所述第二模式选择器的第二输入端选通；所述模式选择器的输出端用于与所述待测试引脚连接。6.根据权利要求5所述的输出测试电路，其特征在于，在所述输出测试电路所在的芯片为功能模式时，所述第二控制信号用于控制所述模式选择器的第一输入端选通；在所述输出测试电路所在的芯片为测试模式时，所述第二...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈健，
申请(专利权)人：展讯通信上海有限公司，
类型：发明
国别省市：