一种集成电路测试机的自诊断电路制造技术

本实用新型专利技术涉及测量电变量技术领域，具体地说是一种集成电路测试机的自诊断电路。包括集成电路测试机，集成电路测试机内设有数字通道模块、精密测量单元模块、供电模块、高压数字通道模块、多功能继电器模块，其特征在于：所述的集成电路测试机上设有若干ODD

【技术实现步骤摘要】
一种集成电路测试机的自诊断电路


[0001]本技术涉及测量电变量
，具体地说是一种集成电路测试机的自诊断电路。

技术介绍

[0002]集成电路测试机内设有数字通道模块、精密测量单元模块、供电模块、高压数字通道模块、多功能继电器模块，最多有1152 数字通道，72 个测量单元通道，72个供电通道、72个高压数字通道。由于测试资源较多，用外用设备手工量测已经为不现实，并且依赖于外部设备对集成电路测试机的测试资源进行检测，会增加测试成本。
[0003]目前集成电路测试机有几种自诊断方法，一是选取典型芯片，制作专用诊断电路测试板，基于该芯片完成测试。该方法的优点是能够模拟测试环境完成自诊断功能，缺点是为了完成芯片外围电路测试，制作完整的电路，制作成本高，同时受芯片功能限制，可能不能覆盖集成电路测试机的所有资源通道。二是采用外接测量仪器，通过专用电路板切换通道，并且将外接仪器的测量结果读回。该方法的优点是第三方仪器与测试机独立，能够准确定位诊断。缺点是，此类第三方测试仪器价格昂贵，而且不可能每个测试通道挂一个仪器，因此集成电路测试机的多通道只能串行测量，造成测量时间太长，动辄几个小时。

技术实现思路

[0004]本技术为克服现有技术的不足，设计一种集成电路测试机的自诊断电路及方法，利用ODD
‑
EVEN载具板与Utility Diag载具板，充分利用集成电路测试机自身资源，将被测量资源和测量资源成对捆绑进行自诊断，不依赖外部设备进行测试，降低了测试成本。
[0005]为实现上述目的，设计一种集成电路测试机的自诊断电路，包括集成电路测试机，集成电路测试机内设有数字通道模块、精密测量单元模块、供电模块、高压数字通道模块、多功能继电器模块，其特征在于：所述的集成电路测试机上设有若干ODD
‑
EVEN载具板、Utility Diag载具板，ODD
‑
EVEN载具板一端连接数字通道模块，ODD
‑
EVEN载具板另一端分别连接精密测量单元模块、供电模块、高压数字通道模块，Utility Diag载具板连接多功能继电器模块。
[0006]所述的ODD
‑
EVEN载具板的数量为9个，Utility Diag载具板的数量为1个。
[0007]所述的ODD
‑
EVEN载具板上设有四组相同的数字通道模块自诊断电路，数字通道模块的自诊断电路包括第一端口至第三十二端口，第一端口至第三十二端口的另一端依次两两连接。
[0008]所述的ODD
‑
EVEN载具板上设有两组相同的精密测量单元模块、供电模块、高压数字通道模块自诊断电路，精密测量单元模块、供电模块、高压数字通道模块自诊断电路包括DPS_F0端口至DPS_F3端口、DPS_S0端口至DPS_S3端口、DPS_R0端口至DPS_R3端口、DPS_RS0端口至DPS_RS3端口、PMU_F0端口至PMU_F3端口、PMU_S0端口至PMU_S3端口、PMU_R0端口至PMU_R3端口、PMU_RS0端口至PMU_RS3端口，HV0端口至HV3端口，第一近地电阻至第四近地电
阻，第一分压电阻至第四分压电阻，接地电阻；
[0009]第一近地电阻、第二近地电阻、第三近地电阻及第四近地电阻的一端合并接地；
[0010]第一近地电阻的另一端分别连接第一分压电阻的一端、DPS_F0端口、DPS_S0端口、PMU_F0端口及PMU_S0端口，第一分压电阻的另一端连接HV0端口；
[0011]第二近地电阻的另一端分别连接第二分压电阻的一端、DPS_F1端口、DPS_S1端口、PMU_F1端口及PMU_S1端口，第二分压电阻的另一端连接HV1端口；
[0012]第三近地电阻的另一端分别连接第三分压电阻的一端、DPS_F2端口、DPS_S2端口、PMU_F2端口及PMU_S2端口，第三分压电阻的另一端连接HV2端口；
[0013]第四近地电阻的另一端分别连接第四分压电阻的一端、DPS_F3端口、DPS_S3端口、PMU_F3端口及PMU_S3端口，第四分压电阻的另一端连接HV3端口；
[0014]DPS_R0端口、DPS_RS0端口、DPS_R1端口、DPS_RS1端口、DPS_R2端口、DPS_RS2端口、DPS_R3端口、DPS_RS3端口、PMU_R0端口、PMU_RS0端口、PMU_R1端口、PMU_RS1端口、PMU_R2端口、PMU_RS2端口、PMU_R3端口、PMU_RS3端口合并连接接地电阻的一端，接地电阻的另一端接地。
[0015]所述的Utility Diag载具板上设有七组相同的多功能继电器模块自诊断电路，多功能继电器模块的自诊断电路包括第一电阻至第四十电阻、第一发光二极管至第四十发光二极管，第一电阻至第四十电阻的一端均连接5V电压，第一电阻至第四十电阻的另一端分别连接第一发光二极管至第四十发光二极管的一端，第一发光二极管至第四十发光二极管的另一端分别连接集成电路测试机的多功能继电器模块。
[0016]本技术同现有技术相比，具有以下有益效果：
[0017]1.充分利用了集成电路测试机本身的资源，无需使用额外的测试设备，大大节省了设备成本。
[0018]2.采用互联互测方案，由于各个电路相对独立运行，对相同的测试项，可以并发性测试，奇数和偶数通道各测一次即可，整个自诊断测试可以在半小时以内完成诊断，节省了时间成本。
附图说明
[0019]图1为集成电路测试机内ODD
‑
EVEN载具板、Utility Diag载具板的分布示意图。
[0020]图2为本专利技术集成电路测试机内ODD
‑
EVEN载具板的连接示意图。
[0021]图3为本专利技术集成电路测试机内Utility Diag载具板的连接示意图。
[0022]图4为本专利技术ODD
‑
EVEN载具板上的电路示意图。
[0023]图5为本专利技术数字通道模块的自诊断电路图。
[0024]图6为本专利技术精密测量单元模块、供电模块、高压数字通道模块的自诊断电路图。
[0025]图7为本专利技术Utility Diag载具板上的电路示意图。
[0026]图8为本专利技术多功能继电器模块的自诊断电路图。
具体实施方式
[0027]下面根据附图对本技术做进一步的说明。
[0028]实施例一：
[0029]本实施例是一种集成电路测试机的自诊断电路，集成电路测试机UT上设有若干ODD
‑
EVEN载具板OE、Utility Diag载具板U，ODD
‑
EVEN载具板OE一端连接数字通道模块PE，ODD
‑
EVEN载具板OE另一端分别连接精密测量单元模块PMU、供电模块DPS、高压数字通道模块HV，Utility Diag载具板U本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种集成电路测试机的自诊断电路，包括集成电路测试机，集成电路测试机内设有数字通道模块、精密测量单元模块、供电模块、高压数字通道模块、多功能继电器模块，其特征在于：所述的集成电路测试机（UT）上设有若干ODD
‑
EVEN载具板（OE）、Utility Diag载具板（U），ODD
‑
EVEN载具板（OE）一端连接数字通道模块（PE），ODD
‑
EVEN载具板（OE）另一端分别连接精密测量单元模块（PMU）、供电模块（DPS）、高压数字通道模块（HV），Utility Diag载具板（U）连接多功能继电器模块（UR）。2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试机的自诊断电路，其特征在于：所述的ODD
‑
EVEN载具板（OE）的数量为9个，Utility Diag载具板（U）的数量为1个。3.根据权利要求1所述的一种集成电路测试机的自诊断电路，其特征在于：所述的ODD
‑
EVEN载具板（OE）上设有四组相同的数字通道模块自诊断电路（OEC），数字通道模块自诊断电路（OEC）包括第一端口（P0）至第三十二端口（P31），第一端口（P0）至第三十二端口（P31）依次两两连接。4.根据权利要求1所述的一种集成电路测试机的自诊断电路，其特征在于：所述的ODD
‑
EVEN载具板（OE）上设有两组相同的精密测量单元模块、供电模块、高压数字通道模块自诊断电路（DCM），精密测量单元模块、供电模块、高压数字通道模块自诊断电路（DCM）包括DPS_F0端口至DPS_F3端口、DPS_S0端口至DPS_S3端口、DPS_R0端口至DPS_R3端口、DPS_RS0端口至DPS_RS3端口、PMU_F0端口至PMU_F3端口、PMU_S0端口至PMU_S3端口、PMU_R0端口至PMU_R3端口、PMU_RS0端口至PMU_RS3端口，HV0端口至HV3端口，第一近地电阻（RD1）至第四近地电阻（RD4），第一分压电阻（RF1）至第四分压电阻（RF4），接地电阻（R0）；第一...

【专利技术属性】
技术研发人员：魏津，张经祥，吴艳平，
申请(专利权)人：胜达克半导体科技上海有限公司，
类型：新型
国别省市：