探针装置及一体成型式探针制造方法及图纸

技术编号:31078689 阅读:35 留言:0更新日期:2021-12-01 11:34
本发明专利技术公开一种探针装置及一体成型式探针。探针装置包含第一导板、第二导板及多个一体成型式探针。第一导板具有多个第一穿孔。第二导板具有多个第二穿孔。各个一体成型式探针具有两个凸出结构,各一体成型式探针的本体及两个凸出结构能通过第二穿孔而插设于第一导板与第二导板之间,且各个一体成型式探针的两个凸出结构能抵靠于第二导板面对第一导板的一侧面,而两个凸出结构能限制一体成型式探针相对于第二导板的活动范围。相对于第二导板的活动范围。相对于第二导板的活动范围。

【技术实现步骤摘要】
探针装置及一体成型式探针


[0001]本专利技术涉及一种探针装置及一体成型式探针,尤其涉及一种具有一体成型式探针的探针装置及垂直式探针。

技术介绍

[0002]请参阅图1,其显示为现有的探针装置的剖面示意图。现有的探针装置P包含一底座P1、多个一体成型式探针P2及一顶盖P3。底座P1包含多个限位穿孔P11,顶盖P3具有多个顶盖穿孔P31。探针装置P的安装方式为:先进行植针作业,以将多个一体成型式探针P2的一端对应设置于底座P1的多个限位穿孔P11中;接着,将顶盖P3的多个穿孔P11对应穿过多个一体成型式探针P2,而使顶盖P3能与底座P1相互固定,并据以通过底座P1及顶盖P3而限制多个一体成型式探针P2的活动范围。
[0003]依上所述,在实际应用中,在一体成型式探针P2的数量较多,或一体成型式探针P2尺寸较小的实施例中,容易发生顶盖P3的多个穿孔P11无法顺利地穿过多个一体成型式探针P2,进而发生顶盖P3无法与底座P1相互固定的问题。

技术实现思路

[0004]本专利技术公开一种探针装置及一体成型式探针,主要用以改善公知的探针装置在组装过程中,容易发生顶盖难以与设置有多个弹簧探针的底座相互固定的问题。
[0005]本专利技术的其中一个实施例公开一种探针装置,其包含:至少一第一导板,其具有多个第一穿孔;至少一第二导板,其与第一导板间隔地设置,至少一第二导板具有多个第二穿孔,各个第二穿孔贯穿第二导板,多个第二穿孔彼此间隔且不相互连通地形成于第二导板;多个一体成型式探针,各个一体成型式探针包含一本体及两个凸出结构,本体彼此相反的两端分别定义为一接触端及一固定端,本体于接触端及固定端之间形成有一弹性结构;两个凸出结构形成于本体的两侧;多个一体成型式探针设置于第一导板及第二导板之间,且各个一体成型式探针的两个凸出结构抵靠于第二导板面对第一导板的一侧面,而两个凸出结构未容置于相邻的两个第二穿孔中,各个本体的一端穿出各个第一穿孔,而露出于第一导板相反于第二导板的一侧;其中,接触端受压时,弹性结构将弹性变形,而接触端不再受压时,弹性结构将恢复至未变形的状态;其中,各个一体成型式探针的本体、两个凸出结构及弹性结构能穿过各个第二穿孔。
[0006]优选地,第二导板的一侧面形成有多组限位结构,各组限位结构包含两个凹槽,各个凹槽未贯穿第二导板,各个第二穿孔与各组限位结构的两个凹槽相互连通,而各个一体成型式探针的两个凸出结构对应设置于各组限位结构的两个凹槽中。
[0007]优选地,探针装置还包含一辅助导板,辅助导板设置于第二导板面对第一导板的一侧,辅助导板具有多个辅助穿孔群;各个辅助穿孔群包含一辅助穿孔及两个卡合槽,各个辅助穿孔贯穿辅助导板,各个卡合槽由辅助导板的一侧内凹形成,且各个卡合槽面对第一导板设置,各个辅助穿孔群的辅助穿孔与两个卡合槽相互连通;各个第二穿孔能与各组辅
助穿孔群的辅助穿孔相互连通;各个一体成型式探针的两个凸出结构卡合设置于各组辅助穿孔群的两个卡合槽;其中,各个一体成型式探针的本体、弹性结构及两个凸出结构能穿过一个第二穿孔及一组辅助穿孔群的辅助穿孔。
[0008]优选地,各个卡合槽贯穿辅助导板。
[0009]优选地,探针装置还包含一辅助导板,辅助导板设置于第二导板面对第一导板的一侧,辅助导板具有多个辅助穿孔群;各个辅助穿孔群包含一辅助穿孔及两个卡合槽,各个辅助穿孔贯穿辅助导板,各个卡合槽由辅助导板的一侧内凹形成,且各个卡合槽面对第二导板设置,各个辅助穿孔群的辅助穿孔与两个卡合槽能相互连通;各个第二穿孔与各组辅助穿孔群的辅助穿孔相互连通;各个一体成型式探针的两个凸出结构卡合设置于各组辅助穿孔群的两个卡合槽,且各个一体成型式探针的两个凸出结构对应位于辅助导板及第二导板之间;其中,各个一体成型式探针的本体、弹性结构及两个凸出结构能穿过一个第二穿孔及一组辅助穿孔群的辅助穿孔。
[0010]优选地,探针装置还包含一间隔框体,其设置于第一导板及第二导板之间,第一导板、间隔框体及第二导板共同形成一容置空间,多个一体成型式探针具有弹性结构的部分位于容置空间中。
[0011]优选地,各个一体成型式探针的两个凸出结构的宽度及本体的宽度和,大于弹性结构的宽度;各个一体成型式探针的两个凸出结构的宽度及本体的宽度和,小于各个第二穿孔的轴向宽度;一体成型式探针的本体的至少一部分为矩形条状结构,第二导板还包含多个避让孔,多个避让孔与多个第二穿孔相互连通,各个避让孔的径向宽度大于各个第二穿孔的径向宽度,各个一体成型式探针的一部分穿设各个避让孔,而各个一体成型式探针能对应于各个避让孔中旋转。
[0012]优选地,各个一体成型式探针的弹性结构为栅栏状。
[0013]本专利技术的其中一个实施例公开一种一体成型式探针,其包含一本体、两个凸出结构及一弹性结构,本体为沿一轴向方向延伸形成的长条状结构,本体、凸出结构及弹性结构一体成型地设置,两个凸出结构由本体彼此相反的两侧向外延伸形成;其中,本体的一端受压时,弹性结构将弹性变形,而本体的一端不再受压时,弹性结构将回复至未受压时的状态。
[0014]优选地,两个凸出结构的宽度及本体的宽度和,大于弹性结构的宽度。
[0015]综上所述,本专利技术的探针装置及一体成型式探针,通过于一体成型式探针设置两个凸出结构,于第二导板设置多个第二穿孔等设计,让探针装置可以方便地进行组装。
[0016]为能更进一步了解本专利技术的特征及
技术实现思路
,请参阅以下有关本专利技术的详细说明与附图,但是此等说明与附图仅用来说明本专利技术,而非对本专利技术的保护范围作任何的限制。
附图说明
[0017]图1为公知的探针装置的剖面示意图。
[0018]图2为本专利技术的探针装置的第一实施例的立体示意图。
[0019]图3为本专利技术的探针装置的第一实施例的分解示意图。
[0020]图4为本专利技术的探针装置的第一实施例的局部剖面示意图。
[0021]图5为本专利技术的一体成型式探针的其中一实施例的侧面示意图。
[0022]图6为本专利技术的探针装置的第一实施例的局部组装过程示意图。
[0023]图7为本专利技术的探针装置的第一实施例的局部组装过程示意图。
[0024]图8为本专利技术的探针装置的第二实施例的局部分解示意图。
[0025]图9为本专利技术的探针装置的第二实施例的局部剖面示意图。
[0026]图10为本专利技术的探针装置的第三实施例的局部分解示意图。
[0027]图11为本专利技术的探针装置的第三实施例的局部组装过程示意图。
[0028]图12为本专利技术的探针装置的第三实施例的局部剖面示意图。
[0029]图13为本专利技术的探针装置的第四实施例的局部剖面示意图。
具体实施方式
[0030]于以下说明中,如有指出请参阅特定附图或是如特定附图所示,其仅是用以强调于后续说明中,所述及的相关内容大部分出现于该特定附图中,但不限制该后续说明中仅可参考所述特定附图。
[0031]请一并参阅图2至图4,图本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种探针装置,其特征在于,所述探针装置包含:至少一第一导板,其具有多个第一穿孔;至少一第二导板,其与所述第一导板间隔地设置,至少一所述第二导板具有多个第二穿孔,各个所述第二穿孔贯穿所述第二导板,多个所述第二穿孔彼此间隔且不相互连通地形成于所述第二导板;多个一体成型式探针,各个所述一体成型式探针包含一本体及两个凸出结构,所述本体彼此相反的两端分别定义为一接触端及一固定端,所述本体于所述接触端及所述固定端之间形成有一弹性结构;两个所述凸出结构形成于所述本体的两侧;多个所述一体成型式探针设置于所述第一导板及所述第二导板之间,且各个所述一体成型式探针的两个所述凸出结构抵靠于所述第二导板面对所述第一导板的一侧面,而两个所述凸出结构未容置于相邻的两个所述第二穿孔中,各个所述本体的一端穿出各个所述第一穿孔,而露出于所述第一导板相反于所述第二导板的一侧;其中,所述接触端受压时,所述弹性结构将弹性变形,而所述接触端不再受压时,所述弹性结构将恢复至未变形的状态;其中,各个所述一体成型式探针的所述本体、两个所述凸出结构及所述弹性结构能穿过各个所述第二穿孔。2.依据权利要求1所述的探针装置,其特征在于,所述第二导板的一侧面形成有多组限位结构,各组所述限位结构包含两个凹槽,各个所述凹槽未贯穿所述第二导板,各个所述第二穿孔与各组所述限位结构的两个所述凹槽相互连通,而各个所述一体成型式探针的两个所述凸出结构对应设置于各组所述限位结构的两个所述凹槽中。3.依据权利要求1所述的探针装置,其特征在于,所述探针装置还包含一辅助导板,所述辅助导板设置于所述第二导板面对所述第一导板的一侧,所述辅助导板具有多个辅助穿孔群;各个所述辅助穿孔群包含一辅助穿孔及两个卡合槽,各个所述辅助穿孔贯穿所述辅助导板,各个所述卡合槽由所述辅助导板的一侧内凹形成,且各个所述卡合槽面对所述第一导板设置,各个所述辅助穿孔群的所述辅助穿孔与两个所述卡合槽相互连通;各个所述第二穿孔能与各组所述辅助穿孔群的所述辅助穿孔相互连通;各个所述一体成型式探针的两个所述凸出结构卡合设置于各组所述辅助穿孔群的两个所述卡合槽;其中,各个所述一体成型式探针的所述本体、所述弹性结构及两个所述凸出结构能穿过一个所述第二穿孔及一组所述辅助穿孔群的所述辅助穿孔。4.依据权利要求3所述的探针装置,其特征在于,各个所述卡合槽贯穿所述辅助导板。5.依据权利要求1所述的探针装置,其特征在于,所述探针装置还...

【专利技术属性】
技术研发人员:李文聪魏逊泰谢开杰李晓刚
申请(专利权)人:中华精测科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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