上料台、上料组件和外观检测设备制造技术

本发明专利技术公开了一种上料台、上料组件和外观检测设备，上料台用于检测设备，上料台包括沿第一方向间隔设置的多个支撑筋，每个支撑筋沿第二方向延伸，在第一方向上，支撑筋的宽度为x，相邻两个支撑筋之间的间距为y，0.38≤x/y≤48，以使至少两个支撑筋共同承载待检测件，第一方向和第二方向垂直。根据本发明专利技术的上料台，可以适用于较广尺寸范围的待检测件，具有良好的适用性。的适用性。的适用性。

【技术实现步骤摘要】
上料台、上料组件和外观检测设备


[0001]本专利技术涉及外观检测
，尤其是涉及一种上料台、上料组件和外观检测设备。

技术介绍

[0002]在产品的生产过程中，通常伴随着缺陷的产生，为此，一般采用检测设备对产品进行缺陷检测。相关技术中，检测设备可以对待检测件进行外观检测，以识别缺陷，例如PCB(印制电路板)外观检测设备可以独立用于对PCB组件生产过程中遇到的缺陷进行检测；然而，检测设备的上料组件适用性欠佳，难以适用于不同尺寸的待检测件。

技术实现思路

[0003]本专利技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本专利技术提出一种上料台，所述上料台可以适用于较广尺寸范围的待检测件，具有良好的适用性。
[0004]本专利技术还提出一种具有上述上料台的上料组件。
[0005]本专利技术还提出一种具有上述上料组件的外观检测设备。
[0006]根据本专利技术第一方面实施例的上料台，所述上料台用于检测设备，所述上料台包括沿第一方向间隔设置的多个支撑筋，每个支撑筋沿第二方向延伸，在所述第一方向上，所述支撑筋的宽度为x，相邻两个所述支撑筋之间的间距为y，0.38≤x/y≤48，以使至少两个所述支撑筋共同承载待检测件，所述第一方向和所述第二方向垂直。
[0007]根据本专利技术实施例的上料台，通过设置在第一方向上，支撑筋的宽度x与相邻两个支撑筋之间的间距y之间的比值满足0.38≤x/y≤48，以使至少两个所述支撑筋共同承载待检测件，保证了上料台稳定承载待检测件，同时上料台可以适用于较广宽度范围的待检测件，具有良好的适用性。
[0008]在一些实施例中，所述x、y进一步满足：0.38≤x/y＜1。
[0009]在一些实施例中，每个所述支撑筋包括本体和支撑件，所述支撑件设在所述本体的顶部且用于承载所述待检测件，所述支撑件为非金属件。
[0010]根据本专利技术第二方面实施例的上料组件，所述上料组件用于检测设备，所述检测设备还包括传送组件，所述传送组件用于将待检测件沿第二方向传送，所述上料组件包括：机架；第一上料台和第二上料台，所述第一上料台和所述第二上料台中的至少一个为根据本专利技术上述第一方面实施例的上料台，所述第一上料台和所述第二上料台分别可运动地设于所述机架，所述第一上料台用于将所述待检测件朝向所述传送组件传送，所述第二上料台可相对所述第一上料台运动至预定位置，以将所述第二上料台上的所述待检测件传送至所述第一上料台。
[0011]根据本专利技术实施例的上料组件，通过采用上述的上料台，提升了上料组件的适用性。
[0012]在一些实施例中，所述第一上料台可沿第三方向移动，所述第二上料台可沿所述
第二方向移动，所述第一上料台和所述第二上料台适于设于所述传送组件在所述第一方向的同侧，所述第三方向与所述第一方向和所述第二方向分别垂直。
[0013]在一些实施例中，在所述预定位置，所述第二上料台和所述第一上料台插配设置。
[0014]在一些实施例中，所述第一上料台包括间隔设置的多个第一支撑筋，所述第二上料台包括间隔设置的多个第二支撑筋，在所述预定位置，多个所述第一支撑筋和多个所述第二支撑筋沿所述第一方向交错设置。
[0015]在一些实施例中，在所述第一方向上，所述第一支撑筋的宽度与所述第二支撑筋的宽度均为x，在所述预定位置，相邻所述第一支撑筋和所述第二支撑筋之间在所述第一方向的间距为z，0.38≤z/x≤1.125。
[0016]在一些实施例中，所述第三方向为上下方向，在所述预定位置，所述第二上料台的上表面位于所述第一上料台的上表面的上方。
[0017]根据本专利技术第三方面实施例的外观检测设备，包括：传送组件，所述传送组件用于将待检测件沿第二方向传送；上料组件，所述上料组件为根据本专利技术上述第二方面实施例的上料组件；夹持组件，所述夹持组件用于将所述第一上料台上的所述待检测件运送至所述传送组件。
[0018]根据本专利技术实施例的外观检测设备，通过采用上述的上料组件，便于实现连续上料、保证上料效率，具有良好的适用性。
[0019]本专利技术的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本专利技术的实践了解到。
附图说明
[0020]本专利技术的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：
[0021]图1是根据本专利技术一个实施例上料台的示意图；
[0022]图2是根据本专利技术一个实施例的上料组件与传送组件、夹持组件、下料组件的装配示意图；
[0023]图3是图2中所示的上料组件与传送组件、夹持组件、下料组件的另一个示意图；
[0024]图4是图2中所示的上料组件的示意图；
[0025]图5是图4中所示的上料组件的另一个示意图；
[0026]图6是图4中所示的上料组件的再一个示意图；
[0027]图7是图4中所示的上料组件的又一个示意图；
[0028]图8是图6中所示的上料组件的侧视图；
[0029]图9是图7中所示的上料组件的侧视图；
[0030]图10是图9中圈示的A部的放大图；
[0031]图11是根据本专利技术一个实施例的外观检测设备的示意图；
[0032]图12是图11中所示的外观检测设备的另一个示意图。
[0033]附图标记：
[0034]上料台200、支撑筋101、本体101a、支撑件101b、
[0035]外观检测设备100、传送组件20、夹持组件30、下料组件40、箱体50、
[0036]上料组件10、
[0037]机架1、
[0038]第一上料台2、第一支撑筋21、
[0039]第二上料台3、第二支撑筋31、
[0040]检测装置4、滑移组件5、导轨51、滑块52、
[0041]连接座6、导向件7、
[0042]第一驱动装置8、驱动电机81、滚珠丝杠机构82、缓冲件9。
具体实施方式
[0043]下面详细描述本专利技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本专利技术，而不能理解为对本专利技术的限制。
[0044]下文的公开提供了许多不同的实施例或例子用来实现本专利技术的不同结构。为了简化本专利技术的公开，下文中对特定例子的部件和设置进行描述。当然，它们仅仅为示例，并且目的不在于限制本专利技术。此外，本专利技术可以在不同例子中重复参考数字和/或字母。这种重复是为了简化和清楚的目的，其本身不指示所讨论各种实施例和/或设置之间的关系。此外，本专利技术提供了的各种特定的工艺和材料的例子，但是本领域普通技术人员可以意识到其他工艺的可应用于性和/或其他材料的使用。
[0045]下面，参考附图，描述根据本专利技术实施例的上料台200。其中，上料台200用于检测设备，检测设备可以用于对待检测件进行本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种上料台(200)，其特征在于，所述上料台(200)用于检测设备，所述上料台(200)包括沿第一方向间隔设置的多个支撑筋(101)，每个支撑筋(101)沿第二方向延伸，在所述第一方向上，所述支撑筋(101)的宽度为x，相邻两个所述支撑筋(101)之间的间距为y，0.38≤x/y≤48，以使至少两个所述支撑筋(101)共同承载待检测件，所述第一方向和所述第二方向垂直。2.根据权利要求1所述的上料台(200)，其特征在于，所述x、y进一步满足：0.38≤x/y＜1。3.根据权利要求1或2所述的上料台(200)，其特征在于，每个所述支撑筋(101)包括本体(101a)和支撑件(101b)，所述支撑件(101b)设在所述本体(101a)的顶部且用于承载所述待检测件，所述支撑件(101b)为非金属件。4.一种上料组件(10)，其特征在于，所述上料组件(10)用于检测设备，所述检测设备还包括传送组件(20)，所述传送组件(20)用于将待检测件沿第二方向传送，所述上料组件(10)包括：机架(1)；第一上料台(2)和第二上料台(3)，所述第一上料台(2)和所述第二上料台(3)中的至少一个为根据权利要求1
‑
3中任一项所述的上料台(200)，所述第一上料台(2)和所述第二上料台(3)分别可运动地设于所述机架(1)，所述第一上料台(2)用于将所述待检测件朝向所述传送组件(20)传送，所述第二上料台(3)可相对所述第一上料台(2)运动至预定位置，以将所述第二上料台(3)上的所述待检测件传送至所述第一上料台(2)。5.根据权利要求4所述的上料组件(10)，其特征在于，所述第一上料台(2)可沿...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵凌云，薛建，孙方旭，
申请(专利权)人：合肥九川智能装备有限公司，
类型：发明
国别省市：