一种校正系统技术方案

本发明专利技术实施例公开了一种校正系统。所述校正系统，包括相对位置传感器、控制器、支撑结构以及连接结构，其中：相对位置传感器与控制器通信连接，用于在校准对象对相对位置传感器执行校准动作时生成待校准信号；控制器与连接结构连接，用于根据待校准信号确定校准对象与校正系统的相对位置数据，并根据相对位置数据生成支撑结构的调节信号；支撑结构与连接结构连接，用于根据调节信号调节支撑结构的高度；连接结构用于连接支撑结构，并支撑相对位置传感器。本发明专利技术实施例的技术方案能够提高校正效果，满足校正需求，提升用户满意度。提升用户满意度。提升用户满意度。

【技术实现步骤摘要】
一种校正系统


[0001]本专利技术实施例涉及自动化应用
，尤其涉及一种校正系统。

技术介绍

[0002]随着自动化水平的提高，各行各业的生产效率大大提高。由于自动化设备的固定及操作驱动，主要通过简单的机械结构进行人工预安装。当自动化设备频繁工作时，容易产生角度倾斜，而自动化设备角度倾斜又会导致产品质量不过关等一系列问题。为了保证自动化生产的质量对自动化设备进行校正是必不可少的关键环节。
[0003]但是，通过现有校正系统对自动化设备校正时，不能准确识别自动化设备的异常作业状态，导致现有的校正系统无法满足对自动化设备的校正需求，使得现有校正系统的用户体验较差。

技术实现思路

[0004]本专利技术实施例提供一种校正系统，能够提高校正效果，满足校正需求，提升用户满意度。
[0005]第一方面，本专利技术实施例提供了一种校正系统，包括相对位置传感器、控制器、支撑结构以及连接结构，其中：相对位置传感器与控制器通信连接，用于在校准对象对相对位置传感器执行校准动作时生成待校准信号；控制器与连接结构连接，用于根据待校准信号确定校准对象与校正系统的相对位置数据，并根据相对位置数据生成支撑结构的调节信号；支撑结构与连接结构连接，用于根据调节信号调节支撑结构的高度；连接结构用于连接支撑结构，并支撑相对位置传感器。
[0006]第二方面，本专利技术实施例还提供了一种校正方法，包括：根据待校准信号确定校准对象与校正系统的相对位置数据；根据相对位置数据生成支撑结构的调节信号，以使支撑结构根据调节信号调节支撑结构的高度。
[0007]第三方面，本专利技术实施例还提供了一种校正装置，包括：相对位置数据确定模块，用于根据待校准信号确定校准对象与校正系统的相对位置数据；调节信号生成模块，用于根据相对位置数据生成支撑结构的调节信号，以使支撑结构根据调节信号调节支撑结构的高度。
[0008]第四方面，本专利技术实施例还提供了一种电子设备，电子设备包括：一个或多个处理器；存储装置，用于存储一个或多个程序；当一个或多个程序被一个或多个处理器执行，使得一个或多个处理器实现本专利技术
任意实施例所提供的校正方法。
[0009]第五方面，本专利技术实施例还提供了一种计算机存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现本专利技术任意实施例所提供的校正方法。
[0010]本实施例的技术方案，通过相对位置传感器、控制器、支撑结构以及连接结构构成校正系统，校正系统中的控制器根据在校准对象对相对位置传感器执行校准动作时由相对位置传感器生成的待校准信号，确定校准对象与校正系统的相对位置数据，并根据相对位置数据生成支撑结构的调节信号，以使支撑结构根据调节信号调节支撑结构的高度。由于校准对象与校正系统的相对位置数据能够表征校准对象与校正系统的相对位置，因此控制器根据相对位置数据生成的调节信号，能够通过调整支撑结构的高度精准控制校正系统与校准对象的相对位置，以使校正系统与校准对象之间的相对位置处于所需要位置，也即保证校准对象正常工作，解决了现有校正系统无法满足校正需求，以及用户体验较差的问题，能够提高校正效果，满足校正需求，提升用户满意度。
附图说明
[0011]图1是本专利技术实施例一提供的一种校正系统的示意图；图2是本专利技术实施例一提供的另一种校正系统的示意图；图3是本专利技术实施例二提供的一种相对位置传感器的结构示意图；图4是本专利技术实施例三提供的一种相对位置传感器的部分连线示意图；图5是本专利技术实施例三提供的一种传感器上极板的示意图；图6是本专利技术实施例三提供的一种传感器下极板的示意图；图7是本专利技术实施例三提供的一种传感器上极板与待检测区域的相对位置的示意图；图8是本专利技术实施例三提供的一种印章正常工作时传感器上极板与待检测区域的相对位置的示意图；图9是本专利技术实施例三提供的一种印章非正常工作时传感器上极板与待检测区域的相对位置的示意图；图10是本专利技术实施例三提供的另一种印章非正常工作时传感器上极板与待检测区域的相对位置的示意图；图11是本专利技术实施例四提供的一种校正方法的流程图；图12是本专利技术实施例五提供的一种校正装置的示意图；图13为本专利技术实施例六提供的一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
[0012]下面结合附图和实施例对本专利技术作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本专利技术，而非对本专利技术的限定。
[0013]另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本专利技术相关的部分而非全部内容。在更加详细地讨论示例性实施例之前应当提到的是，一些示例性实施例被描述成作为流程图描绘的处理或方法。虽然流程图将各项操作（或步骤）描述成顺序的处理，但是其中的许多操作可以被并行地、并发地或者同时实施。此外，各项操作的顺序可以被重新
安排。当其操作完成时所述处理可以被终止，但是还可以具有未包括在附图中的附加步骤。所述处理可以对应于方法、函数、规程、子例程、子程序等等。
[0014]实施例一图1是本专利技术实施例一提供的一种校正系统的示意图，该校正系统可以包括相对位置传感器100、控制器110、支撑结构120以及连接结构130，其中：相对位置传感器100与控制器110通信连接，用于在校准对象对相对位置传感器100执行校准动作时生成待校准信号；控制器110与连接结构130连接，用于根据待校准信号确定校准对象与校正系统的相对位置数据，并根据相对位置数据生成支撑结构120的调节信号；支撑结构120与连接结构130连接，用于根据调节信号调节支撑结构120的高度；连接结构130用于连接支撑结构120，并支撑相对位置传感器100。
[0015]其中，相对位置传感器100可以是一种检测装置，能将采集的信息按一定规律变换成所需形式输出。控制器110可以是能够协调和指挥校正系统的装置、设备或模块等。校准对象可以是出现非正常工作状态的对象，在无法正常工作时，通过与校正系统协作完成正常工作。例如，校正对象可以包括但不限于印控仪以及锻压设备等。校准动作可以是校准对象在非正常工作状态下，与相对位置传感器100接触的动作。待校准信号可以是由校准动作引起的，通过相对位置传感器100采集并按照所需形式输出的信号。相对位置数据可以用于表征校准对象与校正系统的相对位置。支撑结构120可以是能够提供支撑力的结构。例如，支撑结构120可以包括至少两个支撑柱。示例性的，支撑柱可以是充气的柱体，或者填充硬材料的柱体。调节信号可以是由控制器110发出的一种信号，用于调节支撑结构120高度。连接结构130可以是连接支撑结构120，并支撑相对位置传感器100的结构。
[0016]在本专利技术实施例中，校正系统中的相对位置传感器100与控制器110可以通过有线或无线形式通信。当校准对象对相对位置传感器100执行校正动作时，相对位置传感器100可以根据校准对象与相对位置传感器100之间的作用力生成待校准信号，进而将待校准信号传输至与连接结构130连接的控制器110。控制器110可以解析接收到的待校准信号，从而根据待校准信号确定校准对象对相对位本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种校正系统，其特征在于，包括相对位置传感器、控制器、支撑结构以及连接结构，其中：所述相对位置传感器与所述控制器通信连接，用于在校准对象对所述相对位置传感器执行校准动作时生成待校准信号；所述控制器与所述连接结构连接，用于根据所述待校准信号确定所述校准对象与所述校正系统的相对位置数据，并根据所述相对位置数据生成所述支撑结构的调节信号；所述支撑结构与所述连接结构连接，用于根据所述调节信号调节所述支撑结构的高度；所述连接结构用于连接所述支撑结构，并支撑所述相对位置传感器。2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述相对位置传感器包括第一软材料填充层、硬材料填充层、第一传感器屏蔽层、传感器上极板、第二软材料填充层、传感器下极板以及第二传感器屏蔽层；其中，所述第一软材料填充层与所述硬材料填充层连接，用于包裹所述硬材料填充层上表面；所述硬材料填充层与所述第一传感器屏蔽层连接，用于支撑所述第一软材料填充层；所述第一传感器屏蔽层与所述传感器上极板连接，用于屏蔽所述传感器上极板的干扰信号；所述传感器上极板与所述第二软材料填充层，用于在所述校准对象对所述相对位置传感器执行校准动作时与所述传感器下极板形成电压差；所述第二软材料填充层与所述传感器下极板连接，用于填充所述传感器上极板与所述传感器下极板之间的空间；所述传感器下极板与所述第二传感器屏蔽层连接，用于在所述校准对象对所述相对位置传感器执行校准动作时根据所述电压差生成不同待检测区域的所述待校准信号；所述第二传感器屏蔽层用于屏蔽所述传感器下极板的干扰信号；其中，所述待检测区域由通过传感器下极板重心的至少两条直线和预设区域划分。3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述校正系统还包括执行伸缩部件、固定部件以及所述校准对象；其中，所述执行伸缩部件与所述固定部件连接，用于在所述校准对象对所述相对位置传感器执行校准动作时与所述固定部件联动；所述固定部件与所述校准对象连接，用于在所述校准对象对所述相对位置传感器执行校准动作时与所述校准对象联动，以使所述校准对象对所述相对位置传感器执行校准动作。4.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述待检测区域包括第一待检测区域、第二待检测区域、第三待检测区域以及第四待检测区域；所述控制器，具体用于：确定所述第一待检测区域、所述第二待检测区域、所述第三待检测区域以及所述第四待检测区域的待校准信号；根据所述第一待检测区域和所述第四待检测区域的待校准信号确定所述校准对象的倾斜状态；
根据所述第一待检测区域、所述第二待检测区域、所述第三待检测区域以及所述第四待检测区域的待校准信号确定所...

【专利技术属性】
技术研发人员：韩凯，
申请(专利权)人：北京惠朗时代科技有限公司，
类型：发明
国别省市：