一种基于生产环境数据的电子元件性能预测方法技术

本发明专利技术提供的一种基于生产环境数据的电子元件性能预测方法，涉及电子元件技术领域。在本发明专利技术中，基于获取的目标生产设备的多条生产设备状态数据，确定所述目标生产设备的目标设备状态信息，其中，每一条生产设备状态数据用于表征目标生产设备在生产目标电子元件的过程中的设备状态；在目标设备状态信息表征目标生产设备的设备状态满足预先配置的状态条件时，对多条生产设备状态数据进行解析得到多条生产设备状态数据对应的设备状态标准度信息；基于设备状态标准度信息对目标电子元件的元件性能进行预测处理，得到目标电子元件对应的性能预测结果；如此，可以改善现有技术中对元件性能进行确定时存在的效率较低的问题。元件性能进行确定时存在的效率较低的问题。元件性能进行确定时存在的效率较低的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种基于生产环境数据的电子元件性能预测方法


[0001]本专利技术涉及电子元件
，具体而言，涉及一种基于生产环境数据的电子元件性能预测方法。

技术介绍

[0002]电子元件(electronic component)，是电子电路中的基本元素，通常是个别封装，并具有两个或以上的引线或金属接点。电子元件须相互连接以构成一个具有特定功能的电子电路，例如:放大器、无线电接收机、振荡器等，连接电子元件常见的方式之一是焊接到印刷电路板上。电子元件也许是单独的封装(电阻器、电容器、电感器、晶体管、二极管等)，或是各种不同复杂度的群组，例如:集成电路(运算放大器、排阻、逻辑门等)。
[0003]其中，随着对应用的电子电路的精度需求的逐步提升，对电子电路包括的电子元件的性能需求也逐步提升。因而，需要有效保障生产的电子元件具有较佳的性能。其中，对于性能较佳的电子元件，也需要进一步分类，因而，需要确定出具体的性能差异。但是，在现有技术中，一般是基于专门的性能检测设备进行性能检测，如此，可能会导致效率较低的问题。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本专利技术的目的在于提供一种基于生产环境数据的电子元件性能预测方法，以改善现有技术中对元件性能进行确定时存在的效率较低的问题。
[0005]为实现上述目的，本专利技术实施例采用如下技术方案：
[0006]一种基于生产环境数据的电子元件性能预测方法，应用于数据处理服务器，所述电子元件性能预测方法包括：
[0007]基于获取的目标生产设备的多条生产设备状态数据，确定所述目标生产设备的目标设备状态信息，其中，所述目标生产设备用于生产目标电子元件，每一条所述生产设备状态数据用于表征所述目标生产设备在生产所述目标电子元件的过程中的设备状态；
[0008]在所述目标设备状态信息表征所述目标生产设备的设备状态满足预先配置的状态条件时，对所述多条生产设备状态数据进行解析得到所述多条生产设备状态数据对应的设备状态标准度信息；
[0009]基于所述设备状态标准度信息对所述目标电子元件的元件性能进行预测处理，得到所述目标电子元件对应的性能预测结果。
[0010]在一些优选的实施例中，在上述基于生产环境数据的电子元件性能预测方法中，所述在所述目标设备状态信息表征所述目标生产设备的设备状态满足预先配置的状态条件时，对所述多条生产设备状态数据进行解析得到所述多条生产设备状态数据对应的设备状态标准度信息的步骤，包括：
[0011]在所述目标设备状态信息表征所述目标生产设备的设备状态满足预先配置的状态条件时，计算所述多条生产设备状态数据的平均值，得到所述多条生产设备状态数据对
应的数据平均值；
[0012]基于所述数据平均值对所述多条生产设备状态数据进行离散度计算处理，得到所述多条生产设备状态数据对应的数据离散值，并基于所述数据离散值确定所述多条生产设备状态数据对应的设备状态标准度信息。
[0013]在一些优选的实施例中，在上述基于生产环境数据的电子元件性能预测方法中，所述基于所述数据平均值对所述多条生产设备状态数据进行离散度计算处理，得到所述多条生产设备状态数据对应的数据离散值，并基于所述数据离散值确定所述多条生产设备状态数据对应的设备状态标准度信息的步骤，包括：
[0014]基于所述数据平均值对所述多条生产设备状态数据进行离散度计算处理，得到所述多条生产设备状态数据对应的数据离散值；
[0015]基于预先配置的信息确定规则，确定出与所述数据离散值具有负相关关系的第一数据表征值，并将所述第一数据表征值确定为所述多条生产设备状态数据对应的设备状态标准度信息。
[0016]在一些优选的实施例中，在上述基于生产环境数据的电子元件性能预测方法中，所述在所述目标设备状态信息表征所述目标生产设备的设备状态满足预先配置的状态条件时，对所述多条生产设备状态数据进行解析得到所述多条生产设备状态数据对应的设备状态标准度信息的步骤，包括：
[0017]在所述目标设备状态信息表征所述目标生产设备的设备状态满足预先配置的状态条件时，对所述多条生产设备状态数据进行特征提取处理，得到所述多条生产设备状态数据对应的设备状态特征信息，并计算所述设备状态特征信息与预先配置的设备状态特征标准信息之间的匹配度；
[0018]基于所述设备状态特征信息与所述设备状态特征标准信息之间的匹配度，确定所述多条生产设备状态数据对应的设备状态标准度信息。
[0019]在一些优选的实施例中，在上述基于生产环境数据的电子元件性能预测方法中，所述在所述目标设备状态信息表征所述目标生产设备的设备状态满足预先配置的状态条件时，对所述多条生产设备状态数据进行特征提取处理，得到所述多条生产设备状态数据对应的设备状态特征信息，并计算所述设备状态特征信息与预先配置的设备状态特征标准信息之间的匹配度的步骤，包括：
[0020]在所述目标设备状态信息表征所述目标生产设备的设备状态满足预先配置的状态条件时，对所述多条生产设备状态数据进行曲线拟合处理，得到所述多条生产设备状态数据对应的状态变化趋势信息；
[0021]计算所述状态变化趋势信息与预先配置的状态变化趋势标准信息之间的匹配度，并将该匹配度作为所述设备状态特征信息与预先配置的设备状态特征标准信息之间的匹配度。
[0022]在一些优选的实施例中，在上述基于生产环境数据的电子元件性能预测方法中，所述在所述目标设备状态信息表征所述目标生产设备的设备状态满足预先配置的状态条件时，对所述多条生产设备状态数据进行解析得到所述多条生产设备状态数据对应的设备状态标准度信息的步骤，包括：
[0023]在所述目标设备状态信息表征所述目标生产设备的设备状态满足预先配置的状
态条件时，确定所述目标生产设备生产所述目标电子元件的全部过程中的每一个元件生产阶段，并针对每一个所述元件生产阶段，确定该元件生产阶段的生产目标，得到该元件生产阶段对应的生产目标信息，其中，不同的元件生产阶段具有不同的生产目标；
[0024]针对多个所述元件生产阶段中的每两个元件生产阶段，基于该两个元件生产阶段对应的生产目标信息，确定该两个元件生产阶段对于所述目标电子元件的生产是否存在关联关系；
[0025]基于每两个元件生产阶段对于所述目标电子元件的生产是否存在关联关系，确定生产所述目标电子元件的全部过程中的各元件生产阶段之间的关联度，得到对应的生产阶段关联度信息，并确定所述生产阶段关联度信息是否与预先配置的生产阶段关联度阈值信息之间的相对大小关系；
[0026]若所述生产阶段关联度信息大于或等于所述生产阶段关联度阈值信息，则基于预先配置的第一信息确定操作对所述多条生产设备状态数据进行处理，以确定出所述多条生产设备状态数据对应的设备状态标准度信息；
[0027]若所述生产阶段关联度信息小于所述生产阶段关联度阈值信息，则基于预先配置的第二信息确定操作对所述多条生产设备状态数据进行处理，以确定出所述多条生产设备状态数据对本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于生产环境数据的电子元件性能预测方法，其特征在于，应用于数据处理服务器，所述电子元件性能预测方法包括：基于获取的目标生产设备的多条生产设备状态数据，确定所述目标生产设备的目标设备状态信息，其中，所述目标生产设备用于生产目标电子元件，每一条所述生产设备状态数据用于表征所述目标生产设备在生产所述目标电子元件的过程中的设备状态；在所述目标设备状态信息表征所述目标生产设备的设备状态满足预先配置的状态条件时，对所述多条生产设备状态数据进行解析得到所述多条生产设备状态数据对应的设备状态标准度信息；基于所述设备状态标准度信息对所述目标电子元件的元件性能进行预测处理，得到所述目标电子元件对应的性能预测结果。2.如权利要求1所述的基于生产环境数据的电子元件性能预测方法，其特征在于，所述在所述目标设备状态信息表征所述目标生产设备的设备状态满足预先配置的状态条件时，对所述多条生产设备状态数据进行解析得到所述多条生产设备状态数据对应的设备状态标准度信息的步骤，包括：在所述目标设备状态信息表征所述目标生产设备的设备状态满足预先配置的状态条件时，计算所述多条生产设备状态数据的平均值，得到所述多条生产设备状态数据对应的数据平均值；基于所述数据平均值对所述多条生产设备状态数据进行离散度计算处理，得到所述多条生产设备状态数据对应的数据离散值，并基于所述数据离散值确定所述多条生产设备状态数据对应的设备状态标准度信息。3.如权利要求2所述的基于生产环境数据的电子元件性能预测方法，其特征在于，所述基于所述数据平均值对所述多条生产设备状态数据进行离散度计算处理，得到所述多条生产设备状态数据对应的数据离散值，并基于所述数据离散值确定所述多条生产设备状态数据对应的设备状态标准度信息的步骤，包括：基于所述数据平均值对所述多条生产设备状态数据进行离散度计算处理，得到所述多条生产设备状态数据对应的数据离散值；基于预先配置的信息确定规则，确定出与所述数据离散值具有负相关关系的第一数据表征值，并将所述第一数据表征值确定为所述多条生产设备状态数据对应的设备状态标准度信息。4.如权利要求1所述的基于生产环境数据的电子元件性能预测方法，其特征在于，所述在所述目标设备状态信息表征所述目标生产设备的设备状态满足预先配置的状态条件时，对所述多条生产设备状态数据进行解析得到所述多条生产设备状态数据对应的设备状态标准度信息的步骤，包括：在所述目标设备状态信息表征所述目标生产设备的设备状态满足预先配置的状态条件时，对所述多条生产设备状态数据进行特征提取处理，得到所述多条生产设备状态数据对应的设备状态特征信息，并计算所述设备状态特征信息与预先配置的设备状态特征标准信息之间的匹配度；基于所述设备状态特征信息与所述设备状态特征标准信息之间的匹配度，确定所述多条生产设备状态数据对应的设备状态标准度信息。
5.如权利要求4所述的基于生产环境数据的电子元件性能预测方法，其特征在于，所述在所述目标设备状态信息表征所述目标生产设备的设备状态满足预先配置的状态条件时，对所述多条生产设备状态数据进行特征提取处理，得到所述多条生产设备状态数据对应的设备状态特征信息，并计算所述设备状态特征信息与预先配置的设备状态特征标准信息之间的匹配度的步骤，包括：在所述目标设备状态信息表征所述目标生产设备的设备状态满足预先配置的状态条件时，对所述多条生产设备状态数据进行曲线拟合处理，得到所述多条生产设备状态数据对应的状态变化趋势信息；计算所述状态变化趋势信息与预先配置的状态变化趋势标准信息之间的匹配度，并将该匹配度作为所述设备状态特征信息与预先配置的设备状态特征标准信息之间的匹配度。6.如权利要求1所述的基于生产环境数据的电子元件性能预测方法，其特征在于，所述在所述目标设备状态信息表征所述目标生产设备的设备状态满足预先配置的状态条件时，对所述多条生产设备状态数据进行解析得到所述多条生产设备状态数据对应的设备状态标准度信息的步骤，包括：在所述目标设备状态信息表征所述目标生产设备的设备状态满足预先配置的状态条件时，确定所述目标生产设备生产所述目标电子元件的全部过程中的每一...

【专利技术属性】
技术研发人员：范建初，张涛，蒋天勇，
申请(专利权)人：范建初，
类型：发明
国别省市：