一种印材相对拉伸量的测量方法技术

技术编号:30968130 阅读:12 留言:0更新日期:2021-11-25 20:42
本申请公开了一种印材相对拉伸量的测量方法,所述相对拉伸量是指相对于正常印刷时设定张力下的承印材料,在印制过程中由于张力波动所产生的形变量,所述相对拉伸量既可为正也可为负,所述方法根据两色组图像采集时间间隔以及对应基准色组的纵向位置确定印材的相对拉伸量,根据所述相对拉伸量来校正套色参数,本申请提供的方法还适用于复卷,复合等需要控制张力的设备中。制张力的设备中。制张力的设备中。

【技术实现步骤摘要】
一种印材相对拉伸量的测量方法


[0001]本申请属于印刷领域,特别涉及一种印材相对拉伸量的测量方法。

技术介绍

[0002]多色组印刷设备用于印刷颜色复杂图案的制品,多色组印刷机印刷颜色复杂图案一般通过不同色组套叠印刷而形成,在正式印刷之前,调试印刷机使多个色组精准对齐,使印刷而得的印刷品满足印刷精度的要求,这一过程称为套准。高品质印刷品通常要求更高的套准精度,为实现高精度套准控制,需要对套偏值进行及时准确的测量,从而在调机和印刷过程中实时修正套色参数。
[0003]现有技术中,实时检测套偏值的方法包括基于视觉方法的套准方案,通常,基于视觉方法的套准方案首先对色标组进行拍照,再根据拍照所得图像中识别色标影像,再根据所述色标影像确定套偏值,然而,对于易变形的承印基材在印制过程中会被拉伸,特别是在印刷设备在加减速过程中,印刷设备张力波动,导致承印基材发生形变,进而导致套准精度下降。

技术实现思路

[0004]为解决现有技术存在的技术问题,本申请提供一种印材相对拉伸量的测量方法,所述相对拉伸量是指相对于正常印刷时设定张力下的承印材料,在印制过程中由于张力波动所产生的形变量,所述相对拉伸量既可为正也可为负,所述方法根据两色组图像采集时间间隔以及对应基准色组的纵向位置确定印材的相对拉伸量,根据所述相对拉伸量来校正套色参数。
[0005]传统方法无法进行定量的印刷材料拉伸量测量,只能根据设备张力间接得到或控制定性的拉伸还是缩短。本申请内容除用于印刷高精度套准外,也可用于复卷,复合等需要控制张力的设备中。
[0006]本申请的目的通过以下方案实现:
[0007]一种印材相对拉伸量的测量方法,所述测量方法用于测量拉伸系数较大的承印基材在印制过程中的相对拉伸量,所述测量方法适用于机组式多色组印刷设备,所述机组式多色组印刷设备包括多个相互独立的色组,沿走纸方向,自第二个色组起,在每个色组的下游均配置一个测量模块,每个测量模块均包括延时触发板和处理器,每两个待测测量模块形成一个拉伸量测量组,每个拉伸量测量组中位于上游的测量模块被标记为第一测量模块,该测量模块中各器件相应地被标记为第一器件,其所处理的物理量被标记为第一物理量,位于下游的测量模块被标记为第二测量模块,该测量模块中各器件相应地被标记为第二器件,其所处理的物理量被标记为第二物理量,所述测量方法包括:
[0008]第一处理器获取第一时间间隔并发送至第二处理器,所述第一时间间隔为第一延时触发板两次被触发的时间间隔;
[0009]第二内理器获取第二时间间隔,所述第二时间间隔为第二延时触发板两次被触发
的时间间隔,第二延时触发板两次被触发的版周与第一延时触发板两次被触发的版周对应相同;
[0010]第一处理器获取第一纵向偏差,并发送到第二处理器,所述第一纵向偏差为第一目标靶标图像几何中心与其承印的第一目标靶标影像几何中心之间的纵向偏差;
[0011]第二处理器获取第二纵向偏差,所述第二纵向偏差为第二目标靶标图像几何中心与其承印的第二目标靶标影像几何中心之间的纵向偏差;
[0012]第二处理器获取走纸速度;
[0013]第二处理器根据所述第一时间间隔、第二时间间隔、第一纵向偏差、第二纵向偏差和走纸速度计算印材相对拉伸量。
[0014]在本实现方式中,根据所述第一时间间隔、第二时间间隔、第一纵向偏差、第二纵向偏差和走纸速度计算印材相对拉伸量,具体可根据下式(1)计算:
[0015]Δl=(Δt2‑
Δt1)
×
v+y2‑
y1ꢀꢀ
式(1)
[0016]其中,Δl表示印材相对拉伸量,Δt1表示第一时间间隔,Δt2表示第二时间间隔,v表示走纸速度,y1表示第一纵向偏差,y2表示第二纵向偏差。
[0017]在本可实现的方式中,所述获取第一纵向偏差的方法包括:
[0018]获取第一目标靶标图像几何中心坐标;
[0019]获取第一目标靶标影像几何中心坐标;
[0020]计算第一纵向偏差,所述第一纵向偏差为第一目标靶标图像几何中心纵坐标与第一目标靶标影像几何中心纵坐标之差。
[0021]相应地,所述获取第二纵向偏差的方法包括:
[0022]获取第二目标靶标图像几何中心坐标;
[0023]获取第二目标靶标影像几何中心坐标;
[0024]计算第二纵向偏差,所述第二纵向偏差为第二目标靶标图像几何中心纵坐标与第二目标靶标影像几何中心纵坐标之差。
[0025]在本实现方式中,所述测量方法还可以包括:
[0026]获取前次版周的第一校正触发距离和第二校正触发距离;
[0027]获取本次版周的第一实际触发距离和第二实际触发距离;
[0028]获取第一校正偏差和第二校正偏差;
[0029]根据所述第一校正偏差、所述第二校正偏差、所述第一时间间隔、第二时间间隔、第一纵向偏差、第二纵向偏差和走纸速度计算印材相对拉伸量。
[0030]可选地,所述根据所述第一校正偏差、所述第二校正偏差、所述第一时间间隔、第二时间间隔、第一纵向偏差、第二纵向偏差和走纸速度计算印材相对拉伸量具体可根据下式(2)计算:
[0031]Δl=(Δt2‑
Δt1)
×
v+y2‑
y1+N2‑
M2+M1‑
N1ꢀꢀ
式(2)
[0032]其中,Δl表示印材相对拉伸量,Δt1表示第一时间间隔,Δt2表示第二时间间隔,v表示走纸速度,y1表示第一纵向偏差,y2表示第二纵向偏差,N1表示第一校正触发距离,M1表示第一实际触发距离,N2表示第二校正触发距离,M2表示第二实际触发距离。
[0033]在本实现方式中,所述第一校正触发距离为基于获取第一校正触发距离的版周,在前次版周的第一实际触发距离基础上进行理论校正后的触发距离;相应地,所述第二校
正触发距离为基于获取第二校正触发距离的版周,在前次版周的第二实际触发距离基础上进行理论校正后的触发距离。
[0034]在另一种可实现的方式中,所述测量方法包括:
[0035]第一处理器获取第一距离间隔并发送至第二处理器,所述第一距离间隔为第一延时触发板两次被触发期间承印材料的走纸距离;
[0036]第二处理器获取第二距离间隔,所述第二距离间隔为第二延时触发板两次被触发期间承印材料的走纸距离,第二延时触发板两次被触发的版周与第一延时触发板两次被触发的版周对应相同;
[0037]第一处理器获取第一纵向偏差,并发送至第二处理器,所述第一纵向偏差为第一目标靶标图像几何中心与其承印的第一目标靶标影像几何中心之间的纵向偏差;
[0038]第二处理器获取第二纵向偏差,所述第二纵向偏差为第二目标靶标图像几何中心与其承印的第二目标靶标影像几何中心之间的纵向偏差;
[0039]第二处理器获取走纸速度;
[0040]第二处理器根据所述第一距离间隔、第二距本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种印材相对拉伸量的测量方法,其特征在于,所述测量方法用于测量拉伸系数较大的承印基材在印制过程中的相对拉伸量,所述测量方法所适用的印刷设备包括多个色组,沿走纸方向,自第二个色组起,在每个色组的下游均配置一个测量模块,每个测量模块均包括延时触发板和处理器,每两个待测测量模块形成一个拉伸量测量组,每个拉伸量测量组中位于上游的测量模块被标记为第一测量模块,该测量模块中各器件相应地被标记为第一器件,其所处理的物理量被标记为第一物理量,位于下游的测量模块被标记为第二测量模块,该测量模块中各器件相应地被标记为第二器件,其所处理的物理量被标记为第二物理量,所述测量方法包括:第一处理器获取第一时间间隔并发送至第二处理器,所述第一时间间隔为第一延时触发板两次被触发的时间间隔;第二处理器获取第二时间间隔,所述第二时间间隔为第二延时触发板两次被触发的时间间隔,第二延时触发板两次被触发的版周与第一延时触发板两次被触发的版周对应相同;第二处理器获取第一纵向偏差,所述第一纵向偏差为第一目标靶标图像几何中心与其承印的第一目标靶标影像几何中心之间的纵向偏差;第二处理器获取第二纵向偏差,所述第二纵向偏差为第二目标靶标图像几何中心与其承印的第二目标靶标影像几何中心之间的纵向偏差;第二处理器获取走纸速度;第二处理器根据所述第一时间间隔、第二时间间隔、第一纵向偏差、第二纵向偏差和走纸速度计算印材相对拉伸量。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,根据所述第一时间间隔、第二时间间隔、第一纵向偏差、第二纵向偏差和走纸速度计算印材相对拉伸量,具体可根据下式(1)计算:Δl=(Δt2‑
Δt1)
×
v+y2‑
y1ꢀꢀ
式(1)其中,Δl表示印材相对拉伸量,Δt1表示第一时间间隔,Δt2表示第二时间间隔,v表示走纸速度,y1表示第一纵向偏差,y2表示第二纵向偏差。3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述获取第一纵向偏差的方法包括:获取第一目标靶标图像几何中心坐标;获取第一目标靶标影像几何中心坐标;计算第一纵向偏差,所述第一纵向偏差为第一目标靶标图像几何中心纵坐标与第一目标靶标影像几何中心纵坐标之差。4.根据权利要求1至3任一项所述的方法,其特征在于,所述测量方法还包括:获取前次版周的第一校正触发距离和第二校正触发距离;获取本次版周的第一实际触发距离和第二实际触发距离;获取第一校正偏差和第二校正偏差;根据所述第一校正偏差、所述第二校正偏差、所述第一时间间隔、第二时间间隔、第一纵向偏差、第二纵向偏差和走纸速度计算印材相对拉伸量。5.根据权利要求1至4任一项所述的方法,其特征在于,所述根据所述第一校正偏差、所述第二校正偏差、所述第一时间间隔、第二时间间隔、第一纵向偏差、第二纵向偏差和走纸速度计算印材相对拉伸量具体可根据下式(2)计算:
Δl=(Δt2‑
Δt1)
×
v+y2‑
y1+N2‑
M2+M1‑
N1ꢀꢀ

【专利技术属性】
技术研发人员:高伟晋包振健李先军陈聪杨皓琨
申请(专利权)人:苏州凌云光工业智能技术有限公司苏州凌云视界智能设备有限责任公司
类型:发明
国别省市:

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